(完整版)《材料分析测试技术》课程试卷答案.docx
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1、(完整版)材料分析测试技术课程试卷答案.doc 一、选择题:(8 分/ 每题 1 分) 1. .当 X 射线将某物质原子的K 层电子打出去后, L 层电子回迁K 层,多余能量将另一个L 层电子打出核外,这整个过程将产生( D )。 A.光电子; B. 二次荧光; C. 俄歇电子; D. ( A+C ) 2. 有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶 K (K =0.194nm)照耀该晶体能产生( B )衍射线。 A. 三条; B .四条; C. 五条; D. 六条。 3. .最常用的 X 射线衍射方法是( B )。 A. 劳厄法; B. 粉末多晶法; C. 周转晶体法; D. 德拜法
2、。 4. .测定钢中的奥氏体含量,若采纳定量X 射线物相分析,常用方法是( C )。 A. 外标法; B. 内标法; C. 干脆比较法; D. K 值法。 5. 可以提高 TEM 的衬度的光栏是( B )。 A. 其次聚光镜光栏; B. 物镜光栏; C. 选区光栏; D. 其它光栏。 6. 假如单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是( D )。 A.六方结构; B. 立方结构; C. 四方结构; D. A 或 B。 7. .将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像,这是( C )。 A.明场像; B. 暗场像; C. 中心暗场像; D.弱束暗场像。 8. 仅仅反映固体样品表
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