2022年2022年集成运放参数测试仪(哈工大 .pdf
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1、试题编号B 集成运算放大测试仪学校哈尔滨工程大学姓名杨亮姓名韦峻峰姓名宋海东名师资料总结-精品资料欢迎下载-名师精心整理-第 1 页,共 21 页 -1 摘要集成运放的带宽与失调是衡量一个运放优劣的重要性能指标。本设计在单片机控制下,适当地改变运放测试电路连接,通过 ADC 采集得到一系列运放的参数的物理量。通过计算,可以得到运防的VIO、IIO、AVD、KCMR和 BWG 等参数并且记录现场放的VIO、IIO、AVD、KCMR和BWG等参数并且记录现场的温度,且具有自动测量的功能。系统内置DDS 信号源AD9851,可以输出高稳定度的正弦信号。系统采用控制模块采集系统的框架,可以非常方便的通
2、过RS-232 将测试结果上传至计算机已备分析计算。本设计还具有打印测试结果、数据存储等功能。关键词运放VIOIIOAVDKCMRBWGDDS 参数Abstract The bandwidth and bias are important index of operational amplifiers who can tell OP s performance.This testing system is under the control of micro controller.By modifying the testing circuit,a group of data can be o
3、btained.Then we can get some parameters of the OP under test like VIO,IIO,AVD,KCMR and the temperature of Op.Automatic measurement can be achieved.AD9851 is a stable DDS generator and we can get a pure sine signal from it.The result of measurement can be recorded,upload via RS-232 or be printed out
4、by a printer.名师资料总结-精品资料欢迎下载-名师精心整理-第 2 页,共 21 页 -1 集成运放参数测试仪设计任务及要求一、任务设计并制作一台能测试通用集成运算放大器的测试仪,示意图如图1。二、要求1.基本要求(1)能测试 VIO、IIO、AVD和 KCMR四项基本参数,显示器最大显示数为3999;(2)各项被测参数的测量范围及精度如下(被测运放的工作电压为+15V);VIO:测量范围为 040mV(量程为 4mV 和 40mV),误差绝对值小于3%读数+1 个字;IIO:测量范围为 04uA(量程为 0.4uA 和 4uA),误差绝对值小于 3%读数+1 个字;AVD:测量范
5、围为 60dB120dB,测试误差绝对值小于3dB;KCMR:测量范围为 60dB120dB,测试误差绝对值小于3dB;(3)测试仪中的信号源(自制)用于 AVD、KCMR参数的测量,要求信号源能输出频率为 5Hz、输出电压有效值为4V 的正弦波信号,频率与电压值误差绝对值均小于 1;(4)按照本题附录提供的符合GB3442-82的测试原理图(见图 2图 4),再制作一组符合该标准的测试VIO、IIO、AVD和 KCMR参数的测试电路,以此测试电路的测试结果作为测试标准,对制作的运放参数测试仪进行标定。2.发挥部分(1)增加电压模运放BWG(单位增益带宽)参数测量功能,要求测量频率范围为 10
6、0KHz3.5MHz,测量时间 10 秒,频率分辨率为1KHz;为此制作一个扫频信号源,要求输出范围为40KHz4MHz,频率误差绝对值小于 1%,输出电压的有效值为2V+0.2V;(2)增加自动测量(含自动量程转换)功能。该功能启动后,能自动按VIO、VIO、IIO、AVD、KCMR和 BWG的顺序测量、显示并打印以上五个参数测量结果;键盘与显示控制电路运放参数测试电路信号源被测运放名师资料总结-精品资料欢迎下载-名师精心整理-第 3 页,共 21 页 -1 1 方案比较与论证1.1 系统整体方案比较论证方案 1:利用标准测试电路,再配合FPGA 或 DSPADC 采集控制系统进行参数测试。
7、由于本系统要求精度不是很高,采集速度不是很快,因此从硬件成本上考虑较为浪费。FPGA、DSP 的编程较单片机更为繁琐,因此调试不是十分方便。方案 2:参考资料,自行设计电路,配合单片机采集控制系统进行参数测试。这种方案成功系数较低,因为这设计到阻抗匹配等问题。难度大,调试周期长,适合这样的大赛。方案 3:利用 GB3442-82 给出的电路,配合单片机采集控制系统进行参数测试。这种测试框架结构简单,调试方便,成本低。本所以采用这种模式。综上所述,系统各部分组成原理如图?所示。图 1.1 1.2 键盘显示模块方案比较键盘可以采用编码和非编码两种方案。编码键盘成本稍高,但节约CPU 资源;扫描键盘
