材料现代分析测试方法.ppt
《材料现代分析测试方法.ppt》由会员分享,可在线阅读,更多相关《材料现代分析测试方法.ppt(94页珍藏版)》请在淘文阁 - 分享文档赚钱的网站上搜索。
1、材料现代分析测试方法现在学习的是第1页,共94页俄歇电子能谱俄歇电子能谱 Auger Electron Spectroscopy,简称简称AES,AES可以做物体可以做物体表面的化学分析、表面吸附分析、断面的成分分析表面的化学分析、表面吸附分析、断面的成分分析。紫外光电子能谱紫外光电子能谱 Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy,简称简称UPS,UPS主要用于测量固体表面价电子和价带分布、气体分子与主要用于测量固体表面价电子和价带分布、气体分子与固体表面的吸附、以及化合物的化学键。固体表面的吸附、以及化合物的化学键。现在学习的是第2页,共94页第一节第一节
2、 光电子能谱的基本原理光电子能谱的基本原理 一、一、概述概述(一)光电效应(一)光电效应 在外界光的作用下,物体(主要指固体)中的在外界光的作用下,物体(主要指固体)中的原子吸收原子吸收光子光子的能量,使其某一层的的能量,使其某一层的电子摆脱其所受的束缚电子摆脱其所受的束缚,在物体中,在物体中运动,直到这些电子到达运动,直到这些电子到达表面表面。如果能量足够、方向合适,便如果能量足够、方向合适,便可离开物体的表面可离开物体的表面而逸出而逸出,成为,成为光电子光电子。现在学习的是第3页,共94页hvEB2pEc-wEB1sEB2s1s2s2pEFEV图图 光电效应过程中的能量关系光电效应过程中的
3、能量关系(EF为为Femi能级,能级,EV为真空能级)为真空能级)光电效应过程的能量关系要满足爱因斯坦方程:光电效应过程的能量关系要满足爱因斯坦方程:Ec=hv-EB-(-w)式中:式中:Ec是光电子能量是光电子能量(动能动能);hv是光子能量,是光子能量,EB是结合能;是结合能;-w是样品的逸出功。是样品的逸出功。现在学习的是第4页,共94页(二)光源(二)光源 常用的光源有两种:常用的光源有两种:单色单色X光:光:X射线能量高,不仅可以电离价电子,也可射线能量高,不仅可以电离价电子,也可以电离以电离内层电子内层电子,此时能谱是,此时能谱是孤立的峰孤立的峰。真空紫外光真空紫外光:紫外光一般只
4、能使紫外光一般只能使价电子价电子成为光电子,固成为光电子,固体中价电子能级展宽成为能带,光电子能谱体中价电子能级展宽成为能带,光电子能谱N(E)E是是连续连续的的,它可以反映价带中电子占有的能级密度分布。,它可以反映价带中电子占有的能级密度分布。现在学习的是第5页,共94页图图 UPS探测价电子能态探测价电子能态 图图 XPS电离内层电子产生谱峰电离内层电子产生谱峰 现在学习的是第6页,共94页 1X射线源射线源通常用通常用电子束电子束轰击适当的靶,在特定的内壳中引起空位,通过轰击适当的靶,在特定的内壳中引起空位,通过辐射跃迁,原子的一个电子填充此空位,产生辐射跃迁,原子的一个电子填充此空位,
5、产生特征特征X射线射线。此过程的此过程的阈值能阈值能即是内壳电子的即是内壳电子的结合能结合能。当轰击电子的能。当轰击电子的能量刚好高于阈值时,产生的量刚好高于阈值时,产生的X射线的强度是很低的,但随着电射线的强度是很低的,但随着电子能量的提高,强度迅速增加,一般要求子能量的提高,强度迅速增加,一般要求3-5倍倍于阈值能。于阈值能。例如,产生例如,产生Cu的的K -X射线,要求电压高于射线,要求电压高于30 kV。对于较。对于较轻的元素(如铝和镁)电子束能应为阀值能的轻的元素(如铝和镁)电子束能应为阀值能的5-10倍。倍。现在学习的是第7页,共94页Mg和和Al的特征的特征K -X射线是最重要的
