LC光纤跳线可靠性试验报告模版.doc

《LC光纤跳线可靠性试验报告模版.doc》由会员分享，可在线阅读，更多相关《LC光纤跳线可靠性试验报告模版.doc（35页珍藏版）》请在淘文阁 - 分享文档赚钱的网站上搜索。

1、LC/PC单模光纤跳线可靠性实验报告试验依据标准IEC 61300/GR326试验执行者审 核批 准版本:A.02009-Sep目 录1 样品11.1 跳线11.2 适配器11.3 外观图示12 试验项目与结果讨论22.1端面检测22.2 端面几何形状3D检测32.2.1 检测条件32.2.2 端面几何形状3D检测结果42.3 插入损耗测试 (IEC 61300-3-4 方法B)42.3.1 测试方法52.3.2 插入损耗测试结果52.4 回波损耗(IEC 61300-3-6)72.4.1 测试示意图72.5 机械振动试验(IEC 61300-2-1/GR-326)82.5.1 机械振动测试示

2、意图82.5.2 试验结果92.6 插拔耐久性(IEC 61300-2-2/GR326)102.6.1 测试图102.6.2 试验结果102.7 光缆直拉试验(GR-326)122.7.1 试验方法122.7.2 试验结果122.8 耦合机构抗拉强度 (IEC 61300-2-6)132.8.1 试验方法132.8.2 试验结果142.9 机械冲击 (IEC 61300-2-12)152.9.1 试验方法152.9.2 试验结果162.10 扭转试验 (IEC 61300-2-5)162.10.1 试验方法162.10.2 试验结果172.11 侧向静负载（侧拉） (IEC 61300-2-4

3、2)182.11.1 试验方法182.11.2 试验结果192.12 光器件应力缓释抗弯性能实验(IEC 61300-2-44)202.12.1 试验方法202.12.2 试验结果212.13 温度循环 (IEC 61300-2-22)222.13.1 试验方法222.13.2 试验结果222.14 综合高温高湿试验(IEC 61300-2-21)282.14.1 试验方法282.14.2 试验结果283 评价与结论321 样品 1.1 跳线样品两个尾端分别包含两个接头。光纤类型：SMF-28e插芯类型：UPC陶瓷插芯接头类型：LC/PC胶类型： Epotek-353ND1.2 适配器适配器类

4、型: LC/PC 图1 LC/PC型适配器1.3 外观图示图2 LC/PC连接器2 试验项目与结果讨论本报告的系列试验是为检查光纤连接器组装性能并且模拟其在使用过程中所受到的应力而制订的。这些试验项目以IEC 61300系列检验和试验程序为基础，同时兼顾了GR-326-CORE要求的部分试验项目。表1列出了详细的检验和试验项目及其测试条件和要求。表1 试验方法与试验要求序号项目试验依据试验条件技术要求1端面检测IEC 61300-3-1光学显微镜见本报告表42端面几何形状（3D）检测IEC 61754-4干涉仪曲率半径:725mm顶偏:典型50um；Max70um光纤高度:+100-100nm

5、;3插入损耗IEC 61300-3-4 方法 B波长:1310nm & 1550nmIL0.25dB4回波损耗IEC 61300-3-6 方法1波长:1310nm & 1550nmRL45dB5机械振动IEC 61300-2-1/ GR-326频率：1055Hz, 振幅: 0.75mm,分别在3个方向振动90 min.试验前后插损变化值0.2dB; 回损45dB6插拔耐久性IEC 61300-2-2/ GR-326500次每25次清洁1次；插损变化值0.2dB7光缆直拉IEC 61300-2-4离连接器末端0.5m处，用90N负载, 5N/s直拉速度，保持时间120s.试验前后插损变化值0.2

6、dB; 回损45dB8耦合机构抗拉强度IEC 61300-2-6离连接器末端0.2m处，40N负荷, 5N/s加载，保持时间15s.试验前后插损变化值0.2dB; 回损45dB9机械冲击IEC 61300-2-121.5m处冲击5次 试验前后插损变化值0.2dB; 回损45dB10扭转IEC 61300-2-5离连接器末端0.2m处，15N负荷, 扭转角度: 0,-180, 0, +180. 25次.试验前后插损变化值0.2dB; 回损45dB11侧向静负载能力IEC 61300-2-42离连接器末端0.5m处，负荷1/0.5 N 保持1小时.试验前后插损变化值0.2dB; 回损45dB12光

