第八章集成电路的测试与可测性设计PPT讲稿.ppt
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1、第八章集成电路的测试与可测性设计第1页,共52页,编辑于2022年,星期三第一部分第一部分第一部分第一部分 理论课理论课理论课理论课第一章第一章第一章第一章 绪言绪言绪言绪言 1 11 1 集成电路的发展集成电路的发展集成电路的发展集成电路的发展 1 12 2 集成电路分类集成电路分类集成电路分类集成电路分类 1 13 3 集成电路设计集成电路设计集成电路设计集成电路设计第二章第二章第二章第二章 MOS MOS晶体管晶体管晶体管晶体管 2 21 MOS1 MOS晶体管结构晶体管结构晶体管结构晶体管结构 2 22 MOS2 MOS晶体管工作原理晶体管工作原理晶体管工作原理晶体管工作原理 2 23
2、 MOS3 MOS晶体管的电流电压关系晶体管的电流电压关系晶体管的电流电压关系晶体管的电流电压关系 2 24 MOS4 MOS晶体管主要特性参数晶体管主要特性参数晶体管主要特性参数晶体管主要特性参数 2 25 MOS5 MOS晶体管的晶体管的晶体管的晶体管的SPICESPICE模型模型模型模型第三章第三章第三章第三章 MOS MOS管反相器管反相器管反相器管反相器 3 31 1 引言引言引言引言 3 32 NMOS2 NMOS管反相器管反相器管反相器管反相器 3 33 CMOS3 CMOS反相器反相器反相器反相器 3 34 4 动态反相器动态反相器动态反相器动态反相器 3 35 5 延迟延迟延
3、迟延迟 3 36 6 功耗功耗功耗功耗第2页,共52页,编辑于2022年,星期三第四章第四章第四章第四章 半导体集成电路基本加工工艺与设计规则半导体集成电路基本加工工艺与设计规则半导体集成电路基本加工工艺与设计规则半导体集成电路基本加工工艺与设计规则 4.1 4.1 引言引言引言引言 4.2 4.2 集成电路基本加工工艺集成电路基本加工工艺集成电路基本加工工艺集成电路基本加工工艺 4.3 CMOS 4.3 CMOS工艺流程工艺流程工艺流程工艺流程 4.4 4.4 设计规则设计规则设计规则设计规则 4.5 CMOS 4.5 CMOS反相器的闩锁效应反相器的闩锁效应反相器的闩锁效应反相器的闩锁效应
4、 4.6 4.6 版图设计版图设计版图设计版图设计第五章第五章第五章第五章 MOS MOS管数字集成电路基本逻辑单元设计管数字集成电路基本逻辑单元设计管数字集成电路基本逻辑单元设计管数字集成电路基本逻辑单元设计 5.1 NMOS 5.1 NMOS管逻辑电路管逻辑电路管逻辑电路管逻辑电路 5.2 5.2 静态静态静态静态CMOSCMOS逻辑电路逻辑电路逻辑电路逻辑电路 5.3 MOS 5.3 MOS管改进型逻辑电路管改进型逻辑电路管改进型逻辑电路管改进型逻辑电路 5.4 MOS 5.4 MOS管传输逻辑电路管传输逻辑电路管传输逻辑电路管传输逻辑电路 5.5 5.5 触发器触发器触发器触发器 5.