6、,它们有较好而实用射线是最重要的,它们有较好而实用的自然宽度(半高峰线宽,的自然宽度(半高峰线宽,Al是是0.9 eV,Mg是是0.8 eV)。)。对于原子序数对于原子序数Z更高的元素(高于更高的元素(高于13),),K壳的自然宽度壳的自然宽度增加,如铜(增加,如铜(Z=29)为)为2.5 eV。除了除了K层层X射线射线以外,也曾用以外,也曾用L和和M层层X射线射线作过一些工作作过一些工作,由于它们的谱线较复杂,不如,由于它们的谱线较复杂,不如K-X射线满意,所以很射线满意,所以很少用。少用。现在学习的是第8页,共94页 2真空紫外源真空紫外源真空紫外灯是由受激自由原子或离子的去激发产生的。这
7、真空紫外灯是由受激自由原子或离子的去激发产生的。这些线强度大,自然宽度仅几毫电子伏特,对大多数分子轨些线强度大,自然宽度仅几毫电子伏特,对大多数分子轨道的研究有足够的能量。一般这种源可以不用单色器,因道的研究有足够的能量。一般这种源可以不用单色器,因为强线附近没有其它辐射产生。为强线附近没有其它辐射产生。真空紫外区中最广泛应用的是真空紫外区中最广泛应用的是He-I线(线(584,21.22 eV),这种谱线是将氦原子激发到共振态后,由,这种谱线是将氦原子激发到共振态后,由2p1s跃迁产跃迁产生的,自然宽度只有几生的,自然宽度只有几meV。现在学习的是第9页,共94页表表5-1 He-I灯的辐射
8、和常见杂质灯的辐射和常见杂质线线能量能量/eV /近似相对强度近似相对强度He-I 2p1s21.22584.3100He-I 3p1s23.08537.02He-I 4p1s23.74522.20.2He-II 2p1s40.80303.8依赖于电压依赖于电压O9.521302.2H10.201215.7N10.921135.0下表列出了与下表列出了与He-I源有关谱线的能量和近似强度,及来自常源有关谱线的能量和近似强度,及来自常见杂质氢和氮的谱线。见杂质氢和氮的谱线。现在学习的是第10页,共94页(三)试样(三)试样 固体固体和和气体气体都可以用光电子能谱法研究,但都可以用光电子能谱法研究
9、,但液体液体要用很特殊要用很特殊的技术来研究。的技术来研究。为了分析从样品靶打出的电子的动能,能谱仪应在为了分析从样品靶打出的电子的动能,能谱仪应在低压低压下工作下工作,以使光电子在从靶到探测器的路程上,以使光电子在从靶到探测器的路程上不发生碰撞。不发生碰撞。对固体样品的研究,应使环境对固体样品的研究,应使环境压强尽可能低压强尽可能低(假定样品不(假定样品不升华)。升华)。气体样品的研究可用差分抽气法使源室维持于气体样品的研究可用差分抽气法使源室维持于中等压强中等压强(0.1-100 Pa)。)。液体样品可液体样品可蒸发蒸发后进行测量。如有适当的差分抽气,也可后进行测量。如有适当的差分抽气,也
10、可以以气体形式研究低蒸气压的液体(实际限度约以以气体形式研究低蒸气压的液体(实际限度约100Pa)现在学习的是第11页,共94页二、二、光电子能谱的测量原理光电子能谱的测量原理(一)分析原理(一)分析原理 X射线光电子能谱的测量原理很简单,它是建立在射线光电子能谱的测量原理很简单,它是建立在Einstein光电光电效应方程基础上的,效应方程基础上的,光电子动能光电子动能为:为:Ec=hv-EB-(-w)式中式中hv和和-w是已知的,是已知的,Ec可以用能量分析器测出,于是可以用能量分析器测出,于是EB就知道就知道了。了。同一种元素的原子,不同能级上的电子同一种元素的原子,不同能级上的电子EB不
