全焊透熔化焊对接焊缝超声波探伤作业指导书.doc
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1、 全焊透熔化焊对接焊缝超声波探伤作业指导书目 录一 适用范围4二 超声波工作原理4三 检测目的4四 检测依据4五 检测设备5六 试块5七 抽检数量5八 检验等级的分级6九 探伤面6十 检验区域的选择7十一 检验频率8十二 仪器的调整8十三 距离一波幅(DAC) 曲线的绘制11十四 仪器的校验14十五 初始检测15十六 规定检验16十七 缺陷评定和检验结果18十八 记录与报告20超声波探伤一 适用范围本作业指导书适用于母材厚度不小于4mm 的碳素结构钢和低合金高强度结构钢的全焊透熔化焊对接焊缝超声波检验。不适用于外径小于159mm的钢管对接焊缝;内径小于等于200mm的管座角焊缝及外径小于250
2、mm和内外径之比小于80%的纵向焊缝。 二 超声波工作原理声源产生超声波,采用一定的方式使超声波进入工件;超声波在工件中传播并与工件材料以及其中的缺陷相互作用,使其传播方向或特征被改变,改变后的超声波通过检测设备被接受,并可对其进行处理和分析,根据接受的超声波的特征,评价工件本身及其内部是否存在缺陷及缺陷的特性。三 检测目的超声波探伤的目的是为了发现材料或制件中影响其使用的缺陷或特性,从而对其应用于特定目的的适用性进行评价。四 检测依据钢结构超声探伤及质量分级法JG/T 203-2007;钢焊缝手工超声波探伤方法和探伤结果分级GB 11345-89;钢结构工程施工质量验收规范GB 50205-
3、2001;建筑结构检测技术标准GB/T 50344-2004。五 检测设备 DUD930数字超声波检测仪,探头(直探头和斜探头),耦合剂选用适当的液体或糊状物作耦合剂。耦合剂应具有良好透声性和适宜流动性,不应对材料和人体有损伤作用。同时应便于检验后清理。典型耦合剂为水、机油、甘油和浆糊。在试块上调节仪器和产品检验应采用相同的耦合剂。等。六 试块标准试块:IIW试块,CSK-A 试块,CSK -IIA 试块,CSK-IIIA 试块等。七 抽检数量对设计上要求全焊透的一、二级焊缝和设计上没有要求的钢材等强对焊拼接焊缝的质量采用超声波探伤的方法检测时的检测数量符合下列规定:1 对钢结构工程质量,应按
4、钢结构工程施工质量验收规范GB 50205的规定进行检测,即对一级焊缝探伤比例为100%,二级焊缝探伤比例 探伤比例的计算方法按以下原则确定:(1)对工厂制作焊缝,应按每条焊缝计算百分比,且探伤长度应不小于200mm,当焊缝长度不足200mm时,应对整条焊缝进行探伤;(2)对现场安装焊缝,应按同一类型、同一施焊条件的焊缝条数计算百分比,探伤长度应不小于200mm,并应不少于1条焊缝。为20%。2 对既有钢结构性能采取抽样超声波探伤检测,抽样数量不应少于建筑结构检测技术标准GB/T 50344-2004中3.3.13规定的样本最小容量限定值抽检。如下表1:表1 建筑结构抽样检测的最小样本容量检测
5、批 的容量检测类别和样 本最小容量检测批 的容量检测类别和样 本最小容量ABCABC28223501120032801259152351201320050125200162535832011000080200315265058131000135000125315500519051320350011500002005008009115082032150001500000315800125015128013325050000050012502000281500205080-八 检验等级的分级根据质量要求检验等级分A、B 、C 三级,检验的完善程度A级最低,B 级一般。C 级最高检验工作的难度系数按
6、A、B 、C 顺序逐级增高,应按照工种的材质、结构、焊接方法,使用条件及承受荷载的不同。合理的选用检验级别。检验等级应按产品的技术条件和有关规定选择或经合同双方协商选定。一般情况下,检测类别A适用于一般施工质量的检测,检测类别B适用于结构质量或性能的检测,检测类别C适用于结构或性能的严格检测或复检。九 探伤面对不同检验等级要求和不同板厚,推荐的探伤面,探头角度和探头数量见下表2:表2 探伤面及使用折射角板厚 mm探伤面探伤法使用折射角或K值ABC25单面单侧单面双侧直射法及一次反射法700(K2.5,K2.0)2550700或600(K2.5,K2.0,K1.5)50100直射法450 或60
7、0;450和600,450和700并用(K1或K1.5;K1和K1.5,K1和K2.0并用)100双面双侧450和600并用(K1和K1.5或K2.0并用)十 检验区域的选择超声波检测应在焊缝及探伤表面经外观检查合格后方可进行,应划好检验区域,标出检验区段编号; 检验区域的宽度应是焊缝本身再加上焊缝两侧各相当于母材厚度30% 的一段区域,这段区域最小10mm ,最大20mm ;探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其它外部杂质。探伤区域表面应平整光滑,便于探头的自由扫查,其表面粗糙度不应超过6.3m,必要时进行打磨。去除余高的焊接,应将余高打磨到与临邻近母材平齐。保留余高焊缝,如焊缝表面有咬边