7、器件应力缓释抗弯性能IEC 61300-2-44离连接器末端0.2m处，2N负荷，90转动，循环100次试验前后插损变化值0.2dB; 回损45dB13温度循环IEC 61300-2-22+70-25, 每分钟温度变化1, 12 次循环. 试验前后插损变化值0.2dB; 回损45dB14综合高温高湿IEC 61300-2-21+65-10,最高温度时湿度95%RH，极限温度时恒温 1小时, 循环10 次试验前后插损变化值0.2dB; 回损45dB2.1端面检测 图三为端面指标图，每个标示区域的标准不一。图3 光纤连接器端面的区域划分表2 端面技术标准区域名称划痕斑点A区(纤芯区0-25um)没

8、有划痕没有斑点B区（涂覆层区25-120 um）厚度为 3um时, 没有划痕2um,斑点量没有限制2um 5um之间，可以接受5个斑点5um,没有斑点C 区(胶区120-130 um)厚度为 10um时,没有划痕10um,没有斑点D区 (连接区130-250 um)划痕数量没有限制10um,没有斑点结果：通过2.2 端面几何形状3D检测2.2.1 检测条件样品测试仪器见图4: 设备: DORC and NORLAND干涉仪设备型号: DORC ZX-1 mini: X115FHGZA614 NORLAND NC-300: 图4 DORC and NORLAND 干涉仪2.2.2 端面几何形状3

9、D检测结果表3 端面几何形状检测结果LC/PC连接器 曲率半径 (mm)光纤高度(um) 顶偏 (um)通过/失败530-0.1+0.1701#11.51 0.011 32.61 通过2#11.06 0.014 37.66 通过3#11.45 0.018 19.19 通过4#11.25 0.014 17.23 通过5#12.04 0.001 13.51 通过6#11.00 0.016 21.73 通过7#12.13 0.000 7.91 通过8#14.65 0.014 20.11 通过9#11.52 0.014 36.74 通过10#9.10 0.021 30.35 通过11#11.69 0.

10、007 19.55 通过12#13.76 0.003 45.38 通过13#10.57 0.014 41.09 通过14#12.46 0.015 28.13 通过15#10.94 0.004 33.44 通过16#11.09 -0.002 25.99 通过17#10.63 0.006 21.30 通过18#11.22 0.016 33.66 通过19#11.45 0.008 41.34 通过20#11.72 0.014 60.69 通过最大值14.65 0.021 60.69 通过最小值9.10 -0.002 7.91 平均值11.56 0.010 29.38 注：批量产品的干涉总合格率不低于

11、85%。2.3 插入损耗测试 (IEC 61300-3-4 方法B) 2.3.1 测试方法样品依据图5测试其插损插入损耗定义：光功率计光源P0标准线标准适配器标准接头P1光源光功率计被测试跳线标准线图5 插入损耗测试图测试设备：JDSU RM3750B表4 标准适配器要求条件要求插入损耗（标准接头）0.1 dB标准接头用它插拔五次插入损耗变化值0.1 dB回波损耗（标准接头）55 dB表5 标准接头要求项目要求插芯凸出直径2.49900.0003mm插芯同心度0.3 umPC APC顶偏30 um30 um曲率半径10-20 mm8-12 mm光纤高度50 nm50 nm研磨角度-0.2+0.

12、27.88.22.3.2 插入损耗测试结果表6 插入损耗结果 (单位:dB)LC/PC 连接器插入损耗通过或失败1310nm1550nm0.25dB0.25dB1#0.070.08通过2#0.10.08通过3#0.020.04通过4#0.190.15通过5#0.040.03通过6#0.110.09通过7#0.090.09通过8#0.210.16通过9#0.060.06通过10#0.150.13通过11#0.090.07通过12#0.230.18通过13#0.170.15通过14#0.10.07通过15#0.030.05通过16#0.090.06通过17#0.060.07通过18#0.150.1

13、2通过19#0.080.06通过20#0.150.12通过最大值0.230.18通过最小值0.020.03平均值0.11 0.09 图6 插入损耗直方图结果: 通过2.4 回波损耗(IEC 61300-3-6)2.4.1 测试示意图图7表示跳线回波损耗测试示意图Terminate标准适配器标准接头回损测试仪被测试跳线标准跳线图7 回波损耗测试图测试设备： JDSU RM3750B 2.4.2 回波损耗测试结果表7 回波损耗测试结果(单位: dB)LC/PC 连接器回波损耗通过或失败1310nm1550nm45dB45dB1#55.3 58.7 通过2#53.5 57.6 通过3#54.6 58