5、6 5.6 移位寄存器移位寄存器移位寄存器移位寄存器 5.7 5.7 输入输出(输入输出(输入输出(输入输出(I/OI/O)单元)单元)单元)单元第3页,共52页,编辑于2022年,星期三第六章第六章第六章第六章 MOS MOS管数字集成电路子系统设计管数字集成电路子系统设计管数字集成电路子系统设计管数字集成电路子系统设计 6.1 6.1 引言引言引言引言 6.2 6.2 加法器加法器加法器加法器 6.3 6.3 乘法器乘法器乘法器乘法器 6.4 6.4 存储器存储器存储器存储器 6.5 PLA 6.5 PLA第七章第七章第七章第七章 MOS MOS管模拟集成电路设计基础管模拟集成电路设计基础
6、管模拟集成电路设计基础管模拟集成电路设计基础 7.1 7.1 引言引言引言引言 7.2 MOS 7.2 MOS管模拟集成电路中的基本元器件管模拟集成电路中的基本元器件管模拟集成电路中的基本元器件管模拟集成电路中的基本元器件 7.3 MOS 7.3 MOS模拟集成电路基本单元模拟集成电路基本单元模拟集成电路基本单元模拟集成电路基本单元 7.4 MOS 7.4 MOS管模拟集成电路版图设计管模拟集成电路版图设计管模拟集成电路版图设计管模拟集成电路版图设计第八章第八章第八章第八章 集成电路的测试与可测性设计集成电路的测试与可测性设计集成电路的测试与可测性设计集成电路的测试与可测性设计 8.1 8.1
7、 引言引言引言引言 8.2 8.2 模拟集成电路测试模拟集成电路测试模拟集成电路测试模拟集成电路测试 8.3 8.3 数字集成电路测试数字集成电路测试数字集成电路测试数字集成电路测试 8.4 8.4 数字集成电路的可测性测试数字集成电路的可测性测试数字集成电路的可测性测试数字集成电路的可测性测试第4页,共52页,编辑于2022年,星期三第二部分第二部分第二部分第二部分 实验课实验课实验课实验课 1 1、数字集成电路、数字集成电路、数字集成电路、数字集成电路 (1 1)不同负载反相器的仿真比较;)不同负载反相器的仿真比较;)不同负载反相器的仿真比较;)不同负载反相器的仿真比较;(2 2)静态)静
8、态)静态)静态CMOSCMOS逻辑门电路仿真分析;逻辑门电路仿真分析;逻辑门电路仿真分析;逻辑门电路仿真分析;(3 3)设计)设计)设计)设计CMOSCMOS反相器版图;反相器版图;反相器版图;反相器版图;(4 4)设计)设计)设计)设计D D触发器及其版图;触发器及其版图;触发器及其版图;触发器及其版图;(5 5)设计模)设计模)设计模)设计模1616的计数器及其版图(可选)。的计数器及其版图(可选)。的计数器及其版图(可选)。的计数器及其版图(可选)。2 2、模拟集成电路、模拟集成电路、模拟集成电路、模拟集成电路 设计一个设计一个设计一个设计一个MOSMOS放大电路(可选)放大电路(可选)
9、放大电路(可选)放大电路(可选)。第5页,共52页,编辑于2022年,星期三章次章次题目题目教学时教学时数数第一章第一章绪言绪言2 2学时学时第二章第二章MOSMOS晶体管晶体管4 4学时学时第三章第三章MOSMOS管反相器管反相器 6 6学时学时第四章第四章半导体集成电路基本加工工艺与设计规则半导体集成电路基本加工工艺与设计规则 6 6学时学时第五章第五章MOSMOS管数字集成电路基本逻辑单元设计管数字集成电路基本逻辑单元设计 4 4学时学时第六章第六章MOSMOS管数字集成电路子系统设计管数字集成电路子系统设计 4 4学时学时第七章第七章MOSMOS管模拟集成电路设计基础管模拟集成电路设计
