10kV电力电缆及附件抽检作业指导书_.pdf

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1、1、额定电压10kV 交联聚乙烯绝缘电力电缆抽检检验工程标准要求检验器具检验方法检测结果备注(照片或相关文件)绝缘厚度测量电缆绝缘最薄点厚度 标称值90%-0.1mm，偏心度 8%GB/T 12706.22008：17.5.2 或依据业主技术协议要求.投 影 仪、测 量 显 微镜试样制备：1.从样品切取一实验薄片试件用于测量平均厚度和最薄点厚度；2.用锋利刀具从样段上沿着与试样导体线芯轴线垂直地平面切取薄片一个；测试步骤：1.每一试片都必须进行焦距调节，使其处于最佳清晰状态；2.找出试片厚度地最薄点作为第一个测量点；3.每个试片测量6 点，沿试片芯痕凹槽处圆周尽可能等距离测量6 点.实验结果地

2、计算：在电缆离端头25cm 取 1 个试件测得6 个数值地平均值（用mm 表示），应计算到小数点后 2位，取该值为厚度地平均值；GB/T 2951.11-2008（1）环境温度：，相对湿度：%实验选用仪器：（2）绝缘最薄点厚度：mm 偏心度：%结论：符合 不符合 非金属护套厚度测量1、非铠装和护套不直接包覆铠装、金属屏蔽或同心导体上地电缆，护套 最 薄 点 测 量 值 标 称 值 地85%-0.1mm；2、直接包覆在铠装、金属屏蔽或同心导体上地护套，其最小测量值应 标称值地80%-0.2mm.隔离套最薄点厚度应 标称值地80%-0.2mmGB/T 12706.2 2008：17.5.3投 影

3、仪、测 量 显 微镜（1）环境温度：，相对湿度：%实验选用仪器：（2）护套最薄点厚度：mm 隔离套最薄点厚度：mm结论：符合 不符合 电缆结构检查（导体检查、铠装金属丝和金属带地测量、外径测量）导体根数不少于规定值.铠装金属带、圆金属丝、扁金属丝尺寸低于标 称 尺 寸 地 量 值 分 别 应 不 超 过10%、5%、8%.外径尺寸不考核.铠装钢带包带间隙应不大于钢带宽度地 50%.铜带屏蔽搭盖率最小5%，铜 带 最 小 厚 度 应 不 小 于 标 称 值 地90%.GB/T 12706.2 2008：17.5，17.7千 分 尺、游标卡尺1.导体检查应采用适当地检验及测量方法来检查导体结构是否

4、符合 GB/T 3956 要求.2.导体结构2.1 截面积为800 2 以下地导体采用符合 GB/T 3956 地第 2 种紧压绞合圆形结构.2.2 截面积为800 2 以上地导体采用分割导体结构；800 2地导体可以采用紧压绞合圆形结构，也可以采用分割导体结构.2.3 铜分割导体中地单线应不少于170 根.2.4 各种绞合导体不允许整芯或整股焊接.绞合导体中地单线允许焊接，但在同一层内,相邻两个接头之间地距离应不小于300 .3 导体表面应光洁、无油污、无损伤屏蔽及绝缘地毛刺、锐边以及凸起或断裂地单线.4 铜丝屏蔽应由同心疏绕地软铜线组成，铜丝屏蔽层地表面上应有铜丝或铜带反向扎紧，相邻屏蔽铜

5、丝地平均间隙G 应不大于4 .G 由下式定义：G=（D+d）-nd/n 式中：D 铜丝屏蔽下地缆芯直径，；d 铜丝地直径，；n 铜丝地根数.铜丝屏蔽地截面积应能满足短路容量地要求.适用时，铜丝屏蔽地电阻测量值应符合GB/T 3956规定；或者不大于制造厂标称值(当铜丝屏蔽地)截面积与GB/T 3956 推荐地系列截面积不同时).5 金属套屏蔽电缆采用铅套或铝套时，金属套可作为金属屏蔽.如铅套或铝套地厚度不能满足用户对短路容量地要求时，应采取增加金属套厚度或增加铜丝屏蔽地措施.GB/T 12706.22008（1）环境温度：相对湿度：%实验选用仪器：仪器编号：（2）导体根数：根铠装层：层数：层

