第8章 可靠性PPT讲稿.ppt
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1、第8章 可靠性第1页,共72页,编辑于2022年,星期一 智能仪表除了具有优良的性能智能仪表除了具有优良的性能(如精度、量程如精度、量程)、强大的功能、强大的功能(如显示、可操作性、信号输出如显示、可操作性、信号输出)及较低的成本外,从应用的角及较低的成本外,从应用的角度度可靠性是最重要的指标可靠性是最重要的指标。可靠性不高。可靠性不高-仪表故障维修、仪表故障维修、无法正常生产、损坏相关设备、危及人身安全。无法正常生产、损坏相关设备、危及人身安全。可靠性技术是涉及面广泛的综合性技术,可靠性可靠性技术是涉及面广泛的综合性技术,可靠性贯穿于产品的贯穿于产品的设计、制造、使用维护的整个过程。设计、制
2、造、使用维护的整个过程。研制阶段的可靠性研制阶段的可靠性从三个方面考虑:从三个方面考虑:a减少因设计和制造带来的不可靠因素;减少因设计和制造带来的不可靠因素;b抗干扰技术,干扰是影响系统可靠性主要因素;抗干扰技术,干扰是影响系统可靠性主要因素;c系统的容错性设计,当影响系统可靠性的事件发生时,系统系统的容错性设计,当影响系统可靠性的事件发生时,系统如何避免和减少损失。如何避免和减少损失。第2页,共72页,编辑于2022年,星期一8.1 8.1 可靠性设计基础可靠性设计基础一、可靠性的基本概念一、可靠性的基本概念 分析仪表的可靠性,用统计规律去描述系统随机出现分析仪表的可靠性,用统计规律去描述系
3、统随机出现的故障,统计方法来描述维修时间的长短,定量的可靠性的故障,统计方法来描述维修时间的长短,定量的可靠性指标。指标。1 1、可靠度、可靠度 可靠率指在可靠率指在规定条件下规定条件下和和规定时间内规定时间内智能仪表完成所规定智能仪表完成所规定任务的成功率。任务的成功率。可靠率可靠率R(t):R(t)=S(t)/N 不可靠率不可靠率Q(t):Q(t)=F(t)/N第3页,共72页,编辑于2022年,星期一 2 2、失效率、失效率(故障率)指智能仪表运行到指智能仪表运行到t时刻后单位时间内发生故障的仪表台数时刻后单位时间内发生故障的仪表台数与与t时刻完好仪表台数之比。时刻完好仪表台数之比。失效
4、率失效率(t):(t)=NR(t)-R(t+t)/NR(t)*t 将上式写成微分形式得:将上式写成微分形式得:可见其符合指数规律。当某一时间的可靠性可见其符合指数规律。当某一时间的可靠性R(t)已知时已知时失效率可用下式计算:失效率可用下式计算:=/T,智能仪器的平均失效率与元,智能仪器的平均失效率与元器件失效有相同的变化规律,其器件失效有相同的变化规律,其“浴盆曲线浴盆曲线”如图。如图。对上式积分得:对上式积分得:第4页,共72页,编辑于2022年,星期一仪表系统典型的失效率曲线仪表系统典型的失效率曲线(a)(a)经典浴盆曲线经典浴盆曲线 (b)(b)新浴盆曲线新浴盆曲线 第5页,共72页,
5、编辑于2022年,星期一 只要知道产品的失效率,就很容易获得平均故障间隔只要知道产品的失效率,就很容易获得平均故障间隔时间时间MTBF。由上式可得到:由上式可得到:3 3、平均故障间隔时间、平均故障间隔时间 平均故障间隔时间平均故障间隔时间MTBF用来描述可修复的仪表;平均无故障用来描述可修复的仪表;平均无故障时间时间MTTF用于描述不可修复的仪表。它与可靠率用于描述不可修复的仪表。它与可靠率R(t)之间的关系为:之间的关系为:第6页,共72页,编辑于2022年,星期一可用性可用性-仪表能按要求正仪表能按要求正常工作的概率,也就是仪器常工作的概率,也就是仪器的使用效率。可用性的使用效率。可用性