14、.7 通过4#53.9 58.1 通过5#53.7 59.1 通过6#54.3 56.8 通过7#55.2 58.8 通过8#51.6 54.2 通过9#55.1 57.7 通过10#54.8 57.4 通过11#51.9 54.5 通过12#52.2 54.7 通过13#49.8 52.5 通过14#53.5 52.6 通过15#50.8 51.4 通过16#53.7 52.8 通过17#52.5 55.2 通过18#51.7 54.3 通过19#54.6 57.3 通过20#52.4 55.1 通过最大值55.3 59.1 通过最小值49.8 51.4 平均值53.26 55.88 图8

15、回波损耗直方图结果：通过2.5 机械振动试验(IEC 61300-2-1/GR-326)2.5.1 机械振动测试示意图机械振动IEC 61300-2-1/ GR-326频率：1055Hz, 振幅: 0.75mm,分别在3个方向振动90 min.试验前后插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB图9 机械振动测试图测试条件: 振动频率: 10 Hz - 55 Hz 振动幅度: 0,75 mm 振动轴数: 3 每轴振动时间: 30 min 每次振动扫描数: 15 测试波长: 1550nm 技术要求: 实验前后插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB2.5.2 试验结果表8 机

16、械振动试验结果（单位：dB)连接头序号实验前数据 X 轴方向 Y 轴方向 Z 轴方向实验后数据 平均值最大值最小值1#插损0.110.10.10.110.090.10 0.110.09回损54.354.254.2545454.14 54.3542#插损0.080.080.080.080.090.08 0.090.08回损55.255.255.155.15555.12 55.2553#插损0.120.110.120.120.120.12 0.120.11回损52.652.552.552.552.452.50 52.652.44#插损0.070.080.080.080.080.08 0.080.0

17、7回损53.753.853.853.653.653.70 53.853.65#插损0.070.080.090.090.080.08 0.090.07回损54.554.354.454.354.354.36 54.554.3图10 机械振动试验数据分析图结果：通过2.6 插拔耐久性(IEC 61300-2-2/GR326)2.6.1 测试图插拔耐久性IEC 61300-2-2/ GR-326500次每25次清洁1次；插损变化值0.2dB图11 插拔耐久性测试图试验条件: 插拔总次数: 500次清洁频率：每插拔25次清洁1次 测试波长: 1550nm 插入损耗测试频率: 每插拔25次测试1次回波损耗

18、测试频率: 每插拔25次测试1次技术要求: 每次测试插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB 2.6.2 试验结果表9 插拔耐久性试验结果（单位：dB)次数清洁LC/PC 连接器插损插损变化值回损原始值双头0.13 /52.4 24无0.16 0.03 52.2 25单头0.14 0.01 50.6 49无0.14 0.01 51.6 50双头0.10 -0.03 51.7 74无0.14 0.01 51.2 75单头0.11 -0.02 57.6 99无0.11 -0.02 56.0 100双头0.10 -0.03 57.0 124无0.10 -0.03 48.6 125单头0.

19、07 -0.06 55.1 149无0.12 -0.01 52.3 150双头0.10 -0.03 56.2 174无0.13 0.00 56.5 175单头0.10 -0.03 56.0 199无0.10 -0.03 56.0 200双头0.10 -0.03 57.7 224无0.08 -0.05 54.4 225单头0.09 -0.04 55.8 249无0.10 -0.03 56.5 250双头0.11 -0.02 52.4 274无0.10 -0.03 52.3 275单头0.11 -0.02 53.8 299无0.14 0.01 52.5 300双头0.11 -0.02 53.8 3

20、24无0.15 0.02 49.7 325单头0.13 0.00 51.7 349无0.14 0.01 51.6 350双头0.16 0.03 53.6 374无0.20 0.07 53.8 375单头0.12 -0.01 55.0 399无0.17 0.04 52.7 400双头0.11 -0.02 51.2 424无0.11 -0.02 54.0 425单头0.12 -0.01 52.3 449无0.12 -0.01 51.1 450双头0.14 0.01 55.4 474无0.13 0.00 58.3 475单头0.10 -0.03 57.4 499无0.11 -0.02 58.2 50

