射线检测I级习题集新说课讲解.doc
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1、Good is good, but better carries it.精益求精，善益求善。射线检测I级习题集新-射线检测I级习题集一、是非题：1、可见光和X射线都是电磁波。（O）2、X射线和射线都带电（X）3、X射线和射线在真空中以每秒30万公里速度直线前进。（O）4、射线的传播速度比可见光大（X）5、射线的能量与它的频率成正比。（O）6、光子具有波动性和粒子性。（O）7、原子核带正电荷（O）8、原子核由质子和中子组成（O）9、原子是由一个原子核和若干个核外电子组成（O）10、原子核是由中子、质子和电子组成（X）11、中子不带电（O）12、质子带正电荷（O）13、整个原子呈电中性（O）14、
2、原子量相同和中子数不同的原子互称同位素（X）15、X射线和射线是电磁波、可见光不是电磁波（X）16、X射线的波长比紫外线的波长短（O）17、射线是不可见的（O）18、射线能杀伤生物细胞（O）19、X射线本身带电，可以产生干涉和衍射现象。（X）20、阴极电子以很高的动能飞向阳极，绝大部分能量转换为X射线（X）21、光电效应产生光电子（O）22、光电效应时，光子把全部能量转移给电子（O）23、在电子对效应中，入射光子消失（O）24、在康普顿效应中，光子的部分能量转移给电子（O）25、在康普顿效应中，光子的能量和运动方向发生变化（O）26、在电子对效应中，光子转化为1个正电子和1个负电子O27、能量
3、和方向都发生了改变的射线叫做散射线（O）28、射线的波长越小，衰减越大（X）29、物质的原子序数大，射线衰减也大（O）30、同一种物质，射线能量不同时衰减系数不同（O）31、对于同一能量的射线，通过不同物质时，其衰减系数是相同的（X）32、半价层是指使入射射线强度减少一半时的吸收物质厚度（O）33、“居里”是放射性同位素活度的单位（O）34、底片上相邻区域的高度差定义为“对比度”（）35、透射射线强度差异与底片对比度无关系（）36、射线照相法可以获得缺陷的直观图像，定性准确（O）37、射线检测结果可直接记录，可以长期保存（O）38、射线检测对体积型缺陷（气孔、夹渣等）检出率较高（O）39、射线
4、对人体有伤害（O）40、影响颗粒度的因素是透照厚度、线衰减系数和散射比（X）41、射线强度衰减程度取决于物质的衰减系数和在物质中穿越的厚度（O）42、缺陷部位和完好部位的透射射线强度不同（O）43、对比度是底片上相邻区域的透射射线强度差（X）44、X射线管是产生X射线机的部件（O）45、灯丝变压器是一个升压变压器（X）46、气体绝缘X射线机用六氟化硫（SF6）气体作绝缘介质（O）47、X射线管管电流调节是通过调节灯丝加热电流来实现的（O）48、X射线管必须具有足够的真空度、足够的绝缘强度和足够的散热能力（O）49、金属陶瓷管用金属陶瓷替代玻璃作外壳，具有良好的抗震性和耐高温性（O）50、管电压
5、愈高，发射的X射线的波长愈大，穿透能力就愈强（X）51、实际焦点垂直于管轴上的正投影叫做有效焦点（O）52、训机的目的是吸收X射线管内的气体，提高X射线管的真空度（O）53、训机就是按照一定的程序，从低电压逐步升压（X）54、在升高压过程中如“mA”不稳定,则应降低管电压重新训练（O）55、在使用X射线机时还必须注意充分冷却，保证冷却系统正常工作（O）56、屏蔽容器是射线源的储存装置(O)57、源组件由源容器、放射源、包壳、源辫子构成(X)58、目前在工业射线探伤中使用的射线源主要是天然放射性同位素(X)59、射线源的能量影响到检验的灵敏度(O)60、应按照被检工件的材料和厚度选择适当的射线源
