教学课件:第五章(全)光电子技术介绍.ppt
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1、第五章:光电导探测器简称简称PC(Photoconductive)PC(Photoconductive)探测器,也称探测器,也称为光敏电阻。为光敏电阻。工作要求:为有源器件,工作时需要加工作要求:为有源器件,工作时需要加适当的偏流或者偏压。适当的偏流或者偏压。主要类型:本征型、杂质型、薄膜型和主要类型:本征型、杂质型、薄膜型和扫积型。扫积型。5.1 光电导探测器的工作原理及电流分析 一、光生电流的计算一、光生电流的计算 材料材料:n n型半导体型半导体 V VA A:外加电压外加电压I IP P:光生电流:光生电流:光电导材料的吸收系数:光电导材料的吸收系数R R:表面反射率。表面反射率。0
2、0:载流子平均寿命。载流子平均寿命。P P:入射的光功率。:入射的光功率。入射光沿入射光沿x x方向的变化为:方向的变化为:()()LPdwxVA图图5.1、光电导探测器模型、光电导探测器模型如果如果n(x)表示在表示在x处光生载流子浓度,在外加电场作用下处光生载流子浓度,在外加电场作用下该处的漂移电流密度该处的漂移电流密度J(x)为:为:()()为光生载流子在外加电场作用下的漂移速度为光生载流子在外加电场作用下的漂移速度在探测器收集极上光电流平均值为在探测器收集极上光电流平均值为 假如探测器光敏面受均匀照射,电流平均值可以写成假如探测器光敏面受均匀照射,电流平均值可以写成 ()():为电子迁
3、移率。:为电子迁移率。()()光生载流子浓度计算:光生载流子浓度计算:在在x处单位长度材料上吸收的光功率为处单位长度材料上吸收的光功率为 P P(x x):在:在x处单位时间吸收的光子数处单位时间吸收的光子数 :在在x方向上单位长度体积内的被吸收的光子数方向上单位长度体积内的被吸收的光子数 密度密度,由于由于包含包含了量子效率在里面,因此也了量子效率在里面,因此也 等于单位时间、单位体积产生的光电子数。等于单位时间、单位体积产生的光电子数。:单位时间、单位体积内复合掉的光电子数。:单位时间、单位体积内复合掉的光电子数。平衡状态下产生的光电子数等于复合掉的光电子数,因此有平衡状态下产生的光电子数
4、等于复合掉的光电子数,因此有()()()()代入()式后得到光电流为代入()式后得到光电流为:得到得到计算量子效计算量子效:I Ip p:产生的实际光电流:产生的实际光电流;I Ip0p0 :入射光子全部被吸收所产生的光电流:入射光子全部被吸收所产生的光电流当入射光全部被半导体材料吸收时,在平衡状态下有当入射光全部被半导体材料吸收时,在平衡状态下有(5.1.9)(5.1.9)()()其中其中 称为光电导探测器的内增益,称为光电导探测器的内增益,计算计算I Ip0p0 得到光生载流子浓度为得到光生载流子浓度为可以得到相应的光电流为:可以得到相应的光电流为:得到量子效率为得到量子效率为(5.1.1
5、0)(5.1.10)把上式代入把上式代入(5.1.8)(5.1.8)式可以得到式可以得到 (5.1.11)(5.1.11)讨论讨论G G 值:值:G G=1=1:表示光电子寿命表示光电子寿命0 0刚好等于它在电极间的渡越时间刚好等于它在电极间的渡越时间 d d,每产生一个光电子对外回路电流正好提供一个,每产生一个光电子对外回路电流正好提供一个 电子的电荷电子的电荷e e。G G 111:空穴在移动过程中很容易被光电导材料体内的晶体缺空穴在移动过程中很容易被光电导材料体内的晶体缺 陷和杂质形成的陷阱俘获。当光电子在阳极消失时,陷和杂质形成的陷阱俘获。当光电子在阳极消失时,空穴仍留在体内,它将负极
6、的电子感应到半导体中空穴仍留在体内,它将负极的电子感应到半导体中 来,感应进来的电子又在电场作用下运动到阳极,如来,感应进来的电子又在电场作用下运动到阳极,如 此循环,直到正电中心消失。这种效应相当于一个光此循环,直到正电中心消失。这种效应相当于一个光 子激发,可以有多个电子相继通过电极,因而在外回子激发,可以有多个电子相继通过电极,因而在外回 路对总的光电流的贡献将多于一个电子,相当于电流路对总的光电流的贡献将多于一个电子,相当于电流 被放大。被放大。5.2 光电导探测器的噪声及性能参数 1、噪声:、噪声:主要有主要有热噪声、产生热噪声、产生-复合噪声和复合噪声和1/f1/f 噪声。噪声。总
