测量系统分析(MSA)培训.pptx

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1、质量统计工具质量统计工具测量系统分析测量系统分析(MSA)(MSA)培训培训制造管理部质量室2013年12月10日目录目录2测量系统基础知识测量系统基础知识一一测量系统基本要求测量系统基本要求二二一一计数型测量系统分析计数型测量系统分析四四一一计量型测量系统分析计量型测量系统分析三三3测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一4( (一一).).测量测量的重要性的重要性PROCESSPROCESS原料原料人人机机 法法环环测量测量测量测量结果结果合格合格不不合格合格测量PROCESSPROCESS原料原料人人机机 法法环环测量测量测量测量结果结果合格合

2、格不不合格合格测量PROCESSPROCESS原料原料人人机机 法法环环测量测量测量测量结果结果合格合格不不合格合格 如果测量出现问题，那么合格的产品可能被判为不合格，不合格的产品可能被判为合格，此时便不能得到真正的产品或过程特性。 因此，要保证测量结果的准确性和可信度。因此，要保证测量结果的准确性和可信度。测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一5( (二二).).测量误差测量误差测量误差Y = x +Y = x + 测量值 = 真值(True Value)+ 测量误差戴明說沒有真值的存在一致测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一6( (三三).).测量误差的来源测量误差的来源测量误差

3、1.1.分辨能力（分辨率）分辨能力（分辨率）2.2.精密度精密度 (重复性重复性)3.3.准确度准确度 (偏差偏差)4.4.损坏损坏5.5.不同仪器与夹具间的差异不同仪器与夹具间的差异6.6.不同使用人员间的差异不同使用人员间的差异(再现性再现性)7.7.使用不同方法造成的差异使用不同方法造成的差异8.8.不同环境所造成的差异不同环境所造成的差异测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一7( (四四).).测量的变异说明测量的变异说明测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一8( (五五).).为什么进行测量系统分析为什么进行测量系统分析 即使量具经过检定或校准，由于人、机、料、法、环、测等即

4、使量具经过检定或校准，由于人、机、料、法、环、测等六方面（六方面（5M1E）的原因，会带来测量误差。）的原因，会带来测量误差。 检测设备的检定或校准不能满足实际测量的需要。检测设备的检定或校准不能满足实际测量的需要。 因此，还需要对测量系统进行评价，分析测量结果的变差，因此，还需要对测量系统进行评价，分析测量结果的变差，从而确定测量系统的质量，以满足测量的需要。从而确定测量系统的质量，以满足测量的需要。 满足满足QS9000、ISO/TS16949标准的要求：标准的要求： ISO/TS16949:2009标准标准7.6.1规定：规定：为分析出现在各为分析出现在各种测量和试验设备系统测量结果的变

5、差，必须进行适当的统种测量和试验设备系统测量结果的变差，必须进行适当的统计研究。此要求必须适用于在控制计划中提及的测量系统。计研究。此要求必须适用于在控制计划中提及的测量系统。这些分析方法以及接收准则的使用必须符合顾客的测量系统这些分析方法以及接收准则的使用必须符合顾客的测量系统分析参考手册。分析参考手册。采用其他的分析方法和接受准则必须获得顾采用其他的分析方法和接受准则必须获得顾客的批准。客的批准。测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一9( (六六).). 测量系统分析的目的测量系统分析的目的运用统计分析方法，确定测量系统测量结果的变运用统计分析方法，确定测量系统测量结果的变差（测量误差

6、），了解变差的来源。差（测量误差），了解变差的来源。确定一个测量系统的质量，并且为测量系统的改确定一个测量系统的质量，并且为测量系统的改进提供信息。进提供信息。保证所用统计分析方法及判定准则的一致性。保证所用统计分析方法及判定准则的一致性。测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一10( (九九).). 测量系统分析的基本知识和概念测量系统分析的基本知识和概念1.1.术语术语测量测量：赋值给具体事物以表示他们之间的关系。：赋值给具体事物以表示他们之间的关系。而赋予的值定义为而赋予的值定义为测量值测量值。 量具量具：任何用来获得测量结果的：任何用来获得测量结果的装置装置，经常用来，经常用来特指用

