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1、模拟电子学课件1本讲稿第一页,共九十七页 第一章 半导体器件模拟电路模拟电路2本讲稿第二页,共九十七页第一章第一章 半导体器件半导体器件1.1 半导体的基本知识半导体的基本知识1.2 PN 结及半导体二极管结及半导体二极管1.3 特殊二极管特殊二极管1.4 半导体三极管半导体三极管1.5 场效应晶体管场效应晶体管3本讲稿第三页,共九十七页1.1半导体的基本知识半导体的基本知识1.1.1导体、半导体和绝缘体导体、半导体和绝缘体导体:导体:自然界中很容易导电的物质称为自然界中很容易导电的物质称为导体导体,金属一般都是,金属一般都是导体。导体。绝缘体:绝缘体:有的物质几乎不导电,称为有的物质几乎不导
2、电,称为绝缘体绝缘体,如橡皮、陶,如橡皮、陶瓷、塑料和石英。瓷、塑料和石英。半导体:半导体:另有一类物质的导电特性处于导体和绝缘体之间,另有一类物质的导电特性处于导体和绝缘体之间,称为称为半导体半导体,如锗、硅、砷化镓和一些硫化物、,如锗、硅、砷化镓和一些硫化物、氧化物等。氧化物等。4本讲稿第四页,共九十七页5本讲稿第五页,共九十七页 半导体半导体的导电机理不同于其它物质,所以它具的导电机理不同于其它物质,所以它具有不同于其它物质的特点。例如:有不同于其它物质的特点。例如:当受外界热和光的作用时,它的导电能当受外界热和光的作用时,它的导电能 力明显变化。力明显变化。往纯净的半导体中掺入某些杂质
3、,会使往纯净的半导体中掺入某些杂质,会使 它的导电能力明显改变。它的导电能力明显改变。6本讲稿第六页,共九十七页1.1.2 本征半导体本征半导体一、本征半导体的结构特点一、本征半导体的结构特点GeSi通过一定的工艺过程,可以将半导体制成通过一定的工艺过程,可以将半导体制成晶体晶体。现代电子学中,用的最多的半导体是硅和锗,它们的最外层现代电子学中,用的最多的半导体是硅和锗,它们的最外层电子(价电子)都是四个。电子(价电子)都是四个。7本讲稿第七页,共九十七页本征半导体:本征半导体:完全纯净的、结构完整的半导体晶体。完全纯净的、结构完整的半导体晶体。在硅和锗晶体中,原子按四角形系统组成晶体点在硅和
4、锗晶体中,原子按四角形系统组成晶体点阵,每个原子都处在正四面体的中心,而四个其它原阵,每个原子都处在正四面体的中心,而四个其它原子位于四面体的顶点,每个原子与其相临的原子之间子位于四面体的顶点,每个原子与其相临的原子之间形成形成共价键共价键,共用一对价电子。,共用一对价电子。硅和锗的晶硅和锗的晶体结构:体结构:8本讲稿第八页,共九十七页硅和锗的共价键结构硅和锗的共价键结构共价键共用电子对+4+4+4+4+4表示除去价电子后的原子9本讲稿第九页,共九十七页共价键中的两个电子被紧紧束缚在共价键中,称为共价键中的两个电子被紧紧束缚在共价键中,称为束束缚电子缚电子,常温下束缚电子很难脱离共价键成为,常
5、温下束缚电子很难脱离共价键成为自由电自由电子子,因此本征半导体中的自由电子很少,所以本征半导体的,因此本征半导体中的自由电子很少,所以本征半导体的导电能力很弱。导电能力很弱。形成共价键后,每个原子的最外层电子是形成共价键后,每个原子的最外层电子是八个,构成稳定结构。八个,构成稳定结构。共价键有很强的结合力,使原子规则共价键有很强的结合力,使原子规则排列,形成晶体。排列,形成晶体。+4+4+4+410本讲稿第十页,共九十七页二、本征半导体的导电机理二、本征半导体的导电机理在绝对在绝对0度度(T=0K)和没有外界激发时和没有外界激发时,价电价电子完全被共价键束缚着,本征半导体中没有可以子完全被共价
