材料分析测试方法作业.docx

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1、材料分析测试方法作业 第一章 1、名词说明： （1）物相:在体系内部物理性质和化学性质完全匀称的一部分称为“相”。在这里，更明白的表述是：成分和结构完全相同的部分才称为同一个相。 （2）K系辐射:处于激发状态的原子有自发回到稳定状态的倾向，此时外层电子将填充内层空位，相应伴随着原子能量的降低。原子从高能态变成低能态时，多出的能量以X射线形式辐射出来。当K电子被打出K 层时，原子处于K激发状态，此时外层如L、M、N层的电子将填充K层空位，产生K系辐射。 （3）相干散射:由于散射线与入射线的波长和频率一样，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件（4）非相干散射:X射线经束缚力不大的电子（如轻原

2、子中的电子）或自由电子散射后，可以得到波长比入射X射线长的X射线，且波长随散射方向不同而变更。 （5）荧光辐射:处于激发态的原子，要通过电子跃迁向较低的能态转化，同时辐射出被照物质的特征X射线，这种由入射X射线激发出的特征X射线称为二次特征X射线即荧光辐射。 （6）汲取限:激发K系光电效应时，入射光子的能量必需等于或大于将K电子从K层移至无穷远时所作的功WK，即将激发限波长K和激发电压VK联系起来。从X射线被物质汲取的角度，则称K为汲取限。（7）俄歇效应:原子中K层的一个电子被打出后，它就处于K激发状态，其能量为EK。假如一个L层电子来填充这个空位，K电离就变成L电离，其能量由EK变成EL，此

3、时将释放EK-EL的能量。释放出的能量，可能产生荧光X射线，也可能赐予L层的电子，使其脱离原子产生二次电离。即K层的一个空位被L层的两个空位所代替，这种现象称俄歇效应. 2、特征X射线谱与连续谱的放射机制之主要区分？ 特征X射线谱是高能级电子回跳到低能级时多余能量转换成电磁波。 连续谱：高速运动的粒子能量转换成电磁波。 3、计算0.071nm(MoK)和0.154nm(CuK)的X射线的振动频率和能量 4、x射线试验室用防护铅屏，若其厚度为1mm，试计算其对Cuk、Mok辐射的透射因子（I透射/I入射）各为多少？ 其次章 1.名词说明： 晶面指数：用于表示一组晶面的方向，量出待定晶体在三个晶轴

4、的截距并用点阵周期a,b,c度量它们，取三个截距的倒数，把它们简化为最简的整数h,k,l，就构成了该晶面的晶面指数。 晶向指数：表示某一晶向（线）的方向。 干涉面：为了简化布拉格公式而引入的反射面称为干涉面。 2下面是某立方晶系物质的几个晶面，试将它们的面间距从大到小按次序重新排列：（123），（100），（200），（311），（121），（111），（210），（220），（130），（030），（221），（110）。 排序后： （100）（110）（111）（200）（210）（121）（220）（221）（030）（130）（311）（123） 3当波长为的x射线照耀到晶体并出现衍射

5、线时，相邻两个（hkl）反射线的波程差是多少？相邻两个（hkl）反射线的波程差又上多少？ 相邻两个（hkl）晶面的波程差为n，相邻两个（HKL）晶面的波程差为。 4原子散射因数的物理意义是什么？某元素的原子散射因数与其原子序数有何关系？ 原子散射因数f是以一个电子散射波的振幅为度量单位的一个原子散射波的振幅。它表示一个原子在某一方向上散射波的振幅是一个电子在相同条件下散射波振幅的f倍。它反应了原子将X射线向某一方向散射时的散射效率。 关系：z越大，f越大。因此，重原子对X射线散射的实力比轻原子要强。 第三章 1衍射仪测量在入射光束、试样形态、试样汲取以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同？ 入射

6、X射线的光束：都为单色的特征X射线，都有光栏调整光束。 不同：衍射仪法：采纳肯定发散度的入射线，且聚焦半径随2?改变。 德拜法:通过进光管限制入射线的发散度。 试样形态：衍射仪法为平板状，德拜法为细圆柱状。 试样汲取：衍射仪法汲取时间短，德拜法时间长。 记录方式：衍射仪法采纳计数率仪作图，德拜法采纳环带形底片成相，而且它们的强度（I）对（2?）的分布曲线也不同。 2用直径5.73cm的德拜相机能使Cuk双重线分别开的最小角是多少？（衍射线宽为0.03cm，分别开即是要使双重线间隔达到线宽的两倍）。 3试述x射线衍射物相分析步骤？及其鉴定时应留意问题？ 步骤：（1）计算或查找出衍射图谱上每根峰的d值和i值