长度尺寸测量.ppt
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1、关于长度尺寸测量现在学习的是第1页,共75页21 长度基准和米定义“米米”作为长度计量单位起源于作为长度计量单位起源于1790年。年。一、米定义的内容一、米定义的内容 我国和国际的长度单位是米。在我国和国际的长度单位是米。在1983年第年第十七届国际计量大会上正式通过米的新定义如十七届国际计量大会上正式通过米的新定义如下:下:“米是光在真空中米是光在真空中1299792458秒的时秒的时 间内所经过的距离。间内所经过的距离。”现在学习的是第2页,共75页21 长度基准和米定义现在学习的是第3页,共75页把国家基准所复现的长度单位量值通过不同把国家基准所复现的长度单位量值通过不同精度等级的量块传
2、递到工作用长度计量器具精度等级的量块传递到工作用长度计量器具的全部过程称为量块的量值传递的全部过程称为量块的量值传递。21 长度基准和米定义二、二、长度量值传递长度量值传递 目前,在实际工作中常使用下述两种实物目前,在实际工作中常使用下述两种实物基准:基准:量块和线纹尺量块和线纹尺。首先由稳定激光的基。首先由稳定激光的基准波长传递到基准线纹尺和一等量块,然后准波长传递到基准线纹尺和一等量块,然后再由它们逐次传递到工件,以确保量值准确再由它们逐次传递到工件,以确保量值准确一致。一致。现在学习的是第4页,共75页21 长度基准和米定义现在学习的是第5页,共75页一、量块的基本概念一、量块的基本概念
3、22 量块的检定1、概述、概述量块是一种用两端平行量块是一种用两端平行平面之间的距离来表示平面之间的距离来表示长度量值的长方形六面长度量值的长方形六面体单值量具。(端度器、体单值量具。(端度器、块规)块规)现在学习的是第6页,共75页22 量块的检定现在学习的是第7页,共75页22 量块的检定 量块按量块按检定精度检定精度分为分为1、2、3、4、5、6等,其中等,其中1等精度最高等精度最高。量块的精度分量块的精度分“级级”又分又分“等等”量块按量块按制造精度制造精度分为分为0、1、2、3、4级,其中级,其中0级级精度最高,精度最高,量块量块“等等”和和“级级”之间的关系是:之间的关系是:对对研
4、合性及平面平行性偏差研合性及平面平行性偏差规定为:规定为:1、2等等于于0级,级,3、4等于等于1、2级,级,5、6等于等于3、4级级分别相同。分别相同。现在学习的是第8页,共75页22 量块的检定2、量块的基本性质、量块的基本性质(1)研合性)研合性(2)稳定性)稳定性(3)耐磨性)耐磨性(4)线膨胀系数)线膨胀系数研合厚度的散发值研合厚度的散发值 约为约为 三块:三块:四块:四块:在温度在温度 范围内,钢质量块的线膨胀系范围内,钢质量块的线膨胀系数为数为现在学习的是第9页,共75页22 量块的检定2、量块的名词术语、量块的名词术语(1)量块的中心长度与任意长度)量块的中心长度与任意长度规定
5、以中心长度为量块尺寸。量规定以中心长度为量块尺寸。量块的块的中心长度中心长度是量块一个测量面的是量块一个测量面的中点至与另一个测量面相研和的中点至与另一个测量面相研和的平晶表面的垂直距离。平晶表面的垂直距离。任意长度任意长度为量块一个测量面上任意一为量块一个测量面上任意一点至与另一个测量面研和的平晶表面点至与另一个测量面研和的平晶表面的垂直距离。的垂直距离。现在学习的是第10页,共75页22 量块的检定(2)量块的平面平行性偏差)量块的平面平行性偏差量块一测量面上任意一点到另一测量面的距离与中心长度之量块一测量面上任意一点到另一测量面的距离与中心长度之差的最大绝对值称为量块的差的最大绝对值称为
