电磁兼容测试技术概要.docx
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1、电磁兼容测试技术概述文摘:本文简要的介绍了电磁兼容的抗扰度测试% - g& . T0 X关键词:电磁兼容、测试、EMC3 S+ D( c* X/ 1 M& i3 v5 p7 x* o- , N j一、前言8 q6 i1 a2 U6 c5 V8 X5 & 9 A# ! b X8 3 & y, q8 Y人类所处的自然环境,不仅仅包括我们自身容易察觉的空气、水、土地等环境外,还有我们自身不容易觉察的电磁环境。在人类发明发电机之后,人类对电磁环境的主动性影响与日俱增。甚至达到“污染”电磁环境的程度。电磁兼容便是一门研究在有限空间、有限的时间、有限的频谱资源条件下,各种用电设备可以共存并不致引起降级的学
2、科。也可以讲“电磁兼容”是一门绿色的环保科学。8 E; T! dG- Af* ? O* t _9 J8 b近年来,世界各国都非常重视电磁兼容技术,并且把对电气电子产品的电磁兼容性要求纳入国际贸易中的产品技术法规。例如,欧盟从96年1月1日起强制执行89/336/EEC指令,即进入欧共体市场销售的电气电子产品必须符合EMC要求,并加贴CE标志。# j6 f7 g; X1 K3 I* S( F为了适应国际先进技术发展和国际商贸的要求,我国也不断加强在电磁兼容技术方面的研究,并且在电磁兼容标准制订方面提出相应的方针政策。例如,我国政府制定了电磁兼容标准化工作的具体方法:, W$ t9 m+ 4 j$
3、 N: B/ e1、加快电磁兼容标准的修订,制订和转化,完善我国电磁兼容的标准体系;& K- e |) P- s. y8 # a B2、在建立起基本完善的标准体系基础上,加强和完善现在各级电磁兼容试验室和测试机构,并推进认证制。; J& ?- _ P h4 Q1 b c: _$ G: A9 v二、测试技术概述 L 7 q+ ! : N0 u% q$ W d0 R1 5 v$ w; 9 V, _ w电磁兼容设备或交流在其电磁环境中能正常工作且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。这是国际标准电磁兼容术语中对电磁兼容所下的定义。从此定义中不难看出,电磁兼容具体研究两方面的内容:一是能在
4、电磁环境中正常工作,具体一定的抵抗电磁骚扰的能力。二是对所处环境中的其它设备的骚扰有一定的限值,不致于影响的其他设备不能正常工作。9 g2 t( L+ u3 U; 9 ?& , : P测量,也许没有任何其他学科象电磁兼容这门学科这么依赖。我们从电磁兼容的概念中不难看出,电磁兼容的测试内容主要包括两个方面:一是电磁敏感性测试,即电气电子设备的抗扰度测量;另一个便是电磁干扰的测量,即设备无线电骚扰特性的测量。; m, L4 T/ s2 b9 o. x: , 9 电磁兼容测量的目的是为提高和改善电气电子设备的实际工作中电磁兼容能力提供参考和依据。为了使测试更具有意义和测量结果具有可比性,电磁兼容测试
5、的标准化工作就显得异常重要。国际性的标准化组织棗国际电工委员会(IEC)在这方面作出了重要的贡献。) D( ?8 F5 |v9 IEC下设的委员会中从事EMC的主要为国际无线电干扰特别委员会(CISPR)和第77技术委员会(TC77)。他们分别制订CISPR系列标准和IEC61000系列标准。: x: E5 Z3 G, ! D; t! S! . t% F7 G* T! V- q- q2 T4 j0 Z6 p: xD# w( x0 & O三、常用抗扰度标准简介, W) y6 Y& _- C* U8 P, i4 V. U) jX. z5 b) H; i% _5 |1、静电放电抗扰度试验(IEC61
