材料现代分析测试方法复习.docx

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1、材料现代分析测试方法复习 XRD X 射线衍射 TEM 透射电镜ED 电子衍射 SEM 扫描电子显微镜EPMA 电子探针（EDS 能谱仪 WPS 波谱仪） XPS X 射线光电子能谱分析 AES 原子放射光谱或俄歇电子能谱 IR FT IR 傅里叶变换红外光谱 RAMAN 拉曼光谱 DTA 差热分析法 DSC 差示扫描 量热法 TG 热重分析 STM 扫描隧道显微镜 AFM 原子力显微镜 测微观形貌：TEM 、SEM 、EPMA 、STM 、AFM 化学元素分析：EPMA 、XPS 、AES （原子和俄歇） 物质结构：远程结构（XRD 、ED ）、近程结构（RAMAN 、IR ）分子结构：RA

2、MAN 官能团：IR 表面结构：AES （俄歇）、XPS 、STM 、AFM X 射线的产生：高速运动着额电子突然受阻时，随着电子能量的消逝和转化，就会产生X 射 线。产生条件：1.产生并放射自由电子；2.在真空中迫使电子朝肯定方向加速运动，以获得 尽可能高的速度；3.在高速电子流的运动路途上设置一障碍物（阳极靶），使高速运动的电 子突然受阻而停止下来。 X 射线荧光：入射的X 射线光量子的能量足够大将原子内层电子击出，外层电子向内层跃迁， 辐射出波长严格肯定的X 射线 俄歇电子产生：原子K 层电子被击出，L 层电子如L2电子像K 层跃迁能量差不是以产生一 个K 系X 射线光量子的形式释放，而

3、是被接近的电子所汲取，使这个电子受激发而成为自由 电子，即俄歇电子 14种布拉菲格子特征：立方晶系（等轴）a=b=c =90；正方晶系（四方）a=b c =90；斜方晶系（正交）a b c =90；菱方晶系（三方）a=b=c =90；六方晶系a=b c =90=120；单斜晶系a b c =90 ；三斜晶系a b c 90 布拉格方程的推导 含义：线照耀晶体时，只有相邻面网之间散 射的X 射线光程差为波长的整数倍时，才能 产生干涉加强，形成衍射线，反之不能形成 衍射线。n d hkl =sin 2 探讨 1.当肯定，d 相同的晶面，必定在相 同的状况下才能获得反射。 2.当肯定，d 减小，就要

4、增大，这说 明间距小的晶面，其拂过角必需是较大的，否则它们的反射线无法加强，在考察多晶体衍射 时，这点由为重要。 3.在任何可观测的衍射角下，产生衍射的条件为：d 2，但波长过短导致衍射角过 小，使衍射现象难以观测，常用X 射线的波长范围是0.250.05nm 。 4.波长肯定时，只有2/d 的晶面才能发生衍射衍射的极限条件。 X 射线衍射方法：1.劳埃法，采纳连续的X 射线照耀不动的单晶体，用垂直入射的平板底片 记录衍射得到的劳埃斑点，多用于单晶取向测定及晶体对称性探讨。2.转晶法：采纳单色X 射线照耀转动的单晶体，并用一张以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录，特点是入射线波长不 变，靠旋转单晶体以连续变更个晶体与入射X 射线的角来满意布拉格方程。转晶法可以确 定晶体在旋转轴方向的点阵周期，确定晶体结构。3.粉末法，采纳单色X 射线照耀多晶试样， 利用多晶试样中各个微晶不同取一直变更角来满意布拉格方程。用于测定晶体结构，进行 物相定性、定量分析，精确测量警惕的点阵参数以及材料的应力、织构、晶粒大小。 谢乐公式：30.890.89cos cos N d L =说明白衍射线宽度与晶块在反射晶面法线方向上尺度