10、基础6 6学时学时第八章第八章集成电路的测试与可测性设计集成电路的测试与可测性设计 4 4学时学时总计总计3636学时学时教学进度表教学进度表第6页,共52页,编辑于2022年,星期三参考文献参考文献参考文献参考文献1 1 王志功,景为平,孙玲王志功,景为平,孙玲王志功,景为平,孙玲王志功,景为平,孙玲.集成电路设计技术与工具集成电路设计技术与工具集成电路设计技术与工具集成电路设计技术与工具.南京:南京:南京:南京:东南大学出版社,东南大学出版社,东南大学出版社,东南大学出版社,20072007年年年年7 7月(国家级规划教材)月(国家级规划教材)月(国家级规划教材)月(国家级规划教材).22
11、(美)(美)(美)(美)R.Jacob Baker,Harry W.Li,David E.Boyce.R.Jacob Baker,Harry W.Li,David E.Boyce.CMOS Circuit Design,Layout and Simulation.CMOS Circuit Design,Layout and Simulation.北京:北京:北京:北京:机械工业出版社,机械工业出版社,机械工业出版社,机械工业出版社,2006.2006.3 3 陈中建主译陈中建主译陈中建主译陈中建主译.CMOS.CMOS电路设计、布局与仿真电路设计、布局与仿真电路设计、布局与仿真电路设计、布局与
12、仿真.北京:机械工北京:机械工北京:机械工北京:机械工 业出版社,业出版社,业出版社,业出版社,2006.2006.44(美)(美)(美)(美)Wayne Wolf.Modern VLSI Design System onWayne Wolf.Modern VLSI Design System on Silicon.Silicon.北京:科学出版社,北京:科学出版社,北京:科学出版社,北京:科学出版社,2002.2002.5 5 朱正涌朱正涌朱正涌朱正涌.半导体集成电路半导体集成电路半导体集成电路半导体集成电路.北京:清华大学出版社,北京:清华大学出版社,北京:清华大学出版社,北京:清华大学出
13、版社,2001.2001.6 6 王志功,沈永朝王志功,沈永朝王志功,沈永朝王志功,沈永朝.集成电路设计基础电子工业出版集成电路设计基础电子工业出版集成电路设计基础电子工业出版集成电路设计基础电子工业出版 社,社,社,社,20042004年年年年5 5月(月(月(月(2121世纪高等学校电子信息类教材)世纪高等学校电子信息类教材)世纪高等学校电子信息类教材)世纪高等学校电子信息类教材).第7页,共52页,编辑于2022年,星期三 测试的意义测试的意义测试的意义测试的意义 测测测测试试试试的的的的意意意意义义义义在在在在于于于于可可可可以以以以直直直直观观观观地地地地检检检检查查查查设设设设计计
14、计计的的的的具具具具体体体体电电电电路路路路是是是是否否否否能能能能像像像像设设设设计计计计者者者者要要要要求求求求的的的的那那那那样样样样正正正正确确确确的的的的工工工工作作作作。测测测测试试试试的的的的另另另另一一一一个个个个目目目目的的的的是是是是希希希希望望望望通通通通过过过过测测测测试试试试确确确确定定定定电电电电路路路路失失失失效效效效的的的的原原原原因因因因以以以以及及及及失失失失效效效效所所所所发发发发生生生生的的的的具具具具体体体体部部部部位位位位,以以以以便便便便改改改改进进进进设设设设计计计计和和和和修修修修正正正正错错错错误误误误。集集集集成成成成电电电电路路路路是是是
15、是一一一一种种种种复复复复杂杂杂杂的的的的功功功功能能能能器器器器件件件件,在在在在开开开开发发发发和和和和生生生生产产产产过过过过程程程程中中中中出出出出现现现现一一一一些些些些错错错错误误误误和和和和缺缺缺缺陷陷陷陷是是是是不不不不可可可可避避避避免免免免的的的的。测测测测试试试试的的的的主主主主要要要要目目目目的的的的就就就就是是是是在在在在生生生生产产产产中中中中将将将将合合合合格格格格的的的的芯芯芯芯片片片片与与与与不不不不合合合合格格格格的的的的芯芯芯芯片片片片区区区区分分分分开开开开,保保保保证证证证产产产产品品品品的的的的质质质质量量量量与与与与可可可可靠靠靠靠性性性性。此此此
