原子力显微镜的原理及应用教学内容.ppt

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1、Atomic Force Microscopy 原子力显微镜（AFM）第一页，共44页。目录(ml)：nAFM的发展历史nAFM的原理nAFM的分类nAFM机器的组成n影响AFM分辨率的因素(yn s)nAFM技术应用举例n照片举例nAFM的缺点第二页，共44页。高级(goj)显微镜n1938年，德国工程师Max Knoll和Ernst Ruska制造出了世界上第一台透射(tu sh)电子显微镜（TEM）n1952年，英国工程师Charles Oatley制造出了第一台扫描电子显微镜（SEM）n 至此，电子显微镜的分辨率达到纳米级 第三页，共44页。n1983年，IBM公司苏黎世实验室的两位科

2、学家Gerd Binnig和Heinrich Rohrer发明了扫描隧道(sudo)显微镜（STM）n应用电子的“隧道(sudo)效应”这一原理，对导体或半导体进行观测第四页，共44页。隧道(sudo)效应n经典物理学认为，物体(wt)越过势垒，有一阈值能量；粒子能量小于此能量则不能越过，大于此能量则可以越过。例如骑自行车过小坡，先用力骑，如果坡很低，不蹬自行车也能靠惯性过去。如果坡很高，不蹬自行车，车到一半就停住，然后退回去。n量子力学则认为，即使粒子能量小于阈值能量，很多粒子冲向势垒，一部分粒子反弹，还会有一些粒子能过去，好像有一个隧道，故名隧道效应（quantum tunneling）。

3、可见，宏观上的确定性在微观上往往就具有不确定性。虽然在通常的情况下，隧道效应并不影响经典的宏观效应，因为隧穿几率极小，但在某些特丁的条件下宏观的隧道效应也会出现。第五页，共44页。AFM出现(chxin)的意义nSTM的原理是电子(dinz)的“隧道效应”，所以只能测导体和部分半导体n1985年，IBM公司的Binning和Stanford大学的Quate研发出了原子力显微镜（AFM），弥补了STM的不足n n n 返回第六页，共44页。成 像 原 理ExpulsiveforceatomatomAttractive forceatomatom第七页，共44页。恒定力量或者(huzh)恒定高度第

4、八页，共44页。探针(tn zhn)如何成像第九页，共44页。表面形貌和材料(cilio)如何测量n n 返回(fnhu)X YZMover垂直信號的變化垂直信號的變化即樣本的表面變化即樣本的表面變化Cantilever擺動擺動的方向的方向X YZMoverCantilever擺動擺動的方向的方向水平信號的變化水平信號的變化即樣本的材質變化即樣本的材質變化第十页，共44页。AFM有多种工作(gngzu)模式n1.接触(jich)模式（Contact Mode）：作用力在斥力范围，力的量级为109108N，或110eV/。可达到原子级分辨率。n2.非接触(jich)模式（Non-Contact

5、Mode）：作用力在引力范围，包括范德华力、静电力或磁力等。n3.轻敲模式（Tapping Mode）n4.Interleave模式（Interleave Normal Mode/Lift Mode）n5.力调制模式（Force Modulation Mode）n6.力曲线模式（Force Curve Mode）第十一页，共44页。接触式原子力显微镜n接触式AFM是一个排斥性的模式(msh)，探针尖端和样品做柔软性的“实际接触”，当针尖轻轻扫过样品表面时，接触的力量引起悬臂弯曲，进而得到样品的表面图形。n由于是接触式扫描，在接触样品时可能会是样品表面弯曲。n经过多次扫描后，针尖或者样品有钝化现

6、象。第十二页，共44页。特点(tdin)：n通常情况下，接触模式都可以产生稳定的、分辨率高的图像。但是这种模式不适用于研究生物大分子、低弹性模量样品以及容易移动(ydng)和变形的样品。第十三页，共44页。接触式（contact mode）第十四页，共44页。非接触式原子力显微镜n在非接触模式中，针尖在样品表面的上方振动，始终不与样品接触，探测器检测的是范德华作用力和静电力等对成像样品没有破坏的长程作用力。n需要(xyo)使用较坚硬的悬臂（防止与样品接触）。n所得到的信号更小，需要(xyo)更灵敏的装置，这种模式虽然增加了显微镜的灵敏度，但当针尖和样品之间的距离较长时，分辨率要比接触模式和轻敲

