材料物理第三章优秀PPT.ppt
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1、材料物理第三章1 1你现在浏览的是第一页,共105页 例如:半导体的电阻率是结构敏感性的,微量杂质就可以产生很大影响;相对而言,金属的电阻率就是非结构敏感性的。对同一种材料,在不同的温度范围内又会呈现不同的情况:例如在室温以上,金属的电阻率是非结构敏感性的;但其低温剩余电阻率就呈现结构敏感性。结构敏感性反映了晶体缺陷对固体性能的影响。因为理想完整的没有任何晶体缺陷的固体材料是不存在的,绝对非结构敏感的固体性能也是不存在的。每一种性能,或多或少地都受到晶体缺陷的影响。2 2你现在浏览的是第二页,共105页 研究非结构敏感的性能时,例如金属的压缩系数,可以根据金属的晶体结构与电子结构,在金属电子论
2、的基础上进行理论计算,再将计算结果直接和实验数据相比较,即可以判定理论是否正确。但是在研究结构敏感的性能时,由于晶体中的缺陷的类型、分布和运动起关键作用,因此,必须首先研究晶体缺陷的具体情况,再在晶体缺陷理论的基础上进行解释。缺陷缺陷:指固体材料中晶体的缺陷。也就是指实际晶体结构中和理想的点阵结构发生偏差的区域。3 3你现在浏览的是第三页,共105页 晶体的主要特征是其原子(分子)的周期性规则排列。但实际晶体中原子的排列总是或多或地偏离了严格的周期性,例如,晶体中的原子作热振动时,就破坏了上述周期性,因而在晶体中传播的电子波或光波就会受到散射,这意味着晶体的电学性能或光学性能发生了改变。晶体中
3、缺陷种类很多,影响着晶体的力学、热学、电学、光学等等等方面的性质。缺陷分类缺陷分类:点缺陷点缺陷:特征是所有方向的尺寸都很小,亦称为零维缺陷。例如空位、填隙原子、杂质原子等。4 4你现在浏览的是第四页,共105页 线缺陷线缺陷:特征是在两个方向上的尺寸很小,亦称为一维缺陷。例如位错。面缺陷面缺陷:特征是只在一个方向上的尺寸很小,亦称为二维缺陷。例如晶界、相界和堆垛层错等。3.2点缺陷点缺陷 3.2.1点缺陷的主要类型点缺陷的主要类型 晶体中点缺陷是指在一个或几个原子的微观区域内,原子的排列偏离理想周期结构而形成的空位、填隙原子、杂质原子空位、填隙原子、杂质原子等的缺陷。根据点缺陷的形成机理,晶
4、体中的典型点缺陷可以分为热热缺陷缺陷和杂质缺陷杂质缺陷两种。5 5你现在浏览的是第五页,共105页 3.2.1.1热缺陷热缺陷 由于热涨落的原因所产生的空位和填隙原子的缺陷。常见的热缺陷有三种常见的热缺陷有三种 (1)原子脱离正常格 点位置后,形成填隙 原子,称为弗伦克尔 缺陷。如图3.1所示,形成弗伦克尔缺陷的 空位和填隙原子的数 目相等。6 6你现在浏览的是第六页,共105页 (2)晶体的内部只有 空位,这样的热缺陷 称为肖脱基缺陷。称为肖脱基缺陷。见 图3.2,原子脱离格点 后,并不在晶体内部 构成填隙原子,而跑 到晶体表面上正常格 点的位置,构成新的 一层。在一定温度下,晶体内部的空位
5、和表 面上的原子处于平衡。7 7你现在浏览的是第七页,共105页 (3)晶体表面上的原 子跑到晶体内部的间 隙位置,见图3.3,这 时晶体内部只有填隙 原子。在一定温度下,这些填隙原子和晶体 表面上的原子处于平 衡状态。8 8你现在浏览的是第八页,共105页 在一定温度下,热缺陷的产生和复合过程相平衡,缺陷保持一定的平衡浓度。在通常情况下,由于形成填隙原子缺陷时,必须使原子挤入晶格的间隙位置,这所需的能量要比造成空位的能量大,所以肖脱基缺陷存在的可能性要比弗伦克尔缺陷存在的可能性大。上述热缺陷也称为本征缺陷。3.2.1.2杂质原子杂质原子 组成晶体的主体原子称为基质原子。掺入到晶体中的异种原子
