第四章射线衍射方法的实际应用精选PPT.ppt
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1、第四章射线衍射方法的实际应用第1页,此课件共88页哦点阵常数的精确测定点阵常数的精确测定 任何一种晶体材料的点阵常数都与它所处的状态有关。任何一种晶体材料的点阵常数都与它所处的状态有关。当外界条件(如温度、压力)以及化学成分、内应力当外界条件(如温度、压力)以及化学成分、内应力等发生变化,点阵常数都会随之改变。等发生变化,点阵常数都会随之改变。这种点阵常数变化是很小的,通常在这种点阵常数变化是很小的,通常在1010-5nmnm量级。量级。精确测定这些变化对研究材料的相变、固溶体含量及分精确测定这些变化对研究材料的相变、固溶体含量及分解、晶体热膨胀系数、内应力、晶体缺陷等诸多问题非解、晶体热膨胀
2、系数、内应力、晶体缺陷等诸多问题非常有作用。所以精确测定点阵常数的工作有时是十分必常有作用。所以精确测定点阵常数的工作有时是十分必要的。要的。第2页,此课件共88页哦(一)点阵常数的测定(一)点阵常数的测定X X射线测定点阵常数是一种间接方法,它直接射线测定点阵常数是一种间接方法,它直接测量的是某一衍射线条对应的测量的是某一衍射线条对应的角,然后通过角,然后通过晶面间距公式、布拉格公式计算出点阵常数。以晶面间距公式、布拉格公式计算出点阵常数。以立方晶体为例,其晶面间距公式为:立方晶体为例,其晶面间距公式为:根据布拉格方程根据布拉格方程2dsin=2dsin=,则有:,则有:在式中,在式中,是入
3、射特征是入射特征X X射线的波长,是经过精射线的波长,是经过精确测定的,有效数字可达确测定的,有效数字可达7 7位数,对于一般分位数,对于一般分析测定工作精度已经足够了。干涉指数是整数析测定工作精度已经足够了。干涉指数是整数无所谓误差。所以影响点阵常数精度的关键因无所谓误差。所以影响点阵常数精度的关键因素是素是sinsin。第3页,此课件共88页哦影响点阵常数精度的关键影响点阵常数精度的关键因素是因素是sinsin由图可见,当由图可见,当角位于低角度时,若存在角位于低角度时,若存在一一的测量误差,对应的的测量误差,对应的sinsin的误差的误差范围很大;当范围很大;当角位于高角度时,若存在角位
4、于高角度时,若存在同样同样的测量误差,对应的的测量误差,对应的sinsin的误的误差范围变小;当差范围变小;当角趋近于角趋近于9090时,尽管时,尽管存在同样大小的存在同样大小的的测量误差,对应的的测量误差,对应的sinsin的误差却趋近于零的误差却趋近于零。第4页,此课件共88页哦直线外推法直线外推法如果所测得的衍射线条如果所测得的衍射线条角趋近角趋近9090,那么误差(,那么误差(a/aa/a)趋近于)趋近于0 0。但是,要获得但是,要获得=90=90的衍射线条是的衍射线条是不可能的。于是人们考虑采用不可能的。于是人们考虑采用“外外推法推法”来解决问题。来解决问题。所谓所谓“外推法外推法”
5、是以是以角为横坐标,角为横坐标,以点阵常数以点阵常数a a为纵坐标;求出一系列为纵坐标;求出一系列衍射线条的衍射线条的角及其所对应的点阵常角及其所对应的点阵常数数a a;在所有点阵常数;在所有点阵常数a a坐标点之间作坐标点之间作一条直线交于一条直线交于=90=90处的纵坐标轴处的纵坐标轴上,从而获得上,从而获得=90=90时的点阵常数,时的点阵常数,这就是精确的点阵常。这就是精确的点阵常。第5页,此课件共88页哦柯亨法柯亨法(最小二乘法最小二乘法)直线图解外推法仍存在一些问题。首先在各直线图解外推法仍存在一些问题。首先在各个坐标点之间划一条最合理的直线同样存个坐标点之间划一条最合理的直线同样
6、存在主观因素;其次坐标纸的刻度不可能很在主观因素;其次坐标纸的刻度不可能很精确。精确。为避免这些问题,另一种方法是采用最小二为避免这些问题,另一种方法是采用最小二乘法。这种实验数据处理的数学方法是由乘法。这种实验数据处理的数学方法是由柯亨柯亨(M.U.Cohen)(M.U.Cohen)最先引入到点阵常数精确最先引入到点阵常数精确测定中的,所以也常常称之柯亨法。测定中的,所以也常常称之柯亨法。第6页,此课件共88页哦(二)误差来源与消除(二)误差来源与消除上述方法只是点阵常数精确测定中的数据处理方法,若要获得上述方法只是点阵常数精确测定中的数据处理方法,若要获得精确的点阵常数,首先是获得精确的精