6、量块的平面平行性偏差平面平行性偏差。一般以测量四个角位置(距短边一般以测量四个角位置(距短边1mm和对长边和对长边2mm的区域除的区域除外)的长度与中心长度之差的最大值的绝对值来确定平面平外)的长度与中心长度之差的最大值的绝对值来确定平面平行性偏差值。行性偏差值。(3)量块测量面的平面度)量块测量面的平面度包容量块测量面且距离为最小的两个平行平面之间的距离,即为包容量块测量面且距离为最小的两个平行平面之间的距离,即为量块测量面的量块测量面的平面度偏差平面度偏差。现在学习的是第11页,共75页22 量块的检定(4)量块测量面的研合性)量块测量面的研合性(5)量块的名义尺寸)量块的名义尺寸(6)量
7、块的实测尺寸)量块的实测尺寸量块一个测量面与另一量块或平晶的测量面之间相互量块一个测量面与另一量块或平晶的测量面之间相互紧密贴合的能力,称为量块测量面的研和性。紧密贴合的能力,称为量块测量面的研和性。量块的名义尺寸即设计时要求量块具有的尺寸,它可在量块量块的名义尺寸即设计时要求量块具有的尺寸,它可在量块上,所以也称为标称尺寸或示值。上,所以也称为标称尺寸或示值。用一定的方法对量块进行测量而得的尺寸,称为量块的用一定的方法对量块进行测量而得的尺寸,称为量块的实测尺寸。实测尺寸。现在学习的是第12页,共75页22 量块的检定(7)量块的测量误差和测量的极限误差)量块的测量误差和测量的极限误差(8)
8、量块的尺寸偏差和允许偏差)量块的尺寸偏差和允许偏差量块的量块的测量误差测量误差是指量块的实测尺寸是指量块的实测尺寸L与量块的真实尺寸与量块的真实尺寸x之之差差 。量块的量块的尺寸偏差尺寸偏差是指量块的实测尺寸是指量块的实测尺寸L与量块的名义尺寸与量块的名义尺寸l之差之差 。对尺寸偏差规定的极限值称为量块中心长度对尺寸偏差规定的极限值称为量块中心长度允许偏差允许偏差。现在学习的是第13页,共75页22 量块的检定二、量块的检定二、量块的检定1、量块的测量面平面度的检定、量块的测量面平面度的检定现在学习的是第14页,共75页22 量块的检定用平晶以技术光波干涉法检定用平晶以技术光波干涉法检定干涉条
9、纹的弯曲度干涉条纹的弯曲度所用光源的波长所用光源的波长相邻两条纹的间隔相邻两条纹的间隔平面度允许偏差小于平面度允许偏差小于0.15微米的,应采用一级平晶;平面度允许微米的,应采用一级平晶;平面度允许偏差大于等于偏差大于等于0.15微米的,可采用二级平晶。因此,对尺寸微米的,可采用二级平晶。因此,对尺寸150mm的的2等或等或0级量块,规定用级量块,规定用1级平晶检定,其它量块可用级平晶检定,其它量块可用2级级平晶进行检定。平晶进行检定。现在学习的是第15页,共75页22 量块的检定平面度较大时平面度测量平面度较大时平面度测量成圈条纹的间距数成圈条纹的间距数现在学习的是第16页,共75页22 量
10、块的检定2、量块中心长度和平面平行性的检定、量块中心长度和平面平行性的检定(1)绝对测量法)绝对测量法用光的波长作标准直接与量块比较,求出量块中心长度的方法。用光的波长作标准直接与量块比较,求出量块中心长度的方法。实现绝对测量法的仪器有实现绝对测量法的仪器有柯氏干涉仪和激光干涉仪。柯氏干涉仪和激光干涉仪。(2)相对测量法)相对测量法将被测量块与精度等级比它高一等的标准量块,在规定测量精度的仪将被测量块与精度等级比它高一等的标准量块,在规定测量精度的仪器上进行比较,求出被测量块的方法。器上进行比较,求出被测量块的方法。多用立式干涉仪多用立式干涉仪现在学习的是第17页,共75页22 量块的检定(1