6、A与与MTBF和和MTTR之间的关系之间的关系为:为:4 4、平均修复时间和可用性、平均修复时间和可用性 平均修复时间平均修复时间MTTR:第7页,共72页,编辑于2022年,星期一二、影响可靠性的因素二、影响可靠性的因素影响可靠性的因素统称为干扰,有外部和内部。影响可靠性的因素统称为干扰,有外部和内部。1 1、外部干扰、外部干扰 如图示。如图示。第8页,共72页,编辑于2022年,星期一 电网干扰:电网干扰:电网的高次谐波、尖峰脉冲,电压大幅波动等电网的高次谐波、尖峰脉冲,电压大幅波动等形成干扰。形成干扰。空间电磁干扰:空间电磁干扰:电场、磁场、电磁波、雷电、辐射射线通电场、磁场、电磁波、雷
7、电、辐射射线通过各种耦合途径进入仪表,特别是大功率电动设备。过各种耦合途径进入仪表,特别是大功率电动设备。操作失误干扰:操作失误干扰:设计存在不足误操作可能造成严重后果,设计存在不足误操作可能造成严重后果,影响正常使用。影响正常使用。环境理化干扰:环境理化干扰:温度、湿度、压力、腐蚀气体、风沙尘土对仪温度、湿度、压力、腐蚀气体、风沙尘土对仪表性能和寿命的影响。表性能和寿命的影响。机械振动干扰:机械振动干扰:安装在塔、架、管道上及安装运输过程的仪表,安装在塔、架、管道上及安装运输过程的仪表,振动影响其性能和寿命。振动影响其性能和寿命。第9页,共72页,编辑于2022年,星期一2 2、内部干扰、内
8、部干扰 元器件失效:元器件失效:各种各样的元器件都有自己的失效率,是各种各样的元器件都有自己的失效率,是不可避免的。可不可避免的。可筛选元件、改善制造工艺筛选元件、改善制造工艺、选用大规模集成电路选用大规模集成电路降低失效率。降低失效率。内部电磁干扰:内部电磁干扰:内部各单元间、内部各单元间、信号线间、信号线与信号线间、信号线与电源、地间不可避免存在电磁干扰。电源、地间不可避免存在电磁干扰。电气互联故障干扰:电气互联故障干扰:器件、单元间电器上的互联,如焊、器件、单元间电器上的互联,如焊、接插件、信号线影响仪表可靠性,维修时应首先检查此类故接插件、信号线影响仪表可靠性,维修时应首先检查此类故障
9、。障。软件故障干扰:软件故障干扰:软件设计不周密使在某特殊情况下不能软件设计不周密使在某特殊情况下不能正确处理,电磁干扰和错误操作都以软件故障形式表现出来。正确处理,电磁干扰和错误操作都以软件故障形式表现出来。第10页,共72页,编辑于2022年,星期一四、方案设计时可靠性的原则四、方案设计时可靠性的原则 仪表系统的方案:仪表系统的方案:根据性能指标、功能要求确定系统根据性能指标、功能要求确定系统结构形式、软硬件分工、具体硬件形式等。结构形式、软硬件分工、具体硬件形式等。方案基本决定方案基本决定了系统的可靠性了系统的可靠性。遵循以下原则:遵循以下原则:1 1、简化方案:、简化方案:在满足性能指
10、标、功能的前提下,在满足性能指标、功能的前提下,减少元减少元器件、简化结构器件、简化结构就降低了失效率。但提高可靠性的如抗干扰、就降低了失效率。但提高可靠性的如抗干扰、容错、冗余设计是必要的。容错、冗余设计是必要的。2 2、避免片面高性能和多功能:、避免片面高性能和多功能:在现有技术条件下,注意处在现有技术条件下,注意处理好理好高指标、多功能和可靠性高指标、多功能和可靠性的关系。的关系。第11页,共72页,编辑于2022年,星期一 3 3、合理划分软硬件功能:、合理划分软硬件功能:软件具有硬件无法比拟的功能,不存软件具有硬件无法比拟的功能,不存在失效性,应在失效性,应以软代硬以软代硬。但软件负
