课程简介透明矿物鉴定.ppt
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1、岩矿综合鉴定岩矿综合鉴定任课教师:任课教师:任课教师:任课教师:于介江于介江于介江于介江 联系电话:联系电话:联系电话:联系电话:8502314 8502314 8502314 8502314 课课 程程 简简 介介 课课 程程 性性 质质 术语解释:术语解释:通过偏光显微镜来鉴定透射光下矿物的种属、通过偏光显微镜来鉴定透射光下矿物的种属、结构构造、岩石类型及相关成因分析的一门综合学科。结构构造、岩石类型及相关成因分析的一门综合学科。面向专业:面向专业:岩石学、矿物学、矿床学、构造地质学、勘探学。岩石学、矿物学、矿床学、构造地质学、勘探学。课程设置:课程设置:在地学研究生教学体系中属专业基础课
2、。在地学研究生教学体系中属专业基础课。前导课:前导课:结晶学与矿物学结晶学与矿物学晶体光学晶体光学岩石学岩石学 构造地质学岩石物理化学岩石成因理论等。构造地质学岩石物理化学岩石成因理论等。课课 程程 简简 介介 主主 要要 内内 容容 透明矿物薄片鉴定透明矿物薄片鉴定 透明矿物鉴定内容、方法、程序;常见透明矿物的鉴定透明矿物鉴定内容、方法、程序;常见透明矿物的鉴定 火成岩组构成因分析火成岩组构成因分析 地幔岩、幔源岩、混染杂岩、海相火山岩、熔结凝灰岩、地幔岩、幔源岩、混染杂岩、海相火山岩、熔结凝灰岩、花岗质岩石花岗质岩石 变质岩组构成因分析变质岩组构成因分析 变余组构、共生组构、反应组构、变形
3、组构、变质相及变余组构、共生组构、反应组构、变形组构、变质相及 相转化标志、获得相转化标志、获得PTt轨迹的组构标志轨迹的组构标志课课 程程 简简 介介 主主要要参参考考书书 康维国等康维国等.晶体光学晶体光学.长春长春:东北师范大学出版社东北师范大学出版社,1992.刘春华等刘春华等.结晶岩的组构及成因分析结晶岩的组构及成因分析.北京北京:地质出版社,地质出版社,1995.穆克敏等穆克敏等.透明薄片综合鉴定透明薄片综合鉴定.长春地质学院出版,长春地质学院出版,1985.北京大学地质系北京大学地质系.光性矿物学光性矿物学.北京北京:地质出版社,地质出版社,1979.路风香路风香.地幔岩石学地幔
4、岩石学.北京北京:中国地质大学出版社中国地质大学出版社,1988.J.B.道道森森.金金伯伯利利岩岩及及其其捕捕虏虏体体.金金鹤鹤生生等等译译.北北京京:地地质质出出版版社社,1986.路风香等路风香等.岩石学岩石学.北京北京:地质出版社,地质出版社,2002.刘喜山刘喜山.Metamorphic Geol0gy.长春长春:吉林大学出版社吉林大学出版社,2001.第一部分第一部分 透明矿物的薄片鉴定透明矿物的薄片鉴定主主要要内内容容一、透明矿物薄片鉴定的一般方法一、透明矿物薄片鉴定的一般方法二、透明矿物薄片鉴定的基本内容二、透明矿物薄片鉴定的基本内容三、透明矿物系统鉴定的三、透明矿物系统鉴定的
5、一般一般程序程序四、常见透明矿物及其薄片的鉴定四、常见透明矿物及其薄片的鉴定一一 、透明矿物薄片鉴定的一般方法、透明矿物薄片鉴定的一般方法 系统鉴定法:系统鉴定法:鉴定单偏光系统、正交偏光系统、锥光系鉴定单偏光系统、正交偏光系统、锥光系统下的各种光统下的各种光 学特征。学特征。对照光性矿物鉴定表准确定出矿物名称的对照光性矿物鉴定表准确定出矿物名称的 过程。过程。典型特征鉴定法:典型特征鉴定法:抓住矿物突出的组合特征来确定矿物种类及名称。抓住矿物突出的组合特征来确定矿物种类及名称。二、透明矿物薄片鉴定的基本内容二、透明矿物薄片鉴定的基本内容 单偏光系统鉴定的主要内容单偏光系统鉴定的主要内容 矿物
