(完整word版)2014材料现代分析方法复习题--学生2014-12-18-部分答案.pdf
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1、材料现代分析复习题前八单元总结一、填空题1、影响透射电镜分辨率的因素主要有:衍射效应和电镜的像差(球差、像散、色差)等。2、透射电子显微镜的照明系统由电子枪、聚光镜和相应的平移对中、倾斜调节装置组成。它的作用是提供一束亮度高、照明孔经角小、平行度好、束流稳定的照明源。它应满足明场和暗场成像需求。3、透射电子显微镜的成像系统主要是由物镜、中间镜和投影镜组成。4、当 X 射线管电压超过临界电压就可以产生特征谱X 射线和连续谱 X 射线。5、X 射线与物质相互作用可以产生散射、入射、透射、吸收6、经过厚度为H 的物质后,X 射线的强度为IH=I0exp(-H)。7、X 射线的本质既有波动性,也是粒子
2、性,具有波粒二象性。8、短波长的 X 射线称硬 X 射线,常用于衍射分析;长波长的X 射线称软 X 射线,常用于荧光分析。9、德拜相机有两种,直径分别是57.3mm、114.6mm。测量 角时,底片上每毫米对应 2 o和1o。10扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。11、衍射仪的核心是测角仪圆,它由试样台、辐射源和探测器共同组成。12、可以用作X 射线探测器的有气体电离计数器、闪烁计数器、半导体计数器等13、影响衍射仪实验结果的参数有狭缝宽度、扫描速度和时间常数等。14、X 射线物相分析包括定性分析和 定量分析,而定性分析更常用更广泛。15、第一类应力导致X 射线衍射线峰线偏移(衍
3、射线条位移);第二类应力导致衍射线峰线宽化(线条变宽);第三类应力导致衍射线衍射强度降低。16、倒易矢量的方向是对应正空间晶面的法线,倒易矢量的长度等于对应正空间晶面间距的倒数。17、X 射线物相定量分析方法有外标法(单线条法)、内标法、K 值法、直接比较法等。18、TEM 中的透镜有两种,分别是磁透镜和电透镜。19、TEM 中的三个可动光栏分别是第二聚光镜光栏位于第二聚光镜焦点上,物镜光栏位于物镜的背焦面上,精品资料-欢迎下载-欢迎下载 名师归纳-第 1 页,共 11 页 -20、物相分析需要确定材料的物相组成和物相含量。21、透射电镜主要由照明系统、成像系统和观察记录系统;辅助部分由真空系
4、统、循环冷却系统和控制系统组成。22、影响X 射线衍射强度的因素除了结构因子外,还有角因子、吸收因子、多重性因子和温度因子等。23、透射电镜由照明系统、成像系统、真空系统、记录系统和电器系统组成。24、TEM 成像系统由物镜、中间镜和投影镜与样品室构成组成。25、TEM 的主要组成部分是照明系统、成像系统和观察记录系统;辅助部分由真空系统、循环冷却系统和控制系统组成。26、电磁透镜的像差包括球差、像散、色差。27、电子衍射和X 射线衍射的不同之处在于电子散射强度大导致摄谱时间短不同、电子多次衍射导致电子束强度不能被测量不同,以及电子波长短导致的布拉格角小不同。28、电子束与固体样品相互作用可以
5、产生背散射电子、二次电子、吸收电子、俄歇电子、特征X 射线、透射电子、可见光等物理信号。29、扫描电子显微镜的放大倍数是显示屏的扫描宽度与样品上的扫描宽度的比值。在衬度像上颗粒、凸起的棱角是亮衬度,而裂纹、凹坑则是暗衬度。30、影响衍射强度的因素除结构因素、晶体形状外还有:角因素,多重性因素,温度因素、试样对X 射线的吸收。31、X 射线光电子能谱是以单色X 射线为光源、激发样品中原子内层电子,产生光电子发射的能谱。32、德拜照相法中的底片安装方法有正装法、倒(反)装法和不对称法(偏装法)三种。二、选择题1.用来进行晶体结构分析的X 射线学分支是(B)A.X 射线透射学;B.X 射线衍射学;C
6、.X 射线光谱学;D.其它2.M 层电子回迁到K 层后,多余的能量放出的特征X 射线称(B)A.K;B.K ;C.K ;D.L 。3.当 X 射线发生装置是Cu 靶,滤波片应选(C)A Cu;B.Fe;C.Ni;D.Mo。8有一倒易矢量为cbag22,与它对应的正空间晶面是(C)精品资料-欢迎下载-欢迎下载 名师归纳-第 2 页,共 11 页 -文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编
7、码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6
8、 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6
9、 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文
10、档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1
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12、B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X
