仪器分析武汉大学第二章原子发射光谱分析法EAS.ppt

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1、3.哈维法 在激发条件一定在激发条件一定,谱线自吸可以忽略的谱线自吸可以忽略的情况下。谱线强度情况下。谱线强度I Il l 与其邻近背景强度与其邻近背景强度I IB B之比，与试样中被测元素的浓度之比，与试样中被测元素的浓度C C成正成正比比.可推公式：符号意义：K为比例常数,IL+B是元素谱线加背景的强度,若指定背景为1.则 C=k(IL+B-1)若选择IL+B/IB=1.5,IL/IB=0.5 作为谱线从背景中分辩出来的觉察极限,设觉察极限浓度C0,则有 k=2C0,代入上式,C=2C0(IL+B 1)此法准确度达到3050%.三.光谱定量分析 光谱定量分析的基本关系式:I=a C b求对

2、数，得：log I=b log C+log ab=1 没有自吸,b1,有自吸,a 为与条件有关的常数.2.内标法 在光谱定量分析中，内标元素的含在光谱定量分析中，内标元素的含量必须固定，它可以是试样中的基体成量必须固定，它可以是试样中的基体成份，也可以是以一定的含量加入试样中份，也可以是以一定的含量加入试样中的外加元素。这种按分析线与内标线强的外加元素。这种按分析线与内标线强度比进行光谱定量分析度比进行光谱定量分析 的方法称内标法；的方法称内标法；所选用的分析线与内标线的组合叫作所选用的分析线与内标线的组合叫作分分析线对析线对。设分析线和内标线的强度分别为I1和I2，则 I I1 1=a=a1

3、 1 C C1 1b1b1 I I2 2=a=a2 2 C C2 2b2b2当内标元素的含量一定时，C2为常数；又当内标线无自吸时，b2=1此时，I2=a2 分析线对的强度可表示为：I1/I2=a Cb取对数后，得到:log R=log（I1/I2）=b log C+log a此为内标法定量分析的基本公式。使用内标法必须具备下列条件：1.分析线对应具有相同或相近的激发电位和电离电位。2.内标元素与分析元素应具有相近的沸点，化学活性及相近的原子量。3.内标元素的含量，应不随分析元素的含 量变化而变化。4内标线及分析线自吸要小。5分析线和内标线附近的背景应尽 量小。6分析线对的波长，强度及宽度也

4、尽 量接近。四摄谱法光谱分析 摄谱法系以光谱感光板作为检测器，故此时应考虑谱线黑度与被测定元素含量的关系.当分析线对的谱线所产生的黑度均落在乳剂特性曲线的直线部分时，对于分析线和内标线分别得到:S1=1lgH1 i1=1 lgI1t-i1S2=2lgH2 i2=2 lgI2t-i2 在同一块的同一条谱带上，曝光时间相等，即 t1=t2 两条谱线的波长一般要求很接近，且其黑度都落在乳剂特性曲线的直线部分 i1=i2 1=2故将S1减S2，得到 S=S1 S2=1lgI1 2lgI2 =lgI1/I2 从内标法中已知：log R=lgI1/I2=blogC+loga 故 S=log R =b lo

5、g C+log a 这就是基于内标法原理的以摄谱法进行光谱定量分析的基本关系式。五光谱定量分析的条件选择1光谱仪;2.光源;3.狭缝;4.内标及内标线;5.缓冲剂.缓冲剂缓冲剂 试样组份影响弧焰温度，弧焰温度又直接影响待测元素的谱线强度，这种由于其它元素存在而影响待测元素谱线强度的作用称为第三元素的影响，对于成分复杂的样品来说，第三元素的影响往往是很显著的同并引起较大的分析误差。六定量分析方法 1工作曲线法三标准试样法三标准试样法：以logI，logR，s为纵坐标，以欲测元素的含量的对数 logc为横坐标作图的方法。作图的方法。2.标准加入法a.曲线逼直法 b.直线外推法3光谱背景的校正lb等效浓度法la离峰校正法七检测线、精密度、准确度1灵敏度（S）、检测限（CL）和测定限（CQ）灵敏度是指分析校正曲线的斜率检测限是指以适当的置信度下被测物质的最低含量或最低浓度，对光谱法也就是一定净谱线强度所需要被测物质的浓度.XL=X B+KBL XL 为最小测量信号，X B 为空白样品的平均值。K=3，置信度99.6%.BL为空白样品的测量信号的标准偏差.而检测限为 CL(CQ)=KBL/S当用内标法时:S=ILC/IBC 为接近检测限时的被测物含量.这时:用照像法测量时：CL=4.2CS/S s为黑度标准偏差,S为 S L+B-S B