6、的形态、解理、颜色、多色性、吸收性、突起等矿物的形态、解理、颜色、多色性、吸收性、突起等 正交偏光系统鉴定的主要内容正交偏光系统鉴定的主要内容 消光现象、消光类型、消光角、干涉色级序、延性等消光现象、消光类型、消光角、干涉色级序、延性等 锥光系统鉴定的主要内容锥光系统鉴定的主要内容 轴性、光性符号、光轴角、切面类型等轴性、光性符号、光轴角、切面类型等 单偏光系统下晶体的光学性质单偏光系统下晶体的光学性质1.1.矿物的外表特征矿物的外表特征-形态形态a.a.矿物自形程度:矿物自形程度:自形晶、半自形晶、它形晶。自形晶、半自形晶、它形晶。b.b.矿物单体形态:矿物单体形态:粒状、针状、板(条)状、
7、柱状、片状。粒状、针状、板(条)状、柱状、片状。c.c.矿物集合体形态:矿物集合体形态:纤维状、放射状、球粒状、雏晶状等。纤维状、放射状、球粒状、雏晶状等。综综合合观观察察 单偏光系统下晶体的光学性质单偏光系统下晶体的光学性质2.2.矿物的外表特征矿物的外表特征解理解理 解理在薄片中的表现形式解理在薄片中的表现形式 解理等级的划分解理等级的划分 解理夹角的测定解理夹角的测定(1 1)切片方向的选择)切片方向的选择选择同时垂直两组解理面的切片选择同时垂直两组解理面的切片.特征是两组解理缝最细最清楚特征是两组解理缝最细最清楚,当当解理缝平行目镜十字丝时解理缝平行目镜十字丝时,微微升微微升降镜筒降镜
8、筒,两组解理缝不左右移动两组解理缝不左右移动.ACBDEHFGK=606060不同方向不同方向解理夹角变化示意图解理夹角变化示意图 单偏光系统下晶体的光学性质单偏光系统下晶体的光学性质2.2.矿物的外表特征矿物的外表特征解理解理(2 2)解理夹角的测定步骤)解理夹角的测定步骤 解理夹角的测定解理夹角的测定1 1)选择颗粒)选择颗粒,置于视域心置于视域心.2 2)转动物台使一组解理缝平行目镜十字丝纵丝)转动物台使一组解理缝平行目镜十字丝纵丝 (图图A),A),读取此时载物台刻度盘上的度数读取此时载物台刻度盘上的度数a.a.3 3)再转动物台,使另一组解理缝平行目镜十字再转动物台,使另一组解理缝平
9、行目镜十字 丝纵丝,读取此时载物台刻度盘上的度数丝纵丝,读取此时载物台刻度盘上的度数b b (图图B),aB),a与与b b之差即为所测解理夹角之差即为所测解理夹角.图图A A图图B B 单偏光系统下晶体的光学性质单偏光系统下晶体的光学性质3.3.与吸收性有关的光学性质与吸收性有关的光学性质 颜色、颜色、多色性和吸收性多色性和吸收性 多色性和吸收性的现象解释多色性和吸收性的现象解释 多色性和吸收性的表达方式多色性和吸收性的表达方式:多色性公式多色性公式 A A Ne=Ne=浅紫色浅紫色 No=No=深蓝色;深蓝色;Ng=Nm=Np=Ng=Nm=Np=吸收性公式吸收性公式 B B Ne Ne N
10、o(No(正吸收正吸收);Ng Ng Nm Nm Np(Np(正吸收正吸收).).单偏光系统下晶体的光学性质单偏光系统下晶体的光学性质4.4.与矿物折射率有关的光学性质与矿物折射率有关的光学性质 边缘、贝克线、糙面、突起、闪突起边缘、贝克线、糙面、突起、闪突起突起等级突起等级折射率折射率糙面及边缘特征糙面及边缘特征实例实例负高突起负高突起 1.48糙糙面面及及边边缘缘显显著著,提提升升镜镜筒筒,贝贝克克线移向树胶线移向树胶.萤石萤石负低突起负低突起1.48-1.54表表面面光光滑滑,边边缘缘不不清清楚楚,提提升升镜镜筒筒,贝克线移向树胶贝克线移向树胶.正长石正长石正低突起正低突起1.541.6
