第21届南京地区研究生通信年会论文集 D.pdf
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1、第二十一届南京地区研究生通信年会论文集 779基于 AMD AU1200 和 Windows CE 的 便携式多媒体播放器设计 陈欣荣,裴文江(东南大学无线电工程系;江苏 南京;210096)摘 要:基于对便携式媒体播放器(PMP)的认识,本文分析了 AMD 推出的 AU1200 片上系统解决方案。在此基础上,提出基于 AU1200 和 Windows CE 的设计方案和软硬件架构,重点分析了主处理器 AU1200的接口设计与 Windows CE 在其上的移植。文章最后对方案进行总结并对下面工作进行展望。关键词:便携式媒体播放器;嵌入式处理器;嵌入式系统移植 Design of Media
2、Player Based on AMD AU1200 and Windows CE Embedded System Chen Xinrong,Pei Wenjiang(Southeast University;Department of radio engineering;Nanjing China;210096)Abstract:The paper analyses the project of AMDs embedded processor based on the concept and characteristics of the Portable Media Player(PMP).
3、Following that,it gives PMP hardware and software project implementation based on AU1200 and Windows CE,then analyses the AU1200s interface design and the transplantation of Windows CE.In the end,it summarizes the project and prospects the father work.Key words:PMP;embedded processor;transplantation
4、 of embedded system 随着对娱乐需求的提高,仅仅强调听觉效果已经不能满足人们的需要。在近年来具有 MP4 播放功能的便携式多媒体播放器(PMP)由于能够能够同时满足视听享受,而作为一种随身娱乐装置迅速迅速崛起。PMP 结合了口袋型液晶显示器与微型硬盘,可浏览数字图片、播放数字影音,也可看电视、听收音机,集多媒体影音于一机。本文在了解 AMD Alchemy 方案的基础上,分析了 AMD 推出的 AU1200 片上系统解决方案,提出基于 AU1200 和 Windows CE 的设计方案和软硬件架构,实现了主处理器 AU1200 的接口设计与 Windows CE在其上的移植。
5、文章最后对方案进行总结并对下面工作进行展望。1 基于 AU1200 的 PMP 硬件实现方案 目前,主流 PMP 芯片的解决方案很多,包括 SigmaDesigns EM851x 方案,AMD Alchemy 解决方案,英特尔 PXA27x 的解决方案,TI DM320 DSPARM 处理器的解决方案,飞思卡尔 i.MX31 解决方案,凌阳 SPCA536 解决方案,Zoran 解决方案,Ittiam 的 MediaAlbum 解决方案,飞利浦的 PNX0190E 方案1。而本文则采用了 AMD Alchemy 解决方案。2005 年 1 月,AMD 公司于宣布推出 AMD Alchemy A
6、U1200 处理器。这是一个低功耗、高性能的片上系统解决方案。AU1200 集成媒体加速硬件和配套的媒体播放器,针对 PMP 进行了专门的优化,可以提供诸如:支持多种媒体格式,可扩展的 DVD 质量显示,从数字录像机直接传输视频内容,更长的电池使用寿命等多种新一代的功能2。基于 AU1200 的 PMP 方案系统架构3如图 1 所示。第二十一届南京地区研究生通信年会论文集 780 图 1 基于 AU1200 的 PMP 方案系统架构图 1.1 基于 AU1200 的 PMP 方案硬件具体设计实现 基于 AU1200 的 PMP 实现方案的硬件部分由主处理器、内存、启动 ROM、主存储器、音频
7、CODEC、LCD 屏、外围扩展接口、键盘、电源等部分组成。主处理器 AU1200,是一款低功耗/高性能的处理器,以 MIPS32 为内核。主要特性包括:功耗极低:-TARGET:waiting for target Vcc BDI_OXYGEN-TARGET:waiting for target Vcc BDI_OXYGEN-TARGET:processing user reset request BDI_OXYGEN-Target ID code is 0 x1040228F BDI_OXYGEN-Target IMP regis 0 x20404000 BDI_OXYGEN-TARGET
8、:resetingtarget passed BDI_OXYGEN-TARGET:processing target startup.BDI_OXYGEN-TARGET:processing target startup passed BDI_OXYGENerase BDI_OXYGENprog0/yamon-02.27GDB1200.rec.m Autoboot 基本特征:支持的目标文件有 ELF,SREC,BIN;支持的存储媒质类型为 FLASH,Secure Digital Card。编译 Autoboot 的过程与编译 YAMON 类似。烧写的主要过程为:YAMONerase 0 xb