6、厚度：mm 包带间隙/钢带宽度：%铜带屏蔽：搭盖率：%厚度：mm结论：符合 不符合 局部放电实验在1.73U0下 无 超 过 声 明 灵 敏 度（5pC 或更优）地可测放电GB/T 12706.2 2008：18.1.4.局 部 放 电检 测 仪、串 联 谐 振1 试样制备1.1 应按产品标准规定取短电缆试样.1.2 应仔细制作实验用电缆终端，以避免因终端产生地局部放电.2 实验程序（1）环境温度：相对湿度：%实验选用仪器：实验系统2.1 短电缆实验2.1.1 条件短电缆可认为与集中电容相似，对短电缆长度上地限制取决于所采用地实验回路，其实际数值可从GB/T 3048.12 中附录B 地双脉冲

7、曲线图确定，并定义为lk.当电缆两端连接在一起时，长度直至2lk 也属于短电缆.2.1.2 灵敏度检验校准器应并联于试样远离测试仪器地一端，由注入校准电量qcal 和对应测出地偏转值a2，可计算出刻度系数k2(pC/mm)(k2=qcal/a2)和灵敏度qmin(pC).qmin=2k2hn式中：hn 背景干扰偏转值，单位为毫M（mm）2.1.3 实验步骤只需在试样地一端进行测量，用测得地偏转值A（mm）计算出放电量q（pC），即：q=k2A3 注意事项3.1 电缆终端地局部放电影响电缆本体局部放电测量准确度时，可采用任何合适方法加以消除.3.2 测量前试样应先经过工频交流耐受电压实验（在试样

8、上施加实验时所需地最高测试电压有效值，试样不应有任何异常现象），以免在进行局部放电实验发生击穿或闪络，损坏局部放点检测仪.3.3 为了获取理想地双脉冲图，应选用具有a响应宽频带地局部放点检测仪.4 实验记录4.1 实验类型；4.2 试样编号、试样型号、规格、长度；4.3 实验日期、大气条件、实验时试样地温度；4.4 实验回路、测试仪器信号、测试时地相关技术参数；4.5 回路灵敏度校验和背景干扰值；4.6 施加地实验电压地数值和局部放电量；4.7 实验中地异常现象、处理和判断；4.8 必要时地双脉冲图；4.9 实验设备及其校准有效期；GB/T 3048.12-2007仪器编号：（2）实验电压：k

9、V背景噪声：pC局部放电量：A 相 pCB 相 pCC 相 pC结论：符合 不符合 文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3

10、A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N

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15、E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10电压实验在 3.5U0 下，持续5min不击穿GB/T 12706.2 2008：18.1.8.高 压 测 试系统1 试样制备1.1 试样地数量和长度应符合产品标准规定；1.2 试

16、样终端部分地长度和终端头地制备方法应能保证在规定地实验电压下不发生沿其表面闪络放电或内部击穿.2 实验程序2.1 实验方式，试样耐压实验地实验电压值和耐受电压时间按产品标准规定.2.2 实验电压应施加在导体和金属屏蔽/金属套间逐渐地升到规定值.2.3 实验要求2.3.1 除非产品标准另有规定，实验应在（20 15）温度下进行.实验时，试样地温度与周围环境温度之差应不超过 3.2.3.2 对试样施加电压时，应当从足够低地数值（不应超过产品标准所规定实验电压值地40%）开始，以防止操作瞬变过程而引起地过电压影响；然后应缓慢地升高电压，以便能在仪表上准确读数，但也不能升得太慢，以免造成在接近实验电压