6、(O)61、在射线探伤中应选取放射性比活度较小的源(X)62、射线探伤设备特别适用于野外作业(O)63、射线能量可根据试件厚度进行调节(X)64、射线探伤设备固有不清晰度一般说来比X射线机小(X)65、射线探伤对安全防护要求高，管理严格（O）66、射线胶片片基为半透明塑料，它是感光乳剂层的支持体（X）67、感光乳剂的主要成分是卤化银（O）68、胶片特性曲线是表示相对曝光量与底片黑度之间关系的曲线(O)69、射线穿透被检工件后照射在胶片上，使胶片产生潜影（O）70、感光度定义为底片获得一定黑度所需曝光量的倒数(O)71、不同胶片得到同样的黑度所需的曝光量相同(X)72、特性曲线上不同点的梯度是不
7、同的(O)73、本底灰雾度（D0）表示胶片即使不经曝光在显影后也能得到的黑度(O)74、不同胶片要达到同一黑度，采用不同波长的射线曝光将需要不同的曝光量(O)76、随着颗粒度增大，胶片的感光度增高，梯度降低(O)77、胶片的感光特性与暗室处理无关(X)78、目前在射线照相中一般不使用增感型胶片(O)79、如需要较高的射线照相质量，则需使用号数较大的胶片(X)80、不要多层胶片同时裁切，防止轧刀，擦伤胶片(O)81、裁片时不可把胶片上的衬纸取掉裁切(O)82、胶片宜保存在低温低湿环境中(O)83、空气过于干燥，容易使胶片产生静电感光(O)84、胶片应竖放，避免受压(O)85、使用标准黑度片校验黑
8、度计(O)86、金属增感屏除具有增感作用外，对波长较短的散射线有吸收作用(X)87、像质计只能用与被检工件材质相同的材料制作(X)88、我国采用的是金属丝型像质计和孔板型像质计(X)89、摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位(O)90、像质计上直径小的金属丝应放在被检区内侧(X)91、采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验(O)92、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记(O)93、为屏蔽工件中的散射线需制作一些与胶片暗袋尺寸相仿的屏蔽铅板(X)94、影像的重叠使得物体中不同位置的缺陷，在射线检测的影像上可能表现为一个缺陷(O)95、当从同一方向进行
9、射线检测时，对同一物体得到的影像可以不同(X)96、影像放大是指在胶片上形成的影像的尺寸大于形成影像的物体的尺寸(O)97、在一般情况下，影像都存在一定程度的放大(O)98、如果得到的影像的形状与物体在投影方向截面的形状不相似，则称影像发生了位移(X)99、只要物体的投影截面与记录影像的截面不平行，就将发生影像畸变(O)100、像质计灵敏度等于工件中所能发现的最小缺陷尺寸（X）101、底片上某一小区域和相邻区域的黑度差称为底片对比度(O)102、底片对比度越大，影像就越容易被观察和识别(O)103、选用可能的较低能量的射线进行透照从而减小线衰减系数(X)104、射线照相清晰度常用不清晰度来表述
10、(O)105、射线照相法中照相焦距（F）是指射线源焦点至工件表面的距离（X）106、照相焦距大几何不清晰度值小（O）107、射线源焦点尺寸大则固有不清晰度值也大，反之则小（X）108、缺陷的至胶片的距离大，几何不清晰度就大（X）109、射线愈硬，固有不清晰度愈大（O）110、颗粒度限制了影像能够记录的细节的最小尺寸(O)111、对X射线，射线的能量用管电压表示(O)112、焦距是射线源与胶片之间的距离(O)113、曝光量是透照时间与管电压的乘积(X)114、对X射线来说，穿透力取决于管电压(O)115、对射线来说，穿透力取决于放射源种类(O)116、为保证射线具有一定穿透能力，选用较高的能量(
11、X)117、选取的焦距必须满足射线照相对几何不清晰度的要求(O)118、在实际的射线照相检验中，确定焦距最小值常采用诺模图(O)119、焦距增大后,匀强透照场范围增大，这样可以得到较大的有效透照长度(O)120、当采用中心内照法时，焦距就是筒体的内半径(X)121、可以通过改变显影温度来控制底片黑度(X)122、曝光量不影响颗粒度和信噪比(X)123、曝光量可通过互易律、平方反比定律进行修正（O）124、只有采用金属箔增感或无增感的条件时，遵守互易定律（O）125、曝光曲线的作用是按照透照厚度对射线能量、曝光量、显影条件作出合理的选择（X）126、防止采用高能量、短时间曝光进行射线照相（O）1