9、fd00000 d0000;YAMON load/booter.rec.m;YAMON go 0 xbfd00000。2.2 Windows CE 系统移植 本 次 移 植 已 经 带 有 硬 件 驱 动,没 有 需 要 编 写 驱 动,主 要 任 务 就 是 修 改 原 BSP 下 的KERNELHALARMfwxsc1.s 和 EBOOTmain.c 两个文件,其他一些程序文件也进行了小的调整,以适应硬件上的变更。3 总结和未来展望 PMP 具有欣赏电影、音乐播放、图像浏览、文本阅读、收听 FM 等功能,成为一种综合多种娱乐方式便携式设备。基于 AU1200 的 PMP 方案优势在于比较低
10、的成本和更小的功耗;集成硬件解码器,不需要外部 DSP;较高的处理主频,配合 DDR 内存,使系统获得高速的数据处理能力1。今后,我们的目标是在其上增加 GPS,DVBT 等功能。相信这样的 PMP 在未来的车载系统上会得到欢迎。关于 PMP 的未来反展趋势,主要是这样的三个方面,增加硬件编码能力,可以配合摄像头和 TV 接收模块;增加联网功能;显示质量由标准清晰度向高清晰度发展1。参 考 文 献 1 方明等.基于 AMD Alchemy AU1200 嵌入式处理器的媒体播放器设计.现代电子技术,2006,2:73-75.2 AMD Technologies Inc.AMD Alchemy A
11、U1200 DataSheet.http:/,2005-01.3 AMD Technologies Inc.Aul200 Processor Application Guide.http:/,2005-09.4 陈耀武等.Windows CE.NET 系统在 XSCALE 上的移植.工业控制计算机,2004,17(4):30-31.第二十一届南京地区研究生通信年会论文集 783一种带纠错功能的 SRAM 的内建自测试设计方案 邓禹丹1,吴 宁2(南京航空航天大学信息科学与技术学院;江苏南京;210016)摘 要:选用具有自诊断功能的字定向MARCH CTBW算法,实现了SRAM存储器的内建自测
12、试结构设计。在BIST结构中,加入数据纠错模块,该纠错模块基于汉明码数据纠错原理,采用ECC编码算法实现,可对SRAM的数据进行错误检测和纠正。文章最后用硬件描述语言实现该设计方案,仿真得到一系列实验结果和数据,表明了带纠错功能的内建自测试设计方案可以有效地解决高密度存储器的测试问题。关键词:内建自测试;MARCH CTBW算法;ECC编码;数据纠错 Built-In Self-Test Design with Error Correction Module for SRAM Deng Yudan1,Wu Ning2(College of Information Science and Tec
13、hnology,Nanjing University of Aeronautics and Astronautics,Nanjing,210016,China)Abstract:In this paper,we describe the BIST design for SRAM using MARCH C-TBW test algorithm and the error checking and correction(ECC)module is added in this design.The ECC module is based on the error correction princi
14、ple of Hamming code and coding algorithm.Adding ECC module improves reliability of data access in system.The whole BIST design is written in Verilog HDL and simulated in QuartusII.The results show this designs feasibility and improve systems stability and testablilty.Key words:BIST;MARCH C-TBW;ECC c
15、ode;data correction 1 引 言 存储器是数字系统中常用的器件之一。随着高速、高集成度存储器的出现,存储器的测试也变得复杂,对嵌入式存储器的测试就更加困难。用内建自测试(Built-in Self-test,BIST)方法对存储器进行可测性设计成为业界的共识。内建自测试能够很好的解决测试矢量生成和响应分析等问题,降低存储器的测试成本。本文选用一块2K8bit的SRAM作为研究对象,采用MARCH CTBW测试算法1对其进行内建自测试设计。在此基础上,对内建自测试模块功能进行扩充,加入数据纠错模块,以达到系统正常工作时可对SRAM中的数据进行校验的目的。该纠错模块基于汉明码的数
16、据纠错原理,采用ECC编码算法2,可纠正单个故障。设计的纠错模块可实时运行,在对SRAM整块数据存入和写出的同时计算出校验码,检测SRAM存取数据的正确性,及时纠正数据错误位,达到高精度的数据操作要求。2 SRAM 存储器的故障描述 SRAM具有速度快与不需要刷新等优点,广泛用于高性能的计算机系统。它不仅被作为单独产品使用,同时还被大量的集成在VLSI芯片内部,以提高读写速度和降低封装成本。SRAM存储器具有一般存储器所第二十一届南京地区研究生通信年会论文集 784有的典型故障 23。(1)地址译码故障(Address Decoder Fault,AF):地址译码逻辑中产生的故障。(2)存储器
17、阵列故障:专指在存储单元中的故障,有以下的简单分类:固定故障(State-At-Faults,SAF)、转换故障(Transition Faults,T F)、耦合故障(Coupling Faults,CF)、相邻矢量敏化耦合故障(Neighborhood Pattern Sensitive Faults,NPSF)、开路故障(State Open Faults,SOF)。(3)数据保留故障(Data Retention Fault,DRF):存储器单元逻辑值经过一些周期后由于漏电而改变。3 MARCH CTBW 测试算法描述 常用的存储器测试算法有存储器扫描、棋盘式图形、飞驰图形和MARCH