11、0表表面面光光滑滑,边边缘缘不不清清楚楚,提提升升镜镜筒筒,贝克线移向矿物贝克线移向矿物.石英石英正中突起正中突起1.601.66表面略显粗糙表面略显粗糙,边缘清楚显著边缘清楚显著.透闪石透闪石正高突起正高突起1.661.78糙面显著糙面显著,边缘宽而明显边缘宽而明显.辉石辉石极高突起极高突起 1.78糙面极其显著糙面极其显著,边缘很宽边缘很宽石榴石石榴石突突起起等等级级分分类类及及简简要要特特征征表表1-1 正交偏光系统下晶体的光学性质正交偏光系统下晶体的光学性质1 1、消光现象及消光位消光现象及消光位AAPP晶晶 体体 切切 片片 全消光全消光(永久消光(永久消光).).旋转物台一周旋转物
12、台一周,均质体或非均质体均质体或非均质体垂直光轴切片的消光现象不改变垂直光轴切片的消光现象不改变 四次消光四次消光旋转物台一周旋转物台一周,非均质体晶体非垂直非均质体晶体非垂直光轴切片出现四次消光现象光轴切片出现四次消光现象.消光位消光位非均质体非垂直光轴切片在正交偏光非均质体非垂直光轴切片在正交偏光镜间处于消光现象时的位置镜间处于消光现象时的位置.注意注意:矿片处于消光位时的意义矿片处于消光位时的意义 正交偏光系统下晶体的光学性质正交偏光系统下晶体的光学性质2 2、干涉色及干涉色色谱表、干涉色及干涉色色谱表在正交偏光系统下,非均质体在消光位以外的位置,两在正交偏光系统下,非均质体在消光位以外
13、的位置,两束偏光将发生干涉作用,结果将产生一系列复杂彩色条束偏光将发生干涉作用,结果将产生一系列复杂彩色条带的组合。即称为干涉色带的组合。即称为干涉色.干涉色:干涉色:干涉色高低取决与光程差干涉色高低取决与光程差 R=d 正交偏光系统下晶体的光学性质正交偏光系统下晶体的光学性质2 2、干涉色及干涉色色谱表、干涉色及干涉色色谱表 干涉色色谱表干涉色色谱表 正交偏光系统下晶体的光学性质正交偏光系统下晶体的光学性质3 3、补色法则和补色器补色法则和补色器Np1Ng1Np2Ng2Np2Ng2Np1 Ng1R R总总 =R R1 1+R+R2 2R R总总 =R R1 1-R-R2 2同名半径同名半径
14、平行平行异名半径异名半径 平行平行在正交偏光镜间的在正交偏光镜间的45450 0位置位置,放置两个互相重迭的非均质体矿片放置两个互相重迭的非均质体矿片(垂垂直光轴方向切片除外直光轴方向切片除外),),光通过这两个矿片后光通过这两个矿片后,它们总的光程差增它们总的光程差增减的法则减的法则.同名半径平行同名半径平行,干干 涉色级序升高涉色级序升高 异名半径平行异名半径平行,干干 涉色级序降低涉色级序降低.消色:消色:R R1 1=R=R2,2,R R总总=0=0 此时视域内变黑暗。此时视域内变黑暗。几种常用补色器几种常用补色器 正交偏光系统下晶体的光学性质正交偏光系统下晶体的光学性质4 4、矿片光
15、率体椭圆半径方向和名称的测定矿片光率体椭圆半径方向和名称的测定1.1.将将欲欲测测矿矿物物切切片片置置于于视视域域中中心心,转转动动物物台台使使其其消消光光,此此时时矿矿片片的的光光率体椭圆切面的长、短半径方向和上、下偏光镜的振动方向一致。率体椭圆切面的长、短半径方向和上、下偏光镜的振动方向一致。2.2.转转物物台台45450 0,此此时时矿矿片片的的光光率率体体椭椭圆圆切切面面的的长长、短短半半径径方方向向和和目目镜镜十十字字丝丝(代代表表上上、下下偏偏光光的的振振动动方方向向)成成45450 0角角,,此此时时矿矿片片的的干干涉涉色色最亮。最亮。3.3.从从试试板板孔孔插插入入试试板板,观
