msa第三版 测量系统分析(1).pptx
《msa第三版 测量系统分析(1).pptx》由会员分享,可在线阅读,更多相关《msa第三版 测量系统分析(1).pptx(137页珍藏版)》请在淘文阁 - 分享文档赚钱的网站上搜索。
1、测量系统分析测量系统分析Measurement Systems Analysis第九版:1999年2月0版权所有版权所有第第6 6版版版版 权权 所所 有有 , 未未 经经 书书 面面 许许 可可 , 不不 得得 以以 任任 何何 方方 式式 复复 制。制。 第九版:1999年2月1 测量系统分析(MSA)概述 MSA 和 QS-9000/TS16949的关系 MSA 3rd 新的变化 测量系统的统计特性 灵敏度 & APQP 偏倚、线形、稳定性 进行量具的重复性和再现性分析(GR&R) 计数型测量系统研究 MSA 技术总结 附件内容提要第九版:1999年2月2MSA 课程目的使参加培训的人员
2、:理解MSA在控制和改进过程中的重要性第三版和第二版的主要区别为测量不确定度建立量化的、可测量的和限制的指标和/或作出专业、有水平的评估所需的信息具备开展测量系统分析所需要的统计方法的实用知识第九版:1999年2月3第一章 测量系统分析概述第九版:1999年2月4MSA定义测量系统定义测量系统灵敏度灵敏度计量、校准计量、校准和追溯和追溯偏倚、线性偏倚、线性和稳定性和稳定性GR&R测量系统测量系统比较和分析工具比较和分析工具决策决策基于数据基于数据数据质量(偏倚数据质量(偏倚和方差)和方差)第九版:1999年2月5 测量:赋值给具体事物以表示它们之间关于特定特性的关系。 测量系统:用来对被测特性
3、定量测量或定性评价的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境和假设的集合;是用来获得测量结果的整个过程。 评估这一系统的首要步骤是理解这一过程并确定其是否符合我们的要求什么是测量系统第九版:1999年2月6测量系统的范例 如果要测量一个轴承孔的内径,那么这个测量系统应包括:被测量的零件人员测量仪器仪器使用方法进行测量的环境条件 作为测量活动的结果,我们产生一个数值,以此表示这个轴承孔的内径第九版:1999年2月7什么是测量系统分析 测量系统分析(MSA)MSA用于分析测量系统对测量值的影响强调仪器和人的影响 我们对测量系统作分析,以确定测量系统的统计特性的量化值,并与认可的标准相比
4、较第九版:1999年2月8MSA总目标 测量的不确定度 一个与测量结果有关的参数,其值分散的特性可以合理地归结于被测对象。 这些数据可表达为系列测量的统计分布、标准离差、概率、百分率、实测值减去实际值;在控制图或曲线图上的点等。第九版:1999年2月9测量系统分析典型的准备包括: 分析的作业指导书 评价人和样件的数量 重复读数和测试次数 尺寸的关键性 零件构造 在日常工作使用测量仪器的作业员 能代表整个工作范围的标准件 测量仪器的分辨率必须至少能够读出特性的过程变差的1/10第九版:1999年2月10持续改进的理念 与过程变差相关联,使测量系统分析对上述基本问题的确定变得更有意义。 针对日益强
5、调持续改进的全球化市场,仅仅用相对于公差的百分比来表达测量误差是不够的,而应该使用过程变差。第九版:1999年2月11测量系统分析的数据利用 用测量系统所收集的数据用于:控制过程评估影响过程结果的变量及其相互关系 利用数据分析,增进对测量系统中因果关系和对过程的影响的了解 把注意力放在测量系统上,以获得重复性和再现性第九版:1999年2月12测量系统变差的影响 决策是基于测量数据,因此测量值的“质量”决定了后续动作的质量。 测量系统变差的影响可分为:控制原理目的产品控制零件是否在规范之内?过程控制过程是否稳定和可接受?第九版:1999年2月13测量系统变差的影响 对产品决策的影响(P16)下限
6、下限上限上限目标目标第九版:1999年2月14测量系统变差的影响 对过程决策的影响第九版:1999年2月15基本问题评估测量系统,以确定:是否具备足够的灵敏度? a.仪器是否具有足够的分辨力? b. 系统具有有效的分辨率?是否具备不随时间变化的统计稳定性?统计特性是否在期望范围内具备一致性,并为过程分析或过程控制的接受?(满足测量的目的?)第九版:1999年2月16测量系统变差源测量过程的构成因子(S、W、I、P、E)及其相互作用,产生了测量结果或数值的变差。测量值变差环境(E)方法(P)(程序)仪器(I)(机器)工件(W)人员(P)标准(S)第九版:1999年2月17环境如何影响测量数据 温