7、在车间的装置，包括用来测量合格不合特指用在车间的装置，包括用来测量合格不合格的装置。格的装置。测量系统测量系统：用来对被测量特性赋值的操作、程序、：用来对被测量特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及操作人员的量具、设备、软件以及操作人员的集合集合。 测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一112.2.测量系统的组成测量系统的组成测量测量系统系统人人机机料料法法环环操作人员操作人员量具量具/ /测量设备测量设备/ /工装工装被测的材料被测的材料/ /样品样品/ /特性特性操作方法、操作程序操作方法、操作程序工作的环境工作的环境测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一103.3.测量系统的

8、统计特征测量系统的统计特征通常使用测量数据的统计特性来衡量测量系统的质量：通常使用测量数据的统计特性来衡量测量系统的质量：nDiscrimination 分辨力(ability to tell things apart) ;nBias 偏倚;nRepeatability 重复性;nReproducibility再现性 ;nLinearity 线性 ;nStability 稳定性 。测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一134.4.分辨力（率）分辨力（率）定义：指测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。定义：指测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。传统是公差范围的十分之一。

9、建议的要求是总过程传统是公差范围的十分之一。建议的要求是总过程6 6(标准偏差标准偏差) )的的十分之一。十分之一。T1030测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一14分辨力（率）分辨力（率）分辨率差分辨率差分辨率好分辨率好测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一155.5.偏倚偏倚( (Bias)Bias)：基准值观测平均值 偏倚偏倚偏倚：是测量结果的观测观测平均值平均值与基准值基准值的差值。基准值的取得可以通过采用更高级别的测量设备进行多次测量，取其平均值来确定。 测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一166.6.重重复复性性( (RepeatabilityRepeatabili

10、ty重复性重复性：重复性：是由是由一个一个评价人，采用评价人，采用同一种同一种测量仪器，多次测量测量仪器，多次测量同一同一零件的零件的同一同一特性时获得的测量值特性时获得的测量值变差。变差。 （4 4同）同）测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一17 重复性不好的可能原因包括重复性不好的可能原因包括： 零件（样品）内容：形状、位置、表面加工、锥度、样品一致性；零件（样品）内容：形状、位置、表面加工、锥度、样品一致性； 仪器内部：修理、磨损、设备或夹紧装置故障，质量差或维护不当；仪器内部：修理、磨损、设备或夹紧装置故障，质量差或维护不当； 基准内部：质量、级别、磨损；基准内部：质量、级别、磨

11、损； 方法内部：在设置、技术、零位调整、夹持、夹紧、点密度的变差；方法内部：在设置、技术、零位调整、夹持、夹紧、点密度的变差； 评价人内部：技术、职位、缺乏经验、操作技能或培训、感觉、疲劳；评价人内部：技术、职位、缺乏经验、操作技能或培训、感觉、疲劳； 环境内部：温度、湿度、振动、亮度、清洁度的短期起伏变化；环境内部：温度、湿度、振动、亮度、清洁度的短期起伏变化； 违背假定违背假定稳定、正确操作；稳定、正确操作； 仪器设计或方法缺乏稳健性，一致性不好；仪器设计或方法缺乏稳健性，一致性不好； 应用错误的量具；应用错误的量具； （量具或零件）变形，硬度不足；（量具或零件）变形，硬度不足； 应用应用

12、 零件尺寸、位置、操作者技能、疲劳，观察误差（易读性、视零件尺寸、位置、操作者技能、疲劳，观察误差（易读性、视 差）。差）。 测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一187.7.再现性再现性( (ReproducibilityReproducibility）：）：测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一19 再现性差的潜在的原因包括：再现性差的潜在的原因包括： 零件（样品）之间：使用同样的仪器、同样的操作者和方法时，当测量零件（样品）之间：使用同样的仪器、同样的操作者和方法时，当测量 零件的类型为零件的类型为A A、B B、C C时的均值差。时的均值差。 仪器之间：同样的零件、操作者和环境

13、，使用仪器仪器之间：同样的零件、操作者和环境，使用仪器A A、B B、C C等的均值差。等的均值差。 注意：在这种研究情况下，再现性错误常与方法和注意：在这种研究情况下，再现性错误常与方法和/ /或操作者混淆。或操作者混淆。 标准之间：测量过程中不同的设定标准的平均影响标准之间：测量过程中不同的设定标准的平均影响 方法之间：改变点密度，手动与自动系统相比，零点调整，夹持或夹紧方法之间：改变点密度，手动与自动系统相比，零点调整，夹持或夹紧 方法等导致的均值差。方法等导致的均值差。 评价人（操作者）之间：评价人评价人（操作者）之间：评价人A A、B B、C C等的训练、技术、技能和经验等的训练、技

