SPC统计过程管制0108.pptx
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1、Statistical Process Control1講議大綱nSpc的產生n管制圖的分類nX-R管制圖制作步驟n管制圖的判讀法nCa 、Cp、Cpk23n A.計量值管制圖 n a.平均值与全距管制圖平均值与全距管制圖(X-R Chart) n b.中位值与全距管制圖(X-R Chart)n c.個別值与移動全距管制圖(X-Rm Chart)nd.平均值与標准差管制圖(X-R Chart)n B.計數值管制圖 n a.不良率管制圖n b.不良數管制圖n c.缺點數管制圖n d.單位缺點數管制圖二、管制圖的分類4 A 收集資料收集資料 A1 選擇選擇子組大小、頻率和資料子組大小、頻率和資料
2、A2 建立管制圖及記錄原始資料建立管制圖及記錄原始資料 A3 計算每個子組的計算每個子組的平均值平均值 ( X ) 和極差和極差 ( R ) A4 選擇管制圖的刻度選擇管制圖的刻度 A5 將平均值和極差,標記到管制圖上將平均值和極差,標記到管制圖上 X-R管制圖制作步驟5(1)建立管制圖之步驟 na:選定管制項目nb:收集數據nC:按產品生產之順序或測定順序排列數據nd:數據之分組 sample=25, group=2025ne:將分組之數據紀錄數據記錄表nf:計算平均值X barng:計算全距 R6nh:計算總平均值 XnI:計算全距之平均值 R nj:查係數A2, D4, D3( 表 12
3、-2 )nk:計算管制界限nl:繪管制界限nm:點圖nn:管制界限之檢討n (1)全界限內並隨機分佈-直接建立管制用管制圖n (2)有點超出規格-調查消除並重新計算管制界限7n (3)有點超出原因不明或已查出但無法消除這些點無須 除去.n (4)重新計算管制界線後仍有點超出新管制界,無須去除.nO.畫直方圖np.與規格比較n (1)(USL-LSL)(UCL-LCL) =製程能力O.K.n (2)(USL-LSL)=(UCL-LCL) =製程能力需調整n (3)(USL-LSL)製程能力 N.G.,需做製程 能力之改善n(2)建立管制用管制圖n a:記入必要事項n b:做管制界限8 C 過程控
4、制說明過程控制說明 C1 分析分析極差圖極差圖上的資料上的資料 任何超出管制限的點任何超出管制限的點 連續連續 7 個點,全在中心線之上,或連續上升個點,全在中心線之上,或連續上升 連續連續 7 個點,全在中心線之下,或連續下降個點,全在中心線之下,或連續下降 可能為:模具受損或機器固定鬆動,或換班、換批可能為:模具受損或機器固定鬆動,或換班、換批 ,或量測系統改變,或量測系統改變(新人、新量具新人、新量具)。 9 其他明顯非隨機的圖形其他明顯非隨機的圖形 各點與各點與 R 的距離:一般大約的距離:一般大約 2 / 3 的點,應落在中心線的點,應落在中心線 為中心的為中心的 1 / 3 管制區
5、域內,若非如此,則需進行調查管制區域內,若非如此,則需進行調查 並改善。並改善。 可能為:可能為: 管制上、下限或描點計算錯或標示錯。管制上、下限或描點計算錯或標示錯。 10 C 過程控制說明過程控制說明 C2 識別並標注特殊原因識別並標注特殊原因極差圖極差圖 C3 重新計算重新計算管制上、下限管制上、下限( 極差圖極差圖 ) C4 分析分析平均值圖平均值圖上的資料上的資料 如同如同C1之分析之分析 C5 識別並標注特殊原因識別並標注特殊原因平均值圖平均值圖 C6 重新計算重新計算管制上、下限管制上、下限( 平均值圖平均值圖 ) 11管制圖判讀法n1.檢定規則一:有單獨一點出現在三個標準差區域
6、之外n2.檢定規則二:連續三點中有兩點落在A區或甚至A區之外者.12n3.檢定規則三:連續五點中有四點落在B區或甚至B區之外者n4.檢定規則四:連續八點落在C區或甚至C區之外者管制圖判讀法135.檢定規則五:連續五點上升或下降-注意動態 連續六點上升或下降-開始調查原因 連續七點上升或下降-立即採取措施管制圖判讀法146.點出現在中心線之單側較多時: a. 連續11點中有10點以上(含10點) b. 連續14點中有12點以上(含12點) c . 連續17點中有14點以上(含14點) d. 連續20點中有16點以上(含16點) 7點出現在管制界限之近旁超出2區域: a . 連續3點中有2點以上(
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