SPC质量管理培训教程.pptx
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1、STATISTICAL PROCESS CONTROL1n过程控制的需要过程控制的需要n检测检测-容忍浪费容忍浪费n预防预防-避免浪费避免浪费STATISTICAL PROCESS CONTROL2nSPC的产生的产生n本世纪本世纪40年代，由于第二次世界大战爆发，美年代，由于第二次世界大战爆发，美国生产民用产品的大批公司转为生产各种军需品。国生产民用产品的大批公司转为生产各种军需品。当时面临的严重问题是事先无法控制不合格品而当时面临的严重问题是事先无法控制不合格品而不能满足交货期要求；由于军需品大多属于破坏不能满足交货期要求；由于军需品大多属于破坏性检验，事后全检既不可能，也不许可。美国国性
2、检验，事后全检既不可能，也不许可。美国国防部为了解决这一难题，特邀哈特、道奇、罗米防部为了解决这一难题，特邀哈特、道奇、罗米格、华尔特等专家以及美国材料与试验协会、美格、华尔特等专家以及美国材料与试验协会、美国标准协会等有关人员研究，并于国标准协会等有关人员研究，并于1941-1942年制订和公布了统计控制的管理方法，并在全国年制订和公布了统计控制的管理方法，并在全国各地推行。实践证明，统计的质量管理方法是保各地推行。实践证明，统计的质量管理方法是保证质量、预防不合格品的一种有效手段。证质量、预防不合格品的一种有效手段。STATISTICAL PROCESS CONTROL3nSPC的发展的发
3、展n由于统计的质量管理方法给公司带来巨额利润，由于统计的质量管理方法给公司带来巨额利润，所以战后，统计方法被延用并得以发展。所以战后，统计方法被延用并得以发展。1950年，美国发动了侵朝战争，在日本大量订购军事年，美国发动了侵朝战争，在日本大量订购军事物资，因为质量不好，美国对此意见很大。为此，物资，因为质量不好，美国对此意见很大。为此，日本科学与工程联合会邀请戴明来到日本，系统日本科学与工程联合会邀请戴明来到日本，系统的讲授了统计质量控制。自的讲授了统计质量控制。自50年代以来，日本年代以来，日本以统计技术为基础，进一步将质量管理发展到全以统计技术为基础，进一步将质量管理发展到全面质量管理阶
4、段，鼓励全员参加质量管理活动。面质量管理阶段，鼓励全员参加质量管理活动。在在QC小组中普遍应用统计技术，提高产品质量，小组中普遍应用统计技术，提高产品质量，对日本的经济崛起起到了巨大作用。对日本的经济崛起起到了巨大作用。STATISTICAL PROCESS CONTROL4n数据的种类数据的种类n计量型数据计量型数据 ：可用计量器具测量出来的：可用计量器具测量出来的质量特性值数据。如：尺寸、重量、电阻质量特性值数据。如：尺寸、重量、电阻值等。值等。n计数型数据：用个数为单位来表示的质量计数型数据：用个数为单位来表示的质量特性值数据。如：废品的件数、出勤的人特性值数据。如：废品的件数、出勤的人
5、数、塞规检查的合格数等。数、塞规检查的合格数等。STATISTICAL PROCESS CONTROL5n控制图的分类控制图的分类n按用途分为：按用途分为：n分析用分析用n控制用控制用n按数据类型分为：按数据类型分为：n计数型计数型n计量型计量型STATISTICAL PROCESS CONTROL6n控制图的益处控制图的益处n合理使用控制图能合理使用控制图能:n供正在进行过程控制的操作者使用供正在进行过程控制的操作者使用n有助于过程在质量上和成本上能持续地有助于过程在质量上和成本上能持续地,可预测地保持下可预测地保持下去去n是过程达到是过程达到: -更高的质量更高的质量 -更低的单件成本更低
6、的单件成本 -更高的有效能力更高的有效能力n为讨论过程的性能提供共同的语言为讨论过程的性能提供共同的语言n区分变差的特殊原因和普通原因区分变差的特殊原因和普通原因,作为采取局部措施或对作为采取局部措施或对系统采取措施的指南系统采取措施的指南STATISTICAL PROCESS CONTROL7n变差的概念变差的概念n“没有两件产品或特性是完全相同的没有两件产品或特性是完全相同的”n产品间的差异或大或小，但这些差距总是产品间的差异或大或小，但这些差距总是存在。这种差异被称为变差。存在。这种差异被称为变差。n变差的产生原因可归纳为两种：变差的产生原因可归纳为两种：n1、变差的普通原因、变差的普通
7、原因n2、变差的特殊原因、变差的特殊原因STATISTICAL PROCESS CONTROL8n1、变差的普通原因、变差的普通原因n造成随着时间的推移具有稳定的且可重复造成随着时间的推移具有稳定的且可重复的分布过程中的许多变差的原因。的分布过程中的许多变差的原因。 表现为：一个稳定系统的偶然原因。表现为：一个稳定系统的偶然原因。n2、变差的特殊原因、变差的特殊原因n造成不是始终作用于过程的变差的原因。造成不是始终作用于过程的变差的原因。 表现为：以不可预测的方式来影响过程表现为：以不可预测的方式来影响过程的输出。的输出。STATISTICAL PROCESS CONTROL9n变差的普通原因
8、通常是对工序质量产生微变差的普通原因通常是对工序质量产生微小变化，难以查明或难以消除。它不能被小变化，难以查明或难以消除。它不能被由操作工人控制，只能由技术、管理人员由操作工人控制，只能由技术、管理人员控制解决。（随机因素，采取系统措施）控制解决。（随机因素，采取系统措施）n变差的特殊原因通常是产生的波动较大，变差的特殊原因通常是产生的波动较大，容易发现并消除。一般由操作工自行解决，容易发现并消除。一般由操作工自行解决，管理人员适当介入。（系统因素，采取局管理人员适当介入。（系统因素，采取局部措施）部措施）STATISTICAL PROCESS CONTROL10n概率的应用概率的应用n工序的
9、波动如同自然界、经济管理和科学试验中工序的波动如同自然界、经济管理和科学试验中许多反复、大量出现的带数量性的事物一样，作许多反复、大量出现的带数量性的事物一样，作为一个整体，它们并不是毫无规律的发生或偶然为一个整体，它们并不是毫无规律的发生或偶然性的堆积，而往往符合一定的统计规律。有许多性的堆积，而往往符合一定的统计规律。有许多客观事物，尽管他们的性质有所不同，但出现的客观事物，尽管他们的性质有所不同，但出现的规律却有很大的相似性。例如：在正常条件下，规律却有很大的相似性。例如：在正常条件下，机床上加工的一批零件的尺寸；连续射击时的射机床上加工的一批零件的尺寸；连续射击时的射点离靶心的距离；某
10、一城市成年男子的身高等。点离靶心的距离；某一城市成年男子的身高等。它们出现的频率，通常都符合正态分布。它们出现的频率，通常都符合正态分布。STATISTICAL PROCESS CONTROL11n正态分布正态分布n自然界中，很多可以连续取值的计量型分布，都自然界中，很多可以连续取值的计量型分布，都符合正态分布。符合正态分布。STATISTICAL PROCESS CONTROL正态分布示意图正态分布示意图12n正态分布、控制图与控制限正态分布、控制图与控制限STATISTICAL PROCESS CONTROL0 05 510101515202025251 12 23 34 45 56 67
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