51单片机实验讲义.doc
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1、单片机实验指导书 (A)目录前言 1QTH 系列单片机实验仪简介 1QTH 系列单片机实验仪软件界面 21 MCS-51系列单片机硬件实验 311 扩展存储器读写实验 312 P1口输入输出实验 413 P1、P3口输入输出实验 514 简单的I/O实验 615 外部中断实验 8151 外部中断0实验 8152 外部中断0、外部中断1混合使用 916 定时器/计数器实验 1117 通用电路简介 1218 8255输入、输出实验 1419 A/D转换实验 37110 D/A转换实验 40111 点阵式LCD(128x64)液晶显示实验 44112 LED点阵显示实验 482 附录 911 MCS
2、-51系列单片机硬件实验11 扩展存储器读写实验一、实验目的1、 学习片外存储器扩展的方法。2、 学习数据存储器不同的读写方法。二、预备知识引脚定义:A0Ai:地址输入线。D0D7:双向三态数据线。CS:片选信号输入线,低电平有效。RD:读选通信号线,低电平有效。WR:写选通信号线,低电平有效。三、实验说明 编写简单的程序,对实验板上提供的外部存储器(62256)进行读写操作,连续运行程序,数码管上显示99。四、实验连线SWRP3.6, SRDP3.7 串并转换电路的DINP3.0,CLKP3.1数据线与仿真单片机的数据线相连,地址高8位、低8位分别与单片机部分地址线相连五、仿真器设置仿真模式
3、设置:8052模式。仿真存储器模式选择:内程序存储器外数据存储器。仿真器P3.6/P3.7短路块设置在WR/RD状态(见仿真器说明书跳线设置)。六、实验程序开 始向指定的地址中写入数据从该地址中读出数据送LED显示该程序功能:把数据写入指定的地址中,然后从该地址取出数据送LED显示。程序清单见62256.asm/c62256.c。12 P1口输入输出实验一、实验目的学习P1口的使用方法。二、实验说明P1口是一个准双向口,外接八个发光二极管,连续运行程序,发光二极管循环点亮。三、仿真器设置仿真模式设置:8752模式。仿真存储器模式选择:内程序存储器外数据存储器。仿真器P3.6/P3.7短路块设置
4、在WR/RD状态(见仿真器说明书跳线设置)。四、实验连线开 始P1口初始化点亮一位发光二极管右移一位循 环五、实验程序程序清单见p1.asm/cp1.c。13 P1、P3口输入输出实验一、实验目的掌握P1、P3口的使用方法。二、实验说明P3口作为输入口读取开关状态,P1口作为输出口,连续运行程序,发光二极管显示开关状态。三、仿真器设置仿真模式设置:8752模式;仿真存储器模式选择:内程序存储器外数据存储器。仿真器P3.6/P3.7短路块设置在IO状态(见仿真器说明书跳线设置)。四、实验连线开 始初 始 化P3口开关状态送到P1口驱动发光二极管延 时五、实验程序程序清单见p1p3.asm/cp1
5、p3.c。14 简单的I/O实验一、实验目的了解用TTL芯片扩展简单的I/O口的方法,掌握数据输入输出程序的编写方法。二、预备知识74LS244是一种三态输出的8总线缓冲驱动器,无锁存功能,当G为低电平时,Ai信号传送到Yi,当为高电平时,Yi处于禁止高阻状态。74LS273是一种8D触发器,当CLR为高电平且CLK端电平正跳变时,D0D7端数据被锁存到8D触发器中。三、实验说明利用74LS244作为输入口,读取开关状态,并将此状态通过74LS273再驱动发光二极管显示出来,连续运行程序,发光二极管显示开关状态。四、仿真器设置仿真模式设置:8052模式。仿真存储器模式选择:内程序存储器外数据存
6、储器。仿真器P3.6/P3.7短路块设置在WR/RD状态(见仿真器说明书跳线设置)。五、实验连线244的CS译码电路的8000H,A7A0开关K1K8273的CS译码电路的9000H,Q7Q0发光二极管L1L8SWRP3.6, SRDP3.7数据线与仿真单片机的数据线相连,地址高8位、低8位分别与单片机部分地址线相连六、实验程序程序清单见io.asm/cio.c。执行程序,拨动开关,观察发光二极管。开 始初始化从244读取开关状态状态送273驱动发光二极管延 时15 外部中断实验151外部中断0实验一、实验目的学习外部中断技术的基本使用方法及中断处理的编程方法。二、实验说明1、 中断服务程序入