6、或同位素称为杂质。9 9你现在浏览的是第九页,共105页(1)替位式杂质缺陷:杂质占据基质原子的位置。在半导体的制备过程中,常常有控制地在晶体中引进某些外来原子,形成替位式杂质,以改变半导体性能。(2)填隙杂质缺陷:杂质原子进入晶格间隙位置。原子半径小的杂质原子常以这种方式出现在晶体中。3.2.2热缺陷数目的统计理论热缺陷数目的统计理论 在一定温度下,热缺陷是处在不断的产生和消失的过程,新的热缺陷不断地产生,原来的热 1010你现在浏览的是第十页,共105页 缺陷不断地由于复合而消失,单位时间内产生和复合消失掉的数目相等时,热缺陷的数目保持不变,达到动态平衡。平衡热缺陷数目可以从晶体热力学平衡
7、条件求得。u F F u S S u F F u u F F 形成一个弗伦克尔缺陷所需的能量。u S S 产生一个肖脱基空位所需的能量(与u F F 相 比,少了一个挤进间隙所消耗的能量)。u 形成一个间隙原子所需的能量(与u F F 相比,少了形成空位所需的能量)。1111你现在浏览的是第十一页,共105页 3.2.3点缺陷对物理性能的影响点缺陷对物理性能的影响 晶体中有了点缺陷,其一系列的物理性能都会受到影响。晶体的某些性能对即使浓度很低的缺陷也是极其敏感的,我们称之为结构敏感性。(1)填隙原子和肖脱基缺陷可以引起晶体密度的填隙原子和肖脱基缺陷可以引起晶体密度的变化,弗伦克尔缺陷不会引起晶
8、体密度的变化。变化,弗伦克尔缺陷不会引起晶体密度的变化。金属晶体中出现空位,将使其体积膨胀、密度下降。1212你现在浏览的是第十二页,共105页 例如,在例如,在NaCl晶体中掺入适量晶体中掺入适量CaCl,Ca2+离子以替位的方式占据格点位置,而离子以替位的方式占据格点位置,而Na2+离子离子则以填隙方式存在形成正电中心。为了保持晶体则以填隙方式存在形成正电中心。为了保持晶体的电中性,必将出现一些正离子空位形成负电中的电中性,必将出现一些正离子空位形成负电中心,这就导致了晶体密度的变化。从图心,这就导致了晶体密度的变化。从图3.1图图3.3的示意更容易理解这种密度的变化。理论计的示意更容易理
9、解这种密度的变化。理论计算结果表明,填隙原子引起的体膨胀为算结果表明,填隙原子引起的体膨胀为12个个原子体积,而空位的体膨胀则约为原子体积,而空位的体膨胀则约为0.5个原子体个原子体积。金属晶体中出现空位,将使其体积膨胀、密积。金属晶体中出现空位,将使其体积膨胀、密度下降。度下降。1313你现在浏览的是第十三页,共105页 (2)点缺陷可以引起晶体电导性能的变化。点缺陷可以引起晶体电导性能的变化。点缺陷对材料物理性能的影响主要是对晶体点缺陷对材料物理性能的影响主要是对晶体电阻和密度最明显。由于点缺陷破坏了原子的规电阻和密度最明显。由于点缺陷破坏了原子的规则排列,对传导电子产生了附加的电子散射,
10、使则排列,对传导电子产生了附加的电子散射,使电阻增大。在金属材料中点缺陷引起的电阻升高电阻增大。在金属材料中点缺陷引起的电阻升高可达可达10%15%。因此电阻率是研究点缺陷的。因此电阻率是研究点缺陷的一个简单灵敏的方法。点缺陷的存在还使晶体体一个简单灵敏的方法。点缺陷的存在还使晶体体积膨胀,密度减小。积膨胀,密度减小。1414你现在浏览的是第十四页,共105页 对于离子晶体的点缺陷来说,理想的离子晶体是典型的绝对于离子晶体的点缺陷来说,理想的离子晶体是典型的绝对于离子晶体的点缺陷来说,理想的离子晶体是典型的绝对于离子晶体的点缺陷来说,理想的离子晶体是典型的绝缘体,但实际上离子晶体也都有一定的导
