第十一章气相色谱分析法教案.doc
《第十一章气相色谱分析法教案.doc》由会员分享,可在线阅读,更多相关《第十一章气相色谱分析法教案.doc(69页珍藏版)》请在淘文阁 - 分享文档赚钱的网站上搜索。
1、江西应用技术职业学院教案首页本学期授课次序45授课班级03化工01课题名称第九章 原子发射光谱分析法 9-1教学目的要求1. 1.掌握原子发射光谱分析法基本原理。2. 2.掌握原子发射光谱分析法的特点。3. 3.掌握谱线强度及其影响因素。教学重点及难点重点:1、原子发射光谱分析法基本原理。2、线强度及其影响因素。难点: 1、原子发射光谱分析法基本原理。2、谱线强度及其影响因素。教学程序设计次序内 容计划时间12345复习小结上次课的主要内容。原子发射光谱分析法基本原理。原子发射光谱分析法的特点。谱线强度及其影响因素。小结本次课内容。1040103010作业及思考题:P1571 思考题:原子吸收
2、光谱仪与原子发射光谱仪在原理上有什么不同?钾、钠的能级排布图有什么不同?哪个原子的最大吸收波长长?课前提示: 在教学过程中和同学们一起回顾原子的基态及激发态,区分吸收光谱与发射光谱的区别、用途。在学生讨论时间可以和学生一起讨论书后的习题,加深理解和掌握。教学实施经验小记(附后)第九章 原子发射光谱分析法(本章共12学时,其中讲授6学时,实验6学时)历史背景资料一般认为原子发射光谱是1860年德国学者基尔霍夫(Kirchhoff GR)和本生(Bunsen RW)首先发现的,他们利用分光镜研究盐和盐溶液在火焰中加热时所产生的特征光辐射,从而发现了Rb和Cs两元素。其实在更早时候,1826年泰尔博
3、(Talbot)就说明某些波长的光线是表征某些元素的特征。从此以后,原子发射光谱就为人们所注视。9-1 概 述引入 原子发射光谱法是一种成分分析方法,可对约70种元素(金属元素及磷、硅、砷、碳、硼等非金属元素)进行分析。这种方法常用于定性、半定量和定量分析。讲述一、基本原理(一)原子发射光谱的产生原子发射光谱是由于原子的外层电子在不同能级之间的跃迁而产生的。利用物质的原子发射光谱来测定物质的化学组成的方法,称为光谱分析法或称为发射谱分析法。在正常情况下组成物质的原子是处于稳定状态的,这种状态称为基态,它的能量是最低的。但是,当原子从基态迁到激发态时所需的能量称为激发电位,以电子伏特(ev)为单
4、位。处于激发态的原子很不稳定,约经108s后,原子即恢复到正常状态,这时它便跃迁回基态或其他较低的能级,在电子从离原子核较远的轨道跃迁到离核较近的轨道的过程中,就释放出多余的能量,这部分能量以光的形式辐射出来,因此就产生发光光谱。发射光谱的能量可用下式表示:EE2E1hvh式中: E2高能级的能量E1低能级的能量h普朗克常数v发射光的频率发射光的波长c光速从式可知,每一条发射光谱的谱线的波长,和跃迁前后的两个能级之差成反比。由于原子内的电子轨道是不连续的(量子化的),故得到的光谱是线光谱。【提示】因为组成物质的各种元素的原子结构不同,所产生的光谱也就不同,也就是说,每一种元素的原子都有它自己的
5、特征光谱线。 【小结】光谱分析就是检测这些特征谱线是否出现,以鉴别某种元素是否存在,这是光谱定性分析的基本原理。同样,在一定条件下,这些特征光谱线的强弱与试样中欲测元素的含量有关,通过测量特征光谱线的强度,可以鉴定元素的含量,这是光谱定量分析及半定量分析的原理依据。所以,发射光谱分析的主要过程是在外加能量的作用下,使试样变成激发态的气态原子,随后将激发态原子所产生的辐射经过摄谱仪器进行色散分光,形成光谱图;最后根据所得光谱图进行光谱定性分析或定量分析。(二)谱线强度及其影响因素1.谱线强度原子的核外电子I、J两个能级间跃迁,其发射谱线强度II,J为单位时间、单位体积内光子发射的总能量。光谱线强