16、此外外外外需需需需要要要要通通通通过过过过测测测测试试试试对产品的质量与可靠性加以监控。对产品的质量与可靠性加以监控。对产品的质量与可靠性加以监控。对产品的质量与可靠性加以监控。第八章第八章 集成电路可测性设计集成电路可测性设计8.1 引言引言第8页,共52页,编辑于2022年,星期三 传传传传统统统统的的的的数数数数字字字字电电电电路路路路(芯芯芯芯片片片片、电电电电路路路路板板板板及及及及系系系系统统统统)的的的的逻逻逻逻辑辑辑辑设设设设计计计计与与与与测测测测试试试试是是是是分分分分开开开开进进进进行行行行的的的的,即即即即先先先先设设设设计计计计,后后后后测测测测试试试试,设设设设计计
17、计计阶阶阶阶段段段段不不不不考考考考虑测试问题。虑测试问题。虑测试问题。虑测试问题。然然然然而而而而,随随随随着着着着数数数数字字字字电电电电路路路路的的的的日日日日益益益益复复复复杂杂杂杂,特特特特别别别别是是是是VLSIVLSI电电电电路路路路密密密密度度度度的的的的日日日日益益益益增增增增加加加加,数数数数字字字字电电电电路路路路的的的的测测测测试试试试问问问问题题题题日日日日趋趋趋趋尖尖尖尖锐锐锐锐,测测测测试试试试时时时时间间间间和和和和测测测测试试试试费费费费用用用用日日日日趋趋趋趋提提提提高高高高,甚甚甚甚至至至至达达达达到到到到无无无无法法法法测测测测试试试试的的的的地地地地步
18、步步步,影影影影响响响响了了了了微微微微电电电电子子子子技技技技术术术术的的的的进进进进一一一一步步步步发发发发展展展展。为为为为了了了了有有有有效效效效开开开开发发发发电电电电路路路路,降降降降低低低低电电电电路路路路测测测测试试试试费费费费用用用用,数数数数字字字字电电电电路路路路必必必必须须须须设设设设计计计计成成成成可可可可测测测测试试试试的的的的。这这这这就就就就要要要要求求求求在在在在电电电电路路路路设设设设计计计计阶阶阶阶段段段段考考考考虑虑虑虑测测测测试试试试问问问问题题题题,或或或或者者者者说说说说必必必必须须须须进进进进行行行行数数数数字字字字电电电电路路路路的的的的可可可
19、可测测测测试试试试性性性性设设设设计计计计。随随随随着着着着微微微微电电电电子子子子技技技技术术术术和和和和数数数数字字字字技技技技术术术术的的的的飞飞飞飞速速速速发发发发展展展展,数数数数字字字字电电电电路路路路的的的的可可可可测测测测试试试试性性性性技技技技术术术术近近近近几几几几年年年年来来来来越越越越来来来来越越越越引引引引起起起起电电电电路设计者的重视,这门技术本身也得到了迅速发展。路设计者的重视,这门技术本身也得到了迅速发展。路设计者的重视,这门技术本身也得到了迅速发展。路设计者的重视,这门技术本身也得到了迅速发展。第9页,共52页,编辑于2022年,星期三根根根根据据据据集集集集
20、成成成成电电电电路路路路产产产产品品品品生生生生产产产产所所所所处处处处的的的的不不不不同同同同阶阶阶阶段段段段与与与与不不不不同同同同目目目目的的的的,测测测测试试试试大致可以分为大致可以分为大致可以分为大致可以分为3 3 3 3种类型:种类型:种类型:种类型:在在在在产产产产品品品品的的的的研研研研发发发发阶阶阶阶段段段段,为为为为了了了了检检检检测测测测设设设设计计计计错错错错误误误误而而而而进进进进行行行行的的的的测测测测试试试试(设计错误测试设计错误测试设计错误测试设计错误测试);在在在在芯芯芯芯片片片片生生生生产产产产阶阶阶阶段段段段,为为为为了了了了检检检检测测测测产产产产品品品