6、键束缚着,本征半导体中没有可以运动的带电粒子(即运动的带电粒子(即载流子载流子),它的导电能力为),它的导电能力为 0,相当于绝缘体。,相当于绝缘体。在常温下,由于热激发,使一些价电子获得足够在常温下,由于热激发,使一些价电子获得足够的能量而脱离共价键的束缚,成为的能量而脱离共价键的束缚,成为自由电子自由电子,同时共,同时共价键上留下一个空位,称为价键上留下一个空位,称为空穴空穴。1.1.载流子、自由电子和空穴载流子、自由电子和空穴11本讲稿第十一页,共九十七页+4+4+4+4自由电子空穴束缚电子12本讲稿第十二页,共九十七页2.本征半导体的导电机理本征半导体的导电机理+4+4+4+4在其它力
7、的作用下,空在其它力的作用下,空穴吸引附近的电子来填穴吸引附近的电子来填补,这样的结果相当于补,这样的结果相当于空穴的迁移,而空穴的空穴的迁移,而空穴的迁移相当于正电荷的移迁移相当于正电荷的移动,因此可以认为空穴动,因此可以认为空穴是载流子。是载流子。动态模型动态模型本征半导体中存在数量相等的两种载流子,即本征半导体中存在数量相等的两种载流子,即自由电子自由电子和和空穴空穴。13本讲稿第十三页,共九十七页温度越高,载流子的浓度越高。因此本征半导温度越高,载流子的浓度越高。因此本征半导体的导电能力越强,温度是影响半导体性能的体的导电能力越强,温度是影响半导体性能的一个重要的外部因素,这是半导体的
8、一大特点。一个重要的外部因素,这是半导体的一大特点。本征半导体的导电能力取决于载流子的浓度。本征半导体的导电能力取决于载流子的浓度。本征半导体中电流由两部分组成:本征半导体中电流由两部分组成:1.自由电子移动产生的电流。自由电子移动产生的电流。2.空穴移动产生的电流。空穴移动产生的电流。14本讲稿第十四页,共九十七页1.1.3 杂质半导体杂质半导体在本征半导体中掺入某些微量的杂质,就会使半导在本征半导体中掺入某些微量的杂质,就会使半导体的导电性能发生显著变化。其原因是掺杂半导体的体的导电性能发生显著变化。其原因是掺杂半导体的某种载流子浓度大大增加。某种载流子浓度大大增加。P 型半导体:型半导体
9、:空穴浓度大大增加的杂质半导体,也称为空穴浓度大大增加的杂质半导体,也称为(空穴半导体)。(空穴半导体)。N 型半导体:型半导体:自由电子浓度大大增加的杂质半导体,自由电子浓度大大增加的杂质半导体,也称为(电子半导体)。也称为(电子半导体)。15本讲稿第十五页,共九十七页一、一、N 型半导体型半导体在硅或锗晶体中掺入少量的五价元素磷(或在硅或锗晶体中掺入少量的五价元素磷(或锑),晶体点阵中的某些半导体原子被杂质取代,锑),晶体点阵中的某些半导体原子被杂质取代,磷原子的最外层有五个价电子,其中四个与相邻磷原子的最外层有五个价电子,其中四个与相邻的半导体原子形成共价键,必定多出一个电子,的半导体原
10、子形成共价键,必定多出一个电子,这个电子几乎不受束缚,很容易被激发而成为自这个电子几乎不受束缚,很容易被激发而成为自由电子,这样磷原子就成了不能移动的带正电的由电子,这样磷原子就成了不能移动的带正电的离子。每个磷原子给出一个电子,称为离子。每个磷原子给出一个电子,称为施主原子施主原子。16本讲稿第十六页,共九十七页+4+4+5+4多余电子磷原子N 型半导体中型半导体中的载流子是什的载流子是什么?么?1 1、由施主原子提供的电子,浓度与施主原子相同。、由施主原子提供的电子,浓度与施主原子相同。2 2、本征半导体中成对产生的电子和空穴。、本征半导体中成对产生的电子和空穴。掺杂浓度远大于本征半导体中
