长度计量第六章-角度及角位移测量分解优秀PPT.ppt
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1、 第六章第六章 角度及角位移测量角度及角位移测量本章主要内容本章主要内容:1.1.角度的量值传递系统及圆封闭原则角度的量值传递系统及圆封闭原则2.2.角度的各种测量方法角度的各种测量方法3.3.圆分度误差的测量和评价圆分度误差的测量和评价第一节第一节 概述概述一角度单位及量值传递一角度单位及量值传递角度单位:度(角度单位:度(),分(),分(),秒(),秒()和弧度)和弧度(rad)角度测量:角度测量:将被测角度与标准角度进行比较并确定被测角度将被测角度与标准角度进行比较并确定被测角度的量值。的量值。角度量值的传递过程:角度量值的传递过程:逐级用高精度角度标准检定低精度角度标准。逐级用高精度角
2、度标准检定低精度角度标准。二角度的自然基准和圆周封闭原则二角度的自然基准和圆周封闭原则自然基准:自然基准:360圆周角圆周角圆周封闭原则:整圆周上全部角间隔的误差之和圆周封闭原则:整圆周上全部角间隔的误差之和为零(圆周内误差封闭的原理为零(圆周内误差封闭的原理)三实物基准三实物基准实物基准:传统的角度实物基准是角度块规,后来是实物基准:传统的角度实物基准是角度块规,后来是以高精度等分以高精度等分360o的圆分度器件的圆分度器件.包括:高精度度盘、圆光栅、圆感应同步器、角编码包括:高精度度盘、圆光栅、圆感应同步器、角编码器、多面棱体、多齿分度盘器、多面棱体、多齿分度盘1.高精度度盘:常用于角度及
3、圆分度误差的静态测量。高精度度盘:常用于角度及圆分度误差的静态测量。2.圆光栅:光栅盘的辨别率多为圆光栅:光栅盘的辨别率多为10,20,用于用于动态测量。因其能自动瞄准读数,常用于高精度智动态测量。因其能自动瞄准读数,常用于高精度智能化仪器及加工机械中。能化仪器及加工机械中。3.圆感应同步器:包括激磁绕组(固定盘)和感应绕圆感应同步器:包括激磁绕组(固定盘)和感应绕组(动盘)两部分。由于抗干扰实力强,常用于加组(动盘)两部分。由于抗干扰实力强,常用于加工现场的测量。工现场的测量。4.角编码器:将角位置定义成数字代码的装置,运用便角编码器:将角位置定义成数字代码的装置,运用便利,但难以实现微小分
4、度。编码盘大多用光学玻璃制成利,但难以实现微小分度。编码盘大多用光学玻璃制成,上面有很多同心码道,每个码道上有很多透光和不透,上面有很多同心码道,每个码道上有很多透光和不透光的部分,它们相间排列。光的部分,它们相间排列。假如透光假如透光=1,不透光,不透光=0,那么光电接收器的信号可以用数码表示:那么光电接收器的信号可以用数码表示:0101-确定码确定码码盘的辨别力与码盘的码道数关系:码盘的辨别力与码盘的码道数关系:=360/2n如:如:3位编码器,辨别力为:位编码器,辨别力为:360/23=45o5.多面棱体:形态是正棱柱体,风光数:4、6、8、12、36、72以各工作面法线的夹角体现角度基
5、准,分度精度可达0.51。常用于检定安装后的分度器件。常与自准直仪等读数系统协作运用。应用于测量圆分度误差。多面棱体结构示意图多面棱体结构示意图1.被测度盘 2.多面棱体 3.工作台 4.自准直仪 5.读数显微镜 6.底座8图53 多齿分度盘结构示意图a)整体结构 b)弹性齿 c)刚性齿6.多齿分度盘:多齿分度盘:结构:上齿盘、下齿盘,直径、齿数、齿形相同齿数:360、720、1440原理:下齿盘固定不动,上齿盘抬起脱离啮合后,即可绕 其主轴旋 转;再次啮合,即可依据转过的齿数多少进行精确分度。特点:精度高,可达0.1”的分度精度。具有自动定心、操作简洁、寿命 长等优点。实现小辨别率分度值可接