17、时耐压时间过长.2.3.3 保持实验电压至规定时间后，降低电压至实验电压值地40%，然后再切断电源.”3 实验结果及评定3.1 试样在施加所规定地实验电压和持续时间内无任何击穿现象，则可认为该试样通过耐受工频电压实验.3.2 实验中如发生异常现象，应判断是否属于“假击穿”.假击穿现象应予排除，并重新实验.只有当试样不可能再次耐受相同电压值地实验时，则应认为试样已击穿.3.3 如果在实验过程，试样地实验终端发生沿其表面闪络放电或内部击穿，允许另做实验终端，并重复进行实验.GB/T 3048.8-2007（1）环境温度：相对湿度：%实验选用仪器：仪器编号：（2）实验电压：kV实验时间：hA 相实验

18、是否通过：B 相实验是否通过：C 相实验是否通过：不通过时，记录异常情况结论：符合 不符合 弯曲实验及随后地局部放电实验 弯曲直径：15（D+d）5%正反弯曲三次，随后地局部放电实验放电量（1.73U0下）不超过声明灵敏度（5pC 或更优）地可测放电GB/T 12706.2 2008：18.1.4.局部放电检测仪、串联谐振实验系统、电缆弯曲实验机1 弯曲实验电缆试样应在环境温度下围绕实验用圆柱体(例如电缆盘地筒体)弯曲至少一整圈，然后展直，再在反方向弯曲一整圈，如此作为一个循环.这样地弯曲循环共应进行三次实验用圆柱体直径应不大于 36(+D)+5%,平铝套电缆；25(+D)+5%,铅、铅合金、

19、皱纹金属套或金属塑料复合护层电缆；20(+D)+5%,其他电缆，这里 导体标称直径，mm；D 电缆标称直径，mm.2、弯曲实验结束后，电缆应立即进行局部放电实验并应符合GB/T 12706.2-2008:18.1.4 要求，实验方法参考第3 页局放实验方法.GB/T 3048.8，122007（1）环境温度：，相对湿度：%实验选用仪器：仪器编号：（2）弯曲直径：mm，正反弯曲次数：次（3）实验电压：kV，背景噪声：pC局部放电量：A 相 pC，B 相 pCC 相 pC结论：符合 不符合 文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A

20、3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7

21、W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D

22、10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q

23、3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8

24、N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E

25、2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T

26、1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10导体电阻测量值应按GB/T 3956 给出地公式和系数校正到温度为20，长度为1km 地数值，所得计算值应不超过GB/T 3956 规定地相应地最大值GB/T 12706.2 2008：16.2双 臂 直 流电 桥、通用 导 体 电阻夹具测试要点：1、试样在接入测量系统前，预先清洁其连接部位地导体表面，去除附着物、污垢，连接处表面地氧化层应尽除尽；2、在实验环境中放置足

27、够长时间最好在密封性好地房间，选择一支精密温度计和一支数字式温湿度计.两温度计离夹具和试样不超过0.5M，且两者基本在同一高度；3、对各测量关键配套标准电阻、直流稳流器和检流计等作好功能性检查；4、施加电流应不大于1.0A/mm2，正反各测量一次.实验环境要求：1、在实验环境中放置足够长时间；2、最好在密封性好地房间，温度：15-35，湿度不大于85%；3、准备两支精密玻璃温度计和点温计（观察施加电流后导体地温升）.GB/T 3048.4-2007（1）环境温度：相对湿度：%实验选用仪器：仪器编号：（2）导体直流电阻 (20)：A 相/kmB 相/kmC 相/km结论：符合 不符合 tg 测量

28、将导体加热达到95至100之间地一个稳定温度，在2KV下，tg 测量值应不大于0.0080GB/T 12706.2 2008：18.1.2高压电桥、串 联谐 振 实 验系 统、标准电容器1 试样制备1.1 应按产品标准规定选取试样地长度，但不得小于4m.1.2 试样终端部分地长度和终端地制备方法，应能保证在规定地最高测试电压下不发生沿其表面闪络放电或内部击穿.1.3 被测试样地端部切开保护环，并将保护环接地.1.4 试样测量极对地应具有一定电阻值.1.5 交联聚乙烯绝缘电力电缆可采用脱离子水终.这时终端制备（包括开保护环）应按其技术说明书地规定进行.2 实验程序2.1 除产品标准中另有规定外，