11、载流子浓度,所以,自由电子掺杂浓度远大于本征半导体中载流子浓度,所以,自由电子浓度远大于空穴浓度。自由电子称为浓度远大于空穴浓度。自由电子称为多数载流子多数载流子(多子多子),),空穴称为空穴称为少数载流子少数载流子(少子少子)。)。17本讲稿第十七页,共九十七页二、二、P 型半导体型半导体在硅或锗晶体中掺入少量的三价元素,如硼在硅或锗晶体中掺入少量的三价元素,如硼(或铟),晶体点阵中的某些半导体原子被杂质(或铟),晶体点阵中的某些半导体原子被杂质取代,硼原子的最外层有三个价电子,与相邻的取代,硼原子的最外层有三个价电子,与相邻的半导体原子形成共价键时,半导体原子形成共价键时,产生一个空穴。这
12、个空穴产生一个空穴。这个空穴可能吸引束缚电子来填补,可能吸引束缚电子来填补,使得硼原子成为不能移动使得硼原子成为不能移动的带负电的离子。由于硼的带负电的离子。由于硼原子接受电子,所以称为原子接受电子,所以称为受主原子受主原子。+4+4+3+4空穴硼原子P 型半导体中空穴是多子,电子是少子型半导体中空穴是多子,电子是少子。18本讲稿第十八页,共九十七页三、杂质半导体的示意表示法三、杂质半导体的示意表示法P 型半导体型半导体+N 型半导体型半导体杂质杂质型半导体多子和少子的移动都能形成电流。但由于型半导体多子和少子的移动都能形成电流。但由于数量的关系,起导电作用的主要是多子数量的关系,起导电作用的
13、主要是多子。近似认为多子。近似认为多子与杂质浓度相等。与杂质浓度相等。19本讲稿第十九页,共九十七页1.2PN结及半导体二极管结及半导体二极管2.1.1PN 结的形成结的形成在同一片半导体基片上,分别制造在同一片半导体基片上,分别制造P 型半导体和型半导体和N 型半导体,经过载流子的扩散,在它们的交界面处型半导体,经过载流子的扩散,在它们的交界面处就形成了就形成了PN 结。结。20本讲稿第二十页,共九十七页P型半导体型半导体N型半导体型半导体+扩散运动扩散运动内电场内电场E漂移运动漂移运动扩散的结果是使空间电荷区逐渐加宽,空间电荷区越宽。内电场越强,就使漂移运动越强,而漂移使空间电荷区变薄。空
14、间电荷区,也称耗尽层。21本讲稿第二十一页,共九十七页漂移运动漂移运动P型半导体型半导体N型半导体型半导体+扩散运动扩散运动内电场内电场E所以扩散和漂移这一对相反的运动最终达到平衡,相当于两个区之间没有电荷运动,空间电荷区的厚度固定不变。22本讲稿第二十二页,共九十七页+空间电空间电荷区荷区N型区型区P型区型区电位电位VV0动态演示动态演示23本讲稿第二十三页,共九十七页1 1、空间电荷区中没有载流子。、空间电荷区中没有载流子。2 2、空间电荷区中内电场阻碍、空间电荷区中内电场阻碍P P中的空穴、中的空穴、N区区 中的中的电子(电子(都是多子都是多子)向对方运动()向对方运动(扩散运动扩散运动