16、观察察矿矿片片的的干干涉涉色色变变化化,如如果果干干涉涉色色降降低低,异异名半径平行;如果干涉色升高,则为同名半径平行。名半径平行;如果干涉色升高,则为同名半径平行。4.4.试试板板上上的的光光率率体体椭椭圆圆半半径径名名称称和和方方向向是是已已知知的的,根根据据补补色色法法则则可可确确定出矿片上光率体椭圆半径的名称和方向。定出矿片上光率体椭圆半径的名称和方向。注意:根据矿片干涉色的高低选择适当的试板注意:根据矿片干涉色的高低选择适当的试板.光光率率体体椭椭圆圆半半径径名名称称测测定定图图示示加入试板干涉色升高加入试板干涉色升高 同名平行同名平行转物台转物台45加入试板干涉色降低加入试板干涉色
17、降低 异名平行异名平行PPAPPA 正交偏光系统下晶体的光学性质正交偏光系统下晶体的光学性质 正交偏光系统下晶体的光学性质正交偏光系统下晶体的光学性质5 5、最高干涉色级序的测定最高干涉色级序的测定(1 1).楔形边目估法楔形边目估法(2 2).石英楔测定法石英楔测定法6 6、消光类型、消光类型 消光角和延性符号的测定消光角和延性符号的测定 正交偏光系统下晶体的光学性质正交偏光系统下晶体的光学性质平行消光平行消光对称消光对称消光斜消光斜消光6 6、消光类型、消光类型 消光角和延性符号的测定消光角和延性符号的测定 正交偏光系统下晶体的光学性质正交偏光系统下晶体的光学性质Ng纵丝(纵丝(1)解理缝
18、解理缝纵纵丝丝(2)消光位消光位a45b1c1dc2定轴名定轴名45b26 6、消光类型、消光类型 消光角和延性符号的测定消光角和延性符号的测定 正交偏光系统下晶体的光学性质正交偏光系统下晶体的光学性质A 消光位消光位B 正延性正延性C 负延性负延性 干涉色干涉色 升高升高 干涉色干涉色 降低降低晶体延性符号测定步骤示意图晶体延性符号测定步骤示意图 锥光系统的构成锥光系统的构成锥光锥光正交偏光系统下晶体的光学性质正交偏光系统下晶体的光学性质在正交偏光系统的基础上,加入聚光镜聚光镜并将其提升到最高位置,换用高倍物镜高倍物镜,推入勃氏镜或去掉目镜推入勃氏镜或去掉目镜,便构成了锥光系统。在锥光镜下观
19、察到的是锥形偏光束中,各个不同方向的入射光波,通过晶体到达上偏光镜后产生的消光和干涉现象的总和,它们构成一种特殊的图形,称为干涉图(干涉象).锥光系统下产生的光学现象锥光系统下产生的光学现象-干涉图干涉图 v 一轴晶定向切面干涉图的特点及应用一轴晶定向切面干涉图的特点及应用 一轴晶一轴晶垂直光轴切面特点及光性符号测定垂直光轴切面特点及光性符号测定A.NeA.Ne和和NoNo的方位的方位NoNoNeNe升升NeNeNoNo升升NoNoNeNe降降NeNeNoNo降降B B(+)C C(-)NoNoNeNe升升NeNeNoNo升升NoNoNeNe降降NeNeNoNo降降NoNoNeNeNeNeNo
20、NoNoNoNeNeNeNeNoNov 一轴晶定向切面干涉图的特点及应用一轴晶定向切面干涉图的特点及应用 一轴晶一轴晶近于近于垂直光轴切面(垂直光轴切面(小角度斜交光小角度斜交光 轴切片)轴切片)特点及光性符号测定特点及光性符号测定NeNeNoNoA.A.(+)NeNeNoNoB.B.(-)45PP光轴光轴PP光轴光轴(-)(+)一轴晶平行光轴切面干涉图光性符号测定一轴晶平行光轴切面干涉图光性符号测定v 一轴晶定向切面干涉图的特点及应用一轴晶定向切面干涉图的特点及应用消光位消光位左转左转4545位位右转右转4545位位NeNe横丝,横丝,Ne=Ne=浅黄绿色浅黄绿色NoNo横丝,横丝,No=N