11、同,所以在相不同,所以在相同的同的hv和和-w下,同一元素会有不同能量的光电子,在能谱图上下,同一元素会有不同能量的光电子,在能谱图上,就表现为不止一个谱峰。其中最强而又最易识别的就是主峰,就表现为不止一个谱峰。其中最强而又最易识别的就是主峰,主要用主峰来进行分析。,主要用主峰来进行分析。现在学习的是第12页,共94页 实际上,用能量分析器分析光电子动能时,实际上,用能量分析器分析光电子动能时,分析器与分析器与样品相连样品相连,两者间存在着接触电位差,两者间存在着接触电位差,于是进入分析器,于是进入分析器的的光电子的动能光电子的动能为:为:Ec1=hv-EB-(-w1)式中式中-w1是分析器材
12、料的逸出功,是分析器材料的逸出功,-w1=-w+。不同的元素,元素各支壳层的不同的元素,元素各支壳层的EB具有特定值具有特定值,所以用能量,所以用能量分析器分析光电子的分析器分析光电子的Ec,便可得出,便可得出EB,对材料进行表面分析,对材料进行表面分析。这些能量关系可以清楚地从右图看出。上式中,如这些能量关系可以清楚地从右图看出。上式中,如hv和和 -w1已知,测出已知,测出Ec1便可知便可知EB,从而进行表面分析了。,从而进行表面分析了。现在学习的是第13页,共94页 图图 样品光电子与分析器光电子动能的比较样品光电子与分析器光电子动能的比较 固体样品固体样品EBhvEC1-w1-wECE
13、VEFEi分析器分析器 X射线光电子谱仪最适于研究内层电子的光电子谱。射线光电子谱仪最适于研究内层电子的光电子谱。现在学习的是第14页,共94页 原子内壳层电子的原子内壳层电子的结合能结合能受受核内电荷核内电荷和和核外电荷分布核外电荷分布的影的影响,任何引起电荷分布发生变化的因素都能使原子内壳层电子响,任何引起电荷分布发生变化的因素都能使原子内壳层电子的的结合能产生变化结合能产生变化。在光电子能谱上可以看到光电子谱峰的位移,这种现象称在光电子能谱上可以看到光电子谱峰的位移,这种现象称为为电子结合能位移电子结合能位移。由于原子处于不同的化学环境里而引起的结合能位移称为由于原子处于不同的化学环境里
14、而引起的结合能位移称为化学位移化学位移。化学位移可正可负,位移量值一般可达束缚能的百分。化学位移可正可负,位移量值一般可达束缚能的百分之几。之几。现在学习的是第15页,共94页 原子核附近的电子受核的引力和外层价电子的斥力,当原子核附近的电子受核的引力和外层价电子的斥力,当失去失去价电子而氧化态升高时价电子而氧化态升高时,电子与原子核的,电子与原子核的结合能增加结合能增加,射出的,射出的光电子动能减小光电子动能减小。化学位移的量值与价电子所处氧化态的程度和数目有化学位移的量值与价电子所处氧化态的程度和数目有关。氧化态愈高,则化学位移愈大。关。氧化态愈高,则化学位移愈大。在金属元素的光电子能谱中
15、,最容易出现的是由于氧化在金属元素的光电子能谱中,最容易出现的是由于氧化而发生的而发生的1s 电子结合能位移。电子结合能位移。化学位移化学位移现在学习的是第16页,共94页 铍(铍(Be),经氧化后),经氧化后生成生成BeO,其光电子谱峰,其光电子谱峰比纯铍的比纯铍的1s 电子结合能向电子结合能向高能方向移动了高能方向移动了2.9eV。当。当铍与氟(铍与氟(F)生成)生成BeF2时,时,虽然它同虽然它同BeO具有相同的具有相同的价数,但却处在更高的氧价数,但却处在更高的氧化态。因此在化态。因此在BeF2中,由氟中,由氟所引起的位移比所引起的位移比BeO中氧所中氧所引起的还要大。引起的还要大。图