7、确的点阵常数,首先是获得精确的X X射线衍射线条的射线衍射线条的角。不角。不同的衍射方法,同的衍射方法,角的误差来源不同,消除误差的方法也不角的误差来源不同,消除误差的方法也不同。同。德拜照相法的系统误差来源主要有:相机半径误差,底片伸德拜照相法的系统误差来源主要有:相机半径误差,底片伸缩误差,试样偏心误差,试样吸收误差等缩误差,试样偏心误差,试样吸收误差等 解决上述问题的方法常常采用精密实验来最大限度地消除误差。解决上述问题的方法常常采用精密实验来最大限度地消除误差。为了消除试样吸收的影响,粉末试样的直径做成为了消除试样吸收的影响,粉末试样的直径做成0.2mm0.2mm;为了;为了消除试样偏
8、心的误差,采用精密加工的相机,并在低倍显微消除试样偏心的误差,采用精密加工的相机,并在低倍显微镜下精确调整位置;为了使衍射线条更加峰锐,精确控制试镜下精确调整位置;为了使衍射线条更加峰锐,精确控制试样粉末的粒度和处于无应力状态;为了消除相机半径不准和样粉末的粒度和处于无应力状态;为了消除相机半径不准和底片伸缩,采用偏装法安装底片;为了消除温度的影响,将底片伸缩,采用偏装法安装底片;为了消除温度的影响,将试样温度控制在试样温度控制在0.10.1。第7页,此课件共88页哦(二)误差来源与消除(二)误差来源与消除用衍射仪法精确测定点阵常数,衍射线的用衍射仪法精确测定点阵常数,衍射线的角系统误差角系统
9、误差来源有:未能精确调整仪器;计数器转动与试样转动比来源有:未能精确调整仪器;计数器转动与试样转动比(2 2:1 1)驱动失调;)驱动失调;角角00位置误差;试样放置误位置误差;试样放置误差,试样表面与衍射仪轴不重合;差,试样表面与衍射仪轴不重合;平板试样误差,因平板试样误差,因为平面不能替代聚焦圆曲面为平面不能替代聚焦圆曲面;透射误差;入射;透射误差;入射X X射线射线轴向发散度误差;仪器刻度误差等。轴向发散度误差;仪器刻度误差等。试样制备中晶粒大小、应力状态、样品厚度、表面形状试样制备中晶粒大小、应力状态、样品厚度、表面形状等必须满足要求。等必须满足要求。直线外推法,柯亨法等数据处理方法也
10、用来消除上述二直线外推法,柯亨法等数据处理方法也用来消除上述二种方法的误差。种方法的误差。第8页,此课件共88页哦 X X射线物相分析射线物相分析 材料或物质的组成包括两部分:材料或物质的组成包括两部分:一是一是确定材料确定材料的组成元素及其含量;的组成元素及其含量;二是二是确定这些元素的存确定这些元素的存在状态,即是什么物相。在状态,即是什么物相。材料由哪些元素组成的分析工作可以通过材料由哪些元素组成的分析工作可以通过化学化学分析、光谱分析、分析、光谱分析、X X射线荧光分析射线荧光分析等方法来实等方法来实现,这些工作称之成份分析。现,这些工作称之成份分析。材料由哪些物相构成可以通过材料由哪
11、些物相构成可以通过X X射线衍射分析射线衍射分析加以确定,这些工作称之物相分析或结构分析。加以确定,这些工作称之物相分析或结构分析。第9页,此课件共88页哦 X X射线物相分析射线物相分析 例如对于钢铁材料(例如对于钢铁材料(Fe-CFe-C合金),成份分析可以知道合金),成份分析可以知道其中其中C%C%的含量、合金元素的含量、杂质元素含量等等。的含量、合金元素的含量、杂质元素含量等等。但这些元素的存在状态可以不同,如碳以石墨的物相但这些元素的存在状态可以不同,如碳以石墨的物相形式存在形成的是灰口铸铁,若以元素形式存在于固形式存在形成的是灰口铸铁,若以元素形式存在于固溶体或化合物中则形成铁素体
12、或渗碳体。究竟溶体或化合物中则形成铁素体或渗碳体。究竟Fe-CFe-C合合金中存在哪些物相则需要物相分析来确定。用金中存在哪些物相则需要物相分析来确定。用X X射线射线衍射分析可以帮助我们确定这些物相;衍射分析可以帮助我们确定这些物相;进一步的工作可以确定这些物相的相对含量。前者进一步的工作可以确定这些物相的相对含量。前者称之称之X X射线物相定性分析,后者称之射线物相定性分析,后者称之X X射线物相定量射线物相定量分析分析第10页,此课件共88页哦X射线物相定性分析原理X X射线物相分析是以晶体结构为基础,通过比射线物相分析是以晶体结构为基础,通过比较晶体衍射花样来进行分析的。较晶体衍射花样