6、受差动方式,照实实现小辨别率分度值可接受差动方式,照实现现 l l 的辨别率时的辨别率时上:上:3603606060/864=25/864=25,下:下:3603606060/900=24/900=24 。利用多齿分度盘测量角度块其次节其次节 单一角度尺寸的测量单一角度尺寸的测量v干脆测量干脆测量v1.1.测角仪(确定测量)测角仪(确定测量)v2.2.工具显微镜(确定测量)工具显微镜(确定测量)v3.3.自准直仪自准直仪 (相对测量)相对测量)v4.4.激光干涉小角度测量仪(相对测量)激光干涉小角度测量仪(相对测量)v间接测量间接测量v坐标测量坐标测量v平台测量平台测量v其他测量方法其他测量方
7、法 角度的干脆测量法:将被测角度与标准角度相比较而干脆确定其实际角度或偏差的方法。凡带有圆周角度刻度盘及其细分读数装置的量仪均可用做角度的干脆测量。如光学分度盘、圆光栅等,这些仪器大多接受自准直光管瞄准,也有少数仪器接受影象法瞄准或接受接触式瞄难。1.1.测角仪测角仪 测量范围:测量范围:角度量块、多面棱体、棱镜的角度、光楔的楔角度量块、多面棱体、棱镜的角度、光楔的楔角及平板玻璃两平面的平行度等。角及平板玻璃两平面的平行度等。用测角仪测量的工件一般用平行于被测角平用测角仪测量的工件一般用平行于被测角平面的端平面定位,且要求构成被测角的被瞄准面的端平面定位,且要求构成被测角的被瞄准平面具有较高的
8、反射率。平面具有较高的反射率。71.工作台 2.分度盘 3.主轴 4.自准直光管 5.读数显微镜 6.转臂7.平行光管8.底座9.工件手手动动旋旋转转自自动动读读数数 测角仪的瞄准方式示意图测角仪的瞄准方式示意图 测量时先用瞄准器瞄准被测件上组成被测角的第一个几何要素(可能是点、线、面)(如图中ABC所示位置),由读数装置读得读数1,然后使圆分度器件、主轴、工作台及被测件一起回转,直至瞄准器瞄准组成被测角的其次个几何要素(如图ABC所示位置),读得读数2。依据被测角的定义作简洁的数据处理,便可得被测角度值。2.工具显微镜工具显微镜v测量范围:测量范围:v 角度样板、螺纹的牙型角度样板、螺纹的牙
9、型角、齿条上的齿形角以及刀具角、齿条上的齿形角以及刀具锥柄的锥角等。接受影像法瞄锥柄的锥角等。接受影像法瞄准时,成像的平行光应与被测准时,成像的平行光应与被测角度所在平面垂直,必需正确角度所在平面垂直,必需正确调焦使轮廓影像清晰。由于对调焦使轮廓影像清晰。由于对线精度高于压线精度,所以,线精度高于压线精度,所以,用分划板上的米线瞄准角轮廓用分划板上的米线瞄准角轮廓时,接受如图所示的对线方法,时,接受如图所示的对线方法,即让米字虚线与轮廓边缘保持即让米字虚线与轮廓边缘保持一个狭窄光隙,以上光隙的宽一个狭窄光隙,以上光隙的宽度是否一样来推断是否对准。度是否一样来推断是否对准。影像法测角的瞄准影像法
10、测角的瞄准方法结构示意图方法结构示意图相对测量相对测量 单一角度的相对测量,是将被测角与角度块规或单一角度的相对测量,是将被测角与角度块规或其它角度基准进行比较,用小角度测量仪测得偏差值,其它角度基准进行比较,用小角度测量仪测得偏差值,小角度测量仪的示值范围较小,一般的为小角度测量仪的示值范围较小,一般的为1010,较大,较大的可至的可至30 30,也有更小的仅为,也有更小的仅为1 1。1.光学自准直仪光学自准直仪组成组成:体外反射镜、带有物镜组的光管部件、自准直测体外反射镜、带有物镜组的光管部件、自准直测微目镜部件。微目镜部件。原理:原理:自准直分化板自准直分化板2 2和测微分划板和测微分划