11、担过重,。但软件负担过重,CPUCPU时间资源不允许,时间资源不允许,开发的难度增大不易保证软件的可靠性。可使用开发的难度增大不易保证软件的可靠性。可使用可编程芯片可编程芯片,简化硬件提高可靠性。简化硬件提高可靠性。4 4、数字代模拟电路:、数字代模拟电路:数字电路稳定性好、抗干扰能力强、数字电路稳定性好、抗干扰能力强、易集成制造、易标准化设计;多采用易集成制造、易标准化设计;多采用集成度高的数字芯片集成度高的数字芯片,密封,密封好、焊点少、失效率低。好、焊点少、失效率低。5 5、变被动为主动:、变被动为主动:方案设计时,方案设计时,对易遭受干扰的环节主动采对易遭受干扰的环节主动采取可靠性保障
12、措施取可靠性保障措施,以免出现问题时被动应付。抗干扰技术和容错,以免出现问题时被动应付。抗干扰技术和容错技术是重要的主动措施。技术是重要的主动措施。第12页,共72页,编辑于2022年,星期一一、元器件选用一、元器件选用 1 1、分立半导体器件的选用、分立半导体器件的选用 主要考虑电压应力、电流应力、工作频率、型号互换。主要考虑电压应力、电流应力、工作频率、型号互换。电压应力电压应力:指器件承受电压的极限值,如过压会出现指器件承受电压的极限值,如过压会出现瞬时击穿和瞬时击穿和永久性击穿永久性击穿。器件性能的分散性和感性负载易造成击穿。器件性能的分散性和感性负载易造成击穿。电流应力电流应力:指器
13、件承受的最大电流。电流大时器件指器件承受的最大电流。电流大时器件超过允许温度超过允许温度将将失效。对功率器件降低等级使用、散热措施。失效。对功率器件降低等级使用、散热措施。工作频率工作频率:器件频率应合适,工作频率超过上限频率则器件频率应合适,工作频率超过上限频率则性性能下降或失效能下降或失效,高频器件低频工作,高频器件低频工作噪声系数将增大噪声系数将增大。型号互换型号互换:器件互换性强,互换器件互换性强,互换参数应匹配参数应匹配。8.2 8.2 元器件的可靠性元器件的可靠性第13页,共72页,编辑于2022年,星期一 2 2、电阻和电位器选用、电阻和电位器选用 按材料分:按材料分:合金型、薄
14、膜型、合成型。合金型、薄膜型、合成型。阻值稳定性:阻值稳定性:材料老化阻值缓慢变化,受温度影响阻值材料老化阻值缓慢变化,受温度影响阻值变化。精密电路中温漂系数很重要。变化。精密电路中温漂系数很重要。工作频率:工作频率:高频工作时,参数受分布电容、趋肤效应、介高频工作时,参数受分布电容、趋肤效应、介质损耗、引线电感等影响。质损耗、引线电感等影响。功率:功率:承受的功率超过额定值时,会因温度升高而失效,可降承受的功率超过额定值时,会因温度升高而失效,可降额使用。额使用。噪声:噪声:微弱信号电路中,噪声值得重视。微弱信号电路中,噪声值得重视。特点:特点:同类电位器比电阻的性能和可靠性差同类电位器比电
15、阻的性能和可靠性差,失效率大,失效率大10100倍,故少用、采取容错措施(开路、短路);倍,故少用、采取容错措施(开路、短路);性能为性能为:高高碳膜碳膜金属膜金属膜精密合金箔电阻精密合金箔电阻低低;绕线电阻稳定性最好绕线电阻稳定性最好,用于,用于精密测量中。精密测量中。第14页,共72页,编辑于2022年,星期一 3 3、电容器选用、电容器选用 介质不同分:无机、有机、电解介质三类。介质不同分:无机、有机、电解介质三类。频率范围:频率范围:电容工作在交流状态,存在固有的谐振频率(自身、电容工作在交流状态,存在固有的谐振频率(自身、引线电感),须引线电感),须工作频率小于谐振频率工作频率小于谐