11、)绝对测量法)绝对测量法现在学习的是第18页,共75页22 量块的检定现在学习的是第19页,共75页22 量块的检定柯氏干涉仪可测的量块最大尺寸为柯氏干涉仪可测的量块最大尺寸为125mm,最大测量误差为,最大测量误差为 ,其中,其中L为量块的长度,单位为为量块的长度,单位为mm。用柯氏干涉仪测量量块的长度需要同时测取温度、湿度、气压用柯氏干涉仪测量量块的长度需要同时测取温度、湿度、气压等环境条件,并确定它们对被测量块长度的修正量,整个测量等环境条件,并确定它们对被测量块长度的修正量,整个测量过程非常复杂,测量效率也很低。过程非常复杂,测量效率也很低。现在学习的是第20页,共75页22 量块的检
12、定(2)相对测量法)相对测量法将被测量块与精度等级比它高一等的标准量块,在规定测量精度的仪器将被测量块与精度等级比它高一等的标准量块,在规定测量精度的仪器上进行比较,求出被测量块的方法。相对测量最高能检定上进行比较,求出被测量块的方法。相对测量最高能检定2等量块。等量块。多用立式干涉仪多用立式干涉仪多用立式干涉仪可以多用立式干涉仪可以检定长度在检定长度在150mm以下,精度等级在以下,精度等级在4等或等或2级以上的量块。级以上的量块。现在学习的是第21页,共75页22 量块的检定接触干涉仪的测量原理接触干涉仪的测量原理现在学习的是第22页,共75页22 量块的检定 测量时以白光下得到的零次干涉
13、条纹作为指针,被测量测量时以白光下得到的零次干涉条纹作为指针,被测量块尺寸的变化,使测杆移动,从而引起块尺寸的变化,使测杆移动,从而引起“指针指针”的移动。的移动。就是用这零次干涉条纹作为指针相对分划板刻度尺的移动就是用这零次干涉条纹作为指针相对分划板刻度尺的移动量来显示测杆的位移量的。量来显示测杆的位移量的。刻度尺上每一间隔所代表的测杆位移量,是在使用前根刻度尺上每一间隔所代表的测杆位移量,是在使用前根据测量的需要确定的,这就是所谓的据测量的需要确定的,这就是所谓的仪器定度仪器定度。现在学习的是第23页,共75页22 量块的检定测杆沿轴线每移动测杆沿轴线每移动 ,干涉,干涉条纹相对刻度尺刻线
14、移动条纹相对刻度尺刻线移动一个条纹宽度,改变干涉一个条纹宽度,改变干涉条纹宽度,就可以改变每条纹宽度,就可以改变每一刻线间隔所代表的测杆一刻线间隔所代表的测杆线位移量。线位移量。调整条纹宽度,使调整条纹宽度,使k个干涉条纹间隔刚好与刻度尺上个干涉条纹间隔刚好与刻度尺上n个刻度间隔重个刻度间隔重合,便可得出下列公式:合,便可得出下列公式:现在学习的是第24页,共75页22 量块的检定现在学习的是第25页,共75页22 量块的检定用用3等量块作为标准,检定等量块作为标准,检定4等量块。等量块。现在学习的是第26页,共75页22 量块的检定将标准量块和被检量块放置于专用将标准量块和被检量块放置于专用
15、框架中,并放在工作台上。先将标框架中,并放在工作台上。先将标准量块置于仪器测头下,当测量中准量块置于仪器测头下,当测量中心长度时,先对标准量块的中心点心长度时,先对标准量块的中心点o1,使,使“指针指针”与与0刻线重合,然刻线重合,然后将被检量块中心点后将被检量块中心点o2移到测头下,移到测头下,再对再对o2点进行比较即可得到被测点进行比较即可得到被测量块的偏差值。量块的偏差值。当测量平面平行性时,则在被测量块的角点上的当测量平面平行性时,则在被测量块的角点上的a、b、c、d点进行点进行读数,四个角点读数分别于读数,四个角点读数分别于o2之差得最大绝对值即为平面平行性偏之差得最大绝对值即为平面
16、平行性偏差。差。现在学习的是第27页,共75页23 线纹尺的检定一、线纹尺概述一、线纹尺概述线纹尺是一种具有等分刻度的多值量具,是线纹尺是一种具有等分刻度的多值量具,是以任意两条刻线间的以任意两条刻线间的垂直距离作为长度垂直距离作为长度的高精度基准器和标准器。的高精度基准器和标准器。线纹尺的主要用途线纹尺的主要用途(1)作为长度量值传递系统中与量块并行的另一实物基准和标准)作为长度量值传递系统中与量块并行的另一实物基准和标准(2)将各种不同精度等级的线纹尺装在测量仪器和精密)将各种不同精度等级的线纹尺装在测量仪器和精密机床上,作为精密测长标准之用机床上,作为精密测长标准之用现在学习的是第28页