15、)。)。3 3、P 区中的电子和区中的电子和 N区中的空穴(区中的空穴(都是少都是少),数),数量有限,因此由它们形成的电流很小。量有限,因此由它们形成的电流很小。注意注意:24本讲稿第二十四页,共九十七页2.1.2PN结的单向导电性结的单向导电性PN 结结加上正向电压加上正向电压、正向偏置正向偏置的意思都是的意思都是:P 区加区加正、正、N 区加负电压。区加负电压。PN 结结加上反向电压加上反向电压、反向偏置反向偏置的意思都是:的意思都是:P区加负、区加负、N 区加正电压。区加正电压。25本讲稿第二十五页,共九十七页+RE一、一、PN 结正向偏置结正向偏置内电场内电场外电场外电场变薄变薄PN
16、+_内电场被削弱,多子的扩散加强能够形成较大的扩散电流。26本讲稿第二十六页,共九十七页二、二、PN 结反向偏置结反向偏置+内电场内电场外电场外电场变厚变厚NP+_内电场被被加强,多子的扩散受抑制。少子漂移加强,但少子数量有限,只能形成较小的反向电流。RE27本讲稿第二十七页,共九十七页2.1.3 半导体二极管半导体二极管一、基本结构一、基本结构PN 结加上管壳和引线,就成为半导体二极管。结加上管壳和引线,就成为半导体二极管。引线外壳线触丝线基片点接触型点接触型PN结面接触型面接触型PN二极管的电路符号:二极管的电路符号:28本讲稿第二十八页,共九十七页 二、伏安特性二、伏安特性UI死区电压死
17、区电压硅管硅管0.6V,锗管锗管0.2V。导通压降导通压降:硅硅管管0.60.7V,锗管锗管0.20.3V。反向击穿电反向击穿电压压UBR29本讲稿第二十九页,共九十七页三、主要参数三、主要参数1.最大整流电流最大整流电流IOM二极管长期使用时,允许流过二极管的最大正向平二极管长期使用时,允许流过二极管的最大正向平均电流。均电流。2.反向击穿电压反向击穿电压UBR二极管反向击穿时的电压值。击穿时反向电流二极管反向击穿时的电压值。击穿时反向电流剧增,二极管的单向导电性被破坏,甚至过热剧增,二极管的单向导电性被破坏,甚至过热而烧坏。手册上给出的最高反向工作电压而烧坏。手册上给出的最高反向工作电压U
18、WRM一般是一般是UBR的一半。的一半。30本讲稿第三十页,共九十七页3.反向电流反向电流IR指二极管加反向峰值工作电压时的反向电流。指二极管加反向峰值工作电压时的反向电流。反向电流大,说明管子的单向导电性差,因反向电流大,说明管子的单向导电性差,因此反向电流越小越好。反向电流受温度的影此反向电流越小越好。反向电流受温度的影响,温度越高反向电流越大。硅管的反向电响,温度越高反向电流越大。硅管的反向电流较小,锗管的反向电流要比硅管大几十到流较小,锗管的反向电流要比硅管大几十到几百倍。几百倍。以上均是二极管的直流参数,二极管的应用是主以上均是二极管的直流参数,二极管的应用是主要利用它的单向导电性,
19、主要应用于整流、限幅、保要利用它的单向导电性,主要应用于整流、限幅、保护等等。下面介绍两个交流参数。护等等。下面介绍两个交流参数。31本讲稿第三十一页,共九十七页4.微变电阻微变电阻 rDiDuDIDUDQ iD uDrD 是二极管特性曲线上工作是二极管特性曲线上工作点点Q 附近电压的变化与电流附近电压的变化与电流的变化之比:的变化之比:显然,显然,rD是对是对Q附近的微小变附近的微小变化区域内的电阻。化区域内的电阻。32本讲稿第三十二页,共九十七页PN结的电流方程结的电流方程PN结所加端电压结所加端电压U与流过它的电流与流过它的电流I的关系为:的关系为:其中其中Is为反向饱和电流,为反向饱和
