SPC统计过程控制入门分析.pptx
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1、 什么是什么是SPC 为什么要进行过程控制为什么要进行过程控制 正态分布简介正态分布简介 过程能力指数过程能力指数 控制图介绍控制图介绍 Xbar-R控制图的制作控制图的制作 控制图的判读控制图的判读 使用控制图的注意事项使用控制图的注意事项 常见的直方图形态常见的直方图形态SPC(Statistical Process Control)SPC(Statistical Process Control)统计过程控制,就是利用统计统计过程控制,就是利用统计技术对生产过程进行监控,通过检测数据的收集和分析,从而对生技术对生产过程进行监控,通过检测数据的收集和分析,从而对生产过程的异常及时告警,以便采
2、取措施及时消除异常,恢复过程的产过程的异常及时告警,以便采取措施及时消除异常,恢复过程的稳定,达到,达到保证和提高质量的目的。稳定,达到,达到保证和提高质量的目的。收集检测数据收集检测数据了解正常变异范围了解正常变异范围确定监控要素确定监控要素设定控制界限设定控制界限绘点判定是否出界绘点判定是否出界纠正异常纠正异常持续改进,缩小变异持续改进,缩小变异为了达到结果,我们应该把注意力放在为了达到结果,我们应该把注意力放在 Y Y上还是在上还是在X X上呢?上呢?如果在X上做得很好,那么产品的过程能力提高,成本下降,投诉减少。nYn 非非 独独 立立 的的n 输输 出出n 结结 果果n 症症 状状n
3、 监监 测测nX1 . . . XNn 独独 立立 的的n 过过 程程 输输 入入n 原原 因因n 问问 题题n 控控 制制波动总是存在的,波动是对称的波动总是存在的,波动是对称的钟形钟形结构。结构。对称的钟形结构,统计语言称之为对称的钟形结构,统计语言称之为正态分布正态分布。生产过程中产品质量特性服从正态分布。生产过程中产品质量特性服从正态分布。正态分布的形状不变,则合格品率稳定,过程受控。正态分布的形状不变,则合格品率稳定,过程受控。举例:举例:Nikon 1.5AS 厚度厚度 (1.4mm, +0.3 -0.2)1.201.401.70-6-5-4-3-2-10123456SIGMAUS
4、LLSL规格之上下限规格之上下限相对于目标规范发生变差的频相对于目标规范发生变差的频率率s sSIGMA (s s ) 是对离目是对离目标值偏离程度的度量标值偏离程度的度量超差的缺陷超差的缺陷过程位于目标规范的中过程位于目标规范的中心心样本样本1与样本与样本2,哪组数据稳定,为什么?,哪组数据稳定,为什么? 12 nXX序号样本1样本214.04.921.05.133.05.0410.04.857.05.2标准偏差标准偏差 :是偏差分散程度的度量指标。:是偏差分散程度的度量指标。平均5.005.00标准偏差3.540.16结论:结论:即便是平均值相同,即便是平均值相同, 越大,分散程度越大。越
5、大,分散程度越大。标准偏差标准偏差小小,意意味着过程稳定,数味着过程稳定,数据集中,波峰窄而据集中,波峰窄而高,缺陷少。高,缺陷少。GoodSSSSTCLUP66(上限规格)(下限规格)6(标准偏差)LCLUCLT 标准差X 平均数UCLLSL过程过程能力指数能力指数Cp: Cp: 过程的加工质量满足技术标准的能力过程的加工质量满足技术标准的能力。 双侧规双侧规格格标准差X 平均数单侧规单侧规格格UCL SXUCLCPU3(上限规格)(平均值)3(标准偏差) 上限规上限规格格LSL SLCLXCPL3(平均值)(下限规格)3(标准偏差) 下限规下限规格格SXSCUPu3(上限规格)(平均数)3
6、(标准偏差)X 平均数Cpl =X - Sl 3S =(平均数)- (下限规格) 3(标准偏差)CpkCpk= =min(Cpu,Cplmin(Cpu,Cpl) )CpkCpk: : 过程中心过程中心与允差中心与允差中心M M的偏移情况。的偏移情况。C pkC pk值的范围值的范围能力判断能力判断处处 置置Cpk1.67太佳太佳过程能力太好,可酌情缩小规过程能力太好,可酌情缩小规格或简化管理,降低成本。格或简化管理,降低成本。1.67Cpk1.33合格合格过程能力充分,继续维持。过程能力充分,继续维持。1.33Cpk1.0警告警告使过程保持在控制状态,否则使过程保持在控制状态,否则产品随时有发
7、生不合格品的可产品随时有发生不合格品的可能,需注意。能,需注意。1.0Cpk0.67不足不足产品有不合品产生,需全检,产品有不合品产生,需全检,应采取措施立即改善。应采取措施立即改善。0.67Cpk非常不足非常不足应采取紧急措施和全面检查,应采取紧急措施和全面检查,必要时调整规格或停工整顿。必要时调整规格或停工整顿。0.40.50.60.70.80.91.01.11.2LSLUSLOrma Crizal Rv - July.02USLTargetLSLMeanSample NStDev (ST)StDev (LT)CpCPUCPLCpkCpmPpPPUPPLPpkPPM USLPPM Tota