7、度变化引起热涨冷缩,使同一零件的同一特性产生不同的读数 光线不足妨碍正确读值 刺眼的光导致读值不正确 受时间影响的材料-如铝、塑料、玻璃 湿度 污染-如电磁、灰尘第九版:1999年2月18测量仪器如何影响测量结果 测量仪器的精度必须小于规范值 测量仪器的种类,如尺,卡尺 测量仪器的准确度和精密度 偏倚和线性 重复性和再现性 稳定性第九版:1999年2月19材料、方法、人员如何影响测量结果 材料: 人员: 方法(程序):第九版:1999年2月20测量值并不总是精确的 测量系统的变差影响每个测量值和根据这些测量数据所作的判定 测量系统的误差可分为五类:偏倚、线性、稳定性、重复性和再现性 在使用一个
8、测量系统前必须知道其测量变差第九版:1999年2月21MSA 应用 建立新量具的适用性和可接受性标准 把一个量具和另一个量具作比较 评估可疑的量具 量具维修前后的性能比较 计算测量系统变差 确定制造过程可接受性 绘制量具性能曲线(GPC)的必要信息第九版:1999年2月22从哪里开始? 评估量测系统的组成并尽可能控制量测系统的变差,以确保量测系统在符合使用它的要求状态下 把我们的关注从测量过程变差扩展到测量系统统计特性和测量不确定性上 使用SPC的基本原理第九版:1999年2月23第二章 MSA 和 QS-9000/TS16949的关系第九版:1999年2月24检验、测量和测试仪器的控制-4.
9、11总则总则 - 4.11.1- 4.11.1所有检验、测量和测试设备,包括硬件和软件,都必须确定其测量不确定度,并使其在可接受的范围内第九版:1999年2月25检验、测量和测试仪器的控制-4.11控制程序 - 4.11.2确定准确度和精密度(所要求的)对使用校准失效量具检验并接受的产品必须重复检验校准和测试时的“环境条件”必须加以评估,以评定其对测量系统的影响确保搬运、保护和储存对测试用的硬件和软件作保护,以防止调整不当第九版:1999年2月26检验、测量和测试仪器的控制-4.11 检验、测量和测试仪器- 4.11.3记录必须包括员工自备量具在检查量具时,必须记录其条件和实际读数如果有可疑的
10、材料已被装运,应通知顾客确认测量系统分析的方法被顾客所批准。注意:绝大多数人把MSA理解为单纯的GR&R。本课程将证明这种错误观念与要求相差很远第九版:1999年2月27检验、测量和测试仪器的控制-4.11 测量系统分析 - 4.11.4对客户批准的控制计划中所确定的每一种检验、测量和测试系统作统计分析供应商应当把统计分析的范围从量具种类量具种类延伸到产品族分析方法和接受标准应符合客户批准的标准或MSA手册的要求第九版:1999年2月28实施 QS-9000的要求 - 4.11 标识所有检验、测量和测试设备(IMT),及其校准状态 确定量具(IMT)准确度和精密度 进行量具(IMT)的变差分析
11、 (MSA) 当量具(IMT)被发现处于非校准状态时,对其以前测量的结果作确认 确保所有量具(IMT)的搬运、保护、清洁、维护和存放 校准记录应包括个人量具 采用所有MSA手册中的标准第九版:1999年2月29TS16949:2002要求 测量系统分析7.6.1 -为分析各种测量和试验设备系统测量结果存在的变差,必须进行适当的统计研究。此要求必须适用于在控制计划提及的测量系统。所用的分析方法及接受准则,必须与顾客关于测量系统分析的参考手册相一致。 第九版:1999年2月30卓越品质管理的方法卓越品质管理的方法最大限度地减少量具种类最大限度地减少量具数量根据产品族添置量具根据MSA手册的要求,按
12、产品族进行统计分析只采用符合MSA要求的量具不允许个人量具用6过程分布计算MSA结果,而不是规范或公差值 第九版:1999年2月31三大三大汽车公司的要求汽车公司的要求 三大汽车公司对供应商实施MSA 3rd的要求:Big3 about MSA 3rd第九版:1999年2月32第三章第三章MSA 3MSA 3rdrd的主要变化的主要变化第九版:1999年2月33MSA 3rd的主要变化的主要变化 系统地理解测量过程 测量开发和资源选择(第一章3、4节) 改变和扩展了偏倚和线性 新的计数型测量系统分析方法 复杂的测量系统分析实践 MSA与测量不确定度的比较 关于GRR标准差: 5.15 6第九版
