芯片测试规范.pdf

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1、芯片测试规范测试规范测试规范1.1.适用范围适用范围1.1 本规范为导入 DDR 芯片的测试方法和标准，以验证和确认新物料是否适合批量生产；.2.2.目的目的2.1 使开发部门导入新的关键器件过程中有章可循，有据可依。3.3.可靠性测试可靠性测试6.1：如果替代料是 FLASH 的话，我们一般需要做 10 个循环的拷贝校验（我们测试工具 APK 设置：500M/拷贝次数/重启 10 次）6.2：如果替代料是 DDR 的话，我们也需要验证 DDR 的运行稳定性，那么也需要做循环拷贝校验（测试工具 APK 设置：500M/拷贝次数/重启 5 次）PS：1.拷贝次数=（FLASH 可用容量*1024

2、M/500M）-12.DDR 验证只需要验证运行稳定性，所以一般做 3-5 个循环就 OK 了，FLASH 要求比较严格，一般需要做 10 个循环以上；3.考虑到 FLASH 压力测试超过 20 次以上可能会对 MLC 造成影响，故对于验证次数太多的机器出货前需要更换。7.常温老化：PND 我们一般跑模拟导航持续运行 12H，安卓我们一般运行MP4-1080P 持续老化 12H，老化后需要评估休眠唤醒是否正常；8.高低温老化：环境（60 度，-10 度）基于高低温下 DDR 运行稳定性或存在一定的影响，DDR 替代需要进行高低温老化，我们 PND 一般运行模拟导航、安卓因为运行模导不太方便，就

3、运行MP4 各持续老化 12H。从多年的经验来看，FLASH 对于温度要求没有这么敏感。9.自动重启测试：一般做 50 次/PCS，需要每次启动系统都能正常启动；-一般是前面恢复出厂设置有问题，异常的机器排查才会用到；10.复位、通断电测试：这个测试属于系统破坏性测试，测试非正常操作是否存在掉程序的现象，一般做 20 次/PCS，要求系统能够正常启动。1.焊接效果，如果是内部焊接的话，需要采用 X-RAY 评估，LGA 封装的话就需要 SMT 制程工艺规避空洞率；2.功能测试；版本号/修改码：A第1页，共5页芯片测试规范3.休眠电流、休眠唤醒测试：DDR 必测项目，反复休眠唤醒最好 3-5 次

4、/PCS，休眠电流大小自行定义；FLASH 测不测影响不大；4.容量检查，容量标准你们根据客户需求自行定义，当然是越大越好；-大货时这一点最好提供工具给到阿杜随线筛选；5.恢复出厂设置：我们一般做 50 次/PCS，运行正常的话界面会显示 50 次测试完成，如果出现中途不进主界面、死机等异常现象就需要分析问题根源；6.FLASH 压力测试：这部分需要分开来说明4.4.测试环境测试环境温度：252湿度：60%70%；大气压强：86kPa 106kPa。5.5.测试工具测试工具可调电源（最好能显示对应输出电流）可调电子负载示波器万用表6.6.测试参数测试参数表 1 电源芯片测试参数待测参数待测参数

5、必测项必测项选测项选测项测试方法简要说明测试方法简要说明1）调节电子负载，保证电源芯片满载工作；2）调节可调电源输出为下限值VIN_MIN，记录此时对应输出电压，记为V13）调节可调电源输出为下限值 VIN_MAX，记录此时输出电压，记为V24）电源芯片额定输出为 V05）分别计算|V1-V0|/V0100，|V2-V0|/V0100，判断此时的输出是否满足精度要求记录电源芯片所有可能的输出电压最大值、最小值，进行计算输入电压范围输出精度版本号/修改码：A第2页，共5页芯片测试规范纹波及噪声如图 2 所示，测试时，在输入端磁片电容两侧焊接两“牛角”引线，示波器探头去掉负端夹子，将示波器探针和负

6、端金属环直接贴在磁片电容的两“牛角”上。测试纹波的同时，记录相应的纹波频率，即为开关频率1）设置可调电子负载，使电源满载输出；2）调节电源芯片输入端可调电源的电压，使输入电压为下限值，记录对应的输出电压U1；3）增大输入电压到额定值，记录对应的输出电压 U0；4）调节输入电压为上限值，记录对应的输出电压 U2；5按下式计算：电压调整率=(U-U0)/U0100式中：U 为 U1 和 U2 中相对 U0 变化较大的值；1）输入电压为额定值，输出电流取最小值，记录最小负载量的输出电压U1；2）调节负载为 50%满载，记录对应的输出电压U0；3）调节负载为满载，记录对应的输出电压U2；4）负载调整率

7、按以下公式计算：负载调整率=(U-U0)/U0100式中：U 为 U1 和 U2 中相对 U0 变化较大的值；电源效率随负载大小变化，如图3 所示。25、80%负载情况下电源效率测试方法如下：1）调节电子负载，保证输出电流为80%满载情况；此时对应的输出电压记为U0，电流记为I0；2）调节输入端可调电源，保证给电源芯片提供额定输入电压 U1，并记录此时可调电源的输出电流，记为 I1；3）电源效率按以下公式计算：电源效率=(U0I0)/(U1I1)100该参数与环境温度有关，如图4 所示。该测试可借助高温环境实验进行电源输出端为空载时，记录此时对应可调电源对应的电压、对应电流，分别记为U、I，则

8、：空载功耗=UI；只针对隔离 DC/DC只针对隔离 DC/DC如果手册给出芯片结-壳之间热阻系数JC：1）将温度传感器或点温计贴于待测电源芯片壳体表面；开关频率电压调整率负载调整率电源效率输出最大功率空载对应芯片功耗隔离电压隔离电阻芯片最大温升（结温）版本号/修改码：A第3页，共5页芯片测试规范2）调节电子负载，保证满载输出，假定此时对应的输出功率为 P0；3）待电源芯片工作稳定后，读出对应芯片壳体表面温度，记为 T0；4）则芯片结温=T0+P0JC;如果手册给出的是芯片结-环境之间的热阻系数JA：1）调节电子负载，保证满载输出，假定此时对应的输出功率为 P0；2）记录测试现场对应环境温度，记为T0;3）则芯片结温=T0+P0JA比较计算所得芯片结温（T1）与该电源芯片所允许最大结温（T2），设公司要求的此类电源温度降额为 T3，则验证 T2-T1T3?工作环境温度存储环境温度示波器借助高、低温实验进行，观察在高温、低温环境下，电源对应的输出是否满足相应精度要求借助环境实验进行，在进行存储之后，电源对应的输出是否满足相应精度要求示波器探头磁片电容图 2 电源纹波测试图 3 电源效率曲线版本号/修改码：A第4页，共5页芯片测试规范图 4 输出功率曲线以下无正文版本号/修改码：A第5页，共5页