14、术、技能和经验 不同导致的均值差。对于产品及过程资格以及一台手动测量仪器，推荐不同导致的均值差。对于产品及过程资格以及一台手动测量仪器，推荐 进行此研究。进行此研究。 环境之间：在第环境之间：在第1 1、2 2、3 3等时间段内测量，由环境循环引起的均值差。等时间段内测量，由环境循环引起的均值差。 这是对较高自动化系统在产品和过程资格中最常见的研究。这是对较高自动化系统在产品和过程资格中最常见的研究。 违背研究中的假定。违背研究中的假定。 仪器设计或方法缺乏稳健性。仪器设计或方法缺乏稳健性。 操作者训练效果。操作者训练效果。 应用应用 零件尺寸、位置、观察误差（易读性、视差）。零件尺寸、位置、

15、观察误差（易读性、视差）。 测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一208.8.稳定性（稳定性（StabilityStability）：）：稳定性 时间1时间2稳定性稳定性：是测量系统在某持续时间持续时间内测量同一同一基准或零件的相同相同特性时获得的测量值的总变差。测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一219.9.线性（线性（LinearityLinearity） ：线性线性是在量具预期的工作范围内，偏倚值的差值：是在量具预期的工作范围内，偏倚值的差值： 可以用整个仪器量程范围内的偏移之差（或偏差）的量度可以用整个仪器量程范围内的偏移之差（或偏差）的量度来度量样本的线性度。如果偏移在整个

16、量程范围内不变，则具来度量样本的线性度。如果偏移在整个量程范围内不变，则具有很好的线性度。有很好的线性度。测量系统分析基础知识测量系统分析基础知识一229.9.线性（线性（LinearityLinearity） ：23测量系统分析基本要求测量系统分析基本要求二测量系统分析基本要求测量系统分析基本要求二24( (一一).).测量系统的分析测量系统的分析 测量系统的变差类型：测量系统的变差类型： 偏倚、重复性、再现性、稳定性、线性偏倚、重复性、再现性、稳定性、线性 测量系统特性可用下列方式来描述测量系统特性可用下列方式来描述 ： 位位 置置：稳定性、偏倚、线性稳定性、偏倚、线性。 宽度或范围：宽度

17、或范围：重复性、再现性。重复性、再现性。 25( (二二).). 测量系统的要求测量系统的要求准确度准确度Accuracy精确度精确度Precision测测量量系统基本要求系统基本要求 +线性线性 （LinearityLinearity）偏倚（偏倚（BiasBias） 稳定性（稳定性（StabilityStability） 重复性（重复性（RepeatabilityRepeatability） 再现性（再现性（ReproducibilityReproducibility） 位置宽度测量系统分析基本要求测量系统分析基本要求二261.1.位置与宽度位置与宽度位置1寬度1位置2寬度2标准值测量系统分

18、析基本要求测量系统分析基本要求二272.2.准确度与精确度准确度与精确度准确度：准确度：描述了测量值和真实值之间的差异。精确度：精确度：描述了使用同一工具重复测量相同部件时存在的差异。既“不准确”也“不精确”“准确”但“不精确” “精确”但“不准确”“准确”且“精确”测量系统分析基本要求测量系统分析基本要求二283.3.理想的测量系统理想的测量系统理想的测量系统在每次使用时：应只产生“正确”的测量结果。每次测量结果总应该与一个标准值相符。一个能产生理想测量结果的测量系统，应具有零方差、零偏倚和所测的任何产品错误分类为零概率的统计特性。 测量系统分析基本要求测量系统分析基本要求二294.4.测量

19、系统应具有的特性测量系统应具有的特性测量系统必须处于测量系统必须处于统计控制统计控制中中，这意味着测量系统中的变，这意味着测量系统中的变差只能是由于普通原因而不是由于特殊原因造成的。这可差只能是由于普通原因而不是由于特殊原因造成的。这可称为统计稳定性称为统计稳定性； 测量系统的变异必须比制造过程的变异小测量系统的变异必须比制造过程的变异小； 变异应小于公差带变异应小于公差带； 测量精密应高于过程变差和公差带两者中精度较高者，一测量精密应高于过程变差和公差带两者中精度较高者，一般来说，般来说，测量精度是过程变异和公差带两者中精度较高者测量精度是过程变异和公差带两者中精度较高者的十分之一；的十分之