11、板5 5都位于物镜都位于物镜3 3的焦的焦平面上。光源平面上。光源1 1发出的光束照射自准直分划板发出的光束照射自准直分划板2 2,由物镜由物镜3 3将分划板像成至无穷远;经反射镜将分划板像成至无穷远;经反射镜 或工或工件表面反射后,自准直分划板件表面反射后,自准直分划板2 2的像有由物镜再的像有由物镜再次成像在目镜测微分划板次成像在目镜测微分划板5 5的刻划面上,用目镜的刻划面上,用目镜6 6可视察到自准直分划板像与测微分划板零位的相可视察到自准直分划板像与测微分划板零位的相对位置,由此可确定反射面对位置,由此可确定反射面4 4的法线与光轴的夹的法线与光轴的夹角。角。1.1.光源光源 2.2
12、.自准直分划板自准直分划板 3.3.物镜物镜 4.4.反射面反射面5.5.测微分划板测微分划板 6.6.目镜目镜v图图a a中,光源中,光源S S发出的光,照发出的光,照亮了位于物镜焦面上的分划亮了位于物镜焦面上的分划板,经物镜后成平行光束,板,经物镜后成平行光束,这样的简洁光学装置即平行这样的简洁光学装置即平行光管。垂直于光轴的反射镜光管。垂直于光轴的反射镜反射回来的平行光束通过物反射回来的平行光束通过物镜仍在分划板上的原来位置镜仍在分划板上的原来位置成一实象。这种现象称为成一实象。这种现象称为“自准直自准直”。v平行光管与反射镜即构成自准直光管(准直仪)平行光管与反射镜即构成自准直光管(准
13、直仪)v自准直法就是通过将被测量转换为反射镜的倾斜量进自准直法就是通过将被测量转换为反射镜的倾斜量进行测量的,如测量直线度、平面度误差。行测量的,如测量直线度、平面度误差。at t与与 角的关系为角的关系为:如图如图b所示,所示,当反射镜倾斜一当反射镜倾斜一 a角时,则按光的角时,则按光的反射定律,将在反射定律,将在分划板上距分划板上距O点点为为t的的O点成象,点成象,被测量就是通过被测量就是通过t反映出来的。反映出来的。测量时,使标准角度块和被测角度块的定位面处于测量时,使标准角度块和被测角度块的定位面处于同一位置定位,然后依次对构成标准角和被测角的另一同一位置定位,然后依次对构成标准角和被
14、测角的另一平面瞄准。若瞄准标准角度块时,调整自准直仪光轴的平面瞄准。若瞄准标准角度块时,调整自准直仪光轴的方位使读数为零,则瞄准被测角度块时的读数即为被测方位使读数为零,则瞄准被测角度块时的读数即为被测角相对于标准角的偏差值。角相对于标准角的偏差值。2.激光小角度测量仪激光小角度测量仪测量原理:测量原理:测量被测角与标准角的微小差角的对边测量被测角与标准角的微小差角的对边 ,然后,然后应用正弦原理求出这个微小的差角。应用正弦原理求出这个微小的差角。上式中的上式中的R是仪器的设计值。该仪器设计接受了两次是仪器的设计值。该仪器设计接受了两次光学倍频,实现了光学倍频,实现了8细分,在后续处理电路中实
15、现了电学细分,在后续处理电路中实现了电学4细分,共实现细分,共实现32细分细分瞄准:接受白光双光束瞄准:接受白光双光束干涉瞄准干涉瞄准白光光源发出的光,经白光光源发出的光,经准直透镜后成为平行光,准直透镜后成为平行光,由分光镜由分光镜H H分为两束,经分为两束,经反射镜反射镜M1M1,M2M2透到工件透到工件表面,并被工件返回,表面,并被工件返回,在交会处产生干涉条纹;在交会处产生干涉条纹;一边调整工件方位,一一边调整工件方位,一边用调焦望远镜视察干边用调焦望远镜视察干涉条纹直到零级黑色条涉条纹直到零级黑色条纹出现为止。纹出现为止。二、角度和锥度的间接测量法 在有的状况下对角(锥)度的干脆测量