6、度与元素浓度之间存在如下关系,即所谓的罗马金赛伯经验公式:IAcb式中:b自吸收系数I谱线强度c元素含量A发射系数发射系数A与试样的蒸发,激发和发射的整个过程有关,与光源类型、工作条件、试样组分、元素化合物状态以及谱线的吸收现象也有关系,由激发电位及元素在光源中的浓度等因素决定。元素含量很低时谱线自吸收很小,这时b1,元素含量较高时,谱线自吸收现象较严重,此时b1。因此实际使用过程中,往往采用罗马金公式的对数形式,这样,只要b是常数,就可得到线性的工作曲线。由此可见,在一定条件下,谱线强度尺与试样中原子浓度有关,这正是原子发射光谱定量分析的基础。2.影响谱线强度的因素影响谱线强度的因素主要有以
7、下几个方面。(1)激发电位激发电位增高,处于该激发态的原子数将迅速减少,因此,谱线强度将减弱。(2)跃迁几率跃迁几率是指电子在某两个能级之间每秒跃迁的可能性的大小,它与激发态的寿命成反比,也就是说原子处于激发态的时间越长,跃迁几率越小,产生的谱线强度越弱。(3)激发温度理论上光源的激发温度越高,谱线强度越大。但实际上,温度升高,除了使原子易于激发外,同时也增加了原子的电离,因此,元素的离子数不断增多,原子数不断减少,从而导致谱线强度减弱,所以,实验时应选择合适的激发温度。(4)基态原子数谱线强度与进入光源的激态原子数成正比,因此一般情况下,试样中被测元素的含量越大,发射的谱线也就越大。小结4.
8、 1.原子发射光谱分析法基本原理。5. 2.原子发射光谱分析法的特点。6. 3. 谱线强度及其影响因素。7.教学实施经验小记:激发态可以有几个,基态却只有一个,同学们不能理解,举了好几个具体事例才能明白。复习能级排布图。江西应用技术职业学院教案首页 本学期授课次序46授课班级03化工01课题名称第九章 原子发射光谱分析法简介 9-2教学目的要求1. 掌握原子发射光谱分析仪的光源。2. 掌握原子发射光谱分析仪的分光系统。3. 掌握原子发射光谱分析仪的检测系统。教学重点及难点重点:发射光谱分析仪的光源。难点:发射光谱分析仪的光源。教学程序设计次序内 容计划时间12345复习小结上次课的主要内容。原
9、子发射光谱分析仪的光源。发射光谱分析仪的分光系统。发射光谱分析仪的检测系统。小结本次课内容。1050504040作业及P1572 P1573思考题:1. ICP的含义?2. 光电倍增管负高压的控制原理?3. 光栅的构造及作用。课前提示:1、 在教学过程中要多引导同学们去思考问题,引导同学们理解知识,这样教学效果会更好。2、 本次课内容较多,要合理安排时间,抓住授课重点。3、 仪器的分光系统与检测系统要讲深讲透。教学实施经验小记(附后)。9-2 发射光谱分析仪器 引入原子发射光谱分析仪的基本构造为:光源单色器检测器-显示系统。与原子吸收光谱分析仪的基本构造有何不同?讲述一、激发光源电感耦合高频等
10、离子体光源1.激发光源它在文献上常简称为ICP光源,由高频发生器,同轴的三重石英管和进样系统三部分组成。其结构如右图所示。石英管中通入氩气,在石英管的上部绕有24匝线圈,并使之与高频发生器感应耦合而形成等离子体,然后通过雾化器把试样和载气(氩气)导入等离子气体,进行激发和发射光谱分析。这种光源工作温度高,又是惰性气体条件下,几乎任何元素都不能以化合物的状态存在。原子化条件下,谱线强度大,背景小,可使测定的检出限降低;同时,光源稳定、分析结果重现性好,准确度高。利用ICP作为光源,目前已广泛地应用于各种材料中微量元素的发射光谱分析。ICP是近来发展最快的一种新型光源。图91ICP光源【提问】原子