18、算法 4等,在这众多的测试算法中,MARCH算法以其复杂度低和故障覆盖率高而成为业界最喜爱的测试算法5。通过对各种MARCH测试算法的分析比较,本文选用了参考文献1中提出的具有字节定向功能的MARCH CTBW算法。字节定向MARCH C-TBW算法是从位定向的MARCH C-TB测试算法中衍生而来,读写操作由位扩展成字节,同时增加了一些March单元,共有M0到M15个测试单元,每个单元是一个测试状态 1。该算法除了能够检测和区分地址译码故障和存贮器阵列故障外,还能够检测字节内部存储单元之间的故障,是March算法中比较优秀的一种。4 数据纠错模块设计 4.1 ECC校验码计算方法 ECC是
19、Error Checking and Correction的简称2,它是基于汉明码的检错和纠错原理6,采用数据块的概念和复杂的演算方法来校验数据,能检测多位错误和纠正一位错误。ECC对每个字节使用3bit(PP4,PP2,PP1)来编码,其编码方法见表1。表1 一个字节的ECC码的计算方法 同理对于一个2048个字节的数据块,对应28位ECC校验码,ecc_code 22位行校验码6位列校验码。为了方便,我们用32位(4字节)表示如下。各个bit位的计算方法见图1。(P8129,P8129,P4096,P4096,P2048,P2048,1*,1*;P1024,P1024,P512,P512,
20、P256,P256,P128,P128;P64,P64,P32,P32,P16,P16,P8,P8;P4,P4,P2,P2,P1,P1,1*,1*;)备注:“1*”只是用1占据了一个无关数据位,不需要关心。4.2 ECC模块设计方案 数据纠错模块要求能够对SRAM中存储的数据进行编码计算,对存入的数据计算出校验码ecc_code1,对相应读出的数据计算出校验码ecc_code2。ECC模块设置的外接引脚说明如下:PP1=bit1bit3bit5bit7 PP1=bit0bit 2bit4bit 6 PP2=bit2bit3bit6bit7 PP2=bit0bit 1bit4bit 5 PP4=
21、bit4bit5bit6bit7 PP4=bit0bit 1bit2bit 3 第二十一届南京地区研究生通信年会论文集 785clk和sram同步的时钟信号;wr读入数据控制信号;reset复位信号,清零寄存器和输出信号;ready_out发信号给外界可以读校验码;indata数据输入端口(8bit);ecc_out校验码输出端口(32bit)。ECC检错和纠错流程:数据写入SRAM时ECC模块得到数据计算出校验码ecc_code1,该结果送给BIST控制器存入寄存器中,之后当数据从SRAM读出时,ECC模块计算出校验码ecc_code2,随后将ecc_code2送给BIST控制器,BIST控
22、制器将两次接收到的ecc_code1和ecc_code2按位异或得到ecc_code3,分析ecc_code3有以下几种结果:1)全0:无错。2)有14个“1”,同时每个相对应的校验位(例如P8和P8)的组合是10或01的组合:出现一位可纠正的错误,根据出错位地址可以纠错。出错位的地址:(出错位的地址:(P8192,P4096,P2048,P1024,P512,P256,P128,P64,P32,P16,P8 P4,P2,P1)3)只有1个“1”:ECC校验码错误。4)其他随机数:数据存入和读取过程出现至少两位错误,但无法纠正错误。5 SRAM BIST 模块设计 内建自测试电路一般包括测试控
23、制、测试向量生成和响应分析比较单元78。电路自己生成测试向量,而不需要外部施加。在测试模式下测试控制电路控制SRAM的读写操作,响应比较电路把读到的数据与期望数据比较,最后给出测试结果。本文在SRAM BIST的通用结构上加入了数据纠错模块,结构框架见图2,模块包括以下几个单元:BIST控制器、ECC纠错模块、地址发生器、数据发生器、数据比较器和多路选择器。BIST Control控制整个模块的工作流程,对其他各个模块发控制命令并接收反馈结果。bistmode决定当前SRAM处于何种工作状态,多路选择器根据bistmode来选择是正常模式还是测试模式下的数据与地址。图 2 带 ECC 纠错模块
24、的 SRAM BIST 结构图 BISTControladdr_generatedata_generateECC Moduledata_compareSRAM underTESTMUXsys_addrsys_datatest_addrtest_datadata_typecomp_resultecc_enaddr_entclkbistmodetest_resultsram_addr inputdataecc_code/F_codeweoecstest_donetest_startoutputdatacomp_data图 1 2048 个字节的 ECC CODE 计算方法第二十一届南京地区研究生通
25、信年会论文集 786bistmode决定了BIST模块的四种工作模式,具体电路信号定义和描述如表2所示。表2 电路信号定义表 系统正常工作时:bistmode00,系统对SRAM读取或者写入数据,不计算校验码。bistmode01,系统对SRAM写入数据,同时BIST Control控制ECC模块开始计算ecc_code1。bistmode10,系统对SRAM读取数据,同时BIST Control控制ECC模块开始计算ecc_code2,最后分析ecc_code1和ecc_code2得到系统读取的数据的正确与否。系统测试状态:bistmode11,模块进入SRAM自测试模式,接受到test_s
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