16、图 Be、BeO、BeF2中中Be的的1s电子结合能的位移电子结合能的位移 这种化学位移与氧化态有关的现象,在其他化合物中也是这种化学位移与氧化态有关的现象,在其他化合物中也是存在的,利用这一信息可研究存在的,利用这一信息可研究化合物的组成化合物的组成。现在学习的是第17页,共94页 1.定性分析定性分析 根据测得的光电子能谱就可以确定表面存在什么元素以根据测得的光电子能谱就可以确定表面存在什么元素以及该元素原子所处的化学状态,这就是及该元素原子所处的化学状态,这就是X射线光电子谱的定性射线光电子谱的定性分析。分析。2.定量分析定量分析 根据具有某种能量的光电子的数量(强度),便可知道某种根据
17、具有某种能量的光电子的数量(强度),便可知道某种元素在表面的含量,这就是元素在表面的含量,这就是X射线光电子谱的定量分析。射线光电子谱的定量分析。(二)分析方法(二)分析方法现在学习的是第18页,共94页 3.表面分析表面分析 因为只有深度极浅范围内产生的光电子,才能够能量因为只有深度极浅范围内产生的光电子,才能够能量无损地输运到表面,用来进行分析,所以只能得到表面信息无损地输运到表面,用来进行分析,所以只能得到表面信息。4.深度分布分析深度分布分析 如果用离子束溅射剥蚀样品表面,然后用如果用离子束溅射剥蚀样品表面,然后用X射线光电子射线光电子谱进行分析,两者交替进行,还可得到元素及其化学状态
18、的谱进行分析,两者交替进行,还可得到元素及其化学状态的深度分布,这就是深度剖面分析。深度分布,这就是深度剖面分析。现在学习的是第19页,共94页 (三)分析特点(三)分析特点 最大特点是可以获得最大特点是可以获得丰富的化学信息丰富的化学信息,它对样品的,它对样品的损伤是最损伤是最轻微轻微的,的,定量也是最好定量也是最好的。的。它的缺点是由于它的缺点是由于X射线不易聚焦,因而照射面积大,射线不易聚焦,因而照射面积大,不适于微不适于微区分析区分析。不过近年来这方面已取得一定进展,分析者已可用约不过近年来这方面已取得一定进展,分析者已可用约100 m直径的小面积进行分析。直径的小面积进行分析。最近英
19、国最近英国VG公司制成可成像的公司制成可成像的X射线光电子谱仪,称为射线光电子谱仪,称为“ESCASCOPE”,除了可以得到,除了可以得到ESCA谱外,还可得到谱外,还可得到ESCA像,其空间分辨率可达到像,其空间分辨率可达到l0 m,被认为是表面分析技术的一项重要,被认为是表面分析技术的一项重要突破突破 现在学习的是第20页,共94页第二节第二节 光电子能谱实验技术光电子能谱实验技术 一、一、光电子能谱仪光电子能谱仪(一)(一)X射线光电子能谱仪射线光电子能谱仪 由由X光源(激发源)、样品室、电子能量分析器、信息放光源(激发源)、样品室、电子能量分析器、信息放大检测器和记录(显示)系统等组成
20、。大检测器和记录(显示)系统等组成。真空密封及真空密封及磁屏蔽磁屏蔽X射射线线源源样样品品能能量量分分析析器器检检测测器器扫扫描描记记录录系系统统图图 X射线光电子能谱仪方框图射线光电子能谱仪方框图 现在学习的是第21页,共94页 1.光源光源激发源能量范围为激发源能量范围为0.1-l0keV。一般常用一般常用Mg或或Al的的K 1和和K 2复合线,它们的复合线,它们的K 1和和K 2双线双线间隔很近,可视为一条线。间隔很近,可视为一条线。Mg的的K 线能量为线能量为1253.6eV,线宽(半宽度)为,线宽(半宽度)为0.7eV;Al的的K 线能量为线能量为1486.6eV,线宽约为,线宽约为
