SPC统计手法简介.pptx
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1、ASUS confidentialSPC統計手法簡介統計手法簡介Statistical process control製作:品保課ASUS confidential統統 計計 製製 程程 管管 制制經由製程中去收集資料,而加以統計分析,從分析中得以管制製程是否穩定。若製程異常,可經由問題分析以找出異常原因,並立即採取改善措施與標準化,使製程恢復正常。若製程穩定,可透過製程能力分析、改善措施與標準化,以不斷提升製程能力。ASUS confidential1.市場分析2.產品設計3.相依性規格、壽命及耐用性預測4.製程管制及製程能力研究5.製程改善6.安全評估風險分析7.驗收抽樣8.數據分析,績效
2、評估及不良分析統計技術之應用ASUS confidential1.柏拉圖(決定管制重點)2.統計檢定3.管制圖4.抽樣計劃SPC使用之統計技術ASUS confidential製程改善循環DCPAPADCPADC1.分析製程 製程應有之能力 可影響製程之因素 目前製程情況2.控制製程 監控製程績效 解決特殊性變異3.改善製程 分析共同性變異 降低共同性變異ASUS confidential共同原因與特殊原因之變異 共同原因:製程中變異因素是在統計的管制狀態下,其產品之特性有固定的分配。 特殊原因:製程中變異因素不在統計的管制狀態下,其產品之特性沒有固定的分配。ASUS confidential
3、共同原因與特殊原因之對策1.特殊原因之對策(局部面)通常會牽涉到消除產生變異的特殊原因可以由製程人員直接加以改善大約能夠解決15%之製程上之問題2.共同原因之對策(系統面)通常必須改善造成變異的共同問題經常需要管理階層的努力與對策大約85%的問題是屬於此類系統ASUS confidential製製 程程 能能 力力 指指 標標製程準確度 Ca (Capability of Accuracy): Ca值在衡量製程之實際平均值與規格中心值(T)之一致性 實際中心值 - 規格中心值 Ca = 100 規格容許差 ( -SC) / (T/2) 100規格公差 = USL - LSL, 通常 UCL -
4、 LCL :製程平均值 T:公差 Sc:規格中心 XXASUS confidential製程能力指標製程能力指標製程精密度 Cp (Capability of Precision): Cp在衡量製程之變異寬度與規格公差範圍相差之情形 CpTCPUUSL XXLSL=- - -=-=- - -規格公差雙邊規格時或CPL單邊規格時6個標準差336ASUS confidential製程能力指標製程能力指標製程能力指標Cpk,原來的意思為綜合Ca與Cp兩值之指標Cpk = (1 Ca ) Cp ASUS confidential掌握製程管制之主要因素 人(man) 機(machine) 料(mater
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- SPC 统计 手法 简介
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