材料分析测试技术试卷答案.docx

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1、材料分析测试技术试卷答案 材料分析测试技术试卷（答案） 一、分，每空一分）20（填空题： 构成。、阴极、和窗口射线管主要由1. X 阳极 、光电效应、透射X射线2. X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、热。和和偏装三种。3. 德拜照相法中的底 片安装方法有：正装、反装分析两种；测钢中残余奥分析和定量 4. X射线物相分析方法分：定性 氏体的干脆比较法就属于其中的分析方法。定量 两因素影响。像差 5. 透射电子显微镜的辨别率主要受衍射效应和 来揭取其次相微小颗粒进行分析。萃取复型 6. 今日复型技术主要应用于 成分分析仪器。 7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪 背散射电子。8. 扫描电子显微镜

2、常用的信号是二次电子 和 分，每题一分）二、8（选择题： ）。射线衍射方法中最常用的方法是（1. X b 周转晶体法。劳厄法；ab粉末多晶法；c X2. 已知光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（ b）。；c. Feb. Ni aCo ；）。3. X射线物相定性分析方法中有三种索引，假如已知物质名时可以采纳（ c b. ；芬克无机数值索引； c. 戴维无机字母索引。a哈氏无机数值索引 ）。 b4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（ ； a其次聚光镜光阑 b. 物镜光阑选区光阑。；c. 。 5. 透射电子显微镜中可以消退的像差是（ b ） b. a球差；像散；色差。c. 。）a可以帮助我们估计样品厚度的困难衍射花样是（6. a高阶劳厄斑点；b. 超结构斑点；c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（b）。 a背散射电子；b.俄歇电子；c. 特征X射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是（c）。 a以物镜光栏套住透射斑；b以物镜光栏套住衍射斑；c将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、分）8分，每题24（问答题： X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么1. 射线衍射仪法中样品是块状粉末样品，首先要求粉末粒度要大小答： X之间；其次粉末不能有应力和织构；最终是样品有一适中，在1um-5um个最佳厚度（t =