川大 材料成型及控制工程《材料分析测试技术》试卷(答案).docx

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1、川大 材料成型及控制工程材料分析测试技术试卷(答案) 川大材料成型及限制工程材料分析测试技术试卷（答案） 一、填空题：（20分，每空一分） 1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。 2. X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、光电效应、透射X射线、和热。 3. 德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装和偏装三种。 4. X射线物相分析方法分：定性分析和定量分析两种；测钢中残余奥氏体的干脆比较法就属于其中的定量分析方法。 5. 透射电子显微镜的辨别率主要受衍射效应和像差两因素影响。 6. 今日复型技术主要应用于萃取复型来揭取其次相微小颗粒进行分析。 7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析

2、仪器。 8. 扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。 二、选择题：（8分，每题一分） 1. X射线衍射方法中最常用的方法是（ b ）。 a劳厄法；b粉末多晶法；c周转晶体法。 2. 已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（b）。 aCo ；b. Ni ；c. Fe。 3. X射线物相定性分析方法中有三种索引，假如已知物质名时可以采纳（c ）。 a哈氏无机数值索引；b. 芬克无机数值索引；c. 戴维无机字母索引。 4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（b）。 a其次聚光镜光阑；b. 物镜光阑；c. 选区光阑。 5. 透射电子显微镜中可以消退的像差是（ b ）。 a球差；b. 像散；

3、c. 色差。 6. 可以帮助我们估计样品厚度的困难衍射花样是（a）。 a高阶劳厄斑点；b. 超结构斑点；c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（b）。 a背散射电子；b.俄歇电子；c. 特征X射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是（c）。 a以物镜光栏套住透射斑；b以物镜光栏套住衍射斑；c将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、问答题：（24分，每题8分） 1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么？ 答：X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品，首先要求粉末粒度要大小 适中，在1um-5um之间；其次粉末不能有应力和织构；最终是样品有一 个最佳厚度（t =