20、电流,UT为为kt/q,k为玻耳兹曼常数,为玻耳兹曼常数,T为热力学温度,为热力学温度,q为电子的电量,常温下,为电子的电量,常温下,T300K时,时,UT可取可取26mv对于二极管其动态电阻为:对于二极管其动态电阻为:33本讲稿第三十三页,共九十七页5.二极管的极间电容二极管的极间电容二极管的两极之间有电容,此电容由两部分组成:二极管的两极之间有电容,此电容由两部分组成:势势垒电容垒电容CB和和扩散电容扩散电容CD。势垒电容:势垒电容:势垒区是积累空间电荷的区域,当电压变化时,就会引势垒区是积累空间电荷的区域,当电压变化时,就会引起积累在势垒区的空间电荷的变化,这样所表现出的电容是起积累在势
21、垒区的空间电荷的变化,这样所表现出的电容是势垒电容势垒电容。扩散电容:扩散电容:为了形成正向电流(扩为了形成正向电流(扩散电流),注入散电流),注入P 区的少子(电子)区的少子(电子)在在P 区有浓度差,越靠近区有浓度差,越靠近PN结浓度结浓度越大,即在越大,即在P 区有电子的积累。同理,区有电子的积累。同理,在在N区有空穴的积累。正向电流大,积区有空穴的积累。正向电流大,积累的电荷多。这样所产生的电容就是扩累的电荷多。这样所产生的电容就是扩散电容散电容CD。P+-N34本讲稿第三十四页,共九十七页CB在正向和反向偏置时均不能忽略。而反向偏置时,由在正向和反向偏置时均不能忽略。而反向偏置时,由
22、于载流子数目很少,扩散电容可忽略。于载流子数目很少,扩散电容可忽略。PN结高频小信号时的等效电路:结高频小信号时的等效电路:势垒电容和扩散电容的综合效应rd35本讲稿第三十五页,共九十七页二极管:二极管:死区电压死区电压=0.5V,正向压降,正向压降 0.7V(硅二极管硅二极管)理想理想二极管:二极管:死区电压死区电压=0,正向压降,正向压降=0RLuiuouiuott二极管的应用举例二极管的应用举例1:二极管半波整流二极管半波整流36本讲稿第三十六页,共九十七页二极管的应用举例二极管的应用举例2:tttuiuRuoRRLuiuRuo37本讲稿第三十七页,共九十七页二极管的击穿二极管的击穿二极
23、管处于反向偏置时,在一定的电压范围内,流过二极管处于反向偏置时,在一定的电压范围内,流过PN结的电流结的电流很小,但电压超过某一数值时,反向电流急剧增加,这种现象我们就称为反向击穿。很小,但电压超过某一数值时,反向电流急剧增加,这种现象我们就称为反向击穿。击穿形式分为两种:击穿形式分为两种:雪崩击穿和齐纳击穿雪崩击穿和齐纳击穿。齐纳击穿:齐纳击穿:高掺杂情况下,耗尽层很窄,宜于形成强电场,而破坏高掺杂情况下,耗尽层很窄,宜于形成强电场,而破坏共价键,使价电子脱离共价键束缚形成电子空穴对,致使电流急剧增加。共价键,使价电子脱离共价键束缚形成电子空穴对,致使电流急剧增加。雪崩击穿:雪崩击穿:如果搀
24、杂浓度较低,不会形成齐纳击穿,而当反向电压如果搀杂浓度较低,不会形成齐纳击穿,而当反向电压较高时,能加快少子的漂移速度,从而把电子从共价键中撞出,形成雪崩式较高时,能加快少子的漂移速度,从而把电子从共价键中撞出,形成雪崩式的连锁反应。的连锁反应。对于硅材料的对于硅材料的PN结来说,击穿电压结来说,击穿电压7v时为雪崩击穿,时为雪崩击穿,IC,UCE0.3V称为饱和区。56本讲稿第五十六页,共九十七页IC(mA)1234UCE(V)36912IB=020 A40 A60 A80 A100 A此区域中:IB=0,IC=ICEO,UBEIC,UCE 0.3V(3)截止区:截止区:UBE死区电压,死区