12、27、曝光曲线比较简单实用的制作方法是采用阶梯试块进行制作（O）128、射线照相的条件必须从曝光曲线直接查出所需要的透照参数（X）129、根据透照厚度选择适当的透照电压或射线源，进一步再确定曝光量（O）130、散射线会使胶片感光，降低射线照相影像的灵敏度（O）131、射线照相到达胶片的散射线，最主要是来自被透照工件的背部散射（X）132、散射比定义为散射线强度与透过射线强度之比（X）133、散射线虽不能完全消除，但仍可以采用一定方法来控制散射线（O）134、铅箔增感屏可以有效地吸收内部、外部散射线（O）135、在射线胶片背面衬以铅板，可以有效地吸收内部、外部散射线（X）136、在射线照相之前应
13、首先在工件上划出照相区域和段落，简称划线（O）137、照相的长度取决于胶片长度（X）138、在每张射线照相底片上应具有像质计、识别标记和定位标记（O）139、像质计一般放在射线底片的中间（X）140、原则上，像质计应放置在近射线源一侧的工件表面（O）141、像质计放在近胶片一侧工件表面时，要做对比试验（O）142、透度计在照相段落的左侧（也可放在右侧）且最细的钢丝靠近端头（O）143、中心定位标记的水平箭头表示焊缝的焊接方向（X）144、在焊缝射线照相时这些铅字的标记符号距焊缝边缘至少5mm（O）145、射线照相记录中应有评片记录（O）146、直缝透照，中心射线束应尽量垂直指向一次透照区的中心
14、（O）147、一次透照长度主要由胶片大小决定（O）148、直缝透照，采用较小的焦距一次只能透照较小的区域（O）149、环焊缝外透照是把射线源放在工件外侧，而将胶片放在工件的内侧（O）150、射线源与工件圆心相重合，就不存在射线透照厚度差（O）151、采用周向曝光技术时，容器内半径不需要满足几何不清晰度的要求（X）152、暗室是不允许存在任何的缝隙使日光（白光）透入室内（O）153、暗室也应远离射线源（O）154、切装胶片和胶片冲洗的主要处理过程必须在安全红灯下进行（O）155、为便于操作，暗室的干部和湿部要靠得近些（X）156、在切装胶片之前，应清洁工作台面、切刀、有关用具（O）157、暗室操
15、作人员应安排好正确的工作流程，养成良好的习惯，避免错装、漏装（O）158、冲洗胶片时，要对温度进行控制检验，调整好计时设备（X）159、暗室操作中必须避免胶片与工作台面、胶片与增感屏间的严重摩擦（O）160、安全灯是绝对安全的（X）161、胶片可以长期放在暗室内（X）162、射线照相的暗室处理包括显影、停显、定影、水洗、干燥五个程序（O）163、显影速度与显影剂的浓度有关，浓度高显影速度快，反之慢（O）164、显影速度还与温度有关，显影温度高速度就快（O）165、影时对显影液温度都要求进行严格控制，一般的标准温度为202（O）166、显影剂的主要作用是把已感光的溴化银还原成金属银（O）167、
16、在显影操作时不断地进行搅拌其目的是防止显影液沉淀（X）168、停显液通常为2%3%的醋酸溶液（O）169、显影之后必须进行停显处理，然后再进行定影（O）170、定影时间一般为三倍的“通透”时间（X）171、射线底片在定影时不能翻动，防止划伤（X）172、冲洗的目的是将胶片表面的赃物清除掉（X）173、硫化银会使射线底片发黄，影像质量下降（O）174、为使射线底片具有稳定的质量，能够长期地保存，必须进行充分的水洗（O）175、干燥的目的是去除膨胀的乳剂层中的水分（O）176、烘箱干燥的温度不能大于50（X）177、目前国内广泛使用的是槽型像质计(X)178、底片上能识别的像质计丝号是底片上能识别
17、出的最细金属丝的编号(O)179、受观片灯亮度的限制，底片黑度不能过大(O)180、为保证底片具有足够的对比度，黑度不能太小(O)181、底片黑度一般用计算方法确定(X)182、最大黑度一般在底片中部焊接接头热影响区位置(O)183、最小黑度一般在底片两端焊缝余高中心位置(O)184、只有当有效评定区内各点黑度的平均值在规定的范围内，才能认为黑度符合要求(X)185、底片上不允许有影响缺陷评定的伪缺陷影像（X）186、背散射检查即“B”标记检查（O）187、若发现在较黑背景上出现“B”字较淡影像，说明背散射严重（O）188、若在较淡背景上出现较黑“B”字，说明背散射严重（X）189、双壁单影透
