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1、注意事项:进实验室戴鞋套!操作戴防静电手镯!探针、仪器轻拿轻放!实验台简介实验设备一般包括矢量网络分析仪(VAN),探针台,和探针(其它设备根据具体实验添加)。其中探针从类型上分GS和 GSG型,从尺寸上有150um 至 1250um 不等,需要根据测试对象选择对应探针。实验步骤1.通电实验室不同实验台电源不同,对于我们实验台总电源在进门左侧墙上,将电闸全部推上去;然后下面柜子里面有变压器继续扳上去;最后,在实验室小房间门口(不要进去)左侧下面柜子里有两个电压源,全部打开。至此,实验台已经通电。2.矢量网络分析仪的校准通电后,打开矢量网络分析仪,在使用之前需要对其进行校准。校准的目的是为了排除
2、仪器、线缆、转接头等其他与被测试对象无关的干扰,使测试结果更接近被测试对象本身性能。矢网有四个端口,我们一般用两个,即1 端口和 2 端口(可任意选)。校准分为传输参数校准(S21)和反射参数校准(S11)。S21 校准(主要用于测试带宽时):将连接1、2 端口的两根线缆相接(尽量拧紧),如果需要转接头,那么就应该把转接头接入其中,然后在矢网界面按以下顺序进行操作。鼠标点击工具栏channelcalibration start calltwo-port p1 p2,在此界面会看到其它选项,代表不同的端口。我们使用其中两个端口,所以选择此项。点击后出现下拉菜单,如图1 所示。此时注意:不要选错校
3、准方向,S21 代表信号从1 端口进 2 端口出,所以应选择normalize forward,即正向校准。如果选择normalize reverse,则代表信号从2 端口进 1 端口出,具体情况具体分析。选择点击后,出现一对话框选择next,则出现另一对话框,如图2.鼠标点击 through,则右侧表格部分出现扫描图像,然后下面apply 变亮,点击它后回到矢网界面。如果校准成功,则s21 曲线基本是平的,如果没有就重新校准。若多次校准,仍不平,则需要检查线路连接是否正确,线缆不要出现大弯,接头用酒精棉球擦拭。图 1 S11校准(主要用于测试反射):S11校准与 s21校准有较大不同,稍微复
4、杂。S11的校准需要用到校准片。首先,可以先打开校准界面,步骤大部分和图1 相同,但在选择端口时,我们则要选择one-port P1.然后出现校准界面,与s21校准界面不同,此时界面左侧出现三个选项,分别是short,match,和 open 代表短路,匹配,开路。然后拿出校准片放在载物台,用探针分别压住相应部分校准(注意,50 欧姆匹配是最下面一行),待全部校准后点名师资料总结-精品资料欢迎下载-名师精心整理-第 1 页,共 3 页 -击 apply,打开史密斯圆图进行检验。若是开路,则在圆图右侧;短路在左侧;匹配则在中间出现一个点。3.测试校准之后开始准备测试。首先取出探针,根据芯片电极间
5、距、类型(GSG或 GS)选择合适探针。取探针时一定要小心,轻拿轻放,从探针盒取出后要把固定探针的螺母拧上。取出后,固定在三维支架上,然后将1 端口线缆接在探针上。然后,取出芯片放在中央升降载物台。此时,可分为激光器芯片和探测器芯片,它们的测试有所不同。激光器芯片的测试:取芯片时要小心,对于激光器芯片千万不能碰到出光面。取出后放在玻璃片边缘(对于高带宽芯片最后放在铜块上,有利于散热),出光面向外。将带有光纤的三维调节支架放在芯片出光那一边,光纤对准芯片出光面。另外,要使芯片出光就必须给其加电流。电流通过矢量网络分析仪后面的bias 口进入,因为只有一个裸芯片没有温控部分,所以必须得用那台老式电
6、流源(新式电流源不加温控的话电流加不上去)。此时注意:电流千万不要接反,否则芯片有可能烧坏。这个由芯片和探针的正负共同决定。例:一般芯片背面接地,上面为正极,由金丝联结至信号电极,如图。图中,芯片下面电极即中间部分为负,芯片上面通过一根金丝连接至最上面电极,所以上面部分为正。然后,与此对应的探针确实 GS,即图中较宽探针为G(负),较细探针为S(正),和芯片正负电极相反。此时,我们需要理解的就是探针的正负只是物理位置上的正负,在接电流源时可以进行反接,即矢网的正(红线)接电流源的负(黑线),矢网的负(黑线)接电流源的正(红线),这样就可以了。如果,芯片电极正为图中最下面那个,则需要正接。探针压
7、好后,先慢慢加电流,若没有短路报警,则接触良好,加电流至30-50mA 之间可均可(在探针没有压好之前,千万不要加电)。加电后,芯片已经出光,拿出三维光纤台进行对光。最好是先调节上下,再调节左右,最后前后,调节过程中密切注意光功率变化,光纤千万不要碰到芯片。一般光功率达到300uw 就可接入光探测器(pd),特殊情况,200uw也可以。此时,在矢网界面,会显示出新片的带宽曲线,可以通过各种按钮调制适合曲线。S11的测试基本和s21 类似,在此就不再详述。探测器芯片的测试:探测器芯片的测试与激光器芯片基本相反。因为,激光器是加电出光,探测器是入光出电。另外,探测器一般是垂直入光,并且相对激光器出光面面积更大,比较容易对准。校准时注意方向,不再详述。4.数据处理名师资料总结-精品资料欢迎下载-名师精心整理-第 2 页,共 3 页 -当调至合适曲线后,需要导出数据,按以下步骤:fileexport matrix,输出数据后一般在 origin 软件中打开及处理。名师资料总结-精品资料欢迎下载-名师精心整理-第 3 页,共 3 页 -
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