21、0双头0.09 -0.04 56.8 最大值0.18 0.12 53.8 最小值0.04 0.20 58.3 平均值0.10 0.07 48.6 图12 插拔耐久性试验的插损和回损数据分析图结果：通过2.7 光缆直拉试验(GR-326)2.7.1 试验方法光缆直拉IEC 61300-2-4离连接器末端0.5m处，用90N负载, 5N/s直拉速度，保持时间120s.试验前后插损变化值0.2dB; 回损45dB负载0.5 m图13 光缆直拉试验条件:光缆外径: 2.0mmLC、MU连接器拉力：90N 负载速度: 5 N/s最大负载停留时间: 2 min 测试波长: 1550nm技术要求: 每次测试

22、插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB2.7.2 试验结果表10 光缆直拉试验结果（单位：dB)连接头序号损耗实验前0s120s实验后 平均值最大值最小值1#插损0.20.190.20.180.19 0.20.18回损57.958.157.957.157.75 58.157.12#插损0.060.060.070.060.06 0.070.06回损57.157.357.35757.18 57.3573#插损0.090.110.10.090.10 0.110.09回损60.359.25958.859.33 60.358.84#插损0.140.150.130.130.14 0.150.

23、13回损55.955.95655.655.85 5655.65#插损0.10.110.110.090.10 0.110.09回损58.158.458.157.958.13 58.457.9图 14 光缆直拉试验数据分析图结果：通过2.8 耦合机构抗拉强度 (IEC 61300-2-6)2.8.1 试验方法耦合机构抗拉强度IEC 61300-2-6离连接器末端0.2m处，40N负荷, 5N/s加载，保持时间15s.试验前后插损变化值0.2dB; 回损45dB负载0.2 m图15 耦合机构抗拉强度试验条件: 光缆外径: 2.0mmLC、MU连接器拉力：40N 负载速度: 5 N/s最大负载停留时间

24、: 15s 测试波长: 1550nm技术要求: 每次测试插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB2.8.2 试验结果表11 耦合机构抗拉强度试验结果（单位：dB)连接器序号损耗实验前实验中实验后 平均值最大值最小值1#IL0.130.280.140.18 0.280.13RL56.95655.156.00 56.955.12#IL0.170.180.170.17 0.180.17RL55.55655.255.57 5655.23#IL0.130.130.120.13 0.130.12RL55.65655.555.70 5655.54#IL0.10.10.10.10 0.10.1RL

25、57.659.157.758.13 59.157.65#IL0.150.170.170.16 0.170.15RL57.758.657.157.80 58.657.1图16 耦合机构抗拉强度试验数据分析图结果：通过2.9 机械冲击 (IEC 61300-2-12)2.9.1 试验方法机械冲击IEC 61300-2-121.5m处跌落5次 实验前后插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB1.5 m2 m图 17 冲击试验示意图试验条件: 光缆外径: 2.0mm下落次数: 5 次下落高度: 15m测试波长: 1550nm技术要求: 每次测试插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于4

26、5dB2.9.2 试验结果表12 机械冲击试验结果（单位：dB)连接头序号.损耗实验前实验后插损变化值1#插损0.180.170.22#插损0.150.183#插损0.010.14#插损0.110.125#插损0.020.02连接头序号.损耗实验前实验后插损变化值1#回损56.356.1452#回损57.556.33#回损57.456.74#回损57.355.55#回损57.156.1结果：通过2.10 扭转试验 (IEC 61300-2-5)2.10.1 试验方法扭转IEC 61300-2-5离连接器末端0.2m处，15N负荷, 扭转角度: 0,-180, 0, +180. 25次.试验前后

27、插损变化值0.2dB; 回损45dBCable Clamp负载0.4 m图 18 扭转性能试验图试验条件: 光缆外径: 2.0mm负载加于离连接器0.4m处，负载大小: 15 N 负载释放速度: 1 N/s扭弯回合: 25次测试波长: 1550nm技术要求: 每次测试插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB2.10.2 试验结果表13 扭转试验结果（单位: dB)连接头序号损耗实验前0 次25 次实验后 平均值最大值最小值1#插损0.060.070.070.050.06 0.070.05回损55.955.555.555.555.60 55.955.52#插损0.090.090.09