18、照纵焊缝的底片，其搭接标记以外应有附加长度L才能保证无漏检区（O）190、评片室应具有安静的环境、适宜的温度、新鲜的空气（O）191、裂纹是指材料局部断裂形成的缺陷(O)192、裂纹按发生的条件和时机可分为热裂纹、冷裂纹、再热裂纹等(O)193、热裂纹通常都穿晶开裂（X)194、再热裂纹产生在焊接热影响区的过热粗晶组织中(O)195、焊缝金属之间未熔化结合在一起的缺陷不是未熔合(X)196、未焊透是指母材金属之间没有熔化，焊缝金属没有进入接头的根部造成的缺陷(O)197、焊后残留在焊缝金属中的非金属熔渣和外来金属夹杂物称夹渣(O)198、焊缝形状缺陷包括咬边、烧穿、焊瘤、弧坑、内凹、未焊透等等
19、(X)199、未焊透的典型影像是细直黑线，宽度恰好为钝边间隙宽度（O）200、坡口未熔合在照相上的位置往往偏离焊缝中心线（O）201、夹渣是由于在焊接时未把焊渣清除干净，残留在焊缝金属中（O）202、钨夹渣在底片上的影像是一个白点，只产生在钨极氩弧焊中（O）203、效应的发生率与剂量的大小有关的辐射生物效应叫确定性效应（X）204、随机性效应不存在剂量的阈值（O）205、只有当剂量超过一定的值之后才能发生随机性效应（X）206、确定性效应存在剂量的阈值（O）207、确定性效应的严重程度与剂量的大小无关（X）208、在总剂量相等的情况下，即使剂量率高一些，产生的辐射生物效应是相同的（X）209、
20、照射方式包括外照射、内照射（O）210、照射方式不同，机体的吸收不同，产生的辐射生物效应也不同（O）211、放射防护的目的在于防止随机性效应的发生，并限制确定性效应的发生率（X）212、对放射性工作人员，年平均剂量当量限值为20mSv/a(O)213、发生放射事故后首先要清理现场人员(O)214、当距离增加一倍时，剂量或剂量率减少到1/4（O）215、不同材料对不同的射线的屏蔽效果是不相同的（O）216、应根据射线的性质来选择适宜的屏蔽材料（O）217、r射线探伤只要严格遵守安全操作规程，肯定不会发生事故(X)218、为了有效地处理放射性事故，应制定各种可能事故的应急措施（O）二、选择题：1、
21、以下关于X射线的说法错误的是（D）AX射线不带电荷BX射线是电磁波C在真空中沿直线以光速前进DX射线的波长比可见光长2、以下关于射线的说法错误的是（A）A射线只具有波动性B射线的波长比可见光短C射线是电磁波D在真空中沿直线以光速前进3、以下关于原子的说法错误的是（B）A.原子是由原子核和核外电子组成的B.原子核呈电中性C.原子呈电中性D.中子不带电4、原子核的质子数等于（B）A.中子数B.原子序数C.光子数D.原子量5、以下关于的说法错误的是（D）A.钴元素的原子量为60B.核电荷数为27C.中子数则为33D.核内有33个质子6、关于同位素以下说法错误的是（B）A.同位素的质子数相同B.同位素
22、的中子数相同C.不稳定的同位素又称放射性同位素D.射线是从放射性同位素原子核内发出的7、同位素是指（A）A.质子数相同而中子数不同的元素；B.原子量数相同而质子数不同的元素C.中子数相同而质子数不同的元素；D.质子数相同而原子量数不同的元素。8、下列不是电磁波的是（C）A.X射线和射线B.无线电波C.超声波D.可见光9、在射线探伤中应用最多的两种射线是（D）A.X射线和a射线B.a射线和射线C.X射线和射线D.X射线和射线10、X射线和可见光的相同点是（C）A.波长相同B.产生的方法相同C.都是电磁波D.以上都是11、以下关于光电效应的说法错误的是（D）A.入射光子把全部能量传递给电子B.入射
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