材料分析-第一部分精选文档.ppt
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1、材料分析-第一部分本讲稿第一页,共八十页第一章 绪论材料的组成结构和性能的关系本课程的主要内容课程的目的及要求本讲稿第二页,共八十页一、材料的组成结构与性能的关系一、材料的组成结构与性能的关系 材料的设计;材料的制备;材料结构与性能表征:材料的性能、微观结构和 成分的测试和表征本讲稿第三页,共八十页金刚石-立方面心晶胞 石墨-六方晶系 本讲稿第四页,共八十页聚乙烯(-CH2-CH2-)n 低密度聚乙烯;高密度聚乙烯;交联聚乙烯ArOnArSn聚芳醚(PAE)聚芳硫醚(PAS)本讲稿第五页,共八十页性能性能化学组成化学组成化学组成化学组成显微结构显微结构晶体结构晶体结构晶体结构晶体结构分子量分子
2、量本讲稿第六页,共八十页可见从某种意义上说,结构对材料性能的影响是很大的。因此,有人说,结构决定性能是自然界永恒的规律。所以,在研究材料时,不仅了解它的化学成分,还要了解其结构。本讲稿第七页,共八十页材料成分和微观结构分析可分为三个层次:化学成分分析;晶体结构分析;显微结构分析;衍射法显微法谱学法本讲稿第八页,共八十页光谱分析吸收光谱发射光谱原子吸收光谱分子吸收光谱紫外可见光谱-电子光谱红外光谱拉曼光谱核磁共振X射线光谱原子发射光谱-原子荧光光谱分子发射光谱荧光光谱磷光光谱振动光谱本讲稿第九页,共八十页材料结构分析的常用仪器主要利用各种电磁波或其他粒子和物质相互作用后所产生的吸收、发射、散射及
3、干涉等现象。1.电磁波谱法;2.热分析;3.色谱法;4.电磁辐射的衍射与散射;5.电子分析法;本讲稿第十页,共八十页1、电磁波谱法通过各种波长的电磁波和被研究物质的相互作用,引起物质的某一个物理量的变化而进行。方法名称英文缩写紫外吸收光谱 UV荧光光谱法 FS红外吸收光谱法 IR拉曼光谱法 RAM核磁共振波谱法 NMR本讲稿第十一页,共八十页2、热分析在程控温度条件下,测量物质的物理性质与温度关系的一组技术,主要用量测量材料的热转变温度,力学状态及热降解。方法名称英文缩写热重法TG差热分析DTA示差扫描量热分析DSC静态热-力分析TMA动态热-力分析DMA动态介电分析DDA本讲稿第十二页,共八
4、十页3、色谱法利用在互不相溶的两项中组分间分配有差异,经反复多次分配而将混合物进行分离和分析的物理化学方法。方法名称英文缩写液/气相色谱法LC/GC裂解气相色谱法PGC凝胶色谱法GPC本讲稿第十三页,共八十页4、电磁辐射的衍射与散射利用材料对不同波长的电磁辐射的散射与衍射现象来获得其内部结构信息。方法名称英文缩写广角X射线衍射WAXD小角X射线衍射SAXS小角光散射SALS本讲稿第十四页,共八十页5、电子分析法利用电子作为激发源或被检测对象,样品发生某些物理变化的一类分析技术。主要用于分析样品的组成、凝聚态结构与表面结构。方法名称英文缩写质谱分析法MS透射电子显微术TEM扫描电子显微术SEM光
5、电子能谱ESCA本讲稿第十五页,共八十页二、本课程的主要内容二、本课程的主要内容1 1、X X射线衍射分析(射线衍射分析(XRDXRD:X-ray diffractionX-ray diffraction)X射线衍射分析主要用于物相分析和晶体结构的测定。它所获取的所有信息都基于材料的结构。本讲稿第十六页,共八十页日本岛津日本岛津XD-5A型型X射线射线粉末衍射仪粉末衍射仪 Philips X Pert MPD 多功多功能全自动能全自动X射线粉末衍射仪射线粉末衍射仪 本讲稿第十七页,共八十页2 2、核磁共振波谱仪、核磁共振波谱仪-NMR,(Nuclear Magnetic-NMR,(Nuclea
6、r Magnetic ResonanceResonance)在外磁场中,具有核磁矩的原子核,吸收射频能量,产生核自旋能级的跃迁。因此它是一种可用来研究物质的分子结构及物理特性的光谱学方法,也是众多光谱分析法中的一员。按照被测定对象可分为氢谱(1H-NMR)和碳谱(13C-NMR)。本讲稿第十八页,共八十页核磁共振氢谱是研究化合物中H原子核的核磁共振信息,可提供化合物中氢原子所处的不同化学环境和他们之间相互关系的信息,依据这些信息可确定分子的组成、连接方式、空间结构等。核磁共振碳谱是研究化合物中碳原子核的核磁共振信息,由于碳原子是有机化合物及高分子化合物的基本骨架,它可为有机分子的结构提供重要的