13、:1999年2月34 第四章第四章测量系统的统计特性测量系统的统计特性第九版:1999年2月35理想的测量系统 每次都能获得正确的测量值,每个测量值都与标准值一致 有如下统计特性: “零”变差 “零”偏倚 对被测量产品错误分类为“零”概率第九版:1999年2月36量测系统数据 确定所需数据,如何在APQP中使用测量系统 值得花费时间和成本以确定测量系统的统计特性是否满足要求 测量系统的质量由其测量值的统计特性所决定:偏倚:95%置信度下,0落在置信区间内(注意:不再是10%)线性:“偏倚=0”线必须完全在拟合线置信带以内GR&R10%;介于10-30%和ndc5第九版:1999年2月37数学表
14、达过程控制中所收集的数据包含二种不同的,相对独立的变差来源:制造过程变差 (MPV)测量系统变差 (MSV)总变差 (TV) = MPV + MSV第九版:1999年2月38测量系统的变差必须小于制造过程变差MSV MPVMSV MPV 注:测量系统的变差必须尽可能小注:测量系统的变差必须尽可能小 变差+ +MSVMSVMPVMPV 总变差总变差 ( (TV)TV) 规范公差规范公差第九版:1999年2月39共同特性测量系统: 必须处于统计控制状态 与制造过程变差和规范容限相比,测量系统变差必须很小 测量精度不大于过程变差或规范容限中的较小者的十分之一 最大变差必须比过程变差或规范容限中较小者
15、小第九版:1999年2月40测量系统必须处于统计稳定状态,也就是说,测量系统的变差不受特殊原因支配1.1. 一般说来,当没有数值(点)落在特殊原因区域内时,测量系统便处于统计控制状态2.2. 如果没有如SPC手册中描述的数据 趋势或漂移时,我们也可认为是统 计控制状态统计控制 普通原因区域普通原因区域特殊原因区域特殊原因区域特殊原因区域特殊原因区域第九版:1999年2月41 测量系统变差必须小于规范公差或过程容限 测量系统的标记精度必须小于规范公差规范: 2.530 +/- 0.02测量系统精度: 0.001 规范第九版:1999年2月42仪器范例具有行业特点的检验、测量和测试仪器的种类粘度测
16、量仪拉伸测试机轮廓仪- 高倍显微镜X光测厚仪你们有哪些种类的IMT设备?_第九版:1999年2月43 第九版:1999年2月44第五章第五章灵敏度第九版:1999年2月45灵敏度灵敏度:最小的输入产生可探测出的输出信号,是在测量特性变化时测量系统的响应。 -由量具设计(分辨率)、固有质量(OEM)、使用中的维修及仪器和标准的操作条件确定。 -总是以一个测量单位报告。第九版:1999年2月46灵敏度 了解测量系统的能力,以提供过程变差的信息 当测量系统不能探测过程变差时,不宜作测量系统分析 当测量系统不能探测特殊原因变差时,不宜用作过程控制第九版:1999年2月47灵敏度影响灵敏度的因素: -
17、使仪器减振的能力 - 操作者的技能 - 测量装置的重复性 - 电子或气动量具提供无漂移运行的能力 - 仪器正在使用的环境,如大气、灰尘、湿度第九版:1999年2月48理解分辨率测量一个硬币的厚度 - 哪个测量系统对这三个硬币提供更好的变差信息?分辨力分辨力: “系统检测并如实显示的参考值的变化量。也可称为可读性或分辨率.” # S P- B- 0 0 1REPEATABI LI TY AND REPRODUCI BI LI TY REPORT7 - 0 2 - 9 7 NBR : A S - 0 0 7Eq u i p me n t De s c r i p t i o n : DA GE D
18、a t e : MA R 0 7 . 9 8Ch a r a c t e r i s t i c s : BS T ( G/ W: 1 . 0 MI L) Pe r f o r me d b y :S p e c i f i c a t i o n : A BOV E 3 0 GRFr o m d a t a s h e e t : R=1 . 7 1Rp=2 6 . 7 9X d i f f =2 . 2 5 8Re a s o n f o r R&R s t u d y :Ne w Ga g e Qu a l i f i c a t i o n Ev a l u a t e Ga g e
19、p e r f o r ma n c eXRo u t i n e Ev a l u a t e R&R o f g a g e Ot h e rMe a s u r e me n t Un i t A n a l y s i s % Pr o c e s s A n a l y s i sRe p e a t a b i l i t y - Eq u i p me n t V a r i a t i o n ( EV )T RI A LSK1EV =R* K124 . 6 5% EV =1 0 0 EV / T V =5 . 2 133 . 0 5=1 1 . 8 1% Re p r o d