20、一； 测量系统统计特性可能随被被测项目的改变而变化。若真测量系统统计特性可能随被被测项目的改变而变化。若真的如此，的如此，则测量系统的最大的变差应小于过程变差和公差则测量系统的最大的变差应小于过程变差和公差带两者中的较小者。带两者中的较小者。 测量系统分析基本要求测量系统分析基本要求二305.5. 影响测量系统的原因影响测量系统的原因 普通原因：造成变差的一个原因，它影响被研究过程输出的所有单普通原因：造成变差的一个原因，它影响被研究过程输出的所有单 值，在控制图分析中，它表现为随机过程变差的一部分。亦称为：值，在控制图分析中，它表现为随机过程变差的一部分。亦称为： 不可避免的原因、非人为的原

21、因、共同性原因、一般性原因、偶然不可避免的原因、非人为的原因、共同性原因、一般性原因、偶然 原因、机遇原因等。它是属于控制状态的变异。原因、机遇原因等。它是属于控制状态的变异。 过程中只有普通原因的变差。如果仅存在变差的普通原因，随着过程中只有普通原因的变差。如果仅存在变差的普通原因，随着 时间的推移，过程的输出形成一个稳定的分布并可预测。时间的推移，过程的输出形成一个稳定的分布并可预测。测量系统分析基本要求测量系统分析基本要求二31 特殊原因特殊原因：一种间断性的、不可预计的、不稳定的变差根源，有时候：一种间断性的、不可预计的、不稳定的变差根源，有时候 被称为可查明原因。存在它的信号是：存在

22、超过控制限的点或存在控被称为可查明原因。存在它的信号是：存在超过控制限的点或存在控 制限之内的链或其它非随机性的图形。亦称为：可避免的原因、人为制限之内的链或其它非随机性的图形。亦称为：可避免的原因、人为 的原因、局部性原因、非机遇原因等。不可让它存在，必须追查原的原因、局部性原因、非机遇原因等。不可让它存在，必须追查原 因，采取必要的行动和措施，使过程恢复正常控制状态，否则会造成因，采取必要的行动和措施，使过程恢复正常控制状态，否则会造成 很大的损失。很大的损失。 过程中有特殊原因的变差。如果存在变差的特殊原因，随着时间过程中有特殊原因的变差。如果存在变差的特殊原因，随着时间 的推移，过程的

23、输出不稳定。的推移，过程的输出不稳定。 测量系统分析、控制的原因就是要消除特殊特殊原因引起的变差。测量系统分析、控制的原因就是要消除特殊特殊原因引起的变差。测量系统分析基本要求测量系统分析基本要求二326.6. 测量系统中数据类型：测量系统中数据类型： 计量型数据（计量型数据（Variable dataVariable data） 指定量的数据，可用测量值来分析。例如：用毫米表示的轴指定量的数据，可用测量值来分析。例如：用毫米表示的轴 承轴颈直径、用牛顿表示关门的力、用百分数表示电解液的承轴颈直径、用牛顿表示关门的力、用百分数表示电解液的 浓度、用牛顿浓度、用牛顿米表示紧固件的力矩、米表示紧固

24、件的力矩、X-RX-R图、图、X-SX-S、中位、中位 数、单值和移动极差控制图数、单值和移动极差控制图等都用于计量型数据。等都用于计量型数据。 计数型数据（计数型数据（Attribute dataAttribute data） 可以用来记录和分析的定性数据。例如：要求的标签出现、可以用来记录和分析的定性数据。例如：要求的标签出现、 所有要求的紧固件安装、经费报告中不出现错误等特性量即所有要求的紧固件安装、经费报告中不出现错误等特性量即 为计数型数据的例子。其它的例子如一些本来就可测量（即为计数型数据的例子。其它的例子如一些本来就可测量（即 可以作为计量型数据处理）只是其结果用简单的可以作为计

25、量型数据处理）只是其结果用简单的“是是/ /否否” 的形式来记录，例如：用通过的形式来记录，例如：用通过/ /不通过量具来检验一根轴的不通过量具来检验一根轴的 直径的可接受性，或一张图样上任何设计更改的出现，计数直径的可接受性，或一张图样上任何设计更改的出现，计数 型数据通常以不合格品或不合格的形式收集，它们通过型数据通常以不合格品或不合格的形式收集，它们通过P P、 npnp、U U和和C C控制图控制图来分析。来分析。 测量系统分析基本要求测量系统分析基本要求二33计量型测量系统分析计量型测量系统分析三34( (一一).).数据法研究数据法研究“双性双性”：重复性和再现性：重复性和再现性计

