实验一-集成逻辑门电路(TTL和CMOS)的参数测试(3页).doc

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1、-第 1 页实验一-集成逻辑门电路(TTL 和CMOS)的参数测试-第 2 页实验一实验一 集成逻辑门电路（集成逻辑门电路（TTLTTL 和和 CMOSCMOS）的参数测试）的参数测试一、实验目的一、实验目的1、掌握 TTL 和 CMOS 与非门主要参数的意义及测试方法。2、熟悉数字逻辑实验箱的基本功能和使用方法。二、实验仪器及设备二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验台2、万用表 2 只3、元器件：74LS20（T063）、CC4012 各一块，2CK11 4 只4、电阻及导线 若干三、实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形）三、实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形）图 1-1图 1-21、T

2、TL 与非门 74LS20 静态参数测试导通电源电流 ICCL 和截止电源电流 ICCH。测试电路如图 1-1。74LS20 为双与非门，两个门的输入端作相同处理。测得 ICCL=12mA，ICCH=1.6mA低电平输入电流 IiL 和高电平输入电流 IiH。每一门和每一输入端都测试一次。测试电路如图 2-2。2、电压传输特性。调节电位器 RW，使 Vi 从 0V 向 5V 变化，逐点测试 Vi 和 VO值，将结果记录入下表中。测试电路如图 1-3。图 1-3Vi0.30.511.21.31.351.41.451.51.61.72.43.6Vo3.63.632.72.42.11.61.31.0

3、0.70.30.30.33、CMOS 双四输入与非门 CC4012 静态参数测试参数1A1B1C1D2A2B2C2DIiL(mA)1.11.21.11.01.01.11.11.0IiH(uA)999910998-第 3 页将 CC4012 正确插入面包板，测电压传输特性。测试电路和方法同上，输出端为空载测量。将结果记录入下表中。Vi00.5122.32.42.452.52.552.62.734.55Vo55555555000000实验结果分析（回答问题）1、测量 TTL 与非门输出低电平时要加负载，因为要求集成块有一定带负载的能力，而 TTL 与非门输出低电平时会有较大负载电流。图 2-3 中 R 选用 360是根据最大允许负载电流为：扇出系数（8）低电平输入电流 I iL（1.6mA）得到的。若 R很小会使负载电流过大，无法得到正常的输出低电平。2、与非门输入端悬空可以当作输入为“1”，因为悬空相当于 Ri=，由输入端负载特性可得此结论。3、TTL 或非门闲置输入端的处置方法：与其它输入端并联；接地。4、实验中所得 ICCL 和 ICCH 为整个器件值，单个门电路的 ICCL 和 ICCH 为所测值的一半。5、CC4012 的 VDD=15V，则其 VOH=14.95V、VOL=0.05V、VTH=7.5V。重点讲解组合逻辑电路的实验分析的方法与步骤及在实验设备中如何去实现。