11、电性,其电阻明显依缘体,但实际上离子晶体也都有一定的导电性,其电阻明显依缘体,但实际上离子晶体也都有一定的导电性,其电阻明显依缘体,但实际上离子晶体也都有一定的导电性,其电阻明显依赖于温度和晶体的纯度。因为温度升高和掺杂都可能在晶体中赖于温度和晶体的纯度。因为温度升高和掺杂都可能在晶体中赖于温度和晶体的纯度。因为温度升高和掺杂都可能在晶体中赖于温度和晶体的纯度。因为温度升高和掺杂都可能在晶体中产生缺陷。从能带理论可以理解离子晶体的导电性:离子晶体产生缺陷。从能带理论可以理解离子晶体的导电性:离子晶体产生缺陷。从能带理论可以理解离子晶体的导电性:离子晶体产生缺陷。从能带理论可以理解离子晶体的导电
12、性:离子晶体中带电的点缺陷可以是电子或空穴,它的能级处于满带和空带中带电的点缺陷可以是电子或空穴,它的能级处于满带和空带中带电的点缺陷可以是电子或空穴,它的能级处于满带和空带中带电的点缺陷可以是电子或空穴,它的能级处于满带和空带的能隙中,且离空带的带底或满带的带顶较近,从而可以通过的能隙中,且离空带的带底或满带的带顶较近,从而可以通过的能隙中,且离空带的带底或满带的带顶较近,从而可以通过的能隙中,且离空带的带底或满带的带顶较近,从而可以通过热激发向空带提供电子或接受满带电子,使离子晶体表现出类热激发向空带提供电子或接受满带电子,使离子晶体表现出类热激发向空带提供电子或接受满带电子,使离子晶体表
13、现出类热激发向空带提供电子或接受满带电子,使离子晶体表现出类似于半导体的导电特性。例如,在高纯的硅单晶体中有控制地似于半导体的导电特性。例如,在高纯的硅单晶体中有控制地似于半导体的导电特性。例如,在高纯的硅单晶体中有控制地似于半导体的导电特性。例如,在高纯的硅单晶体中有控制地掺入微量的掺入微量的掺入微量的掺入微量的3 3价杂质硼,硅的电学性能有很大的改变。当价杂质硼,硅的电学性能有很大的改变。当在在105 5个硅原子中有个硅原子中有1 1个硼原子时,可以使硅的电导增加个硼原子时,可以使硅的电导增加个硼原子时,可以使硅的电导增加个硼原子时,可以使硅的电导增加10103 3倍。点缺陷对于传导电子会
14、产生附加的散射,从而也倍。点缺陷对于传导电子会产生附加的散射,从而也倍。点缺陷对于传导电子会产生附加的散射,从而也倍。点缺陷对于传导电子会产生附加的散射,从而也会引起电阻的加大。会引起电阻的加大。会引起电阻的加大。会引起电阻的加大。1515你现在浏览的是第十五页,共105页 实验:当离子晶体中有电流通过时,会在电实验:当离子晶体中有电流通过时,会在电极上沉淀出相应的离子的原子,这说明载流子是极上沉淀出相应的离子的原子,这说明载流子是正负离子。另外,在正负离子。另外,在NaCl晶体中掺入晶体中掺入Ca+2后,后,可产生可产生Na+离子空位,离子空位,Ca+2含量越大,含量越大,Na+空空位的数目