26、量型测量系统分析计量型测量系统分析三1.1.作业步骤：作业步骤： 1 1）作业准备）作业准备（1）确定M名操作者A、B、C，选定N个被测零件，按1、2、，编号。被选定零件尽可能反映整个过程的变差。（2）测取数据：A以随机顺序测取所有数据并记录之，B、C在不知他人测量结果的前提下，以同样方法测量各零件的数据并记录之。（3）再以随机顺序重复上述测量r次(如23次)35计量型测量系统分析计量型测量系统分析三2 2）数据处理）数据处理- -极差计算极差计算(1)分别计算每个操作者对各个零件进行r次测量的极差Raj , Rbj , Rcj ; j =1,2,., N ;(2)计算每个操作者的平均极差Ra

27、 , Rb , Rc ,., Rm ;(3)总平均极差R（Ra + Rb + . + Rm ) / M ;(4)计算控制限UCLR =RD4LCLR =RD3D3，D4 可根据试验次数r查表，当r 7时，D3 =0。363 3）数据处理）数据处理- -均值计算均值计算计量型测量系统分析计量型测量系统分析三jjPDIEFMcbaN21AMCBAjjjjjjjjjMinXMaxXR与最小 值最小值之差求各零件均值各零件均(6)MinXMaxXX最小 值小值之差，求各人均值各人均值中(5)X.XXX(M1总均值(4)A.A(AN1X例如X,.,X,X,X值求出各人所有零件的均(3)M.CB(AM1X

28、值求出所有人各零件的均(2)M,.,C,B,A求出各人各零件的均值(1)374 4）数据分析）数据分析计量型测量系统分析计量型测量系统分析三以下计算的变差均以以下计算的变差均以99%99%的正态概率为基础，的正态概率为基础，即变差即变差5.155.15 重复性重复性设备变差（设备变差（EV） EVRK1当试验次数：r2，K14.45 r3，K13.05382.2.重复性示例重复性示例计量型测量系统分析计量型测量系统分析三393.3.再现性分析再现性分析计量型测量系统分析计量型测量系统分析三再现性评价人变差（再现性评价人变差（AVAV） AV AV （X XDIFF DIFF K K2 2）2

29、2（EVEV2 2 /nr/nr）2 2 其中，当评价人其中，当评价人 m = 2m = 2人时，人时， K K2 2 0.70710.7071 当评价人当评价人 m = 3m = 3人时，人时， K K2 2 0.52310.5231 n n 为零件数，为零件数，r r为试验次数。为试验次数。 若根号内为负值，则若根号内为负值，则 AV AV 缺省为缺省为 0 0。40计量型测量系统分析计量型测量系统分析三再现性示例再现性示例414.4.零件间变差（零件间变差（PVPV）计量型测量系统分析计量型测量系统分析三零件间变异：是指同一人或不同人使用同一量具测量不同零件之相同特性所得之变异。PV =

30、 Rp K3其中:Rp为样品的平均值极差,K3=5.15/d2注:d2取决于零件数(n)当n=10时,d2=1.72(每件测3次）42零件间变差（零件间变差（PVPV）示例：）示例：计量型测量系统分析计量型测量系统分析三43计量型测量系统分析计量型测量系统分析三常用参数表常用参数表d2445.5.测量系统的双性：测量系统的双性：计量型测量系统分析计量型测量系统分析三 测量系统双性（测量系统双性（GRRGRR或或R&RR&R） R&R R&R （EVEV）2 2 （AVAV）2 2 总变差(TV) TV （R&R）2 （PV）2各变差占总变差的百分比各变差占总变差的百分比 % AV = AV /

31、 TV 100% % R&R = R&R / TV 100% % PV = PV / TV 100% % EV = EV / TV 100%计算数据分级数（计算数据分级数（ndc） 分级数（分级数（ndc） = 1.41 PV / R&R ndc 取整数，且必须取整数，且必须 5。可区分的类别数可区分的类别数45计量型测量系统分析计量型测量系统分析三样本容量A2D3D421.88003.26731.02302.57540.72902.28250.57702.11560.48302.00470.4190.0761.92480.3730.1361.86490.3370.1841.816100.30

