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1、Four short words sum up what has lifted most successful individuals above the crowd: a little bit more.-author-dateSMT焊接推力检验标准半成品序号物料名称图片测试方法推力标准Kgf10402器件1.消除阻碍0402元器件边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊0.5520603器件1.消除阻碍0603元器件边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件
2、是否脱焊1.0030805器件1.消除阻碍0805元器件边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊2.1041206器件1.消除阻碍1206元器件边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊2.505SIM卡连接器1.消除阻碍SIM卡连接器边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊4.006SOT231.消除阻碍SOT23元器件边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试
3、验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊1.507SOP5 IC1.消除阻碍SOP5 IC元器件边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊2.008SPO6 IC1.消除阻碍SOP6 IC元器件边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊2.009晶体1.消除阻碍晶体元器件边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊2.0010RF连接器1.消除阻碍RF连接器边缘的其它元器件2.选
4、用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊3.0011开关1.消除阻碍开关边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊3.5012POGPIN连接器1.消除阻碍连接器边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊5.0013电池连接器1.消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊3.5014耳机(按插拔方向推力)1.消除阻碍耳机
5、边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊5.5015USB插座(按插拔方向推力)1.消除阻碍USB插座边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊3.5016TF卡座1.消除阻碍TF卡座边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊4.5017纽扣电池1.消除阻碍电池边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊2.5018多脚芯片(8脚及以上)1.消除阻碍芯片边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊2.0019BGA芯片1.消除阻碍芯片边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊2.50注:除指定的推力方向外,其余均以器件较长的一面进行推力-
限制150内