过程能力与测量系统分析.pptx
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1、过程能力过程能力与与测量系统分析测量系统分析厦门厦门TTETTE总经理室:赖炳和总经理室:赖炳和目录目录一一.过程能力分析过程能力分析二二.测量系统分析测量系统分析一.过程能力分析一、基本概念一、保证产品质量的基础工作;二、提高过程能力的有效手段;三、找出产品质量改进的方向;四、向客户证明加工过程能力。进行过程能力分析的意义过程能力有关的几个统计量42STc/S,d/R1.sigma()-短期制程:长期制程:2.Cp(Cpu Cpl ):- Pp3.Cpk:-Ppk2121)(11(NiiLTN,6LslUslPp,6LslUslCpLTSTLslUslT,2/Tk),k1 (*CpCpkLs
2、lUslT,2/Tk),k1 (*PpPpkSTST3LslCpl,3UslCpu二、过程能力指数的计算一 计量值 1 双侧规格界限 (1)无偏 (2)有偏 2 单侧规格界限 (1)仅给出规格上限TU (2)仅给出规格下限TL计量值6TCpP1P2LslUslf(x)T 不合格品率估计: 注:查标准正态函数分布表可得 )(NORMSDIST)(NORMSDIST2LslUslp根据某工序加工零件的测试数据计算得出, =6.5,=0.0055,规格要求为 。试求该工序的过程能力指数及不良品率。015.0015.05.6)909. 03(NORMSDIST2)C3(NORMSDIST2p909.
3、00055. 06030. 06TC5 . 6pp006394. 0003197. 02)727. 2(NORMSDIST2xf(x)有偏时过程能力指数与不合格品率有偏时过程能力指数与不合格品率e12eLslUslP1P2T(2)(2)有偏有偏规格中心规格中心与分布中心与分布中心 不重合不重合xeTe22Tek6T)k1 (C)k1 (Cppk6e2T6TeT26TCpk(2)(2)有偏有偏规格中心规格中心与分布中心不重合与分布中心不重合)3LSL,3USL(MinCpk 测试一批零件外径尺寸的平均值 =19.0101 s=0.0143,规格要求为 ,试计算过程能力指数并估计不合格品率解:由题
4、意: 计算cpk 04.003.0190101.19x005.192LslUsl04.19Usl97.18Lsl 07. 0T7.0816.0)145.01(C)k1(C816.00143.0607.0C145.007.00101.19005.192k70.00143.060051.0207.0S6e2TC0051.00101.19005.19xeppkppk由由C Cp p=0.816=0.816,k k=0.145=0.145查表得不良品率估计约为查表得不良品率估计约为2.09%2.09%2.46%2.46% 3UslCpuUslUslx1.仅有规格上限(仅有规格上限(Tu) 11.124
5、.032.70713USLCpu(2)(2)仅有规格下限(仅有规格下限(TlTl) 计算公式: 3LslCplf(x)TLx-TL例3 要求零件淬火后的硬度HRC 71,实测数据后计算得 HRC 73;S1,试计算过程能力指数Cpk 解:67.01371733LslCplx三、计数值1.从从DPMO到到 ()水平水平DPMO是基于下面的参数计算到:(1)D=缺陷数(2)O=单位缺陷数(3)U=单位数(4)DPMO=D/(U*O)*10 例:计算出过程DPMO=320PPM查正态分布表可得Z=3.59及为3.59 ()水平水平6四、制程不良率PPM推算XUSLxLSL正态分布(,)Z2=3Cpu
6、查标准正太分布右边机率表及为单边不良率P1%Z1=3Cpl查标准正太分布右边机率表及为单边不良率P2%不良率不良率(总总)=P1%+P2%不良率不良率(总总)=P1%+P2%Z1=3* 五、长期过程能力指数一、长期过程能力(Process Performance ) 1.前面的短期制程能力研究主要是用于: 验证过程生产的产品是否符合客户要求; 验证一个新过程或经过调整的过程是否已符合生产要求; 2.而长期过程能力研究与短期研究差异: 不要过程稳定; 标准差的计算方式不同; Pp=(USL-LSL)/6LT Ppk=min(USL-u,u-LSL)/3LT Ppu=(USL-u)/3LT Ppl
7、=(u-LSL)/3LT 六、目标能力指数Cpm2m26LSLUSLCPm 七、过程能力的评价与处理工艺方面(method): 如工艺流程的安排,过程之间的衔接,工艺方法、工艺装备、工艺参数、过程加工的指导文件、工艺卡、操作规范、作业指导书等;测量方面(measure): 如测量仪器的精度、稳定性、测量者的读数习惯、测量方法等等都会对结论的形成产生一定的影响;环境方面(environment):如生产现场的温度、湿度、噪音干扰、振动、照明、室内净化、现场污染程度等等。影响过程能力的因素K CP提高过程能力指数的途径)2/TX1(6T)k1(*CpCpkX应以制造单位为主,技术为副,品管为辅应以
8、技术单位为主,制造为副,品管为辅以上均不能有效解决时,为提高良品率降低质量成本时才加以考虑二.测量系统分析测量系统分析的目的 测量系统分析的目的是确定所使用的数据是否可靠 测量系统分析还可以: 评估新的测量仪器 将两种不同的测量方法进行比较 对可能存在问题的测量方法进行评估 确定并解决测量系统误差问题过程变差剖析长期过程变差短期抽样产生的变差实际过程变差稳定性线性重复性重复性 准确度 量具变差操作员造成的变差测量误差过程变差观测值“重复性” 和 “再现性” 是测量误差的主要来源再现性再现性过程变差重复性和再现性重复性和再现性 精确性描述了测量系统的偏差 可重复性偏差由量具本身造成;(测量系统内
9、部变差) 可再现性偏差由测量者的技巧造成;(测量系统之间或条件之间的变差)测量系统误差=重复性+再现性 重复性重复性指同指同一一 人使用同一测量工具对同一对人使用同一测量工具对同一对象(产品)的同一特性进行多次测量中产生的变象(产品)的同一特性进行多次测量中产生的变差,用于估计短期的变差差,用于估计短期的变差Master Value精确度:重复性精确度:重复性重重 复复 性性重复性重复性重复性重复性重复性重复性造成重复性的可能原因 零件内部(抽样样本):形状、位置、表面光度、锥度、样本的一致性 仪器内部:维修、磨损、设备或夹具的失效、质量或保养不好 标准内部:质量、等级、磨损 方法内部:作业准
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