32、80.2231.777110.2850.2561.744120.2660.2841.716130.2490.3081.692140.2350.3291.672150.2230.3481.652控控 制制 常常 数数 图图 量具量具GR&R/R&RGR&R/R&R分析方法分析方法466. %GRR6. %GRR或或%R%RR R接受准则接受准则计量型测量系统分析计量型测量系统分析三 a a）、）、%R%RR10%R测量值随测量值随OP的变动的变动测量值随部品的变测量值随部品的变动动对于部品对于部品10，OP有较大分有较大分歧；歧；所有点落在管理界限内所有点落在管理界限内良好良好大部分点落在管理界

33、限外大部分点落在管理界限外主变动原因：部品变动主变动原因：部品变动良好良好605.5.再看一个案例：再看一个案例：计量型测量系统分析计量型测量系统分析三1）现在有以下一组数据，将其填入MINITABLE表格61计量型测量系统分析计量型测量系统分析三2）数据处理将数据填入填入后选择数据叠加列62计量型测量系统分析计量型测量系统分析三将将C1至至C10选择为叠加列选择为叠加列堆叠数据选择储存在当前工作表堆叠数据选择储存在当前工作表将储存的列将储存的列3）数据堆叠63计量型测量系统分析计量型测量系统分析三4）填入操作次数将零件号储存于C13列有1到10十个样品零件，步长为1每个零件被检测了9次64计

34、量型测量系统分析计量型测量系统分析三5）图表输出结果：65计量型测量系统分析计量型测量系统分析三6）分析： Gage R&R, 重复性重复性, 再现再现性性 的高度越接近的高度越接近 0 越好。即越好。即表明表明: 测试系统产生的误差测试系统产生的误差很小。很小。A.变异分量分析：66计量型测量系统分析计量型测量系统分析三 尽量多超过管理界限为好。尽量多超过管理界限为好。 要是超过要是超过R ChartR Chart的界限，就得的界限，就得调查其原因，调查其原因， 并重新测定。并重新测定。B.控制图：每个产品测量3次，这3次的最大值减去最小值即为每个样品极差（最大值-最小值=样本极差）每个点值

35、代表：测量员每个产品测量3次求取的平均值67计量型测量系统分析计量型测量系统分析三C.零件：测量值随部品的变动测量值随部品的变动数字“1”代表产品编号，圈内所代表的点为每个产品所测量的值所在位置，因为一共有3个测量员，每个人测量3次，所以图中一共有9个圆圈点。折线所连的点为9次测量数值的平均值-即最大的带有“+”号的圆圈。68计量型测量系统分析计量型测量系统分析三D.操作者之间： 作业者之间最作业者之间最好没有差异。好没有差异。 差异大的，寻差异大的，寻求其原因！求其原因！10个产品，每个产品测量3次，所以每个测量员位置上共有30个点。横线所连得带有“+”的点为30次测量所得的平均值。69计量

36、型测量系统分析计量型测量系统分析三E.操作者与零件的交互作用： 3 3位测试者对位测试者对1010个标本测试的个标本测试的值的曲线图。值的曲线图。 每名测试者对标本的测试值一每名测试者对标本的测试值一致为好！致为好！根据点的重合度及差异大小可以察看某个产品测量时是否出现问题，以查找原因所在。为B控制图中的Xbar的3个操作者图重叠到一个坐标系内进行查看。70计量型测量系统分析计量型测量系统分析三可区分类别数应可区分类别数应5，量具灵敏度，量具灵敏度Policy：测定系统良好时，零件的P值 0.05。 此例子中，操作者P值 5，量具灵敏度，量具灵敏度EV0.0022AV0.0015%GRR1.4

37、3%72( (五五).). 练习练习计量型测量系统分析计量型测量系统分析三73计数型测量系统分析计数型测量系统分析四74( (一一).).计数型量具计数型量具计数型测量系统分析计数型测量系统分析四 就是把各个零件与某些指定限值相比较，如果满足限就是把各个零件与某些指定限值相比较，如果满足限件则接受该零件否则拒收。件则接受该零件否则拒收。 计数型量具只能指示该零件被接受或拒收。计数型量具只能指示该零件被接受或拒收。 计数型测量系统的分析方法有：计数型测量系统的分析方法有： 小样法；小样法； 大样法。大样法。75( (二二).).小样分析法小样分析法计数型测量系统分析计数型测量系统分析四 选取二十