7、模式都低。第十五页，共44页。特点(tdin)：n由于为非接触状态，对于研究柔软或有弹性的样品较佳，而且针尖或者样品表面不会有钝化效应，不过(bgu)会有误判现象。这种模式的操作相对较难，通常不适用于在液体中成像，在生物中的应用也很少。第十六页，共44页。非接触式（non contact mode）第十七页，共44页。间歇(jin xi)接触式原子力显微镜n微悬臂在其共振频率附近做受迫振动，振荡的针尖轻轻的敲击(qio j)表面，间断地和样品接触。当针尖与样品不接触时，微悬臂以最大振幅自由振荡。当针尖与样品表面接触时，尽管压电陶瓷片以同样的能量激发微悬臂振荡，但是空间阻碍作用使得微悬臂的振幅减

8、小。反馈系统控制微悬臂的振幅恒定，针尖就跟随表面的起伏上下移动获得形貌信息。第十八页，共44页。n类似非接触式AFM，比非接触式更靠近样品表面。损害样品的可能性比接触式少（不用侧面力，摩擦或者拖拽）。n轻敲模式的分辨率和接触模式一样好，而且由于接触时间非常短暂，针尖与样品的相互作用力很小，通常为1皮牛顿（pN）1纳牛顿（nN），剪切力引起(ynq)的分辨率的降低和对样品的破坏几乎消失，所以适用于对生物大分子、聚合物等软样品进行成像研究。第十九页，共44页。特点(tdin)：n对于一些与基底结合不牢固的样品，轻敲模式与接触模式相比，很大程度(chngd)地降低了针尖对表面结构的“搬运效应”。n样

9、品表面起伏较大的大型扫描比非接触式的更有效。第二十页，共44页。间歇(jin xi)接触式（tapping mode）n n n 返回(fnhu)第二十一页，共44页。原子力显微镜的构成(guchng)第二十二页，共44页。第二十三页，共44页。第二十四页，共44页。在原子力显微镜的系统中，可分成三个部分在原子力显微镜的系统中，可分成三个部分(b fen)(b fen)：力检测部分：力检测部分(b fen)(b fen)、位置检测部分、位置检测部分(b fen)(b fen)、反馈系统。、反馈系统。第二十五页，共44页。力检测部分：力检测部分：在原子力显微镜（在原子力显微镜（AFMAFM）的系

10、统中，所要检测的力是原）的系统中，所要检测的力是原子与原子之间的范德华力。所以在本系统中是使用微小悬臂子与原子之间的范德华力。所以在本系统中是使用微小悬臂（cantilevercantilever）来检测原子之间力的变化量。这微小悬臂有）来检测原子之间力的变化量。这微小悬臂有一定的规格，例如：长度、宽度、弹性系数以及针尖的形状，一定的规格，例如：长度、宽度、弹性系数以及针尖的形状，而这些规格的选择是依照样品的特性，以及操作模式的不同，而这些规格的选择是依照样品的特性，以及操作模式的不同，而选择不同类型而选择不同类型(lixng)(lixng)的探针。的探针。第二十六页，共44页。第二十七页，共

11、44页。n位置检测部分：位置检测部分：在原子力显微镜（在原子力显微镜（AFMAFM）的系统中，当针）的系统中，当针尖尖(zhn jin)(zhn jin)与样品之间有了交互作用之后，与样品之间有了交互作用之后，会使得悬臂（会使得悬臂（cantilevercantilever）摆动，所以当激光）摆动，所以当激光照射在照射在cantilevercantilever的末端时，其反射光的位置的末端时，其反射光的位置也会因为也会因为cantilevercantilever摆动而有所改变，这就造摆动而有所改变，这就造成偏移量的产生。在整个系统中是依靠激光光成偏移量的产生。在整个系统中是依靠激光光斑位置检测

12、器将偏移量记录下并转换成电的信斑位置检测器将偏移量记录下并转换成电的信号，以供控制器作信号处理。号，以供控制器作信号处理。第二十八页，共44页。n反馈系统：反馈系统：n在原子力显微镜（在原子力显微镜（AFM）的系统中，将信号经）的系统中，将信号经由激光检测器取入之后，在反馈系统中会将此由激光检测器取入之后，在反馈系统中会将此信号当作反馈信号，作为信号当作反馈信号，作为(zuwi)内部的调整内部的调整信号，并驱使通常由压电陶瓷管制作的扫描器信号，并驱使通常由压电陶瓷管制作的扫描器做适当的移动，以保持样品与针尖保持合适的做适当的移动，以保持样品与针尖保持合适的作用力。作用力。第二十九页，共44页。

