第14章射频电路与系统测试技术无线通信射频电路技术.ppt

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1、1第14章 射频电路与系统测试技术教学教学重点重点本章重点介绍了射频电路测量的基本设备及其功能；介绍本章重点介绍了射频电路测量的基本设备及其功能；介绍了常用的定标及误差校准技术；介绍了几种参数的测试方了常用的定标及误差校准技术；介绍了几种参数的测试方法：法：S参数的测试方法，频率测试技术，相位噪声测试技参数的测试方法，频率测试技术，相位噪声测试技术，功率特性测试技术；介绍了器件的温度特性测试技术术，功率特性测试技术；介绍了器件的温度特性测试技术发展情况。发展情况。教学教学重点重点教学教学重点重点掌握：常用的定标及误差校准技术；掌握：常用的定标及误差校准技术；S参数的测试方法参数的测试方法,频频

2、 率测试技术，相位噪声测试技术，功率特性测试技率测试技术，相位噪声测试技术，功率特性测试技 术术。了解：了解：器件的温度特性测试技术的发展情况。器件的温度特性测试技术的发展情况。熟悉：射频电路测量的基本设备及其功能。熟悉：射频电路测量的基本设备及其功能。能力能力要求要求2本章目录v第一节 基本测试设备v第二节 频率特性测试技术v第三节 噪声特性测试技术v第四节 功率特性测试技术v第五节 温度特性测试技术 3知识结构射射频频电电路路与与系系统统测测试试技技术术基本测试设备基本测试设备信号源信号源频谱分析仪频谱分析仪矢量网络分析仪矢量网络分析仪频率特性测试技术频率特性测试技术噪声特性测试技术噪声特

3、性测试技术功率特性测试技术功率特性测试技术计数法计数法测量系统的三阶截断点的方法测量系统的三阶截断点的方法直接测量法直接测量法鉴相器法鉴相器法鉴频器法鉴频器法微波功率测量方法微波功率测量方法功率测量中的误差功率测量中的误差温度特性测试技术温度特性测试技术噪声系数分析仪噪声系数分析仪外差法外差法低温测量低温测量414.1 基本测试设备14.1.1 信号源 信号源是能够产生射频/微波测试信号的装置，其核心部件是振荡器或频率合成器。按应用要求，信号源可以分为简易微波信号源、标准微波信号源、点频微波信号源和扫频微波信号源。1.简易微波信号源与标准微波信号源产生输出频率、输出电平和调制系数都能调节的信号

4、，且能够准确读数，并对信号的泄漏有严格要求。2.标准信号源在简易微波信号源的基础上，增加了一个定标衰减器模块。3.扫频微波信号源的输出频率可以在指定范围按一定的频率步进周期性变化（即为扫频）。4.点频微波信号源按点频方式工作，一次只能输出单一频率的微波信号，而对应的测量方法称为点频测量法。514.1 基本测试设备14.1.2 频谱分析仪 对于射频信号，由于频率很高，无法直接用时域测量仪器进行测量，只能将时域信号经过傅氏变换，变为频域信号来分析其频谱。供测量信号频谱的仪器称为频谱分析仪。频谱分析仪可以用于显示所测量信号的电压、波形、功率、周期、频率以及旁频带。频谱分析仪面板频谱分析仪面板614.

5、1 基本测试设备 频谱分析仪的核心是混频器，基本功能是将被测信号下变至中频，然后在中频上进行处理，得到幅度。在下变频的过程中，是由本振来实现下变频的。本振信号是扫描的，本振扫描的范围覆盖了所要分析信号的频率范围，所以调谐是在本振中进行的。全部要分析的信号都下变频到中频进行分析并得到频谱。频谱分析仪的基本结构框图频谱分析仪的基本结构框图714.1 基本测试设备14.1.3 矢量网络分析仪 矢量网络分析仪是全面测量网络参数的高精度、智能化仪器，能快速、精确地测量有源器件和无源器件的特性，例如放大器、混频器、双工器、滤波器、耦合器、衰减器和移相器等无源和有源电路。1.S参量的测量 在测量、建模和设计