25、电压,IB=0,IC=ICEO 058本讲稿第五十八页,共九十七页例:例:=50,USC=12V,RB=70k,RC=6k 当当USB=-2V,2V,5V时,时,晶体管的静态工作点晶体管的静态工作点Q位位于哪个区?于哪个区?当当USB=-2V时:时:ICUCEIBUSCRBUSBCBERCUBEIB=0,IC=0IC最大饱和电流:最大饱和电流:Q位于截止区位于截止区59本讲稿第五十九页,共九十七页例:例:=50,USC=12V,RB=70k,RC=6k 当当USB=-2V,2V,5V时,时,晶体管的静态工作点晶体管的静态工作点Q位位于哪个区?于哪个区?ICIcmax(=2mA),Q位于饱和区。
26、位于饱和区。(实际上,此时实际上,此时IC和和IB已不是已不是 的关系)的关系)61本讲稿第六十一页,共九十七页三、主要参数三、主要参数前面的电路中,三极管的发射极是输入输出的公共点,前面的电路中,三极管的发射极是输入输出的公共点,称为共射接法,相应地还有共基、共集接法。称为共射接法,相应地还有共基、共集接法。共射共射直流电流放大倍数直流电流放大倍数:工作于动态的三极管,真正的信号是叠加在直流工作于动态的三极管,真正的信号是叠加在直流上的交流信号。基极电流的变化量为上的交流信号。基极电流的变化量为 IB,相应相应的集电极电流变化为的集电极电流变化为 IC,则则交流电流放大倍数交流电流放大倍数为
27、:为:1.电流放大倍数电流放大倍数和和 62本讲稿第六十二页,共九十七页例:例:UCE=6V时时:IB=40 A,IC=1.5mA;IB=60 A,IC=2.3mA。在以后的计算中,一般作近似处理:在以后的计算中,一般作近似处理:=63本讲稿第六十三页,共九十七页2.集集-基极反向截止电流基极反向截止电流ICBO AICBOICBO是集电结反偏由少子的漂移形成的反向电流,受温度的变化影响。64本讲稿第六十四页,共九十七页BECNNPICBOICEO=IBE+ICBOIBE IBEICBO进入N区,形成IBE。根据放大关系,由于IBE的存在,必有电流IBE。集电结反偏有ICBO3.集集-射极反向
28、截止电流射极反向截止电流ICEOICEO受温度影响很受温度影响很大,当温度上升时,大,当温度上升时,ICEO增加很快,增加很快,所以所以IC也相应增加。也相应增加。三极管的温度特性三极管的温度特性较差较差。65本讲稿第六十五页,共九十七页4.集电极最大电流集电极最大电流ICM集电极电流集电极电流IC上升会导致三极管的上升会导致三极管的 值的下降,值的下降,当当 值下降到正常值的三分之二时的集电极电值下降到正常值的三分之二时的集电极电流即为流即为ICM。5.集集-射极反向击穿电压射极反向击穿电压当集当集-射极之间的电压射极之间的电压UCE超过一定的数值时,超过一定的数值时,三极管就会被击穿。手册
29、上给出的数值是三极管就会被击穿。手册上给出的数值是25 C、基极开路时的击穿电压基极开路时的击穿电压U(BR)CEO。66本讲稿第六十六页,共九十七页6.集电极最大允许功耗集电极最大允许功耗PCM集电极电流集电极电流IC 流过三极管,流过三极管,所发出的焦耳所发出的焦耳热为:热为:PC=ICUCE必定导致结温必定导致结温上升,所以上升,所以PC 有限制。有限制。PC PCMICUCEICUCE=PCMICMU(BR)CEO安全工作区67本讲稿第六十七页,共九十七页1.5场效应晶体管场效应晶体管场效应管与双极型晶体管不同,它是多子导电,场效应管与双极型晶体管不同,它是多子导电,输入阻抗高,温度稳