28、0.10.09 0.10.09回损55.75656.156.155.98 56.155.73#插损0.030.040.030.030.03 0.040.03回损5656.256.15656.08 56.2564#插损0.030.030.030.030.03 0.030.03回损55.355.355.355.255.28 55.355.25#插损0.020.020.020.040.03 0.040.02回损56.856.956.956.756.83 56.956.7图19 扭转性能试验数据分析图结果：通过2.11 侧向静负载（侧拉） (IEC 61300-2-42)2.11.1 试验方法侧向静负

29、载能力IEC 61300-2-42离连接器末端0.5m处，1N/0.5 N 负荷，保持1小时.实验前后插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dBTensile Load0.2 mCable Clamp图20 侧向静负载（侧拉试验图）试验条件: 光缆外径: 2.0mm负载加于离连接器0.2m处负载大小: 光缆外径3.0mm时1 N；光缆外径2.0mm 时0.5 N负载停留时间: 60 min测试波长: 1550nm技术要求: 每次测试插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB2.11.2 试验结果表14 侧拉试验结果（单位: dB)连接头序号插损平均值最大值最小值0 min1

30、0 min20 min30 min40 min50 min60 min1#0.080.110.060.110.10.120.10.10.120.062#0.110.090.090.090.080.080.090.090.110.083#0.010.010.020.010.010.030.020.0170.030.014#0.070.080.070.050.050.060.060.0630.080.055#0.130.140.130.130.150.120.130.1330.150.12连接头序号回损平均值最大值最小值0 min10 min20 min30 min40 min50 min60 m

31、in1#57.356.956.756.256.156.155.956.4657.355.92#55.155.355.555.455.555.755.655.4455.755.13#53.453.353.453.553.453.553.553.4353.553.34#55.255.255.355.555.355.355.255.2955.555.25#54.354.354.454.454.254.454.254.3154.454.2图21 侧拉试验数据分析图结果：通过2.12 光器件应力缓释抗弯性能实验(IEC 61300-2-44)2.12.1 试验方法光器件应力缓释抗弯性能IEC 61300

32、-2-44离连接器末端0.2m处，2N负荷，90转动，循环100次试验前后插损变化值0.2dB; 回损45dB图 22 光器件应力缓释抗弯性能试验图试验条件: 光缆外径: 2.0mm负载加于离连接器0.2m处，负载大小: 2N 循环次数: 100测试波长: 1550nm技术要求: 每次测试插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB2.12.2 试验结果表15 光器件应力缓释抗弯性能试验结果（单位：dB)连接器序号损耗实验前050100实验后 平均值最大值最小值1#插损0.210.210.210.210.230.21 0.230.21回损52.652.552.552.552.552.5

33、2 52.652.52#插损0.120.110.110.110.110.11 0.120.11回损51.451.151515151.10 51.4513#插损0.070.080.090.080.080.08 0.090.07回损53.753.25353.253.253.26 53.7534#插损0.130.120.090.080.070.10 0.130.07回损52.852.752.752.752.752.72 52.852.75#插损0.140.140.130.130.140.14 0.140.13回损52.552.352.352.352.352.34 52.552.3图 23 光器件应力

34、缓释抗弯性能试验数据分析图结果：通过2.13 温度循环 (IEC 61300-2-22)2.13.1 试验方法温度循环IEC 61300-2-22+70-25, 每分钟温度变化1, 12 次循环. 试验前后插损变化值0.2dB; 回损45dBh70251-252345678试验条件: 恒温时间: 1 hour温度变化率: 1C / min循环次数: 12测试波长: 1310nm & 1550nm技术要求: 每次测试插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB 测试设备: 温度循环箱光源标准适配器光功率计环境试验箱图 25 温度循环试验图2.13.2 试验结果表16 温度循环测试结果分析

35、（单位： dB)时间 (h)插入损耗1310 nm1550 nm00.080.110.50.10.1210.090.131.50.10.1320.10.122.50.110.1330.080.123.50.060.1340.070.134.50.070.1350.050.135.50.080.1260.070.126.50.080.1170.060.117.50.070.1280.060.18.50.060.1190.070.139.50.090.11100.10.1210.50.070.11110.050.1411.50.060.13120.070.1312.50.060.14130.060.1313.50.070.13140.060.1414.50.060.13150.070.115.50.060.13160.060.1216.50.060.13170.070.1117.50.060.11180.070.118.50.070.12190.070.1119.50.080.11200.060.120.50.080.09210.080.0921.50.090.08220.090.1222.50.080.11230.050.0823.50.060.08240.050.0724