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1、Jade 定性分析的步骤Jade物相定性分析,它的基本原理是基于以下三条原则:(1)任何一种物相都有其特征的衍射谱;(2)任何两种物相的衍射谱不可能完全相同;(3)多相样品的衍射峰是各物相的机械叠加。因此,通过实验测量或理论计算,建立一个“已知物相的卡片库”,将所测样品的图谱与PDF 卡片库中的“标准卡片”一一对照,就能检索出样品中的全部物相。物相检索的步骤包括:(1)给出检索条件:包括检索子库(有机还是无机、矿物还是金属等等)、样品中可能存在的元素等;(2)计算机按照给定的检索条件进行检索,将最可能存在的前100 种物相列出一个表;(3)从列表中检定出一定存在的物相。一般来说,判断一个相是否
2、存在有三个条件:(1)标准卡片中的峰位与测量峰的峰位是否匹配,换句话说,一般情况下标准卡片中出现的峰的位置,样品谱中必须有相应的峰与之对应,即使三条强线对应得非常好,但有另一条较强线位置明显没有出现衍射峰,也不能确定存在该相,但是,当样品存在明显的择优取向时除外,此时需要另外考虑择优取向问题;(2)标准卡片的峰强比与样品峰的峰强比要大致相同,但一般情况下,对于金属块状样品、薄膜样品、涂层样品等,由于择优取向存在,导致峰强比不一致,因此,峰强比仅可作参考;(3)检索出来的物相包含的元素在样品中必须存在,如果检索出一个FeO 相,但样品中根本不可能存在Fe元素,则即使其它条件完全吻合,也不能确定样
3、品中存在该相,此时可考虑样品中存在与FeO 晶体结构大体相同的某相。当然,如果你自己也不能确定样品会不会受 Fe 污染,你就得去做做元素分析再来了。对于无机材料和粘土矿物,一般参考“特征峰”来确定物相,而不要求全部峰的对应,因为一种粘土矿物中可能包含的元素也可能不同。下面介绍 Jade 中物相检索的步骤。第一轮检索:不做限定检索。打开一个图谱,不作任何处理,鼠标右键点击“S/M”按钮,打开检索条件设置对话框,去掉“Use chemistry filter”选项的对号,同时选择多种PDF 子库,检索对象选择为主相(S/M Focus on Major Phases)再点击“OK”按钮,进入“Se
4、arch/Match Display”窗口。第二轮:限定条件的检索。限定条件主要是限定样品中存在的“元素”或化学成分,在“Use chemistry filter”选项前加上对号,进入到一个元素周期表对话框。将样品中可能存在的元素全部输入,点击“OK”,返回到前一对话框界面,此时可选择检索对象为次要相或微量相(S/M Focus on Minor Phases 或 S/M Focus on Trace Phases)。其它下面的操作就完全相同了。此步骤一般能将剩余相都检索出来。如果检索尚未全部完成,即还有多余的衍射线未检定出相应的相来,可逐步减少元素个数,重复上面的步骤,或按某些元素的组合,尝
5、试一些化合物的存在。如某样品中可能存在Al,Sn,O,Ag 等元素,可尝是否存在Sn-O 化合物,此时元素限定为Sn 和 O,暂时去掉其它元素。在化学元素选定时,有三种选择,即“不可能”、“可能”和“一定存在”。见图 3。精品资料-欢迎下载-欢迎下载 名师归纳-第 1 页,共 4 页 -图 3 元素选择界面第三轮:单峰搜索。如果经过前两轮尚有不能检出的物相存在,也就是有个别的小峰未被检索出物相来,那么,此时最有可能成功的就是单峰搜索。在一般的教材上都有“三强线”检索法,这里使用单峰搜索,即指定一个未被检索出的峰,在PDF 卡片库中搜索在此处出现衍射峰的物相列表,然后从列表中检出物相。方法如下:
6、在主窗口中选择“计算峰面积”按钮,在峰下划出一条底线,该峰被指定,鼠标右键点击“S/M”,此时,检索对象变为灰色不可调(Jade 5中显示为“Painted Peaks”)。此时,你可以限定元素或不限定元素,软件会列出在此峰位置出现衍射峰的标准卡片列表。其它操作则无别样。物相鉴定中应注意的问题实验所得出的衍射数据,往往与标准卡片或表上所列的衍射数据并不完全一致,通常只能是基本一致或相对地符合。尽管两者所研究的样品确实是同一种物相,也会是这样。因而,在数据对比时注意下列几点,可以有助于作出正确的判断。(1)d 的数据比I/Il数据重要。即实验数据与标准数据两者的d 值必须很接近,一般要求其相对误