11、发射光谱分析仪还有哪些常用光源?(学生例举,老师总结)2.高频发生器高频发生器采用电感反馈式振荡电路,使FU5S电子管形成自激振荡。经过LC匹配电路使振荡功率通过50欧姆同轴电缆输出到负载匹配电路,再调节负载匹配电容,使输出功率最大,并加到等离子炬管上。在50欧姆同轴电缆传输线上装有定向耦合器,耦合出功率信号,经检波后加到控制电路放大器的输入端,实现功率自动控制。振荡电子管的阳极电压供电系统采用:单相220V电压经高压变压器升到4500V,然后经整流、滤波,再加到电子管的阳极上。高压变压器初级线圈前接两个半饱和电抗器。改变半饱和电抗器直流线圈绕组的电压,就能够改变半饱和电抗器交流线圈绕组上的输
12、出交流电压。控制系统:半饱和电抗器直流绕组上的电压是由一路30V交流电压经整流、滤波后加到印刷电路板上的调整晶体管上。它的调节过程是改变基准给定电压,经过放大器、晶体管调整电路来改变输出电压的大小。当输出功率在0档时,输出直流电压在(68)V之间;当输出功率在1档时,输出直流电压在(2224)V;也就是控制高压变压器从3000V至4500V之间的变化。来自功率反馈的信号电压也同时进入放大器的输入端,与基准给定电压进行比较。反馈电压的变化就会引起输出电压的变化,这样就达到了自动控制的目的。3.扫描分光器【提问】分光器的组成?分光器是由光室、入射狭缝、反光镜、光栅、出射狭缝和光栅驱动装置所组成。入
13、射狭缝连续可调,光栅为3600刻线每毫米,焦矩为1000mm。ICP发出的复合光经入射狭缝射到反射镜上,再由反射镜反射到光栅上将复合光分成单色光。由计算机控制光栅驱动装置,转动光栅到需要的光谱波长,通过反射镜反射到出射狭缝,由光电倍增管接收光信号。扫描系统是由计算机控制、步进电机驱动的精密机械传动装置。为保证系统传动的平稳性和精密度,结构、材质、重量配分上都做了精心设计。小模数的蜗杆直接驱动光栅转动,保证了系统的平稳性好、精度高、积累误差小的优点,提高了分析数据的稳定性和精密度。4.电子测量及控制电路电路系统共有通讯,光电倍增管高压控制,步进电机控制和信号采集四项功能。为使结构紧凑,整个电路设
14、计为一块电路板。采用微处理器ROM大规模可编程门阵列作为整个电路的控制核心。通过采用RS232标准接口作为仪器和计算机之间的通迅接口。并采用专用通讯集成路MAX202作为RS232接口的通讯口,按预先设定的波特率进行数据传输。光电倍增管负高压的控制原理:计算机自动根据扫描谱线测量强度值的大小进行逻辑判断,数据转换。程序控制设置高压模块的传输供给光电倍增管的负电压值,以对应不同元素的不同强度。光栅马达驱动部分电路的原理:在步进电机四相八拍(每拍0.9)的基础上,采用电路微分技术,使电机转动一周为12800步。根据计算机表中填的波长数计算出应走的步数。再由CPU控制内部接口电路,通过可编程门阵列组
15、合的逻辑电路及调整电路、功放电路、控制步进电机转动相应的定位步数。信号采集电路采用高精度高阻抗的运算放大器作为信号输出的调节放大电路,由中央处理器控制放大器的放大信号。信号经放大输出到V/F转换器,再通过中央处理经RS232通过接口到计算机进行数据处理。由一组开关电源提供给整个电路。小结1. 原子发射光谱分析仪的光源。2. 发射光谱分析仪的分光系统。3. 发射光谱分析仪的检测系统。教学实施经验小记:ICP光源产生是重点也是难点,特别是三同心矩管的作用及构造,用实物讲解既直观又容易接受。江西应用技术职业学院教案首页本学期授课次序 47授课班级03化工01课题名称a) 第九章 原子发射光谱分析法简
16、介 9-3、9-4教学目的要求1. 掌握发射光谱的定性、定量和半定量分析。2. 了解火焰光度分析法的基本过程。3. 掌握火焰光度分析仪器。4. 了解火焰光度定量分析方法及应用。教学重点及难点8. 重点:1、发射光谱的定性、定量和半定量分析。2、火焰光度分析仪器。9. 难点:火焰光度分析仪器。教学程序设计次序内 容计划时间123456复习小结上次课的主要内容。发射光谱的定性、定量和半定量分析。火焰光度分析法的基本过程。火焰光度分析仪器。火焰光度定量分析方法及应用。小结本次课内容。53510201010作业及思考题:P1578 P1579思考题:1、 定量和半定量分析分别应用于哪些分析?2、 火焰