13、1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1A (210)B(220)C(221)D(110)4.当电子把所有能量都转换为X 射线时,该X 射线波长称(A)A.短波限 0;B.激发限 k;C.吸收限;D.特征 X 射线5.当 X 射线将某物质原子的K 层电子打出去后,L 层电子回迁K 层,多余能量将另一个L 层电子打出核外,这整个过程将产生(D)A.光电子;B.二次荧光;C.俄歇电子;D.(A+C)9测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X 射线物相分析,常用方法是(B)。A 外标法B直接比较法C内标法D K 值法。1德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是
14、(C)。A正装法B倒装法C不对称法D.A+B 6.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶K(K=0.194nm)照射该晶体能产生(B)衍射线。A.三条;B.四条;C.五条;D.六条。5电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm 厚表层成分的信号是(B)A背散射电子B俄歇电子C特征 X 射线D 吸收电子7.一束X 射线照射到晶体上能否产生衍射取决于(C)。A是否满足布拉格条件;B是否衍射强度I 0;C A+B;D晶体形状。8.电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm 厚表层成分的信号是(b)。a背散射电子;b.俄歇电子;c.特征 X 射线。6采用单色 X
15、 射线照射到粉末的多晶试样上,衍射花样用照相底片来记录的实验方法是(A)。A 粉末照相法B劳埃法C周转晶体法D衍射仪法9.中心暗场像的成像操作方法是(c)。a以物镜光栏套住透射斑;b以物镜光栏套住衍射斑;c将衍射斑移至中心并以物。10.最常用的 X 射线衍射方法是(B)。A.劳厄法;B.粉末多晶法;C.周转晶体法;D.德拜法。11.测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是(B)。A.保持同步11;B.21;C.12;D.10。12.衍射仪法中的试样形状是(B)。A.丝状粉末多晶;B.块状粉末多晶;C.块状单晶;D.任意形状。13.若 H-800 电镜的最高分辨率是0.5nm,那么这台电镜的有效
16、放大倍数是(C)。精品资料-欢迎下载-欢迎下载 名师归纳-第 3 页,共 11 页 -文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F
17、1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D
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19、I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N
20、4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H
21、6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5
22、U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1A.10000;B.100000;C.400000;D.600000。14.菊池线可以帮助(D)。A估计样品的厚度B确定 180o不唯一性C鉴别有序固溶体D精确测定晶体取向。14
23、.可以消除的像差是(B)。A.球差;B.像散;C.色差;D.A+B。15.可以提高 TEM 的衬度的光栏是(B)。A.第二聚光镜光栏;B.物镜光栏;C.选区光栏;D.其它光栏。16.电子衍射成像时是将(A)。A.中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合;B.中间镜的物平面与与物镜的像平面重合;C.关闭中间镜;D.关闭物镜。3将某一衍射斑点移到荧光屏中心调整物镜光栏使该衍射斑点成像,这是(B)。A明场像B暗场像C中心暗场像D弱束暗场像17.选区光栏在TEM 镜筒中的位置是(A)。A.物镜的物平面;B.物镜的像平面C.物镜的背焦面;D.物镜的前焦面。18.单晶体电子衍射花样是(A)。A.规则的平行四边形
24、斑点;B.同心圆环;C.晕环;D.不规则斑点。19.仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是(B)。A.背散射电子;B.二次电子;C.吸收电子;D.透射电子。20.在扫描电子显微镜中,下列二次电子像衬度最亮的区域是(C)。A.和电子束垂直的表面;B.和电子束成30o的表面;C.和电子束成45o的表面;D.和电子束成60o的表面。21电子衍射成像时是将(A)A中间镜的物平面与物镜的背焦面重合B中间镜的物平面与物镜的像平面重合C关闭中间镜D关闭物镜。22.扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是(B)。A.波谱仪;B.能谱仪;C.俄歇电子谱仪;D.特征电子能量损失谱。23.扫描电子显微镜配
25、备的成分分析附件中最常见的仪器是(C)。A 波谱仪B俄歇电子谱仪C 能谱仪D 特征电子能量损失谱。精品资料-欢迎下载-欢迎下载 名师归纳-第 4 页,共 11 页 -文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1G1H6 HJ10H6D3S6B6 ZQ4O5U2I4X1文档编码:CP6N4F1
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