现代材料分析方法试题含有答案.docx

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1、现代材料分析方法试题含有答案 现代材料分析方法期末试卷 1 一、单项选择题（每题 2 分，共 10 分） 1成分和价键分析手段包括 （a）WDS、能谱仪（EDS）和 XRD （b）WDS、EDS 和 XPS （c）TEM、WDS 和 XPS （d）XRD、FTIR 和 Raman 2分子结构分析手段包括 （a）拉曼光谱（Raman）、核磁共振（NMR）和傅立叶变换红外光谱（FTIR）（b） NMR、FTIR 和 WDS （c）SEM、TEM 和 STEM（扫描透射电镜）（d） XRD、FTIR 和 Raman 3表面形貌分析的手段包括 （a）X 射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM） (b)

2、SEM 和透射电镜（TEM） (c) 波谱仪（WDS）和 X 射线光电子谱仪（XPS） (d) 扫描隧道显微镜（STM）和 SEM 4透射电镜的两种主要功能： （a）表面形貌和晶体结构（b）内部组织和晶体结构 （c）表面形貌和成分价键（d）内部组织和成分价键 5下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括： （a）C-H、OH 和NH2 (b) C-H、和NH2, (c) C-H、和-C=C- (d) C-H、和 CO 二、推断题（正确的打，错误的打，每题 2 分，共 10 分） 1透射电镜图像的衬度与样品成分无关。（） 2扫描电镜的二次电子像的辨别率比背散射电子像更高。（）3透镜的数值孔径与折射率

3、有关。（）4放大倍数是推断显微镜性能的根本指标。（）5在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角 速度的二倍。（） 三、简答题（每题 5 分，共 25 分） 1. 扫描电镜的辨别率和哪些因素有关？为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关，因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小，产生信号的区域也小，辨别率就高。 2原子力显微镜的利用的是哪两种力，又是如何探测形貌的？ 范德华力和毛细力。 以上两种力可以作用在探针上，致使悬臂偏转,当针尖在样品上方扫描时，探测器可实时地检测悬臂的状态，并将其对应的表面形貌像显示纪录下来。 3.在核磁共振谱图中出现多重峰的缘由是什么？ 多重峰的出现是由于分子中相邻氢核自旋相互偶合造成的。在外磁场中，氢核有两种取向，与外磁场同向的起增加外场的作用，与外磁场反向的起减弱外场的作用。依据自选偶合的组合不同，核磁共振谱图中出现多重峰的数目也有不同，满意“n+1”规律 4什么是化学位移，在哪些分析手段中利用了化学位移？