6、多元件的复杂系统中，器件的S参数特性起着关键的作用。矢量网络分析仪能方便快捷的测量出被测器件的四个S参量。网络分析仪通常有1个输出端口，该端口可以通过内部信号源或外接信号源输出射频信号，另外还有3个分别标为R,A和B的测量通道，其结构如图所示。814.1 基本测试设备射频源通常是覆盖特定频段的扫频源。测量通道R用于测量入射波，同时也作为参考端口。通道A和B通常用于测量反射波和传输波。测量通道A和B可以同时测量任意两个S参量元素。此时，和 的数值可以分别通过计算A/R和B/R的比值得到。若要测量 和 ，则必须将待测元件反过来连接。利用网络分析仪测试利用网络分析仪测试S参数的实验系统参数的实验系统

7、 914.1 基本测试设备2.测量误差及分析方法 使用矢量网络分析仪测量待测器件（DUT）的S参数时，测量误差由三部分组成：系统误差，随机误差和漂移误差。系统误差主要包括方向性误差、隔离误差、源/负载的失配误差、反射/传输路径的频率响应误差等。矢量网络分析仪的系统误差模型矢量网络分析仪的系统误差模型 1014.1 基本测试设备（1）反向性误差和隔离误差 方向性误差表现为矢量网络分析仪发射的测试信号未通过DUT，而直接进入了反射信号的通道，这是由于发射端的定向耦合器没有足够的隔离造成的。隔离误差表现为入射信号通过DUT后而直接进入了接收端的反射通道，而没有进入接收端的传输通道。（2）源失配误差和

8、负载失配误差 源失配误差的产生机理是：实际的测试系统并非理想匹配，在进行反射测量时，由于从DUT向源看去的反射系数不完全等于零，导致部分反射功率的损失，对测量 和 造成影响。同理在传输测量时，负载失配误差是由于从DUT向负载看去的等效反射系数不完全等于零，导致部分传输功率的损失，对测量 和 造成影响。1114.1 基本测试设备（3）反射路径的频率响应误差和传输路径的频率响应误差 频率响应误差是由测试系统的功率分配器，定向耦合器，转换接头和传输电缆的频率响应特性并不是一条很平坦的直线而引起的误差。表现为若用一个标准的短路校准件进行校准时，系统的频率响应的不平坦性。以上六种误差是系统误差，是可以校

9、准的。另外还有两类误差随机误差和漂移误差是不能校准的。（1）随机误差 随机误差（又称偶然误差）是指测量结果与同一待测量的大量重复测量的平均结果之差。（2）漂移误差 分析测试仪器由于供电电源电压不稳，电子学元件老化，光电倍增管暗电流大，环境温度变化，室内气流骚扰等原因，造成分析仪器示值不稳所引起的分析测试结果与理论实际数据的偏差。1214.1 基本测试设备 3.测试夹具及校准技术 夹具的作用是连接DUT和矢量网络分析仪，所以理想的夹具要求无损耗、线性相位变化、平坦的频率响应、阻抗匹配的连接端、电长度已知、输入和输出端的隔离度无穷大等。使用高质量的测试夹具可以获得高的测量精度，下图是用于手机芯片的

10、测试夹具照片，利用它可以方便的进行手机芯片测试，并得到很好的测量精度。手机芯片测试夹具照片手机芯片测试夹具照片 1314.1 基本测试设备 4.通用校准与定标方法 （1）SOLT校准 先后连接匹配负载，短路器和开路器并测量反射系数 ，通过计算可校准反射参数相关的误差项。在得到与反射误差相关的误差项后，连接匹配负载并测量传输系数 可得到传输路径的隔离误差，连接直通段并测量 和 可以得到传输路径的频率响应误差和负载失配误差。所以要得到所有的12个误差项，通过正向和反向各六次测量就可以得到测量系统的所有12个误差项。正向误差模型正向误差模型反向误差模型反向误差模型1414.1 基本测试设备 （2）T