30、定性好。输入阻抗高,温度稳定性好。结型场效应管结型场效应管JFET绝缘栅型场效应管绝缘栅型场效应管MOS场效应管有两种场效应管有两种:68本讲稿第六十八页,共九十七页N基底:N型半导体PP两边是P区G(栅极栅极)S源极源极D漏极漏极一、结构一、结构1.5.1结型场效应管结型场效应管:导电沟道69本讲稿第六十九页,共九十七页NPPG(栅极栅极)S源极源极D漏极漏极N沟道结型场效应管沟道结型场效应管DGSDGS70本讲稿第七十页,共九十七页PNNG(栅极栅极)S源极源极D漏极漏极P沟道结型场效应管沟道结型场效应管DGSDGS71本讲稿第七十一页,共九十七页二、工作原理(以二、工作原理(以P沟道为例
31、)沟道为例)UDS=0V时PGSDUDSUGSNNNNIDPN结反偏,UGS越大则耗尽区越宽,导电沟道越窄。72本讲稿第七十二页,共九十七页PGSDUDSUGSNNIDUDS=0V时NNUGS越大耗尽区越宽,沟道越窄,电阻越大。但当UGS较小时,耗尽区宽度有限,存在导电沟道。DS间相当于线性电阻。73本讲稿第七十三页,共九十七页PGSDUDSUGSNNUDS=0时UGS达到一定值时(夹断电压VP),耗尽区碰到一起,DS间被夹断,这时,即使UDS 0V,漏极电流ID=0A。ID74本讲稿第七十四页,共九十七页PGSDUDSUGSUGS0、UGDVP时耗尽区的形状NN越靠近漏端,PN结反压越大ID
32、75本讲稿第七十五页,共九十七页PGSDUDSUGSUGSVp且UDS较大时UGDVP时耗尽区的形状NN沟道中仍是电阻特性,但是是非线性电阻。ID76本讲稿第七十六页,共九十七页GSDUDSUGSUGSVp UGD=VP时NN漏端的沟道被夹断,称为予夹断。UDS增大则被夹断增大则被夹断区向下延伸。区向下延伸。ID77本讲稿第七十七页,共九十七页GSDUDSUGSUGS0时UGS足够大时(UGSVT)感应出足够多电子,这里出现以电子导电为主的N型导电沟道。感应出电子VT称为阈值电压称为阈值电压89本讲稿第八十九页,共九十七页UGS较小时,导电较小时,导电沟道相当于电阻沟道相当于电阻将将D-S连接
33、起来,连接起来,UGS越大此电阻越越大此电阻越小。小。PNNGSDUDSUGS90本讲稿第九十页,共九十七页PNNGSDUDSUGS当UDS不太大时,导电沟道在两个N区间是均匀的。当UDS较大时,靠近D区的导电沟道变窄。91本讲稿第九十一页,共九十七页PNNGSDUDSUGS夹断后,即使UDS 继续增加,ID仍呈恒流特性。IDUDS增加,UGD=VT 时,靠近D端的沟道被夹断,称为予夹断。92本讲稿第九十二页,共九十七页三、增强型三、增强型N沟道沟道MOS管的特性曲线管的特性曲线转移特性曲线转移特性曲线0IDUGSVT93本讲稿第九十三页,共九十七页输出特性曲线输出特性曲线IDU DS0UGS094本讲稿第九十四页,共九十七页四、耗尽型四、耗尽型N沟道沟道MOS管的特性曲线管的特性曲线耗尽型的耗尽型的MOS管管UGS=0时就有导电沟道,加反向电压才时就有导电沟道,加反向电压才能夹断。能夹断。转移特性曲线转移特性曲线0IDUGSVT95本讲稿第九十五页,共九十七页输出特性曲线输出特性曲线IDU DS0UGS=0UGS096本讲稿第九十六页,共九十七页第一章 结束模拟电路模拟电路97本讲稿第九十七页,共九十七页
限制150内