《MOS存储器系统》PPT课件.ppt
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1、5.2 MOS集成电路设计、NMOS电路电阻NMOS反相器5.2 MOS集成电路设计NMOS反相器及版图(E/E NMOS)NMOS反相器及版图(E/D NMOS)NMOS与非门电路NMOS或非门电路及版图NMOS与或非门电路及版图CMOS反向器5.2.2 CMOS电路N阱 CMOS(1)初始氧化(2)淀积氮化硅层(3)光刻一,定义出N阱(4)反应离子刻蚀氮化硅层(5)N阱离子注入,注磷(6)退火(7)高温阱推进1.形成N阱 N N阱阱2 有源区的确定和场氧化(LOCOS)N沟道和P沟道晶体管所在的区域称为有源区需首先在不同MOS管之间进行场氧。(1)淀积氮化硅层(a)生成N阱后,去掉氧化层。
2、(b)重新生长一层薄的SiO2层,作为薄氮化硅层与硅之间的缓冲层。(c)淀积一层薄氮化硅层,作为场氧氧化的掩膜。(d)确定有源区,即n型晶体管和P型晶体管所在区域。(2)光刻二有源区光刻,将以后作为有源区的二氧化硅层和薄氮化硅层保留下来。(图a)(3)氧化层生长在没有氮化硅层保护的区域生长一层较厚的氧化层。(图b)3 生长栅氧化层和生成多晶硅栅确定有源区后,开始制做MOS晶体管。(1)生长栅氧化层:(2)淀积多晶硅(3)光刻三:光刻多晶硅。4 形成P沟MOS晶体管(1)光刻四:P沟MOS晶体管源漏区光刻。(2)P沟源漏区掺杂。5 形成N沟MOS晶体管(1)光刻五:n沟MOS晶体管源漏区光刻。(
3、2)n沟源漏区掺杂。6 光刻引线接触孔(1)氧化(2)光刻六7 光刻金属互连线蒸发或溅射工艺光刻7:互连线光刻8 光刻钝化孔淀积一层钝化层9 后工序加工(1)中间测试(2)划片(3)贴片(4)键合(5)封装(6)筛选(7)测试(8)老化CMOS与非门和或非门CMOS四输入端与非门电路CMOS传输门CMOS D触发器1 如图为一个CMOS的数字器件的纵向结构图,试画出其电路原理图,分析其功能,并画出真值表。二输入端与非门及真值表V1V2VO0010111011102 如图为一个CMOS的数字器件的纵向结构图,试画出其电路原理图,分析其功能,并画出真值表。二输入端或非门电路图及真值表V1V2VO0
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