11、RL校准 直通-反射-传输线（TRL）校准方法不需要已知的负载，而是采用下图所示的3种不同连接方式进行校准。直通直通-反射反射-传输线校准方法的信号流图传输线校准方法的信号流图 对于直通状态，已知 ，。令 ，则有：1514.1 基本测试设备 对于直通状态，已知 ，则有：对于传输线状态，已知 ，则有：根据上述公式可以解出校准网络的未知参数 ，,反射系数 ，以及传输线参数 。在完成了误差校准后，就可以测量DUT的S参数了。1614.1 基本测试设备 5.探针台及校准技术 用探针台能够实现极其精确的MMIC性能测试。与测试夹具相比，探针台测量技术具有如下一些优点：（1）单扫频系统已实现直流到120G

12、Hz信号的测量。（2）引入的系统误差很小，测量更精确，并具有可重复性。（3）校准程序简单，采用晶圆片上校准和验证标准可以实现 校准程序自动化。（4）其使VNA测量参考面位于探针尖或在沿MMIC传输线一段 距离处；后者可以完全消除过渡效应。（5）其提供了一种快速、无破坏测量MMIC的方法，从而可以在 切片和封装之前进行芯片选择。1714.1 基本测试设备14.1.4 噪声系数分析仪 噪声系数测试仪的原理方框图如下图所示。10 1 600 MHz信号进入低通滤波器后,任何高于1 650 MHz的信号将被抑制,程控放大器调整输入信号电平以满足第一变频器的需要。第一变频器使输入信号和第一本振差频得到第

13、一中频,第一中频经隔离器进入低通滤波器,然后进入第二变频器。第一中频与 1750 MHz本振进行第二次混频得到第二中频。第二中频再和280 MHz本振混频产生第三中频,再经放大滤波之后进入检波、A/D变换,最后由CPU计算、修正、存储、显示。噪声系数分析仪原理图噪声系数分析仪原理图1814.2 频率特性测试技术14.2.1 外差法 外差法的基本原理是将待测的信号频率 与本机已知的准确振荡频率 通过混频器混频，输出差频信号 ，再通过分析三个频率的关系，测出待测频率。外差法原理外差法原理 若本机频率 连续可变，则可以通过调节本机频率，使输出差频 便可测得待测频率为：当 和 含有谐波分量时，则可以调

14、节 的n次谐波等于 的m次谐波，即 ，则可以得到待测频率为：1914.2 频率特性测试技术14.2.2 计数法计数法的基本原理是将未知频率 的每一个周期 变为一个脉冲，由计数器计出通过闸门的脉冲数，标准频率 用于控制闸门的开关时间，如图所示：计数法原理计数法原理 设闸门开放的时间 等于 的m个周期，即 ，在开放期间通过闸门的脉冲数为n个，则 ，于是得到待测频率为：。2014.2 频率特性测试技术14.2.3 测量系统的三阶截断点的方法 如果基频信号增大10 dB，三阶交调就会增大30 dB，所以对于基频分量有：而对于三阶交调分量有：其中a和b为当输入功率为 时的基频和三阶交调的输出功率。化简上

15、两式得到：于是我们可以得到三阶截断点为：2114.3 噪声特性测试技术相位噪声的功率谱密度 可以定义为：其中 是 在频率 处产生功率，B为测量噪声的等效带宽。根据调制理论，当 最大值远小于1 rad时，可得到如下关系：2214.3 噪声特性测试技术14.3.1 直接测量法 将未加调制的高频载频信号直接加到频谱仪上，调节适当的频率范围和其他参数便可观测出该信号的 。为了更加精确的测量 ，需要进行一定的修正。首先将分辨带宽 乘以1.2作为测量带宽B。由于频谱仪读数对噪声功率有2.5 dB的压缩，所以需要加上2.5 dB的修正项，最后结果为：14.3.2 鉴相器法 用鉴相器法测量相位噪声其过程是将待

16、测信号与一个高稳定度的同频参考信号相位正交的进行混频，检出与被测信号的相位起伏成比例的低频噪声电压，经过低通滤波和低噪声放大，输入到频谱仪中读出 的功率谱 。2314.3 噪声特性测试技术鉴相器法测相位噪声鉴相器法测相位噪声设被测信号为,参考信号为两信号经过混频器和滤波器后得到：当时，又有：2414.3 噪声特性测试技术因为，若可以调节，则有：当 的最大值远小于1 rad时，就得到：考虑频域，同样有：可知 就是与相位起伏 成比例的低频电压。令 称为鉴相常数，通过频谱仪测量输出电压 ，通过鉴相常数 的校正就可以得到 的功率谱 。2514.3 噪声特性测试技术14.3.3 鉴频器法鉴频器法的原理是