7、信息,特别是高分子结构研究中,研究碳的归属具有重要的意义。本讲稿第十九页,共八十页3 3、电子显微镜(、电子显微镜(EMEM:electron microscopeelectron microscope)电子显微镜是用高能电子束作光源,用磁场作透镜制造的。电子显微镜:用来观察物体的形貌。具有高分辨率和高放大倍数的特点。在观察物体形貌的同时,还能测定物相的结构和微区化学成分。本讲稿第二十页,共八十页特征特征X X射线射线本讲稿第二十一页,共八十页1 1)透射电子显微镜()透射电子显微镜(TEMTEM)(照片照片)透射电子显微镜是一种能够以原子尺度的分辨能力提供物理分析和化学分析所需全部功能的仪器
8、。选区电子衍射技术功能能够使微区形貌与微区晶体结构分析结合起来,再配以能谱或波谱可以进行微区成份分析。本讲稿第二十二页,共八十页透射电子显微镜(TEM)特点:A、电子束透过薄膜样品 B、用于观察样品的形态C、通过电子衍射测定材料的结构,从而确 定材料的物相。本讲稿第二十三页,共八十页例如:EM420透射电子显微镜:加速电压20KV、40KV、60KV、80KV、100KV、120KV晶格分辨率 2.04点分辨率 3.4最小电子束直径约2nm倾转角度=60=30本讲稿第二十四页,共八十页2 2)扫描电子显微镜()扫描电子显微镜(SEMSEM)(照片照片)扫描电子显微镜(SEM)以较高的分辨率和很
9、大的景深清晰地显示粗糙样品的表面形貌,并以多种方式给出微区成份等信息,能用来观察断口表面微观形态,分析研究断裂的原因和机理等。本讲稿第二十五页,共八十页扫描电子显微镜(扫描电子显微镜(SEMSEM)特点:特点:A、电子束在样品表面扫描 B、用于观察样品的形貌(具有立体感)C、通过电子束激发样品的特征X射线获取 样品的成分信息。本讲稿第二十六页,共八十页3 3)电子探针显微分析()电子探针显微分析(EPMAEPMA,electrom probe electrom probe micro-analysismicro-analysis)类似于扫描电镜,电子探针是在扫描电镜的基础上配上波谱仪或能谱仪的
10、显微分析仪器,它通过将电子束打在样品表面,激发样品的特征X射线通过波谱仪或能谱仪获取成分信息,进行微区的成分分析。本讲稿第二十七页,共八十页 电子探针可以对微米数量级侧向和深度范围内的材料微区进行灵敏和精确的化学成分分析,基本上解决了鉴定元素分布不均匀的困难。电子探针的仪器结构与扫描电镜的结构相似,但它偏重于成分分析。本讲稿第二十八页,共八十页4 4)光电子能谱()光电子能谱(XPS/UPS/AESXPS/UPS/AES)本讲稿第二十九页,共八十页XPSXPS 用X射线作激发源轰击出样品中元素的内层电子,直接测量被轰击出的电子的能量,这能量表现为元素内层电子的结合能Eb。Eb随元素而不同,并且
11、有较高的分辨力,它不仅可以得到原子的第一电离能,而且可以得到从价电子到K层的各级电子电离能,有助于了解离子的几何构型和轨道成键特性,是使用较为广泛的一种表面分析仪。本讲稿第三十页,共八十页三、课程的目的与要求1.仪器方法适用的范围,能提供的信息和解决的问题。2.实验方法方面:A、样品的要求与制备(如样品的状态、数量要求)B、实验条件的选定以及实验条件对测试结果产生 的可能影响。3.仪器和分析方法的基本原理。4.看懂学会分析一般(典型、较简单)的测试结果(图谱、图像等)。本讲稿第三十一页,共八十页第二章 材料X射线衍射分析本章内容 第一节 X射线衍射法概述 第二节 X射线分析法原理 第三节 X射
12、线衍射强度 第四节 广角X射线衍射法 第五节 多晶X射线衍射的应用 第六节 X射线的应用及最新进展 本讲稿第三十二页,共八十页第一节第一节 X X射线衍射法概述射线衍射法概述一、一、X X射线衍射分析历史射线衍射分析历史二、二、X X射线的产生与射线的产生与X X射线管射线管三、三、X X射线的本质射线的本质四、四、X X射线谱射线谱五、五、X X射线与物质的相互作用射线与物质的相互作用六、六、X X射线的安全防护射线的安全防护 本讲稿第三十三页,共八十页第一节第一节 X X射线衍射法概述射线衍射法概述一、一、X X射线衍射分析历史射线衍射分析历史 1895年11月8日,德国物理学家伦琴在研究
13、真空管的高压放电时,偶尔发现一种具有较强穿透能力的射线-X射线。本讲稿第三十四页,共八十页1912年德国物理学家劳埃用实验证明了X射线具有波动性,发现X射线能通过晶体产生衍射现象,证明了X射线的波动性和晶体内部结构的周期性,导出了著名的冯.劳埃方程,开创了X射线晶体学这一新领域。1913年,英国物理学家V.H布拉格和W.L布拉格提出了晶面“反射”X射线概念,推导出了著名的布拉格方程,为X射线衍射提供了理论基础。本讲稿第三十五页,共八十页1913-1914年,莫赛莱发现了原子序数与发射X射线的频率之间的关系-莫赛莱定律。并由此研发出X射线发射光谱(电子探针)和X-射线荧光分析。1916年,德拜、
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