16、很不便利或难以达到测量精度的要求时,就要接受间接测量的方法。角(锥)度的间接测量,是干脆测量与该角(锥)度有关的若干长度量,再通过它们之间的函数关系计算得到被测角(锥)度。(一)坐标测量 凡是带有二维或三维坐标测量装置的测长仪器,均可实现凡是带有二维或三维坐标测量装置的测长仪器,均可实现平面角度的坐标测量,而一维测长仪器一般仅用于后述的平平面角度的坐标测量,而一维测长仪器一般仅用于后述的平台测量。台测量。由于长度测量可以达到很高精度,所以间接测角方法要比由于长度测量可以达到很高精度,所以间接测角方法要比一般测角方法精度更高,这在小角度测量时表现的更为突出。一般测角方法精度更高,这在小角度测量时
17、表现的更为突出。三坐标测量机测量外锥体锥三坐标测量机测量外锥体锥度度 测量时应尽可能选择靠近锥测量时应尽可能选择靠近锥体两端的横截面体两端的横截面A A、B B为测量截面,为测量截面,即使轴向间距即使轴向间距L L尽可能的大,每尽可能的大,每个截面上各测三点坐标个截面上各测三点坐标(x1(x1,y1,y1,z1)z1)、(x2 (x2,y2y2,z2)z2)、(x3,(x3,y3,z3)y3,z3)、(x4,y4,z4)(x4,y4,z4)、(x5(x5,y5,z5)y5,z5)、(x6,y6,z6)(x6,y6,z6)求得直径求得直径d dA A和和d dB B,则锥体的锥度,则锥体的锥度又
18、可用下式求得又可用下式求得双坐标测量仪测量内锥双坐标测量仪测量内锥锥度锥度 在工具显微镜上,在工具显微镜上,用光学灵敏杠杆测孔径用光学灵敏杠杆测孔径的方法可测得内锥体的的方法可测得内锥体的锥度,测量原理如图所锥度,测量原理如图所示。将锥体在工作台上示。将锥体在工作台上定位,且必需锥孔大端定位,且必需锥孔大端朝上。先在靠近大端处朝上。先在靠近大端处测得直径测得直径D1D1,再在被测,再在被测锥的下面垫上尺寸为锥的下面垫上尺寸为H H的的量块,并保持测头纵向量块,并保持测头纵向位置不变,测得靠近锥位置不变,测得靠近锥体小端处的截面直径体小端处的截面直径D2D2,则所测内锥的锥度即,则所测内锥的锥度
19、即为为 (二二)平台测量平台测量 平台测量一般是利用通用的量具平台测量一般是利用通用的量具量仪量仪(千分尺、卡尺、百分表、比较仪等千分尺、卡尺、百分表、比较仪等)、长度基准长度基准(量块量块)、协助量具、协助量具(平板、平尺、直平板、平尺、直角尺、正弦规等角尺、正弦规等)和其它辅具和其它辅具(圆柱、心轴等圆柱、心轴等)来测量零件的长度尺寸和角度尺寸。由于测来测量零件的长度尺寸和角度尺寸。由于测量在作为测量基准的平板上进行,因此称为量在作为测量基准的平板上进行,因此称为平台测量。平台测量。1 1用标准圆柱测量内燕尾槽的斜角用标准圆柱测量内燕尾槽的斜角 可用两对不等直径或一对相等直径标准可用两对不
20、等直径或一对相等直径标准圆柱测量。圆柱测量。用用两对不等直径圆柱测量时,将半径为两对不等直径圆柱测量时,将半径为r r1 1和和r r2 2的圆柱先后塞进燕尾槽内,并紧靠燕的圆柱先后塞进燕尾槽内,并紧靠燕尾槽两内斜面,用量块组试塞的方法确定或尾槽两内斜面,用量块组试塞的方法确定或用测孔径量具测定圆柱间的间距用测孔径量具测定圆柱间的间距M1M1和和M2M2,内,内燕尾槽的斜角燕尾槽的斜角a a可由下式确定可由下式确定 用一对等径圆柱测量时,先测出用一对等径圆柱测量时,先测出M1M1,再,再在两圆柱下垫上尺寸为在两圆柱下垫上尺寸为a a的量块,测出的量块,测出M2M2,则内燕尾槽的斜角则内燕尾槽的
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