17、光度分析仪的构造?3、 发射光谱的定性分析的依据?课前提示:1. 在教学过程中要多引导同学们去思考问题,引导同学们理解知识,这样教学效果会更好。2. 本次课内容较多,要合理安排时间,抓住授课重点。3. 要求学生在上这次课之前要预习。教学实施经验小记(附后)9-3 发射光谱分析的应用 引入把经过分光系统分光后得到的光照在感光板上,感光板感光、显影、定影、得到许多距离不等、黑度不同的光谱线。在映谱仪上观察谱线的位置及大致强度,进行光谱定性、半定量分析。在测微光度计上测量谱线强(黑)度进行光谱定量分析。讲述一、 光谱的定性分析原子发射光谱定性分析一般采用摄谱法。按照分析目的和要求不同,可分为制定元素
18、分析和全部组分元素分析两种。目前确认谱线最常用的方法有标准光谱图比较法和标准试样光谱比较法。1 直接比较法2 谱图比较法-铁光谱图铁的光谱线较多,4 5千条,波长分布范围较宽210660nm 之间,每条谱线的波长都已精确测定,通过把铁光谱当作一把标尺,在放大20倍的纯铁光谱图上方准确标示出68种元素的灵敏线按波长的位置、相对强度原子线、离子线。制成“元素标准光谱图”铁光谱图:把摄得的谱板在映谱仪上放大20倍,使纯铁光谱与标准铁光谱图对齐,看样品光谱上的谱线与哪个元素的谱线重合,则可认为可能存在该元素。 【提示】此法可同时进行多种元素的定性分析。 对于光谱定性分析,除了要给出试样中存在哪些元素外
19、,还应据谱线的强弱来判断那些元素是主要成分,那些元素为微量成分二、 光谱的定量分析1 内标法的基本原理原子发射谱线强度 I 与浓度成正比定量分析的依据 I = a C b C低 b1, C高 b1 a 与光源、蒸发、激发等条件及试样组成有关b 为自吸系数,与谱线性质有关 b 1lg I = b lg C + lg a光谱定量分析的基本关系式以 lg I 对lg C 作图,所得曲线在一定范围内为一直线。当元素含量较高时,谱线产生自吸,b1,曲线发生弯曲。lgI-lgc关系曲线的直线部分可作为元素定量分析的标准曲线。这种测定方法称为绝对强度法。要求实验条件恒定,无自吸现象,实际上很难做到,通常采用
20、相对强度法内标法进行分析,可消除实验条件对测定结果的影响。2 三标准试样法以lgI,lgR为纵坐标,以待测元素的含量的对数lgc为横坐标作图的方法。将三个或三个以上不同含量标准样与未知样在同一条件下在同一感光板上摄谱,分别测定各标样和试样的分析线对的黑度差,以s为纵坐标,以待测元素的含量的对数lgc为横坐标绘制标准曲线。为正确作出工作曲线,所用的试样不得少于三个,又称”三标准试样法”.测定时,每一标样及分析试样一般摄三次谱。三、 光谱的半定量分析【提示】1) 在实际工作中常常需对试样中组成元素的含量作粗略估计。在钢材、合金的分类,矿石品级的评定以及在光谱定性分析中,除需要给出试样中存在那些元素
21、外,还需要给出元素的大致含量。这时可用半定量分析法快速、简便的解决问题。2) 半定量分析法的准确度较差。3) 光谱半定量分析的依据是:谱线的强度和谱线的出现情况与元素含量有关4) 常用的半定量分析法是谱线黑度比较法和谱线呈现法。 1.谱线强度比较法在映谱仪上用目视法直接比较试样和标样光谱中元素分析线的黑度,从而估计试样中待测元素的含量。若与某标样黑度相等,表明待测元素与此标样的含量近似该法的准确度取决于被测试样与标样基体组成的相似程度。2.谱线呈现法谱线的数目随着元素含量的增加,灵敏线、次灵敏线和其它较弱的谱线也会依次出现,预先配制一系列浓度不同的标样,在一定条件下摄谱。据不同浓度下出现谱线及
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 第十一 章气相 色谱 分析 教案
限制150内