38、个零件来进行选取二十个零件来进行，其中应，其中应有一些零件稍许高或低于有一些零件稍许高或低于规范限值（规范限值（仅少量仅少量超出范围，一般为超出范围，一般为2-32-3件）。件）。 选取二位评价人员以一种能防止评价人偏倚的方式两次测选取二位评价人员以一种能防止评价人偏倚的方式两次测量所有零件。量所有零件。 所有的测量结果所有的测量结果( (每个零件测四次每个零件测四次) )必须必须一致则接受该量具，一致则接受该量具，否则应改进或重新评价，或找到一个可接受的替代测量系否则应改进或重新评价，或找到一个可接受的替代测量系统。统。小样法接受准则：小样法接受准则： 所有零件的所有零件的4 4次测量结果一

39、致时，接收测量系统；任何一次测量结果一致时，接收测量系统；任何一个零件的个零件的4 4次测量结果不一致时，不接收测量系统。次测量结果不一致时，不接收测量系统。76小样法数据：小样法数据：计数型测量系统分析计数型测量系统分析四77( (三三).).大样法分析法大样法分析法计数型测量系统分析计数型测量系统分析四 对于某计数型量具，用量具特性曲线的概念来进行量具研对于某计数型量具，用量具特性曲线的概念来进行量具研究，究，GPCGPC是用于评价量具的是用于评价量具的重复性和偏倚重复性和偏倚； 这种量具研究可用于单限值和双限值量具；这种量具研究可用于单限值和双限值量具； 对于双限值量具，假定误差是线性一

40、致的，只需检查一个对于双限值量具，假定误差是线性一致的，只需检查一个限值。限值。 一般地，计数型量具研究包括获得多个被选零件的基准值。一般地，计数型量具研究包括获得多个被选零件的基准值。这些零件经过多次这些零件经过多次( (m)m)评价，连同接受总次数评价，连同接受总次数( (a)a)，逐个零逐个零件地记录，从这些结果就能做估计重复性和偏倚。件地记录，从这些结果就能做估计重复性和偏倚。 78大样分析法例：大样分析法例：计数型测量系统分析计数型测量系统分析四79( (四四).).大样分析法步骤大样分析法步骤计数型测量系统分析计数型测量系统分析四 选取零件；最根本的是已知研究中所用零件的基准值。选

41、取零件；最根本的是已知研究中所用零件的基准值。应尽可能按实际情况等间隔选取八个零件，其最大和应尽可能按实际情况等间隔选取八个零件，其最大和最小值应代表该过程范围；最小值应代表该过程范围； 八个零件必须用量具测量八个零件必须用量具测量m=20m=20，并记录接受的次数并记录接受的次数( (a)a)； 对于整个研究，最小的零件必须对于整个研究，最小的零件必须a=0a=0，最大的零件最大的零件a=20a=20，记录接受的次数记录接受的次数( (a)a)。其余其余11a19a19； 如果不满足这些准则，必须用量具测量更多的已知其如果不满足这些准则，必须用量具测量更多的已知其基准值的零件基准值的零件(

42、(X)X)； 如果不满足上述零件这些点可选在量具研究已测量的如果不满足上述零件这些点可选在量具研究已测量的零件测量中间点；零件测量中间点； 一直重复以上直到满足上述要求。一直重复以上直到满足上述要求。80( (五五).).大样法接收准则大样法接收准则计数型测量系统分析计数型测量系统分析四KAPPAKAPPA值大于值大于0.750.75即是可以接受的即是可以接受的81( (六六).).计数型量具分析计数型量具分析计数型测量系统分析计数型测量系统分析四离散型案例离散型案例（名目型）（名目型）：gage名目.Mtw背景：3名测定者对30部品反复2次TEST82会话结果会话结果计数型测量系统分析计数型测量系统分析四检查者1需要再教育；检查者3需要追加训练；(重复性)两数据不能相差较大，否则说明检查者一致的判定与标准有一定差异个人与标准的一致性（再现性？）83计数型测量系统分析计数型测量系统分析四计数型案例计数型案例（顺序型）：（顺序型）：散文散文.Mtw背景：5名测定者对30部品反复2次TEST84计数型测量系统分析计数型测量系统分析四张四 需要再教育；张一、张五需要追加训练；(重复性)两数据不能相差较大，否则说明检查者一致的判定与标准有一定差异85( (七七).).计数型分析练习计数型分析练习计数型测量系统分析计数型测量系统分析四