2022年半导体碳化硅行业市场现状及产业链分析.docx
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1、2022年半导体碳化硅行业市场现状及产业链分析1、碳化硅(SiC):新一代半导体材料,打开新能源车百亿市场空间1.1 碳化硅半导体材料第三代半导体性能优越,应用场景更广。半导体材料作为电子信息技术发展的 基础,经历了数代的更迭。随着应用场景提出更高的要求,以碳化硅、氮化镓为代 表的第三代半导体材料逐渐进入产业化加速放量阶段。相较于前两代材料,碳化硅 具有耐高压、耐高温、低损耗等优越性能,广泛应用于制作高温、高频、大功率和 抗辐射电子器件。碳化硅器件应用场景广阔。因其高热导性、高击穿电场强度及高电流密度,基 于碳化硅材料的半导体器件可应用于汽车、充电设备、便携式电源、通信设备、机 械臂、飞行器等
2、多个工业领域。其应用的范围也在不断地普及和深化,是一种应用 前景非常广泛、非常具有价值的材料。1.2 碳化硅的优势分析第三代半导体材料禁带宽度远大于前两代。第一代和第二代半导体都是窄带隙 半导体,而从第三代半导体开始,宽禁带(带隙大于 2.2eV)半导体材料开始被大 量应用。碳化硅作为第三代半导体的典型代表,具有 200 多种空间结构,不同的结 构对应着不同的带隙值,一般在 2.4eV-3.35eV 之间。碳化硅材料除宽禁带之外,还 具有高击穿场强、高饱和漂移速度及高稳定性、最大功率等优点。1.2.1 宽禁带:提高材料稳定性和击穿电场强度禁带宽度决定材料特性,宽禁带提高更好性能。禁带宽度是衡量
3、半导体性能的 一个重要指标,更宽的禁带意味着更高的激发要求,即电子和空穴更难以形成,这 也导致了宽带隙半导体在不需要工作时可以保持类似绝缘体的特性,这也使得其具 有更好的稳定性,宽禁带同时也有助于提高击穿电场强度,进而增强对工作环境的 承受能力,具体体现在具有更好的耐热性和耐高电压性、抗辐射性。同时因宽禁带体系中导带与价带间的高能量差,使得电子与空穴被激发后的复 合率大大降低,这就使得更多的电子和空穴可以用于导电或者传热,这也是碳化硅 具有更强的导热性与导电能力的一个原因。基于这些特点,碳化硅器件可以在更高强度的环境下进行工作,也能够更快速 地进行散热,极限工作温度更高。耐高温特性可以带来功率
4、密度的显著提升,同时 降低对散热系统的要求,使终端可以更加轻量和小型化。碳化硅的高禁带宽度也使 得碳化硅器件泄漏电流比硅器件大幅减少,从而降低功率损耗;碳化硅器件在关断 过程中不存在电流拖尾现象,开关损耗低,大幅提高实际应用的开关频率。1.2.2 高击穿电压:带来更大的工作区间及功率范围击穿电压越高,工作区间及功率范围越大。击穿电压指的是使电介质击穿的电 压。对于半导体来说,一旦电压到达了击穿电压就意味着半导体失去了其介电性 能,因内部结构被破坏而呈现出类似与导体的性能,进而无法工作。所以更高的击 穿电场意味着更大的工作区间及功率范围,即击穿电场越高越好。碳化硅器件功率更大、体积更小,能量损失
5、更低。碳化硅材料因其更高的击穿 电压特性,可以广泛地应用于大功率器件的制备,这是硅基半导体所无法替代的优 势。碳化硅更高的电击穿允许碳化硅功率器件具有更薄更重掺杂的阻挡层,这使得 同等要求下使用碳化硅材料可以将器件做的更薄,这可以起到节省空间、提高单位 能量密度的作用。此外,高击穿电场还可以使得碳化硅在外电压中的导通电阻更 小,而更小的导通电阻意味着更低的能量损失。1.2.3 高饱和漂移速度:能量损耗更小碳化硅因其内部结构,具有更高的饱和漂移速度。漂移速度反应的是载流子在 外电压下的迁移速度,理论上讲漂移速度是可以随着外界电场的增加而无限提高 的,但实际上随着外加电场的增加,材料内部载流子之间
6、的碰撞也会随之增加,所 以会存在一个饱和的漂移速度。在碳化硅材料中,其内部结构具有很好的缓冲碰撞 的能力,所以具有更高的饱和漂移速度。高饱和漂移速度带来更小的能量损耗。高饱和漂移速度意味着载流子能更快地 迁移,以及更低的电阻。这也使得碳化硅材料中的能量损耗大大减小。与硅相比, 相同规格的碳化硅基 MOSFET 和硅基 MOSFET 相比,导通电阻降低为 1/200,尺寸 减小为 1/10;相同规格的使用碳化硅基 MOSFET 和使用硅基 IGBT 的逆变器相比, 总能量损失小于 1/4。这些特点为碳化硅材料在光伏逆变器、高频器件中的应用提 供了有力的支撑。2.碳化硅产业链国外厂商多以 IDM