13、原子力显微镜（AFM）便是结合以上三个部分来将样品的表面特性呈现出来的：在原子力显微镜（AFM）的系统中，使用微小悬臂（cantilever）来感测针尖与样品之间的交互作用，测得作用力。这作用力会使cantilever摆动，再利用激光将光照射在cantilever的末端，当摆动形成时，会使反射光的位置改变而造成偏移量，此时(c sh)激光检测器会记录此偏移量，也会把此时(c sh)的信号给反馈系统，以利于系统做适当的调整，最后再将样品的表面特性以影像的方式给呈现出来。返回第三十页，共44页。提高(t go)图像分辨率n1、发展新的技术或模式(msh)来提高分辨率，即从硬件设备以及成像机理上提高

14、成像分辨率。如最近Fuchs等发明的Q控制技术，可以提高成像分辨率和信噪比。采用力调制模式(msh)或频率调制模式(msh)等也可以有效提高成像分辨率。n2、选择尖端曲率半径小的针尖，减小针尖与样品之间的接触面积，减小针尖的放大效应，以提高分辨率。第三十一页，共44页。n3、尽量避免针尖和样品表面(biomin)的污染。如果针尖上有污染物，就会造成与表面(biomin)之间的多点接触，出现多针尖现象，造成假像。如果表面(biomin)受到了污染，在扫描过程中表面(biomin)污染物也可能粘到针尖上，造成假像的产生。n4、控制测试气氛，消除毛细作用力的影响。由于毛细作用力的存在，在空气中进行A

15、FM成像时会造成样品与针尖的接触面积增大，分辨率降低。此时，可考虑在真空环境下测定，在气氛控制箱中冲入干燥的N2，或者在溶液中成像等。溶液的介电性质也可以影响针尖与样品间范德华作用力常数，从而有可能减小它们之间的吸引力以提高成像分辨率。不过液体对针尖的阻尼作用会造成反馈的滞后效应，所以不适用于快速扫描过程。第三十二页，共44页。AFM针尖放大(fngd)效应AFM是依靠尖端曲率半径很小的微悬臂针尖接触(jich)在表面上进行成像，所得到的图像是针尖与样品真实形貌卷积后的结果。如图所示，实线代表样品的真实形貌，虚线就是针尖扫描所得到的表观(bio un)图像。二者之间的差别在于针尖与样品真实接触

16、点和表观(bio un)接触点随针尖移动的函数变化关系。第三十三页，共44页。n针尖效应不仅会将小的结构放大，而且还会造成(zo chn)成像的不真实，特别是在比较陡峭的突起和沟槽处。n一般来说，如果针尖尖端的曲率半径远远小于表面结构的尺寸，则针尖效应可以忽略，针尖走过的轨迹基本上可以反映表面结构的起伏变化。第三十四页，共44页。微悬臂(xunb)检测方法nAFM是通过检测微悬臂形变的大小来获得样品表面形貌信息的，所以微悬臂形变检测技术至关重要。到目前为止，检测微悬臂形变的方式主要(zhyo)有以下几种：n1）隧道电流检测法n2）电容检测法n3）光学检测法n4）压敏电阻检测法第三十五页，共44

17、页。n5）光束偏转法。此方法由Meyer和Amer于1988年发明，简便实用，广泛应用于目前的商品化仪器。n须指出(zh ch)，由于针尖样品之间的作用力是微悬臂的力常数和形变量之积，所以无论哪种检测方法，都应不影响微悬臂的力常数，而且对形变量的检测须达到一纳米以下。n 返回第三十六页，共44页。AFM应用技术(jsh)举例nAFM可以在大气、真空、低温和高温、不同气氛以及溶液等各种环境下工作，且不受样品导电性质的限制，因此(ync)已获得比STM更为广泛的应用。主要用途：n1.导体、半导体和绝缘体表面的高分辨成像n2.生物样品、有机膜的高分辨成像n3.表面化学反应研究n4.纳米加工与操纵第三

18、十七页，共44页。n5.超高密度信息存储n6.分子间力和表面力研究n7 摩擦学及各种力学研究n8 在线检测(jin c)和质量控制n 返回第三十八页，共44页。IBM科学家首次拍下单分子(fnz)照片第三十九页，共44页。二氧化锡薄膜第四十页，共44页。分选和搬运(bnyn)第四十一页，共44页。火星(huxng)土壤第四十二页，共44页。遭疟疾(n ji)感染的人体红血球和蓝藻n 返回(fnhu)第四十三页，共44页。AFM的缺点(qudin)n 受样品因素限制较大（不可避免）n 针尖易磨钝或受污染（磨损无法(wf)修复；污染清洗困难）n 针尖样品间作用力较小n 近场测量干扰问题n 扫描速率低n 针尖的放大效应第四十四页，共44页。