7、口地址两相邻中断服务程序起始地址之间只相距8个字节,而一般服务程序长度会超过8个字节,为了避免和下一个中断地址相冲突,常用一条跳转指令,将程序转移到以外的某一区间。2、 由于中断服务程序要使用有关的寄存器,因此CPU在中断之前要保护这此寄存器的内容,即保护现场,而在中断返回时又要使它们恢复原值,即恢复现场。3、 本实验在无中断时(K01为高电平)发光二极管常亮,有外部中断时(K01为低电平),左移。三、实验连线P1口接发光二极管,外部中断INT0(P3.2)接拨动开关K01。四、仿真器设置仿真模式设置:8752模式。仿真存储器模式选择:内程序存储器外数据存储器。仿真器P3.6/P3.7短路块设
8、置在WR/RD状态(见仿真器说明书跳线设置)。五、实验程序外部中断0入口保护现场循环左移一次恢复现场中断返回程序清单请见int0.asm/cint0.c。开 始开外部中断点亮所有发光二极管152 外部中断0、外部中断1混合使用一、实验目的学习外部中断技术的基本使用方法及中断处理的编程方法。二、实验说明本实验在无外部中断(K01、K02都为高电平)时发光二极管常亮,外部中断0请求中断(K01为低电平)时左移,外部中断1请求中断(K02为低电平)时右移。三、实验连线P1口接发光二极管,外部中断0(P3.2)接拨动开关的K01,外部中断1(P3.3)接K02。四、仿真器设置仿真模式设置:8752模式
9、。仿真存储器模式选择:内程序存储器外数据存储器。仿真器P3.6/P3.7短路块设置在WR/RD状态(见仿真器说明书跳线设置)。五、实验程序中断返回外部中断1入口保护现场循环右移一次恢复现场外部中断0入口保护现场循环左移一次恢复现场中断返回开 始开外部中断点亮所有发光二极管程序清单请见p1p3.asm/p1p3.c。中断返回NNY关中断保护现场清中断溢出标志取1秒缓冲区内容缓冲区内容减1取秒缓冲区内容缓冲区内容减1是否为0?100送1秒缓冲区是否为0?恢复现场开中断Y59送秒缓冲区16 定时器/计数器实验一、 实验目的掌握单片机定时和中断的编程方法。二、 实验说明利用单片机定时器T2进行倒计时,
10、并在双位数码管上显示倒计时间。三、 实验连线串并转换模块的DIN接单片机的P3.0,CLK接P3.1。四、 仿真器设置仿真模式设置:8752模式;仿真存储器模式选择:内程序存储器外数据存储器。仿真器P3.6/P3.7短路块设置在WR/RD状态(见仿真器说明书跳线设置)。五、 实验程序程序清单请见time.asm/ctime.c。开 始置计数初值允许定时器中断00送秒缓冲区100送1秒缓冲区调用显示子程序启动定时器2延 时17 通用电路简介171 逻辑电平开关电路实验板上有8只开关KN0KN08与之相对应的K01K08插孔为逻辑电平输出端。当开关向上拨时插孔输出高电平“1”,当开关向下拨时插孔输
11、出低电平“0”。172 LED显示电路实验板上有16只LED发光二极管及相应的驱动电路。L1L16为相应发光二极管驱动信号的输入端,该输入端为低电平“0”时发光二极管亮。 单脉电路实验板上有一个单脉冲发生电路,标有为正脉冲输出端,标有为负脉冲输出端,开关KN00为单脉冲,每按一次产生一个单脉冲。 174 脉冲发生器电路实验板上提供一个3.686MHz的脉冲源,标有为脉冲输出端。175 分频电路该电路由1片74LS393组成,插孔T为脉冲输入端,插孔T00T07为分频输出端。176 138译码电路实验板上提供一片74LS138地址译码电路,译码输出地址分别为8000H、9000H、A000H、B