13、来进行分析的。对于晶体物质中来说,各种物质都有自己特定对于晶体物质中来说,各种物质都有自己特定的结构参数(点阵类型、晶胞大小、晶胞中的结构参数(点阵类型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的数目、位置等),结构参数不原子或分子的数目、位置等),结构参数不同则同则X X射线衍射花样也就各不相同,所以通过射线衍射花样也就各不相同,所以通过比较比较X X射线衍射花样可区分出不同的物质。射线衍射花样可区分出不同的物质。当多种物质同时衍射时,其衍射花样也是各种当多种物质同时衍射时,其衍射花样也是各种物质自身衍射花样的机械叠加。它们互不干物质自身衍射花样的机械叠加。它们互不干扰,相互独立,逐一比较就可以在重叠的衍
14、扰,相互独立,逐一比较就可以在重叠的衍射花样中剥离出各自的衍射花样,分析标定射花样中剥离出各自的衍射花样,分析标定后即可鉴别出各自物相。后即可鉴别出各自物相。第11页,此课件共88页哦X射线物相定性分析原理目前已知的晶体物质已有成千上万种。事目前已知的晶体物质已有成千上万种。事先在一定的规范条件下对所有已知的晶体先在一定的规范条件下对所有已知的晶体物质进行物质进行X X射线衍射,获得一套所有晶体物射线衍射,获得一套所有晶体物质的标准质的标准X X射线衍射花样图谱,建立成数据射线衍射花样图谱,建立成数据库。库。当对某种材料进行物相分析时,只要将实当对某种材料进行物相分析时,只要将实验结果与数据库
15、中的标准衍射花样图谱进验结果与数据库中的标准衍射花样图谱进行比对,就可以确定材料的物相。行比对,就可以确定材料的物相。X X射线衍射物相分析工作就变成了简单的图射线衍射物相分析工作就变成了简单的图谱对照工作。谱对照工作。第12页,此课件共88页哦X射线物相定性分析19381938年由年由HanawaltHanawalt提出,公布了上千种物提出,公布了上千种物质的质的X X射线衍射花样,并将其分类,给出每射线衍射花样,并将其分类,给出每种物质三条最强线的面间距索引(称为种物质三条最强线的面间距索引(称为HanawaltHanawalt索引)。索引)。19411941年美国材料实验协会(年美国材料
16、实验协会(The American The American Society for Testing MaterialsSociety for Testing Materials,简称,简称ASTMASTM)提出推广,将每种物质的面间距)提出推广,将每种物质的面间距d d和和相对强度及其他一些数据以卡片形式出版相对强度及其他一些数据以卡片形式出版(称(称ASTMASTM卡),公布了卡),公布了13001300种物质的衍射种物质的衍射数据。以后,数据。以后,ASTMASTM卡片逐年增添。卡片逐年增添。第13页,此课件共88页哦X射线物相定性分析19691969年起,由年起,由ASTMASTM和英
17、、法、加拿大等国家和英、法、加拿大等国家的有关协会组成国际机构的的有关协会组成国际机构的“粉末衍射标粉末衍射标准联合委员会准联合委员会”,负责卡片的搜集、校订,负责卡片的搜集、校订和编辑工作,所以,以后的卡片成为粉末和编辑工作,所以,以后的卡片成为粉末衍射卡(衍射卡(the Powder Diffraction Filethe Powder Diffraction File),),简称简称PDFPDF卡,或称卡,或称JCPDSJCPDS卡(卡(the Joint the Joint Committee on Powder Diffraction Committee on Powder Diff
18、raction StandardaStandarda)。)。第14页,此课件共88页哦粉末衍射卡的组成粉末衍射卡的组成粉末衍射卡(简称粉末衍射卡(简称ASTM或或PDF卡)卡片的形式如图所示卡)卡片的形式如图所示第15页,此课件共88页哦粉末衍射卡的组成粉末衍射卡的组成1 1栏:卡片序号。栏:卡片序号。2 2栏:栏:1a1a、1b1b、1c1c是最强、次强、再次强三强线的面是最强、次强、再次强三强线的面间距。间距。2a2a、2b2b、2c2c、2d2d分别列出上述各线条以最强线分别列出上述各线条以最强线强度强度(I(I1 1)为为100100时的相对强度时的相对强度I/II/I1 1。3 3栏
19、:栏:1d1d是试样的最大面间距和相对强度是试样的最大面间距和相对强度I/II/I1 1 。4 4栏:物质的化学式及英文名称栏:物质的化学式及英文名称 5 5栏:摄照时的实验条件。栏:摄照时的实验条件。6 6栏:物质的晶体学数据。栏:物质的晶体学数据。7 7栏:光学性质数据。栏:光学性质数据。8 8栏:试样来源、制备方式、摄照温度等数据栏:试样来源、制备方式、摄照温度等数据 9 9栏:面间距、相对强度及密勒指数。栏:面间距、相对强度及密勒指数。第16页,此课件共88页哦粉末衍射卡片的索引粉末衍射卡片的索引在实际的在实际的X X射线物相分析工作中,通过比射线物相分析工作中,通过比对方法从浩瀚的物