8、,较大的隆起和凹陷等也应进行适当修磨,并做圆滑过渡以免影响检验结果的评定。a、采用一次反射法或串列式扫查探伤时,探头移动区应大于1.25P:P=2tg或P=2K式中: P为跨距;为母材厚度;K为探头K值。b 、采用直射法探伤时,探头移动区应大于0.75P。十一 检验频率检验频率f 一般在25MHZ范围内选择,推荐选用22. 5MHZ公称频率检验,特殊情况下,可选用低于2MHZ或高于2.5MHZ的检验频率,但必须保证系统灵敏度的要求。十二 仪器的调整工作开始前,需要根据探头和被测工件的情况来校准仪器的声速,声程以及探头零点,以适应探伤条件。其中,声速和探头零点的校准是因为状态行所显示参数的计算都
9、是与声速和探头零点相关,声程校准是为了使屏幕上显示适当声程范围内的波形,以便更好的判断,评价缺陷。DUD930数字超声波探伤仪提供自动校准功能,具体操作如下:1、 直探头校准直探头校准功能位于高级功能菜单中。以DUD930标配的直探头为例说明具体操作。DUD930标配的直探头是频率为2.5MHz,直径20mm的单晶探头,校准需要两个与测量物体同材质且厚度已知的试块。假设以两个厚度分别为50mm和100mm的试块对该探头进行校准,步骤如下: 先初步设定以大概的声速值如5290m/s,将探头零点值设置为0.00s;调节闸门逻辑为单闸门方式,即闸门逻辑为正或负;调节探测范围使得屏幕显示区域能显示10
10、0mm以上的回波,如150mm; 将探头耦合到较薄的试块上(50mm),移动闸门A的起点到 回波并与之相交; 选择高级功能组中的直探头校准功能菜单,按确认声程值,此时系统自动调整增益值,使一次回波的幅度大约在屏幕高度的80%的位置上,同时探头校准菜单内出现一个数字,调整该数字使之与试块上反射体实际声程相同,即50mm; 将探头耦合到较厚的试块上(100mm),移动闸门A的起点到回波并与之相交; 选择高级功能组中的直探头校准功能菜单,按确认声程值,此时系统自动调整增益值,使一次回波的幅度大约在屏幕高度的80%的位置上,同时探头校准菜单内出现一个数字,调整该数字使之与试块上反射体实际声程相同,即1
11、00mm; 再按完成自动校准,此时仪器的材料声速和探头零点将被自动调整为准确数值。注:在单个已知厚度的试块上也可以使用自动校准功能,即利用多次回波而无须将探头分别放在厚度不同的试块上,分别移动闸门A 到各个回波,并输入正确的厚度值即可。2、斜探头校准斜探头校准功能同样位于高级功能菜单中。利用此功能可完成斜探头角度、前沿、零点及材料声速的校准。以DUD930标配的斜探头为例说明具体操作。DUD930标配的斜探头是频率为5MHz,晶片为8mm9mm,角度为K2的单晶探头,利用CSK-IIIA 试块对其进行校准。假设以深度为20mm和40mm的两个孔对该探头进行校准,步骤如下: 首先必须将探头零点值
12、设置为0.00s,探头前沿设置为0mm; 先初步设定一个大概的声速值如3230m/s,探头K值设置为2(或者探头角度设置为63.40); 调节闸门逻辑为单闸门方式,即闸门逻辑为正或负; 调节探测范围使得屏幕显示区域能显示100mm以上的回波,如150mm; 将探头耦合到试块上找到20mm深度孔的回波,移动探头使得回波幅值最大,移动闸门A的起点到回波并与之相交; 选择高级功能组中的斜探头校准功能菜单,按确认深度值,此时系统自动调整增益值,使一次回波的幅度大约在屏幕高度的80%的位置上,同时探头校准菜单内出现一个数字,调整该数字使之与试块上反射体实际声程相同,即20mm; 测量反射体在水平表面投影
13、到探头前端的距离,本例中测量结果约为29mm,再按确认水平投影值,此时探头校准菜单内出现一个数字,调整该数字使之与上述测量的数值相同; 移动探头找到40mm深度孔的回波,并使得波幅值最大,移动闸门A的起点到回波并与之相交; 选择高级功能组中的斜探头校准功能菜单,按确认深度值,此时系统自动调整增益值,使一次回波的幅度大约在屏幕高度的80%的位置上,同时探头校准菜单内出现一个数字,调整该数字使之与试块上反射体实际声程相同,即40mm; 测量反射体在水平表面投影到探头前端的距离,本例中测量结果约为69mm,再按确认水平投影值,此时探头校准菜单内出现一个数字,调整该数字使之与上述测量的数值相同; 再按
14、完成自动校准,此时仪器的角度、前沿、材料声速和探头零点将被自动调整为准确数值。十三 距离一波幅(DAC) 曲线的绘制距离波幅曲线由选用的仪器、探头系统在对比试块上实测数据绘制,曲线由判废线、定量线、评定线组成,不同验收级别各线灵敏度见下表3,表中DAC是以3mm标准反射体绘制的距离一波幅曲线,即DAC基准线评定线以上至定量线以下为区,定量线至判废线以下的 区,判废线及以上区域为区(判废区)。正常情况下,在绘制好DAC曲线后,不管试件中反射体的位置如何,同样大小的反射体产生的回波峰值均在同一条曲线上,比试件中反射体较小的反射体产生的回波会落在该曲线下面,而较大一些的回落在该曲线上面。表3 距离-
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