17、将被测信号的频率起伏 由鉴频器变为电压起伏 ，从而通过测量 的频谱得到 或 。鉴频器法测相位噪声鉴频器法测相位噪声通过鉴频器输出的信号在频域上可表示为：其中 是与延迟线、混频器和低噪声放大器的增益或插损相关的量。2614.3 噪声特性测试技术定义鉴频常数 ：在频率 偏差很小 时，鉴频常数 可近似为 .在得出鉴频常数后，其他的校准工作与鉴相法相同，最后的测量结果为：2714.4 功率特性测试技术14.4.1 微波功率测量方法 用满足量程的微波功率计测量微波功率的电路也可以分为两种，即终端式和通过式。终端式测量电路是将微波信号直接输入到微波功率计中进行测量，此时需要注意输入信号与功率计间的阻抗匹配

18、，否则会带来较大的测量误差。通过式测量电路是在输出信号的传输线上通过耦合器按比例提取一部分微波功率进行测量，最后按比例计算出信号的功率。另一种小量程功率计的扩展测量电路称为衰减法，它是由待测微波输出和小量程功率计，以及它们之间附加的一个已知衰减量的衰减器组成。测量时将测出的功率加上衰减量，就得到微波的输出功率。通过式法测功率通过式法测功率衰减法测功率衰减法测功率2814.4 功率特性测试技术14.4.2 功率测量中的误差 实际的测量电路中输入源和功率计的阻抗失配是不可避免的。分两种情况对因阻抗失配带来的测量误差进行分析。功率测量的等效电路功率测量的等效电路第一种是源匹配（），但功率计或功率探头

19、不匹配（）的情况。设源的资用功率为 ，输出到功率计上的功率为 ，跟据功率计算公式有：2914.4 功率特性测试技术 可以看出测量的功率 小于实际的输出功率 ，由于在这种情况下 是确定的，所以是可以校正的，求出实际输出功率为：第二种情况是源端和功率计端都不匹配（）的情况。根据功率计算公式：其中，3014.4 功率特性测试技术 是在负载阻抗匹配时，源能传输到负载上的最大功率，即实际输出功率。可以看出功率计上测得的功率 与源能输出的最大功率相差误差因子 ，由于 是可以确定的，所以是可以校正的，校正后的功率为 ，且有：于是误差因子变为 ，由于这个因子的值不仅取决于 和 的绝对值，还取决于两者的不确定的

20、相位关系，所以 对于测量电路来说这个因子是无法校正的。3114.5 温度特性测试技术 在实际应用中，微波电路可能工作在一个很宽的温度范围内，例如地球同步卫星上的微波电路可能周期性工作在 到 的环境温度下；耿氏二极管的工作温度可能达到 ；而某些高性能的低噪声放大器要求工作在的 低温下。因此对微波电路工作在特定温度范围内的性能测试就变得尤为重要。14.5.1 低温测量 传统的低温探针台技术分为两类，第一类是将待测器件和探针台浸泡在低温冷却剂中。第二类是将探针台置于带有干燥氮气的液态低温冷却铜台上。现在提出了一种新的低温真空探针台方案，其具体的测量过程是，在真空环境中将待测器件置于铜台上，其探针通过一个特制的操纵系统和电缆相连，将冷却剂持续不断的馈入铜台中，然后将系统提取，等待15至20分钟以达到温度平衡，然后进行温度校准，便可以进行长时间的实际器件测量。32本章小结 本章首先介绍了射频电路测量的基本设备及其功能，在引入了误差模型的基础上，介绍了常用的定标及误差校准技术。然后详细描述了几种参数的测试技术：S参数的测试方法，频率测试技术，相位噪声测试技术，功率特性测试技术。最后介绍了器件的温度特性测试技术的发展情况。