20、质海洋中鉴别出实验物对方法从浩瀚的物质海洋中鉴别出实验物质的物相决非易事。为了从几万张卡片中质的物相决非易事。为了从几万张卡片中快速找到所需卡片,必须使用索引书。目快速找到所需卡片,必须使用索引书。目前所使用的索引有以下二种编排方式:前所使用的索引有以下二种编排方式:(1 1)数字索引)数字索引(2 2)字母索引)字母索引第17页,此课件共88页哦(1)数字索引)数字索引HanawaltHanawalt数字索引是将已经测定的所有物质的三条数字索引是将已经测定的所有物质的三条最强线的最强线的d1d1值从大到小的顺序分组排列,目前共分值从大到小的顺序分组排列,目前共分4545组。组。在每组内则按次
21、强线的面间距在每组内则按次强线的面间距d2d2减小的顺序排列。考减小的顺序排列。考虑到影响强度的因素比较复杂,为了减少因强度测量的虑到影响强度的因素比较复杂,为了减少因强度测量的差异而带来的查找困难,索引中将每种物质列出三次,差异而带来的查找困难,索引中将每种物质列出三次,一次将三强线以一次将三强线以d1 d2d3d1 d2d3的顺序列出,然后又在索引书的顺序列出,然后又在索引书的其他地方以的其他地方以d2 d3 d1d2 d3 d1和和d3 d1 d2d3 d1 d2的顺序再次列出。的顺序再次列出。每条索引包括物质的三强线的每条索引包括物质的三强线的d d和和I/II/I1 1、化学式、名称
22、、化学式、名称及卡片的顺序号,例如在索引书中可以查到:及卡片的顺序号,例如在索引书中可以查到:第18页,此课件共88页哦HanawaltHanawalt数字索引数字索引 i 2.497 2.89x 2.659 2.367 2.166 1.886 1.456 1.456 Sr2VO4Br 22-1445 1-158-E2 2.49x 2.898 2.51x 5.077 3.546 2.046 1.776 2.035 KMnCl3 18-1034 1-97-E12 2.53x 2.88x 2.608 3.364 1.714 1.514 3.013 2.323 CaAl1.9O4C0.4 21-13
23、0 1-132-B12 2.53x 2.88x 2.58x 2.777 1.665 1.432 1.952 1.542 Zn5In2O8 20-1440 1-130-C12C 2.52x 2.877 2.607 2.656 3.126 5.045 3.183 2.643 C2H2K2O6 22-845 1-152-E12第19页,此课件共88页哦Fink数字数字索引索引随着被测标准物质的增加,卡片数量增多,因此,用三强线检索随着被测标准物质的增加,卡片数量增多,因此,用三强线检索时常得出多种结果。时常得出多种结果。为了克服这一困难,又出现为了克服这一困难,又出现FinkFink索引。该索引是用
24、索引。该索引是用8 8强线循环强线循环排列组成,故所占篇幅太大,排列组成,故所占篇幅太大,19771977年产生了改进型的年产生了改进型的FinkFink索引,它仍以索引,它仍以8 8强线作为一物质的代表强线作为一物质的代表而成,不过,在而成,不过,在8 8个个d d值中值中d1 d2 d3d1 d2 d3和和d4d4为最强线,然后再从剩下为最强线,然后再从剩下的线条中按强度递减的顺序选出的线条中按强度递减的顺序选出4 4个附于其后。个附于其后。每条索引的顺序是:附有强度脚标的每条索引的顺序是:附有强度脚标的8 8个个d d值,化学式,卡片编号,值,化学式,卡片编号,显微检索顺序号(显微检索顺
25、序号(7272年的索引述中才有显微检索顺序号)。脚年的索引述中才有显微检索顺序号)。脚标标明的强度分为标标明的强度分为1010级,最强者为级,最强者为1010,以,以X X标注,其余则直接标明标注,其余则直接标明数字。数字。第20页,此课件共88页哦字母索引字母索引在不少物相分析工作中,被测物的化学成分或被测物中在不少物相分析工作中,被测物的化学成分或被测物中可能出现的相常常是知道的。在此情况下,利用字母索可能出现的相常常是知道的。在此情况下,利用字母索引能迅速地检索出各可能相的卡片,使分析工作大为简引能迅速地检索出各可能相的卡片,使分析工作大为简化。化。DaveyDavey字母索引是按物质的
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