7、的噪声功率为总的噪声功率为噪声功率谱密度分布特点噪声功率谱密度分布特点 低频段主要是低频段主要是1/1/f f 噪声噪声中频段主要是中频段主要是g-rg-r噪声噪声高频段以热噪声为主高频段以热噪声为主噪声谱转折点与半导体材料和结噪声谱转折点与半导体材料和结 构、工艺有关系,对大多数光电构、工艺有关系,对大多数光电 导探测器来说,这两个转折点大导探测器来说,这两个转折点大 致在致在1KHz1KHz、1MHz1MHz量级,通常的工量级,通常的工 作频率范围内作频率范围内g-rg-r噪声是主要的。噪声是主要的。1kHz 1MHz图图5.25.2、光电导探测器的噪声分布、光电导探测器的噪声分布二、光电
8、导探测器的性能参二、光电导探测器的性能参数数A.A.响应率响应率电流响应率:电流响应率:电压响应率:电压响应率:()()前面的推导我们已经得到前面的推导我们已经得到可以得到响应率为:可以得到响应率为:把把 代入上式,可以得到电流响应率为:代入上式,可以得到电流响应率为:()()提高响应率的方法:提高响应率的方法:(1)(1)提高偏压提高偏压V VA A的值,偏压越高,输出电流越大,响应率越高,的值,偏压越高,输出电流越大,响应率越高,但偏压过高,通过器件的电流产生的焦耳热将增加。但偏压过高,通过器件的电流产生的焦耳热将增加。(2)(2)提高载流子寿命,可以在半导体中加入一些陷阱来提高载提高载流
9、子寿命,可以在半导体中加入一些陷阱来提高载 流子寿命进而提高响应率,但会减慢响应速度。流子寿命进而提高响应率,但会减慢响应速度。(3)(3)当入射的光功率一定时,减小光敏当入射的光功率一定时,减小光敏 面积能够提高单位体积内光生载流面积能够提高单位体积内光生载流 子的数量,进而提高响应率。子的数量,进而提高响应率。B B、光谱特性、光谱特性光电导探测器是选择性探测器,光电导探测器是选择性探测器,典型的光谱特性如右图典型的光谱特性如右图p p :峰值响应波长:峰值响应波长 C C:长波限波长:长波限波长RV/RVP1.00.5 P PC C图图5.35.3、光谱响应特征、光谱响应特征光谱响应曲线
10、分析:光谱响应曲线分析:采用的半导体材料不同导致不同的光谱响应波段:采用的半导体材料不同导致不同的光谱响应波段:当波长由长波限端开始变小时,相应的光子能量增大,随着当波长由长波限端开始变小时,相应的光子能量增大,随着 波长的减小所有价电子有可能被激发至导带,入射光全部被波长的减小所有价电子有可能被激发至导带,入射光全部被 吸收,光生载流子的浓度达到最大,此时,光电导响应率达吸收,光生载流子的浓度达到最大,此时,光电导响应率达 到最大值。继续减小入射波长,可使光在器件表面很薄的一到最大值。继续减小入射波长,可使光在器件表面很薄的一 层完全吸收,使表面载流子密度很大,导致载流子复合概率层完全吸收,
11、使表面载流子密度很大,导致载流子复合概率 增大,寿命降低,致使短波的响应率明显降低。增大,寿命降低,致使短波的响应率明显降低。本征型:本征型:把价电子激发至导带需要较把价电子激发至导带需要较高的能量,因此长波限波长短。高的能量,因此长波限波长短。杂质型:杂质型:把杂质能级上的电子激发至把杂质能级上的电子激发至导带需要较低的能量,因此长波限波导带需要较低的能量,因此长波限波长较长。长较长。本征型本征型 杂质杂质型型 图图5.45.4、本征、杂质光电导光谱响应特征、本征、杂质光电导光谱响应特征C C、温度特性、温度特性光电导探测器的特性受工作温度影响很大,只要温度略光电导探测器的特性受工作温度影响
12、很大,只要温度略有变化,它的光谱响应率、峰值响应波长、长波限等参有变化,它的光谱响应率、峰值响应波长、长波限等参数都要发生变化。数都要发生变化。主要原因:主要原因:温度升高温度升高热激发载流子增多热激发载流子增多热噪声增加,同时光生载流子寿命下降热噪声增加,同时光生载流子寿命下降内增益内增益G下降下降探测率等参数下降探测率等参数下降光谱随温度变化特点:光谱随温度变化特点:温度升高,光谱响应峰值温度升高,光谱响应峰值向短波方向移动。向短波方向移动。D*1010 PbS 1 2 3 4 5 10111012300K190K80K图图5.5、光谱随温度变化、光谱随温度变化D D、探测率、探测率以热噪
13、声为主要噪声分析影响探测器探测率的主要因素以热噪声为主要噪声分析影响探测器探测率的主要因素探测率定义为:探测率定义为:热噪声电压为热噪声电压为 ,因此探测率可写为:,因此探测率可写为:(5.2.4)其中其中 增大偏压增大偏压V VA A,可以提高,可以提高R RV V,但同时通过器件的电流产生,但同时通过器件的电流产生 的焦耳热将增加(导致的焦耳热将增加(导致T T上升),对改善上升),对改善D D*不明显。不明显。实际使用时,光电导探测器有一最佳偏压或偏流,不同实际使用时,光电导探测器有一最佳偏压或偏流,不同 器件的最佳偏流不同。器件的最佳偏流不同。E E、光电导的驰豫过程、光电导的驰豫过程