16、振频率,介质限制了频率,没有高,介质限制了频率,没有高低频特性都好的电容器。低频特性都好的电容器。高频用瓷、云母介质高频用瓷、云母介质;中频用有机聚合物介中频用有机聚合物介质质;低频用电解介质低频用电解介质。容量稳定性:容量稳定性:温度和制造工艺影响稳定性。温度和制造工艺影响稳定性。聚苯乙烯最好聚苯乙烯最好;高高频云母优于瓷介质频云母优于瓷介质;低频胆介质优于铝电解低频胆介质优于铝电解。噪声性能:噪声性能:漏电产生噪声,损耗角正切值小的电容噪声小。漏电产生噪声,损耗角正切值小的电容噪声小。电解电容噪声最大电解电容噪声最大。电压负荷:电压负荷:随着频率增大承受的电压下降随着频率增大承受的电压下降
17、。承受电压。承受电压高高无机无机聚合物聚合物电解电解低低。承受功率:承受功率:电源滤波中应考虑功率问题。电源滤波中应考虑功率问题。电容对电路性能和可靠性影响大的多,容易失效电容对电路性能和可靠性影响大的多,容易失效。第15页,共72页,编辑于2022年,星期一 4 4、集成芯片选择、集成芯片选择 集成芯片性能优越、稳定性好、分散性小、可靠性高,所以应集成芯片性能优越、稳定性好、分散性小、可靠性高,所以应优先选用。分为模拟和数字芯片。优先选用。分为模拟和数字芯片。数字芯片:数字芯片:实现功能、速度、电压范围、信号状态与电平阈值、实现功能、速度、电压范围、信号状态与电平阈值、关门电阻、扇出系数、最
18、高工作功率、单门延时、噪声容限、工作温关门电阻、扇出系数、最高工作功率、单门延时、噪声容限、工作温度范围、功耗、封装形式。度范围、功耗、封装形式。选择:选择:首先是首先是合适级别合适级别的产品,其次重要指标是的产品,其次重要指标是速度和功耗速度和功耗。74LS器件速度较快,功耗较大;器件速度较快,功耗较大;CMOS器件电源范围宽,抗干器件电源范围宽,抗干扰性好,功耗低,速度较慢;扰性好,功耗低,速度较慢;74HC具有具有74LS高速和高速和CMOS低功低功耗。耗。超大规模超大规模芯片(芯片(CPU、可编程)应选用低功耗的、可编程)应选用低功耗的CMOS类。类。第16页,共72页,编辑于2022
19、年,星期一 模拟芯片:模拟芯片:实现功能、单电源实现功能、单电源/双电源、电压范围、功双电源、电压范围、功耗、输入电阻、输入信号电压幅值、输出电阻、输出功率、耗、输入电阻、输入信号电压幅值、输出电阻、输出功率、截至频率、增益、共模拟制比、线性度、噪声系数、温度漂截至频率、增益、共模拟制比、线性度、噪声系数、温度漂移、封装形式等。模拟芯片重点是移、封装形式等。模拟芯片重点是精度和稳定性精度和稳定性,影响因素特,影响因素特别多,故尽量选数字芯片。别多,故尽量选数字芯片。总的应遵循的原则:总的应遵循的原则:a.对品种、规格、型号、厂家要对品种、规格、型号、厂家要优选、定点优选、定点供应,减少分供应,
20、减少分散性。散性。b.详细了解器件性能参数,保证工作在详细了解器件性能参数,保证工作在额定值内额定值内。c.尽可能压缩品种、规格,提高尽可能压缩品种、规格,提高复用率复用率。d.优先选用优先选用大规模、数字大规模、数字集成芯片。集成芯片。第17页,共72页,编辑于2022年,星期一 筛选:筛选:从一批元器件中选出可靠性高的,淘汰有潜在缺陷的从一批元器件中选出可靠性高的,淘汰有潜在缺陷的器件,提高仪表器件级的可靠性。器件,提高仪表器件级的可靠性。1 1、元器件失效的特点、元器件失效的特点 元器件在制造时,因材料、工艺、设备的波动和人为因素,元器件在制造时,因材料、工艺、设备的波动和人为因素,总有