21、品是是是是否否否否具具具具有有有有正正正正确确确确的的的的逻逻逻逻辑辑辑辑操操操操作作作作和和和和正确的功能而进行的测试正确的功能而进行的测试正确的功能而进行的测试正确的功能而进行的测试(功能测试功能测试功能测试功能测试);在在在在产产产产品品品品出出出出厂厂厂厂前前前前,为为为为了了了了保保保保证证证证产产产产品品品品的的的的质质质质量量量量与与与与可可可可靠靠靠靠性性性性,需需需需要要要要进进进进行行行行的的的的各种测试各种测试各种测试各种测试(产品测试产品测试产品测试产品测试)。第10页,共52页,编辑于2022年,星期三 进进进进行行行行集集集集成成成成电电电电路路路路测测测测试试试试
22、需需需需要要要要有有有有专专专专门门门门的的的的测测测测试试试试仪仪仪仪器器器器,通通通通常常常常这这这这些些些些测测测测试试试试仪仪仪仪器器器器是是是是非非非非常常常常昂昂昂昂贵贵贵贵的的的的,测测测测试试试试的的的的实实实实现现现现难难难难度度度度与与与与测测测测试试试试时时时时间间间间决决决决定定定定了了了了测测测测试试试试的的的的费费费费用用用用。如如如如何何何何经经经经济济济济有有有有效效效效地地地地进进进进行行行行测测测测试试试试也也也也是是是是集集集集成成成成电电电电路路路路设设设设计计计计者者者者的的的的责责责责任任任任。集集集集成成成成电电电电路路路路设设设设计计计计者者者者
23、应应应应该该该该负负负负责责责责设设设设计计计计错错错错误误误误测测测测试试试试与与与与功功功功能能能能测测测测试试试试整整整整体体体体方方方方案案案案的的的的制制制制订订订订,包包包包括括括括精精精精确确确确定义测试方案,设计测试电路和生成相应的测试向量。定义测试方案,设计测试电路和生成相应的测试向量。定义测试方案,设计测试电路和生成相应的测试向量。定义测试方案,设计测试电路和生成相应的测试向量。设计错误测试设计错误测试设计错误测试设计错误测试 当当当当一一一一个个个个新新新新的的的的电电电电路路路路设设设设计计计计完完完完成成成成并并并并第第第第一一一一次次次次投投投投片片片片制制制制造造
24、造造后后后后,设设设设计计计计者最想知道的就是电路设计本身是否存在错误。者最想知道的就是电路设计本身是否存在错误。者最想知道的就是电路设计本身是否存在错误。者最想知道的就是电路设计本身是否存在错误。第11页,共52页,编辑于2022年,星期三 设设设设计计计计错错错错误误误误测测测测试试试试的的的的主主主主要要要要目目目目的的的的是是是是发发发发现现现现并并并并定定定定位位位位设设设设计计计计错错错错误误误误,从从从从而而而而达达达达到到到到修修修修改改改改设设设设计计计计最最最最终终终终消消消消除除除除设设设设计计计计错错错错误误误误的的的的目目目目的的的的。设设设设计计计计错错错错误误误误
25、的的的的主主主主要要要要特特特特点点点点是是是是同同同同一一一一设设设设计计计计在在在在制制制制造造造造后后后后的的的的所所所所有有有有芯芯芯芯片片片片中中中中都都都都存存存存在在在在同同同同样样样样的的的的错错错错误误误误,这这这这是是是是区区区区分分分分设设设设计计计计错错错错误误误误与与与与制制制制造造造造缺缺缺缺陷陷陷陷的的的的主主主主要要要要依依依依据据据据。在在在在输输输输入入入入测测测测试试试试向向向向量量量量后后后后,从从从从输输输输出出出出的的的的错错错错误误误误类类类类型型型型可可可可以以以以大大大大致致致致定定定定位位位位设设设设计计计计错错错错误误误误,但但但但还还还还
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