21、o=褐绿色褐绿色PP PP 一轴晶平行光轴切面多色性公式测定方法一轴晶平行光轴切面多色性公式测定方法v 一轴晶定向切面干涉图的特点及应用一轴晶定向切面干涉图的特点及应用45NmNm(A)00位置位置(B)4545位置位置NmNm(+)(C)加入检板加入检板(D)加入检板加入检板NmNm(-)垂直一个光轴切面干涉图光性符号测定垂直一个光轴切面干涉图光性符号测定v二轴晶定向切面干涉图的特点及应用二轴晶定向切面干涉图的特点及应用单偏光镜下单偏光镜下(Nm)=Nm)=蓝绿色蓝绿色0015153030454560609090黑带弯曲程度与黑带弯曲程度与2 2V V大小关系大小关系 二轴晶垂直一个光轴切面
22、二轴晶垂直一个光轴切面2 2V V目估法目估法及及NoNo颜色测定示意图颜色测定示意图v二轴晶定向切面干涉图的特点及应用二轴晶定向切面干涉图的特点及应用45BxaBxoPPPPBxoBxa(+)(-)二轴晶平行光轴面切面二轴晶平行光轴面切面光性符光性符号测定示意图方法号测定示意图方法 二轴晶平行光轴面切二轴晶平行光轴面切面干涉图及应用面干涉图及应用v二轴晶定向切面干涉图的特点及应用二轴晶定向切面干涉图的特点及应用右转右转4545位位NgNg横丝,横丝,Ng=Ng=深绿色深绿色NpNp横丝,横丝,Np=Np=浅蓝绿色浅蓝绿色PP解理解理纵丝纵丝消光位消光位左转左转4545位位PPAAAA AAA
23、AAA AAPPv 二二 轴轴 晶晶 平平 行行 光光 轴轴 面面 切切 面面 多多 色色 性性 的的 测测 定定切片切片类型类型单偏光单偏光正交偏光正交偏光锥光锥光可测常数可测常数无色无色有有色色垂垂直直光光轴轴切切片片当该矿物当该矿物具有闪突具有闪突起时,该起时,该矿片不显矿片不显闪突起闪突起多多色色性性不不明明显显全消光全消光.转动物台转动物台其明暗变其明暗变化不明显化不明显一轴晶干涉图由黑十字和干一轴晶干涉图由黑十字和干涉色圈组成涉色圈组成,转动物台转动物台360360图像不变。图像不变。二轴晶干涉图由一条黑臂与二轴晶干涉图由一条黑臂与干涉色圈组成,转动物台黑干涉色圈组成,转动物台黑臂
24、弯曲(当臂弯曲(当2 2V=90V=90时黑臂时黑臂不弯曲)不弯曲)NoNo或或NmNm的颜色及折的颜色及折射率值、轴性、光射率值、轴性、光性符号、二轴晶光性符号、二轴晶光轴角及色散轴角及色散平行平行光轴光轴或光或光轴面轴面切片切片当该矿物当该矿物具有闪突具有闪突起时,该起时,该矿片闪突矿片闪突起最明显起最明显多多色色性性明明显显干涉色干涉色最高最高闪图闪图Ne,NoNe,No或或Ng,Ng,NpNp的颜的颜色及折射率值,最色及折射率值,最高干涉色、最大双高干涉色、最大双折射率折射率,CNgCNg(单斜辉石及闪石。单斜辉石及闪石。NmbNmb)v 常用定向切片特点及可测光学常数简表常用定向切片
25、特点及可测光学常数简表晶形晶形 解理组数解理组数 解理等级解理等级 ,解理夹角解理夹角 突起等级突起等级 消光类型消光类型 ,晶系晶系 轴性轴性 光性符号光性符号 光轴角光轴角 ,最高干涉色级序最高干涉色级序 消光角(消光角(CNgCNg),延性符号延性符号 多色性式多色性式 吸收性公式吸收性公式 。矿物名称:矿物名称:v 透明矿物系统鉴定模式(以角闪石为例)透明矿物系统鉴定模式(以角闪石为例)单单偏偏光光镜镜正正交交偏偏光光镜镜透明透明矿物矿物不透明不透明矿物矿物单偏光:单偏光:晶形、解理、解理夹角、晶形、解理、解理夹角、突起等级、闪突起及包裹体等特征。突起等级、闪突起及包裹体等特征。正交偏
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