21、部分成品存在总有部分成品存在二、元器件筛选二、元器件筛选潜在缺陷潜在缺陷,寿命远低于同批产,寿命远低于同批产品的平均寿命。品的平均寿命。实验得到实验得到失效率的分布曲失效率的分布曲线线:早期失效率高是潜在缺陷引:早期失效率高是潜在缺陷引起;正常使用失效率很低,大于起;正常使用失效率很低,大于MTBF;老化导致失效。;老化导致失效。第18页,共72页,编辑于2022年,星期一2 2、元器件筛选、元器件筛选 筛选是留用寿命长、离散性小的元器件。筛选是留用寿命长、离散性小的元器件。筛选方案:筛选方案:根据不同器件的失效模式和机理制定筛选项目、根据不同器件的失效模式和机理制定筛选项目、应力施加条件、筛
22、选尺度等。应力施加条件、筛选尺度等。筛选设备:筛选设备:专用设备专用设备价高、利用率低,难具备此条件。价高、利用率低,难具备此条件。基本基本条件条件高温存储、功率老化、关键指标测试、比较。高温存储、功率老化、关键指标测试、比较。委托筛选委托筛选可靠可靠性要求极高,无法完成可委托专门机构进行。性要求极高,无法完成可委托专门机构进行。效益:效益:筛选要付出人力、物力、财力、时间,淘汰等品又筛选要付出人力、物力、财力、时间,淘汰等品又增加成本,但增加成本,但统计表明统计表明:如工业品元器件筛选损失:如工业品元器件筛选损失30元,不筛选时,元,不筛选时,电路板调试时元件失效损失达电路板调试时元件失效损
23、失达190元、整机调试时元件的失效率损失达元、整机调试时元件的失效率损失达340元。可见筛选的重要。元。可见筛选的重要。第19页,共72页,编辑于2022年,星期一三、降额设计三、降额设计 降额设计:降额设计:器件的额定参数乘小于器件的额定参数乘小于1的系数后使用。降低元的系数后使用。降低元器件承受的应力,考虑了器件参数的分散性、工作环境变化等器件承受的应力,考虑了器件参数的分散性、工作环境变化等因素。根据不同器件失效模型对因素。根据不同器件失效模型对主要应力进行降额主要应力进行降额。1 1、电阻、电阻 对与工作环境温度相关的对与工作环境温度相关的功率降额功率降额。当低于。当低于65度时系数取
24、度时系数取0.10.6。小于。小于0.1反而不利驱潮气,失效率增大。反而不利驱潮气,失效率增大。2 2、电容器、电容器 对对电压降额电压降额。工作电压应是交流峰值与直流电压之和,一般。工作电压应是交流峰值与直流电压之和,一般系数小于系数小于0.6,温度低于,温度低于50度(特别是电解电容)。度(特别是电解电容)。第20页,共72页,编辑于2022年,星期一 3 3、半导体器件、半导体器件 一般要求温度低于一般要求温度低于50度,系数取度,系数取0.6。晶体管和稳压管:晶体管和稳压管:系数系数=实际功耗实际功耗/25度额定功耗。度额定功耗。二极管和可控硅:二极管和可控硅:系数系数=平均正向电流平
25、均正向电流/25度额定电流。度额定电流。光电器件:光电器件:系数系数=平均正向电流平均正向电流/25度额定正向电流,并乘以最度额定正向电流,并乘以最大允许结温的系数。大允许结温的系数。4 4、微处理器和总线、微处理器和总线 微处理器的主频:微处理器的主频:主频高工作速度高,但主频高功耗增加、传输主频高工作速度高,但主频高功耗增加、传输线不能太长、总线容性负载能力下降,接近最高主频时可靠性降低。故线不能太长、总线容性负载能力下降,接近最高主频时可靠性降低。故在满足要求时,对最高频率采取降额设计。在满足要求时,对最高频率采取降额设计。总线负载:总线负载:一般系统采用总线结构,考虑负载引起信号电平和
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