粒子诱发 X 射线荧光分析.ppt
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1、粒子诱发粒子诱发X射线荧光分析射线荧光分析Particle Induced X-ray Emission(PIXE)Department of Modern Physics in Lanzhou UniversityLanzhou University主讲:Zhang Xiaodong3.1.引言:引言:1.粒子诱发粒子诱发x射线荧光分析射线荧光分析(PIXE)是粒子是粒子束分析的一个重要分支。束分析的一个重要分支。Sven A.E.Johansson等人等人1,于,于1970年首次年首次开展这方面的工作,并为人们所重视,且日开展这方面的工作,并为人们所重视,且日益广泛的被大家采用。益广泛的被
2、大家采用。1 1 Nuclear Instruments and Methods in Physics Nuclear Instruments and Methods in Physics ResearchResearch,8484(19701970)P141P1413.1.引言:引言:3.PIXE分析具有灵敏、快速、取样少和无损分析具有灵敏、快速、取样少和无损 分析等特点。分析等特点。4.该方法对大多数元素(该方法对大多数元素(Z12)是很灵敏的是很灵敏的 其相对灵敏度为其相对灵敏度为PPm(即百万分之一)量级,即百万分之一)量级,可检测的元素含量的下限为可检测的元素含量的下限为10-16g
3、。3.2.PIXE分析原理分析原理:粒子束与原子相互作用的物理图像。粒子束与原子相互作用的物理图像。KLM X-ray(Auger e-)粒子束粒子束Electron靶原子靶原子3.2.PIXE分析原理分析原理:MLK1S1/22P3/22P1/22S1/23d5/23d3/22P3/22P1/22S1/2L线系线系K线系线系特征特征X射线能级图解射线能级图解跃迁定则跃迁定则:l=1j=0,13.3.PIXE分析实验设备分析实验设备:束流准直器束流准直器靶靶靶室靶室入射束流入射束流吸收片吸收片准直光栏准直光栏Si(Li)探测器探测器束流积分仪束流积分仪主放主放高压高压多道分多道分析器析器液氮液
4、氮容器容器加速器加速器3.4.PIXE定量分析方法定量分析方法1.薄靶薄靶绝对测量绝对测量特征特征X射线的计数射线的计数阿佛加德罗常数阿佛加德罗常数入射粒子个数入射粒子个数探测器对特征探测器对特征X射线的探测效率射线的探测效率原子序数原子序数待测元素的重量待测元素的重量X射线产生截面射线产生截面探测器所张的立体角探测器所张的立体角相对测量相对测量3.4.PIXE定量分析方法定量分析方法相对测量方法是在相同的条件下,分别测量标准和相对测量方法是在相同的条件下,分别测量标准和样品中待测元素的表征样品中待测元素的表征X射线的强度,这样就可以射线的强度,这样就可以避免避免、等因子中的系统误差和等因子中
5、的系统误差和x的不确定性的不确定性。待测元素的峰计数待测元素的峰计数标准元素的峰计数标准元素的峰计数待测元素的重量待测元素的重量标准元素的重量标准元素的重量3.4.PIXE定量分析方法定量分析方法 单标准测量法单标准测量法单标准测量法单标准测量法以单个标准来标定其他多种元素,在应用中是比较以单个标准来标定其他多种元素,在应用中是比较方便的。方便的。引入相对灵敏度因子:引入相对灵敏度因子:推导出:推导出:3.4.PIXE定量分析方法定量分析方法2.厚靶厚靶1,2,3.ix粒子束图例:厚靶样品示意图图例:厚靶样品示意图3.4.PIXE定量分析方法定量分析方法待测元素特征待测元素特征X射线峰的计数射
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