8、成本低但CPU 开销大。本作品选择使用编码式的键盘。分析题目可知,显示模块可以选用数码管、LCD 来实现。为了获得较好的人机界面,本作品选择了带背光的LCD 产品 12864。由于 LCD 驱动较数码管驱动更占用 CPU 时间,系统加上了一块专门负责键盘和显示的MCU 完成人机界面的功能。1.3 自制信号源模块据题目要求,需要自制用于 AVD、KCMR和 BWG测试的信号源。现拟提出以下几个方案:方案 1:采用 MC145145 芯片的锁相频率合成所需的正弦波。由于锁相环的锁定速度较慢,产生频率一般很高,因此很可能达不到发挥部分“测量频率范围为100KHz3.5MHz,测量时间 10秒,频率分
9、辨率为1KHz”的要求。测试板被测放大器液晶显示器测试电路调理电路控制电路单片机系统板(A/D D/A 等)数据下载口编码键盘信号发生器名师资料总结-精品资料欢迎下载-名师精心整理-第 4 页,共 21 页 -2 方 案 2:采用AD 公司 的 DDS芯 片 AD9851。该 芯片 内 置 X6 倍 频器,fosc=30MHZ*6=180MHz,频率稳定度高,频率改变时间短(18 个系统时钟周期)。完全可以胜任题目的要求。方案 3:采用 FPGA 或 DSP合成正弦信号。这种方式成本很高,调试不便,不适合在此场合应用。方案 4:带有 DAC的单片机产生信号。这种方式受到片上DAC 和单片机工作
10、频率的限制,很难达到生成3.5MHz 正弦信号的指标。综上所述,方案 2 为最优方案。2 系统硬件设计2.1 系统硬件结构框图集成运放参数测试仪由键盘显示模块、控制采集模块、运放参数测试平台、自制信号源、打印机组成。系统结构框图如图*所示。2.1.1 键盘显示模块由 AT89C55 外挂 128X64 LCD 及编码键盘组成。由于键盘、显示部分较于消耗单片机CPU 资源,LCD 不自带字模因而需要占用大量单片机的 ROM 空间,故将该部分独立于采集系统。2.1.2 控制采集模块选用了Analog Device 公司的具有 51 内核的高速 SOC 芯片 ADuC841,该芯片内置 12 位 A
11、DC 及 DAC,且自带 15ppm的电压基准,ADC最大误差 2LSB,DAC 最大误差 3LSB,可以满足本系统误差绝对值小于3%的性能指标要求。2.1.3 运放参数测试模块包括基本测试电路和测试功能切换、量程切换电路和输出信号调理电路。因模拟和数字的不兼容性,为了减小它们之间的干扰,一般采用光耦或继电器切换。对于本系统而言,由于光耦是晶体管,在电路中并不是一个稳定的电阻,受温度影响特别大,而继电器导通电阻非常小,所以我们采用继电器进行控制。这些电路把测量的数据转换为ADC 可以采样的信号。采集模块 ADC 提供被测运放的各个测试项目的数据。2.1.4 自制信号源模块由AD 公司正弦信号
12、DDS 合成器 AD9851 制成,可以生成高纯度(在 1.1MHz 下无杂散动态范围SFDR 为 64dBc,20MHz下为 53dBc)、高稳定度的正弦信号。本系统可以使用与Centronics打印接口兼容的打印机。本系统推荐使用打印机型号为 MP-T24LP 型微型台式打印机。名师资料总结-精品资料欢迎下载-名师精心整理-第 5 页,共 21 页 -3 图 2.1 2.2 VIO、IIO测量电路原理及设计当运放的输入为 0 时,输出往往不为0,这个电压是由输入级晶体管或FET特性不理想、晶体管hFE 的差异导致的。运放的这种特性通常用输入失调电压(VIO)来衡量。国标定义为“常温(27
13、摄氏度)下,当运放输入端口短路时,放大器的输出失调电压折合到输入端的等效差模输入电压值称为输入失调电压”。这个参数主要反映了输入级差分对管的失配程度,一般Vos约为(110)mV,高质量运放 Vos在 1mV 以下。输入失调电流的定义为“常温下当运放输入端口开路时,为了得到零输出,必须加到运放两个输入端的直流补偿电流,称为输入失调电流Ios”。这个参数也键盘显示模块AT89C55 控制采集模块ADuC841 运放参数测试平台自制信号源被测运放打印机名师资料总结-精品资料欢迎下载-名师精心整理-第 6 页,共 21 页 -4 是用于表征差放输入级两管不对称所造成的影响,记为Ios|IB1-IB2
14、|(IB1与 IB2是 Vo=0 时的两管基极电流)。通常,Ios 为(0.55)nA,高质量的运放如 ICL7650的 IIO低达 0.5pA。以下简述 IIO、VIO的测试原理。图 2.2 图*的左边为实际 VIO测量电路。假设运放存在失调,2 脚电压为 VIO,则运放后电压表示数可以由VIO/R1=UV/R2得出,VIO=UV1 R1/R2。图*的右边为 IIO测量电路。经分析计算得到IIO=UV2-UV1/R31+(R2/R1)。可见,若将电阻R2、R3的精度提高就可以提高测量精度,所以我们精确的选取它们。同时该电路用于运放温度特性的测量。将被测运放放于恒温槽中,恒温后用 ADC 采样
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