21、0.85eV。使用使用单色器单色器可使线宽变窄,去除可使线宽变窄,去除X射线伴线产生的伴峰射线伴线产生的伴峰,及减弱连续,及减弱连续X射线(韧致辐射)造成的连续背底,从而射线(韧致辐射)造成的连续背底,从而提信噪比和提高分辨率;但单色器的使用显著减弱提信噪比和提高分辨率;但单色器的使用显著减弱X射线射线强度,影响检测灵敏度。强度,影响检测灵敏度。现在学习的是第22页,共94页 2.样品室样品室 为保证光电子的无碰撞运动和保持试样表面的清洁状态,为保证光电子的无碰撞运动和保持试样表面的清洁状态,样品室(包括送样机构及样品台)必须处于样品室(包括送样机构及样品台)必须处于超高真空超高真空(10-7
22、-10-9Pa)中。)中。样品经样品经原子级表面清洁处理原子级表面清洁处理(如氢离子清洗)后由送进(如氢离子清洗)后由送进系统送入样品室,置于能精确调节位置的样品台上,样品台系统送入样品室,置于能精确调节位置的样品台上,样品台可以三维移动、绕法线转动和倾斜可以三维移动、绕法线转动和倾斜5个自由度。个自由度。现在学习的是第23页,共94页 3.能量分析器能量分析器 能量分析器用于测定样品发射的能量分析器用于测定样品发射的光电子能量分布光电子能量分布。光电子谱仪常用光电子谱仪常用半球形静电式偏转型能量分析器半球形静电式偏转型能量分析器,它由内,它由内外两个同心半圆球构成,进入分析器各入口的电子,在
23、电场外两个同心半圆球构成,进入分析器各入口的电子,在电场作用下发生作用下发生偏转偏转,沿圆形轨道运动沿圆形轨道运动。当控制电压一定时,电子运动轨道半径取决于电子的能量当控制电压一定时,电子运动轨道半径取决于电子的能量。具有某种能量(具有某种能量(E2)的各个电子以相同半径运动并在出口)的各个电子以相同半径运动并在出口处的探测器上聚焦,而具有其它能量(如处的探测器上聚焦,而具有其它能量(如E3与与E1)的电子则)的电子则不能聚焦在探测器上。不能聚焦在探测器上。现在学习的是第24页,共94页 如此连续改变扫描电压,则可以依次使不同能量的电子在如此连续改变扫描电压,则可以依次使不同能量的电子在探测器
24、上聚焦,从而得到光电子能量分布。探测器上聚焦,从而得到光电子能量分布。在能量分析器中,经能量在能量分析器中,经能量“分析分析”的光电子被探测器接受的光电子被探测器接受,并经放大后以脉冲信号的方式进入数据采集和处理系统,给,并经放大后以脉冲信号的方式进入数据采集和处理系统,给出谱图。出谱图。图图 半球偏转型能量分析器半球偏转型能量分析器现在学习的是第25页,共94页(二)紫外光电子能谱仪(二)紫外光电子能谱仪 紫外光电子能谱仪与紫外光电子能谱仪与X射线光电子能谱仪非常相似,只射线光电子能谱仪非常相似,只需把需把激发源激发源变换一下即可。变换一下即可。目前采用的光源为光子能量小于目前采用的光源为光
25、子能量小于l00 eV的的真空紫外光真空紫外光源源(常用(常用He、Ne等气体放电中的共振线)。这个能量范围的光等气体放电中的共振线)。这个能量范围的光子只能激发样品中原子、分子的子只能激发样品中原子、分子的外层价电子外层价电子或固体的或固体的价带电子价带电子。对于气体样品而言,紫外光电子发射方程为:对于气体样品而言,紫外光电子发射方程为:hv=EB+EC+EV+Er 现在学习的是第26页,共94页 分子转动能(分子转动能(Er)太小,不必考虑;而分子振动能()太小,不必考虑;而分子振动能(EV)可)可达数百毫电子伏特(约达数百毫电子伏特(约0.05-0.5 eV),且分子振动周期约为),且分
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 材料 现代 分析 测试 方法
限制150内