6、000-4-2)* a3 k/ D, f, b2 . i0 V3 Y# d( r S(1)试验模拟; w B7 i3 * r/ J试验单个设备或系统的抗静电干扰的能力。它模拟:1)操作人员或物体在接触设备时的放电。2)人或物体对邻近物体的放电。静电放电可能产生的后果:1)直接通过能量交换、引起半导体器件的损坏。2)放电所引起的近场的电场与磁场变化,造成设备的误动作。, X, V $ 5 i8 y0 y7 y9 M(2)试验仪器1 $ W* t2 a$ Y: B% U! M; j7 U 图1和图2分别给出了静电放电发生器的基本线路和放电电流的波形。8 n, X; W8 P$ z9 r) ) (3
7、)放电方式 , m; K/ h5 t4 r) v. ; ( k直接放电(直接对设备的放电):接触放电为首选形式;只有在不能用接触放电的地方(如表面涂有绝缘层的情况,及计算机键盘缝隙的放电)才改用隙放电。间接放电(通过邻近物体的放电棗标准中用对水平耦合板及垂直耦合板的放电来模拟对模拟设备的工作产生影响):采用接触放电为唯一的放电方式。3 x: s: z) T# h7 s* g(4)试验的配置0 4 e O! I$ M, |7 . w有型式试验(在实验室进行)及安装现场试验两种,标准规定以前者为主。 9 Q- P1 q8 D) K! e+ dm(5)试验方法/ 0 T: k! l4 |3 V: Z
8、( X按标准要求,型式试验为主,现场试验为辅。图4和图5给出桌面设备与落地的典型放电位置。- o, S) QO7 M+ l! h* H4 Q; L7 P1 i4 T- D# x1 V试验中一般以1次/秒的速率进行放电,以便让设备对试验末得及响应。另外正式试验前要用20次/秒的放电速率,对被试设备表面很快扫视一遍,目的是找出设备对静电放电敏感的部位。% X3 H) R9 m2 j$ / A( p- f试验电压要由低到高逐渐增加到规定值。+ s8 % t! v2 J9 R2 M5 y(6)试验的严酷度等级1 - _# l/ T- z! + ( g& V x# z- - H% e4 E接触放电 气隙
9、放电B/ Z6 ! O3 I0 / - a& S9 1级 2KV 2KV% H8 h: _; R ?2级 4KV 4KV9 y! H1 g- U6 Y: R8 f9 f, O9 W3级 6KV 8KV/ ?% T7 L* j9 F4级 KV 15KV0 I8 U( H4 n& p0 + G3 P/ A+ ! b4 s- F/ D8 S: l) C2、射频辐射电磁场的抗扰度试验(IEC61000-4-3)7 S* M6 k0 t, + N! 6 q8 j- s; W) 3 1 M; q% K* k9 F3 D(1)试验模拟3 u5 l- |( k( Y. o; XX Q主要模拟射频辐射电磁场,如
10、无线电台、电视发射台、移动无线电发射机和各种工业电磁辐射源(以上属有意发射),以及电焊机、可控硅整流器、荧为灯(以上属无意发射)所产生射频辐射干扰。0 f! x$ 3 s) 1 g! W, | O9 v w, W3 Z! (2)试验等级8 k$ G+ t; J) n4 Q7 d% C5 i7 o/ M9 D! H) ( o 等级 试验场强( / v; G; P+ M7 r1 T$ X11V/m2 0 j# u( J6 Z4 c6 t5 s/ Q2 3V/m; X- ( - H4 p3 10V/m+ x8 c- W! d& 1 wx( SX 待定: j# B# a0 nc& m$ P7 y2 k
11、9 q; X |(3)试验配置$ K- f) X0 Y; K M% g1 c1)信号发生器 2)功率放大器 3)天线 4)场强测试探头5)场强设备与记录设备( I. a# R6 YA$ u! G6 M (4)试验的场地% 6 z2 HI6 Y O! P1 C( ?/ x最好是采用电波暗室: 4 VL. O; f% G- p* w: E8 E& # c; i/ w7 R% K6 9 Wc; G3、电快速瞬变脉冲群的抗扰度试验(IEC61000-4-4)* & o p7 L. H! d6 W* c(1)试验模拟- e- G8 K( o) K9 Bw) V9 w( f主要模拟电路中机械开关对电感性负
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