20、 u c i b i l i t y - A p p r a i s e r V a r i a t i o n ( A V )A V =%A V =1 0 0 A V / T V =1 3 . 6 5%=6 . 0 2Op e r a t o r sK223 . 6 5 * * * n = n u mb e r o f p a r t sr = n u mb e r o f t r i a l s32 . 7 0Re p e a t a b i l i t y & Re p r o d u c i b i l i t y ( R & R) R & R =PA RTK3% R & R =1 0
21、 0 R&R / T V =7 . 9 652 . 0 8=1 8 . 0 5%Pa r t V a i a t i o n ( PV )61 . 9 3% PV=1 0 0 PV / T V PV=Rp* K371 . 8 2=9 8 . 3 6%=4 3 . 481 . 7 4T o t a l V a r i a t i o n ( T V )91 . 6 7T V=1 01 . 6 2=4 4 . 1 2Co n c l u s i o n :S a t i s f a c t o r yMa r g i n a lUn a c c e p t a b l eRe p e a t T
22、r a i lRe p e a t a b i l i t yXRe p r o d u c i b i l i t yXR & RXRe c o mme n d a t i o n :第九版:1999年2月49分辨率和控制图范例用二个系统测量同一组样本建立如下页所示的均值和极差图(X&R 图)观察分辨率分别为0.001和0.01的二个测量系统之间的差别第九版:1999年2月50过程控制图第九版:1999年2月51分辨率不足 当极差图出现以下情况时,表示测量系统的分辨率不足: 只有一、二或三个极差值可读 四分之一以上极差为零 选择分辨力按比例小于规范或过程变差,以获得足够的分辨率第九版:199
23、9年2月52分辨率的决定原则 推荐分辨力最大为过程分布6的十分之一,而不是公差(规范)的十分之一 在APQP和测试期间进行量具分辨力的研究研究制造过程或相似过程的极差图,根据前页和范例 从不断改进的角度看,公差值的十分之一可能不够。 第九版:1999年2月53 第六章第六章基准件和测量不确定度第九版:1999年2月54基准值 为了比较的一个一致认可的值 有时也称为: 可接受的值 常规值 指定值 最佳估算值 标准测量 测量的标准第九版:1999年2月55基准件 具有非常精确制定的一个或更多特性的一种材料或物质,用于仪器的校准、测量方法的评估或给材料赋值。第九版:1999年2月56国家/国际测量标
24、准 一个材料测量,测量仪器,基准件或系统准备去定义、实现、保存或复制一个零件、一个或更多的数量值,为了将它们去和其他测量仪器比较 这些标准被一些国家专业机构或国际一致认可的国际性服务机构所承认,作为确定其他所有与数量有关的标准件的值的依据 一些例子: -1Kg质量标准 -氦-氖激光长度标准 -标准量块 -铯原子频率标准 -100标准电阻 -Josephson Array 电压标准 - 第九版:1999年2月57国家/国际测量标准使用一个可追溯的标准以提供: 比较的共同点 测量系统有效性 测量系统准确性评价 解决零件间的冲突 最直接的验证指导第九版:1999年2月58可追溯标准的局限 在破坏性测
25、试中很难使用 有些产品特性和过程结果无确定行业或国家标准 有些测试没有行业或国家标准 在设计和开发、合同评审和APQP期间讨论这些局限性.第九版:1999年2月59选择 为了校准可能需要使用非常精密的基准件, 其他在实验室内验证的零件和/或相互认同的标准件. 这些都是通过最高级别的测量设备评定的最好的产品. 比较分析产生精确的数据,将决定为校准而需要的调整数量. 内部实验室比较: 组织, 性能和2个或更多的实验室按照预定的条件对设备的相同或相似的部件的评估.第九版:1999年2月60测量不确定度 用于描述测量值的质量的术语 测量不确定度是给组成测量系统的变量赋值的所有可能性的总和.(P58)
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- msa第三版测量系统分析(1)
限制150内