17、,共75页2 3线纹尺的检定1、线纹尺的基本技术要求、线纹尺的基本技术要求外形设计上需要考虑刚性好,自重小,安装调整方便。对线纹尺的材外形设计上需要考虑刚性好,自重小,安装调整方便。对线纹尺的材料要求稳定性好,目前用的金属线纹尺是用铁镍合金(料要求稳定性好,目前用的金属线纹尺是用铁镍合金(58镍,镍,42铁)制造。铁)制造。现在学习的是第29页,共75页2 3线纹尺的检定2、线纹尺的种类、线纹尺的种类按计量学功能及材按计量学功能及材料分类料分类基准线纹尺基准线纹尺标准线纹尺标准线纹尺(1)基准线纹尺:)基准线纹尺:也称工作基准尺,由国家的长度基准直也称工作基准尺,由国家的长度基准直接来检定。接
18、来检定。(2)标准金属线纹尺)标准金属线纹尺(3)标准玻璃线纹尺:)标准玻璃线纹尺:外形多为矩形外形多为矩形现在学习的是第30页,共75页2 3线纹尺的检定2、线纹尺的检定、线纹尺的检定线纹尺的检定方法线纹尺的检定方法(1)绝对检定法)绝对检定法(2)相对检定法)相对检定法(3)组合检定法)组合检定法使被测线纹尺长度直接与光波波长进行比较,用光波波长来确定两使被测线纹尺长度直接与光波波长进行比较,用光波波长来确定两刻线间距离的检定方法。刻线间距离的检定方法。选择一支精度等级比被检线纹尺高一等的标准线纹尺,在线纹比选择一支精度等级比被检线纹尺高一等的标准线纹尺,在线纹比长仪上将两支线纹尺的刻线间
19、距相比较,借助光学显微镜或静态长仪上将两支线纹尺的刻线间距相比较,借助光学显微镜或静态光电显微镜,读出两者刻线间距差值的方法。光电显微镜,读出两者刻线间距差值的方法。现在学习的是第31页,共75页2 3线纹尺的检定(1)绝对检定法)绝对检定法现在学习的是第32页,共75页2 3线纹尺的检定光电光波比长仪用于检定光电光波比长仪用于检定1m以下高精度的基准线纹尺以下高精度的基准线纹尺和一等标准线纹尺的线纹尺。和一等标准线纹尺的线纹尺。检定时的标准状态检定时的标准状态大气压为大气压为760mm汞高,湿度为汞高,湿度为5060,温度为,温度为20摄摄氏度。氏度。仪器精度为仪器精度为 。测量线纹尺的精度
20、为测量线纹尺的精度为 。现在学习的是第33页,共75页2 3线纹尺的检定(2)相对检定法)相对检定法相对法主要用于二等以下线纹尺的检定。相对法主要用于二等以下线纹尺的检定。现在学习的是第34页,共75页测量对象和被测量测量对象和被测量问题问题1 1:轴类零件有哪些?:轴类零件有哪些?(外形、特点、分类、用途)(外形、特点、分类、用途)问题问题2 2:测轴类零件的什么量?:测轴类零件的什么量?测量单位和标准量测量单位和标准量长度单位长度单位-米米高等级线纹尺高等级线纹尺高等级量块高等级量块高等级的标准轴高等级的标准轴光波波长光波波长测量方法测量方法相对测量相对测量光学计、接触式干涉仪光学计、接触
21、式干涉仪立式测长仪,测长机立式测长仪,测长机指示表指示表绝对测量绝对测量万能测长仪、测长机,万工显万能测长仪、测长机,万工显卡尺、千分尺卡尺、千分尺激光扫描测径仪激光扫描测径仪测量精度测量精度(方法精度、影响因素)(方法精度、影响因素)万工显:万工显:=(3+L/2003+L/200)um um 光学计接触式干涉仪:同量块光学计接触式干涉仪:同量块 测长仪:测长仪:=(1.5+L/1001.5+L/100)um um 测长机:测长机:=(2+L/1002+L/100)um um 千分尺:千分尺:=5um=5um 卡卡 尺:尺:=20um =20um 激光扫描测径仪激光扫描测径仪 :(:(5-1
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