14、光电导材料从光照开始到获得稳光电导材料从光照开始到获得稳定的载流子浓度需要一定时间,定的载流子浓度需要一定时间,光生载流子的变化过程可以写:光生载流子的变化过程可以写:()()和和 分别为光生载流子寿命和稳态光生载流子浓度。分别为光生载流子寿命和稳态光生载流子浓度。IA/IAopt Rv D*图图5.65.6、最佳偏流选取点、最佳偏流选取点光电探测器的响应时间(光电探测器的响应时间(驰豫时间驰豫时间):):光生载流子浓度上升到稳态值的光生载流子浓度上升到稳态值的63%63%所需要的时间为响应时间,即所需要的时间为响应时间,即t t=。或光照突然停止后,光生载流子下降到稳定值的。或光照突然停止后
15、,光生载流子下降到稳定值的37%37%所需要所需要的时间,也是的时间,也是t=t=。光电导的驰豫特性限制了器件对光电导的驰豫特性限制了器件对 较高调制频率的光功率的响应。较高调制频率的光功率的响应。6337 0 1 0 1 t/I I 图图5.75.7、光电导的驰豫特性、光电导的驰豫特性5.3 5.3 实用光电导探测器实用光电导探测器5.3.1 5.3.1 单晶光电导探测器单晶光电导探测器(一一)本征型本征型:(1)(1)碲镉汞碲镉汞 (HgCdTe)(HgCdTe)(2 2)锑化铟)锑化铟(InSb)(InSb)(3 3)碲锡铅)碲锡铅(PbSnTe)(PbSnTe)(二二)杂质型:杂质型:
16、(1)(1)锗掺汞锗掺汞 (Ge:Hg)(2)(Ge:Hg)(2)锗掺镓锗掺镓 (Ge:Ga)(3)(Ge:Ga)(3)硅掺砷(硅掺砷(Si:AsSi:As)1 1、碲镉汞光电导探测器碲镉汞光电导探测器工作特点工作特点:(Hg)(Hg)(Te)(Te)族化合物本征光电导探测器,具有较族化合物本征光电导探测器,具有较 高的工作温度。高的工作温度。材料制作材料制作:采用半导体合金法,将化合物蹄化镉:采用半导体合金法,将化合物蹄化镉 (CdTe)(CdTe)和碲化和碲化 汞汞 (HgTe)(HgTe)混合成合金系统。混合成合金系统。禁带宽度禁带宽度:Eg(CdTe)=1.6eVEg(CdTe)=1.
17、6eV;Eg(HgTe)=Eg(HgTe)=0.3eV;0.3eV;讨论讨论:当器件温度当器件温度T T一定时,一定时,EgEg与与x呈线性关系;呈线性关系;改变组分改变组分x,可以改变,可以改变EgEg,从而改变探测器的光谱响应范围。,从而改变探测器的光谱响应范围。通过改变组分通过改变组分x和器件和器件工作温度,可以得到不同长波限及峰工作温度,可以得到不同长波限及峰 值响应波长的高性能探测器。值响应波长的高性能探测器。CdTeCdTe和和HgTeHgTe两种物质的混合固溶体两种物质的混合固溶体HgHg1-x1-xCdCdx xTeTe的禁带宽度为:的禁带宽度为:(5.2.6)x=0.2 an
18、d T=77K(=0.2 and T=77K(液氮温度液氮温度):光谱响应范围:光谱响应范围:8-14um8-14um,探测率可达探测率可达2 28*108*101010cm.Hzcm.Hz1/21/2/W/W的数量级。的数量级。x=0.28 and T=300K or T=195K=0.28 and T=300K or T=195K:光谱响应范围:光谱响应范围:3-5um3-5um,当当=300K=300K时,探测率可达时,探测率可达10101010cm.Hzcm.Hz1/21/2/W/W。当工作温度下降至当工作温度下降至195K195K或或77K77K时,可使峰值波长向长波方向时,可使峰值
19、波长向长波方向 延伸,并使探测率提高延伸,并使探测率提高l-2l-2个数量级。个数量级。x=0.39x=0.39(室温下工作):(室温下工作):光谱响应为光谱响应为1-3um1-3um,探测率为探测率为.图图4 41111、4 41212绘出了绘出了HgCdTeHgCdTe光电导探测器不同组分光电导探测器不同组分x x的光谱的光谱响应曲线及其典型结构示意图。响应曲线及其典型结构示意图。典型的组分典型的组分x及工作温度及工作温度T T:性能特点性能特点:(1)HgCdTe(1)HgCdTe探测器响应率高探测器响应率高;(2);(2)响应频带宽响应频带宽(0-(0-几几MHz);(3)MHz);(
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- 教学 课件 第五 光电子 技术 介绍
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