29、应按下列方式接线：2.1.1 单芯电缆，应将导体接高压端，金属套、屏蔽或附加电极接测量极；2.1.2 分相铅套电缆，应依次将每一线芯接高压端，其他线芯相互连接并与金属套、屏蔽一起接至测量极；2.1.3 多芯电缆，应依次将每一线芯接高压端，其他线芯相互连接并接至测量极；或每一线芯接高压极，其他线芯相互连接并与金属套、屏蔽一起接至测量极.2.2 除产品标准另有规定外，实验一般均应在（20 15）地环境温度下进行.试样地温度与周围环境温度之差应不超过 3.2.3 按产品标准要求在规定地实验温度下测量tan 值时，可采用各种方法测量试样温度，但测量值与标准规定之差不超过 3.2.4 测量时应从较低值（

30、不应超过产品所规定地测试电压值地40%）开始将电压缓慢平稳地升至规定地实验电压（电压偏差应不超过规定值地 3%），然后进行电桥平衡（检流计灵敏度应从最低值开始）.测量结束后，将检流计灵敏度调至最低值，并应迅速降压至低于所规定地实验电压地40%，然后在切断电源.3 实验结果及计算3.1 按实验所采用测量电桥地型式，直接读数或计算试样地tan 值.3.2 按实验所采用测量电桥地型式，直接读数或计算试样地电容值.GB/T 3048.11-2007（1）环境温度：相对湿度：%实验选用仪器：仪器编号：（2）导体温度：实验电压：kVtan：A 相B 相C 相结论：符合 不符合 文档编码:CR8T1Q3A3

31、Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W

32、4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D1

33、0文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3

34、A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N

35、7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2

36、D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1

37、Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10热循环实验及随后地局部放电实验加热循环20 次后，随后地局部放电实验：1.73U0 下，无超过声明实验灵敏度（5pC 或更优）地可检测到地放电.GB/T 12706.2 2008：18.1.4局 部 放 电检 测 仪、串 联 谐 振实验系统、热 循环 实 验 系统1、热循环实验应按 11.3

38、.4 规定地弯曲直径将试样变成U 形.试样应加热至导体达到95至 100之间地一个稳定温度.加热应至少8.在每个加热期内,导体温度应保持在限定地温度范围内至少2.随后应自然冷却至少3h，使导体温度不超过环境温度10K.加热和冷却循环应进行20 次.2、热循环实验结束后，电缆应立即进行局部放电实验，实验方法参考第3 页局放实验方法.GB/T 3048.12-2007（1）环境温度：，相对湿度：%实验选用仪器：仪器编号：（2）热循环实验：导体温度：循环次数：次（3）局部放电实验：实验电压：kV背景噪声：pC局部放电量：A 相 pC，B 相 pCC 相 pC结论：符合 不符合 冲击电压实验及随后地工

39、频电压实验冲击电压实验（95 100 ,依据电缆电压等级确定施加电压,正负极性各10次）不击穿、随后工频电压实验（依据电缆电压等级确定施加电压,15min,室温）不击穿.GB/T 12706.2 2008：18.1.7冲 击 电 压发 生 器 成套设备1 试样制备2 实验程序2.1 接线方式，对电力电缆绝缘型护套和电缆附件试样进行实验时，试样地所有线芯都应与金属套（屏蔽）和铠装（若有）相连接并与冲击电压发生器输出端，而附加特殊电极（如水槽或石墨涂层）接地.2.2 冲击电压发生器地校准.通常对每个试样都要校核冲击波形.但是具有相同设计和相同尺寸地电缆试样，在同一条件下作实验，只需校核一次.2.3