7、差在上1以内。I/Il值容许有较大的误差。这是因为面网间距d 值是由晶体结构决定的,它是不会随实验条件的不同而改变的,只是在实验和测量过程中可能产生微小的误差。然而。I/Il值却会随实验条件(如靶的不同、制样方法的不同等)不同产生较大的变化。(2)强线比弱线重要,特别要重视d 值大的强线。这是因为强线稳定也较易测得精确;而弱线强度低而不易察觉,判断准确位置也困难,有时还容易缺失。(3)若实测的衍射数据较卡片中的少几个弱线的衍射数据,不影响物相的鉴定。精品资料-欢迎下载-欢迎下载 名师归纳-第 2 页,共 4 页 -晶体晶粒大小和晶格畸变的测定实验原理X 射线衍射峰的宽化主要有三个因素造成的:仪
8、器宽化(本征宽化),晶块细化和微观应变。要计算晶粒尺寸或微观应变,首先第一步应当从测量的宽度中扣除仪器的宽度,得到晶粒细化或微观应变引起的真实加宽。但是,这种线形加宽效应不是简单的机械叠加,而是它们形成的卷积。所以,我们得到一个样品的衍射谱以后,首先要做的是从中解卷积,得到样品因为晶粒细化或微观应变引起的加宽FW(S)。这个解卷积的过程非常复杂,解卷积的过程,Jade按下列公式进行计算。式中 D 称为反卷积参数,可以定义为1-2 之间的值。一般情况下,衍射峰图形可以用柯西函数或高斯函数来表示,或者是它们二者的混合函数。如果峰形更接近于高斯函数,设为 2,如果更接近于柯西函数,则取D=1。另外,
9、当半高宽用积分宽度代替时,则应取D 值为 1。D 的取值大小影响实验结果的单值,但不影响系列样品的规律性。因晶粒细化和微观应变都产生相同的结果,那么我们必须分三种情况来说明如何分析。(1)如果样品为退火粉末,则无应变存在,衍射线的宽化完全由晶粒比常规样品的小而产生。这时可用谢乐方程来计算晶粒的大小。式中 Size 表示晶块尺寸(nm),K 为常数,一般取K=1,是 X 射线的波长(nm),FW(S)是试样宽化(Rad),则是半衍射角(Rad)。计算晶块尺寸时,一般采用低角度的衍射线,如果晶块尺寸较大,可用较高衍射角的衍射线来代替。晶粒尺寸在30nm 左右时,计算结果较为准确,此式适用范围为1-
10、100nm。超过 100nm 的晶块尺寸不能使用此式来计算,可以通过其它的照相方法计算。(2)如果样品为合金块状样品,本来结晶完整,而且加工过程中无破碎,则线形的宽化完全由微观应变引起。式中 Strain 表示微观应变,它是应变量对面间距的比值,用百分数表示。(3)如果样品中同时存在以上两种因素,需要同时计算晶粒尺寸和微观应变。情况就复杂了,因为这两种线形加宽效应也不是简单的机械叠加,而是它们形成的卷积。使用与前面解卷积类似的公式解出两种因素的大小。由于同时要求出两个未知数,因此靠一条谱线不能完成。一般使用Hall 方法:测量二个以上的衍射峰的半高宽FW(S),由于晶块尺寸与晶面精品资料-欢迎
11、下载-欢迎下载 名师归纳-第 3 页,共 4 页 -指数有关,所以要选择同一方向衍射面,如(111)和(222),或(200)和(400)。以为横坐标,作图,用最小二乘法作直线拟合,直线的斜率为微观应变的两倍,直线在纵坐标上的截距即为晶块尺寸的倒数。使用 Jade 测定晶体晶粒大小和畸变的基本操作过程如下:(1)以慢速度,最好是步进扫描方式测量样品的两个以上的衍射峰(最好是同一晶面的二级衍射)。(2)读入 Jade,进行物相检索、扣除景和K2、平滑,全谱拟合。(3)选择菜单“Report-Size&Strain Plot”命令,显示计算对话框。见图 1.(4)根据样品的实际情况在Size only,Strain Only,Size/strain三种情况下选择一种情况。(5)调整 D值。(6)查看仪器半高宽补正曲线是否正确。(7)保存,其中Save 保存当前图片,Export 保存文本格式的计算结果。图 1 Size&strain plot 对话框精品资料-欢迎下载-欢迎下载 名师归纳-第 4 页,共 4 页 -
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