7、模式布局,国内企业专注单个环节。碳化硅产业链依次可分 为:衬底、外延、器件、终端应用。国外企业多以 IDM 模式布局全产业链,如 Wolfspeed、Rohm 及意法半导体(ST),而国内企业则专注于单个环节制造,如衬 底领域的天科合达、天岳先进,外延领域的瀚天天成、东莞天域,器件领域的斯达 半岛、泰科天润。衬底与外延占据 70%的碳化硅器件成本。受制于材料端的制备难度大,良率 低,产能小,目前产业链的价值集中于衬底和外延部分,前端两部分占碳化硅器件 成本的 47%、23%,而后端的设计、制造、封测环节仅占 30%。2.1 衬底:行业呈现一超格局行业呈现一超格局,Wolfspeed 占据 62
8、%市场份额。自 2018 年特斯拉首次将碳 化硅器件导入 Model3 代替 IGBT 模块,便打开了碳化硅在新能源车领域的应用,行 业迅速进入升温期。目前碳化硅衬底市场呈现一超格局,Wolfspeed(原 Cree)以62%的市占率高居第一,II-VI、Rohm 则以 14%和 13%的市占率位列第二、三位, CR3 接近 90%。国内厂商天科合达市占率仅为 4%。碳化硅衬底可分为导电型和半绝缘型。导电型是指电阻率在 1530mcm 的碳 化硅衬底,将其进行外延后可进一步制成功率器件,应用于新能源车、光伏、智能 电网等领域。半绝缘型则是指电阻率高于 105mcm 的碳化硅衬底,主要用于制造
9、氮化镓微波射频器件,作为无线通讯领域的基础零部件。碳化硅衬底是由高纯硅、碳粉经过合成成 SiC 微粉后,通过物理气相沉积法 (PVT)生长成为晶锭,之后加工得到标准直径尺寸的碳化硅晶体,再经过切磨抛 工艺获得表面无损伤的碳化硅抛光片,最后对其进行检测、清洗形成可交付下游外 延厂商使用碳化硅衬底。2.1.1 原料合成:各家衬底厂商自产为主高纯 SiC 粉末可使用气相法、液相法及固相法合成,目前产业中主要使用固相 法中自蔓延高温合成法,即将固态的 Si 源和 C 源作为原料,使其在 14002000C 的高温下持续反应,最后得到高纯 SiC 粉体。这种方法原料便宜,合成质量稳定, 合成效率高。目前
10、各家衬底厂商基本自产高纯 SiC 粉末。2.1.2 晶锭生长:目前行业内以 PVT 法为主,整体良率较低90%衬底企业选择 PVT 法。碳化硅单晶主要有物理气相传输法(PVT)、高温化学 气相沉积(HTCVD)法和液相外延法(LPE)法,目前 PVT 法由于设备易于制造、长晶过 程更好控制以及成本较低等优点,是业内最成熟的工艺。其原理是通过将处于2000C以上的 SiC 原料升华分解成气相物质,这些气相物质输运到温度较低的籽晶 处,结晶生成 SiC 单晶。业内 90%的企业都使用 PVT 法。HTCVD 法的原理是将 Si 源和 C 源气体在 2100C左右的高温环境下发生化学反 应生成 Si
11、C,这种长晶法可实现晶体长时间持续生长,但设备成本高,且生长速度 也很慢。业内使用 HTCVD 法的有 Norstel 和日本电装。LPE 法通过在高温纯硅溶液中将碳溶解其中,从过饱和液中析出碳化硅晶体。 LPE 适用于制备高质量大尺寸碳化硅衬底,但是生长速度极其缓慢,材料要求也 高,应用厂家有住友金属。PVT 法生长速度慢、厚度低,且良率较低。根据刘得伟等人在PVT 法生长 6 英寸 4H-SiC 晶体的工艺研究文中数据,在不同原料区温度下,80 小时生长时间内 晶锭厚度 8-15mm,并且由于粉源石墨化的影响,晶锭长度限制在 50mm 左右。且 碳化硅晶体的生长环境复杂、工艺控制难度大,整
12、体良率较低,据天岳先进招股书 中披露,公司晶棒环节整体良率在 50%。2.1.3 切磨抛:SiC 晶锭硬度高、脆性大,加工困难生长完成的 SiC 晶锭在经过初加工定型后,还需要经过切磨抛环节制成碳化硅 抛光片。受加工技术的制约,目前高表面质量碳化硅晶片的加工效率较低,据天岳 先进招股书中披露,公司衬底环节整体良率在 75%。国内切割环节主要用固结磨料多线切割。由于碳化硅硬度高、脆性大、化学性 质稳定,无法使用传统锯切工具。国内目前最多使用固结磨料多线切割法来加工, 将金刚石磨料固结在金属丝上,随锯丝运动实现磨粒的锯切加工。目前国内外正在 研究激光切割、冷分离和电火花切片等技术。研磨主要是为了去
13、除晶片切割后表面的缺陷,并达到预定厚度,同时将晶片的 翘曲、弯曲、总厚度变化、表面粗糙度降至最小。目前主要用单面减薄技术以及双 面研磨,使用的磨料通常为碳化硼或金刚石。抛光主要通过配比好的抛光液对研磨片进行机械抛光和化学抛光(CMP),用 来消除表面划痕、降低表面粗糙度及消除加工应力等,使研磨片表面达到纳米级平 整度。最后通过检测、清洗,将衬底交付给下游外延环节。2.2 外延:可满足不同应用领域对器件的电阻等参数要求外延可满足不同应用领域对器件参数要求。外延是指在碳化硅衬底上生长了一 层与衬底晶相同的单晶薄膜(外延层)的过程。为了满足 SiC 器件在不同应用领域 对电阻等参数的特定要求,必须在
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