40、 耐受水平冲击电压实验.2.3.1 在试样处于相应产品标准规定地实验压力和温度条件下，连续施加10 次正极性相应规定地耐受冲击电压值.2.3.2 在施加 10 次正极性相应规定值地耐受冲击电压后，立即按2.2 规定进行负极性冲击电压值和波形地校准，然后在试样上连续施加10 次负极性相同规定值地耐受冲击电压值.2.3.3 在连续施加正和负极性相应规定地耐受冲击电压值时，至少应分别摄录第1 次和第10 次冲击电压示波图.3 实验结果及评定最后一次冲击电压波形图无畸变或未呈现截波，通过实验.GB/T 3048.13-2007；GB/T 3048.8-2007（1）环境温度：，相对湿度：%实验选用仪器

41、：仪器编号：（2）冲击电压实验：导体温度：实验电压：kV，实验波形：A 相实验是否通过：B 相实验是否通过：B 相实验是否通过：（3）工频电压实验：导体温度：实验电压：kV，实验时间：hA 相实验是否通过：B 相实验是否通过：B 相实验是否通过：结论：符合 不符合 半导电屏蔽电阻率（90 2）下，老化前和老化后地电 阻 率 应 不 超 过：导 体 屏 蔽，1000m，绝缘屏蔽，500 m GB/T 12706.2 2008：18.1.9电 缆 半 导电 屏 蔽 层电 阻 测 试仪、电 热鼓 风 干 燥箱1 试样制备每个试样应从一段150 长地成品电缆试样上制备.应将电缆绝缘芯样品沿纵向对半切开

42、，将导体以及隔离层(如果有)除去即制成导体屏蔽试样.应将电缆绝缘芯外所有包覆层除去即制成绝缘屏蔽试样.2 实验步骤应将四只涂银电极，和置于半导电层表面.两个电位电极和应间距 50 ,而两个电流电极,应分别放在电位电极外侧间隔至少25 .应采用合适地（1）环境温度：相对湿度：%实验选用仪器：仪器编号：（2）文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8

43、N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E

44、2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T

45、1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9

46、R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F

47、7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR

48、8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10文档编码:CR8T1Q3A3Z2 HN6

49、S9R8N7W4 ZR6A8F7E2D10夹子连接电极.在连接导体屏蔽电极时，应确保夹子与试样表面地绝缘屏蔽层相互绝缘.连接好地试样应放入已预热到规定温度地烘箱中，在至少 30in 后测量电极间电阻，测试线路地功率应不超过100 .测量电阻后，应在环境温度下，测量图B1b 所示试样导体屏蔽和绝缘地外径及导体屏蔽层和绝缘屏蔽层地厚度.每项测量6 个数值，然后取其平均值.B3 实验结构地计算B3.1 导体屏蔽电阻率应按下式计算：式中：c 体积电阻率，；Rc 电阻测量值，；Lc 电位电极间距离，；Dc 导体屏蔽地外径，；Tc 导体屏蔽层平均厚度，.B3.2 绝缘屏蔽电阻率应按下式计算：式中：i 体积

50、电阻率，；Ri 电阻测量值，；Li 电位电极间距离，；Di 导体屏蔽地外径，；Ti 导体屏蔽层平均厚度，GB/T 11017.1 2002 附录 B老化前：导体屏蔽电阻率：m 绝缘屏蔽电阻率：m老化后：导体屏蔽电阻率：m 绝缘屏蔽电阻率：m结论：符合 不符合 绝缘老化前后机械性能实验老 化 前 抗 张 强 度 不 小 于12.5 N/mm2，老化前断裂伸长率不小于200%，老化前后抗张强度及断裂伸长率地变化率均不超过 25%GB/T 12706.2 2008：19.3.4拉 力 实 验机、指 针式测厚仪、自 然通 风 热 老化实验箱老化前，按要求进行各种老化用地试样各至少5 个，试样应在一段样