12、000H、C000H、D000H、E000H、F000H,供实验使用。177 电位器实验板上提供一个电位器,调节电位器,电压输出端可获得05V的电压,可作为A/D0809模拟信号输入。178 复位电路实验板提供一个复位电路,按RESET系统进入复位状态。18 8255输入输出实验一、芯片介绍及原理图引脚定义:D0D7:双向三态数据总线。CS:片选信号输入线,低电平有效。RD:读选通信号线,低电平有效。WR:写选通信号线,低电平有效。RESET:复位信号输入线,高电平有效。复位后PA、PB、PC口均为输入方式。PA、PB、PC:三个8位 I/O 口。A0、A1:端口地址输入线,用于选择内部端口寄
13、存器。8255 口操作状态A1A0RDWRCS输入操作(读)00010A口数据总线01010B口数据总线10010C口数据总线输出操作(写)00100数据总线 A口01100数据总线 B口10100数据总线 C口11100数据总线 控制口禁止操作XXXX1数据总线为三态11010非法条件XX110数据总线为三态8255控制字(1)方式控制字D71方式控制字的特征位D6A口方式位。00方式0、01方式1、1X方式2D5D40PA口输出、1PA口输入D30PC7PC4输出、1PC7PC4输入D2B口方式位。0方式0、1方式1D10PB口输出、1PB口输入D00PC3PC0输出、1PC3PC0输入(
14、2)PC口置位/复位控制字D70特征位D6XD5XD4XD3000:PC0、001:PC1、010:PC2、011:PC3、100:PC4、101:PC5、110:PC6、111:PC7D2D1D00清0、1置1二、仿真器设置仿真模式设置:8052模式。仿真存储器模式选择:内程序存储器外数据存储器。仿真器P3.6/P3.7短路块设置在WR/RD状态(见仿真器说明书跳线设置)。三、实验程序连线: WRP3.6,RDP3.7,CE8000H数据线与仿真单片机的数据线相连,地址高8位、低8位分别与单片机部分地址线相连程序1:kaiguan.asm/c8255kg.c连线:PAPAK01K07,PBP
15、BL1L8程序功能:;PA口接开关作输入口,PB口接发光二极管作输出口;从PA口读取开关状态送到PB口以发光二极管显示程序2:xunhuan.asm/c8255xh.c连线:PAPAL1L8程序功能:;8255 PA口控制灯循环程序3:tracffic.asm/c8255t.c连线:PA0L7,PA1L6,PA2L5,PA3L3,PA4L2,PA5L1程序功能:;8255控制交通红绿灯;PA5-L1(红)、PA4-L2(黄)、PA3-L3(绿)南北;PA2-L7(红)、PA1-L8(黄)、PA0-L9(绿)东西;ST0:初始状态全为红。ST1:南北绿灯,东西红灯。ST2:南北黄灯闪烁,东西红灯
16、亮。;ST3:南北红灯亮,东西绿灯亮。ST4:南北红灯,东西黄灯闪烁。开 始置PA口方式0输入置PB口方式0输出从PA口读取状态读到的数据送PB口驱动LED结 束开 始PA口方式0输入初始状态全部红灯南北绿灯,东西红灯南北黄灯闪,东西红灯南北红灯,东西绿灯南北红灯,东西黄灯闪开 始PA口方式0输入左 移右 移全 亮全 灭113 A/D转换实验一、实验目的了解A/D转换与单片机的接口方法,掌握AD0809转换性能及编程方法。二、预备知识引脚定义:IN0IN7:8路模拟信号输入端,由地址锁存及译码控制单元的3位地址A、B、C进行选通切换。START:A/D转换启动控制信号输入端。ALE:地址锁存信
17、号输入端,START 和 ALE 用于启动A/D转换。VREF(+)和VREF(-):正、负基准电压输入端。OE:输出允许控制信号输入端,A/D转换后的数据进入三态输出数据锁存器,并在OE的作用下(OE为高电平),通过D0D7将锁存器的数据送出。EOC:A/D 转换结束标志信号。EOC为高电平时,表示转换结束,因此EOC可作为CPU的中断或查询信号。CLK:ADC0809内部没有时钟电路,故时钟信号应由外部送入CLK端。A、B、C:8路模拟开关的三位地址选通输入端,用于选择对应的输入通道,其对应关系表如下:地 址 码对应的输入通道CBA000IN0001IN1010IN2011IN3100IN
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