8、lPPM USLPPM TotalPPM USLPPM Total0.9500000.8000000.4500000.7960859400.05569340.06410181.500.922.070.921.301.300.801.800.80 0.009574.479574.47 0.002858.282858.28 0.038172.948172.97Process DataPotential (ST) CapabilityOverall (LT) CapabilityObserved PerformanceExpected ST PerformanceExpected LT Perfor
9、manceSTLT0.50.60.70.80.91.01.11.2LSLUSLOrma Crizal Rv - July.02USLTargetLSLMeanSample NStDev (ST)StDev (LT)CpCPUCPLCpkCpmPpPPUPPLPpkPPM USLPPM TotalPPM USLPPM TotalPPM USLPPM Total1.050000.800000.550000.796099400.05569340.06410181.501.521.471.471.301.301.321.281.28 0.001063.831063.83 4.97 2.57 7.54
10、61.78 37.30 99.08Process DataPotential (ST) CapabilityOverall (LT) CapabilityObserved PerformanceExpected ST PerformanceExpected LT PerformanceSTLT正常型正常型现象现象:中:中间间高,高,两旁两旁低,有集中低,有集中趋势趋势。结论结论:左右:左右对称对称分配(正分配(正态态分配),分配),显显示示过过程程运转运转正常正常。1.61.71.81.92.02.12.22.3LSLUSLOrma Trio (Dia:70,-3.00 0.00) May.2
11、002USLTargetLSLMeanSample NStDev (ST)StDev (LT)CpCPUCPLCpkCpmPpPPUPPLPpkPPM USLPPM TotalPPM USLPPM TotalPPM USLPPM Total2.300002.000001.700002.0358713850.05039870.06201451.981.752.221.751.401.611.421.811.42722.02 0.00722.02 0.00 0.08 0.08 0.03 10.26 10.29Process DataPotential (ST) CapabilityOverall
12、(LT) CapabilityObserved PerformanceExpected ST PerformanceExpected LT PerformanceSTLT离离岛岛型型现象现象:在右端或左端形成小:在右端或左端形成小岛岛。结论结论:测测量有量有错误错误,工序,工序调节错误调节错误或使用不同原料所或使用不同原料所引起。一定有异常原因存在,只要去除,就可引起。一定有异常原因存在,只要去除,就可满满足足过过程要求,生程要求,生产产出符合出符合规规格的格的产产品。品。1.01.11.21.31.41.51.61.71.8LSLUSL1.5 Nikon HMC (-2.75 0.00 Di
13、a:80) Apr.2002USLTargetLSLMeanSample NStDev (ST)StDev (LT)CpCPUCPLCpkCpmPpPPUPPLPpkPPM USLPPM TotalPPM USLPPM TotalPPM USLPPM Total1.700001.300001.200001.501114240.1044970.1134640.800.630.960.630.360.730.580.880.5828301.89 0.0028301.89 1978.8728498.9330477.80 3979.9139809.8443789.75Process DataPoten
14、tial (ST) CapabilityOverall (LT) CapabilityObserved PerformanceExpected ST PerformanceExpected LT PerformanceSTLT双双峰型峰型现象现象:有:有两个两个高峰出高峰出现现。结论结论:两个总体的数据混在一起,两个总体的数据混在一起,例如把两个工人加例如把两个工人加工的产品或两台设备加工的产品混为一批等。因工的产品或两台设备加工的产品混为一批等。因测量测量值不同的原因影值不同的原因影响响,应应先分先分层层后再作直方后再作直方图图。1.01.21.41.61.82.0LSLUSL1.5 Nik
15、on HMC (-1.25 0.00 Dia:80) Apr.2002USLTargetLSLMeanSample NStDev (ST)StDev (LT)CpCPUCPLCpkCpmPpPPUPPLPpkPPM USLPPM TotalPPM USLPPM TotalPPM USLPPM Total1.800001.500001.300001.6065712700.1109100.1264010.750.580.920.580.500.660.510.810.5116535.43 0.0016535.43 2853.9440574.6843428.62 7646.9662970.35706
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