15、就越多,实验发现,室温下位的数目就越多,实验发现,室温下NaCl晶体晶体的电导率与杂质的电导率与杂质Ca+2的浓度成正比。的浓度成正比。这些实验事实都证实了离子晶体的导电性与这些实验事实都证实了离子晶体的导电性与缺陷有关,并借助于缺陷运动而导电。其导电现缺陷有关,并借助于缺陷运动而导电。其导电现象是由带电点缺陷在外电场作用下运动产生的。象是由带电点缺陷在外电场作用下运动产生的。1616你现在浏览的是第十六页,共105页(3 3)点缺陷能加速与扩散有关的相变。点缺陷能加速与扩散有关的相变。点缺陷能加速与扩散有关的相变。点缺陷能加速与扩散有关的相变。由于高温时点缺陷的平衡浓度急剧增加,点缺陷无疑会
16、由于高温时点缺陷的平衡浓度急剧增加,点缺陷无疑会由于高温时点缺陷的平衡浓度急剧增加,点缺陷无疑会由于高温时点缺陷的平衡浓度急剧增加,点缺陷无疑会对高温下进行的过程,如扩散、高温塑性变形和断裂、表面对高温下进行的过程,如扩散、高温塑性变形和断裂、表面对高温下进行的过程,如扩散、高温塑性变形和断裂、表面对高温下进行的过程,如扩散、高温塑性变形和断裂、表面氧化、腐蚀等产生重要影响。氧化、腐蚀等产生重要影响。氧化、腐蚀等产生重要影响。氧化、腐蚀等产生重要影响。点缺陷是不断运动着的,下面以空位为例说明其运动。空点缺陷是不断运动着的,下面以空位为例说明其运动。空点缺陷是不断运动着的,下面以空位为例说明其运
17、动。空点缺陷是不断运动着的,下面以空位为例说明其运动。空位周围原子的热震动给空位的运动创造了条件,空位就是通过位周围原子的热震动给空位的运动创造了条件,空位就是通过位周围原子的热震动给空位的运动创造了条件,空位就是通过位周围原子的热震动给空位的运动创造了条件,空位就是通过与周围原子不断地换位来实现其运动的。空位运动时,必然会与周围原子不断地换位来实现其运动的。空位运动时,必然会与周围原子不断地换位来实现其运动的。空位运动时,必然会与周围原子不断地换位来实现其运动的。空位运动时,必然会引起晶格点阵发生畸变,因而要克服能垒。空位在运动过程中引起晶格点阵发生畸变,因而要克服能垒。空位在运动过程中引起
18、晶格点阵发生畸变,因而要克服能垒。空位在运动过程中引起晶格点阵发生畸变,因而要克服能垒。空位在运动过程中如遇到间隙原子,空位便消失,这种现象称为复合。空位运动如遇到间隙原子,空位便消失,这种现象称为复合。空位运动如遇到间隙原子,空位便消失,这种现象称为复合。空位运动如遇到间隙原子,空位便消失,这种现象称为复合。空位运动到位错、晶界及外表面等晶体缺陷处也将消失。这样点缺陷在到位错、晶界及外表面等晶体缺陷处也将消失。这样点缺陷在到位错、晶界及外表面等晶体缺陷处也将消失。这样点缺陷在到位错、晶界及外表面等晶体缺陷处也将消失。这样点缺陷在能量起伏的支配下,不断产生、运动和消亡。点缺陷的运动实能量起伏的
19、支配下,不断产生、运动和消亡。点缺陷的运动实能量起伏的支配下,不断产生、运动和消亡。点缺陷的运动实能量起伏的支配下,不断产生、运动和消亡。点缺陷的运动实际上是原子迁移的结果,而这种点缺陷的运动所造成的原子迁际上是原子迁移的结果,而这种点缺陷的运动所造成的原子迁际上是原子迁移的结果,而这种点缺陷的运动所造成的原子迁际上是原子迁移的结果,而这种点缺陷的运动所造成的原子迁移证实扩散现象的基础。移证实扩散现象的基础。移证实扩散现象的基础。移证实扩散现象的基础。1717你现在浏览的是第十七页,共105页(4)点缺陷可以引起晶体光学性能的变化。点缺陷可以引起晶体光学性能的变化。由于离子晶体的价带与导带间有
20、很宽的禁带,由于离子晶体的价带与导带间有很宽的禁带,禁带宽度大于光子能量,用可见光照射晶体时,禁带宽度大于光子能量,用可见光照射晶体时,价带电子吸收光子获得的能量不足以使它跃迁到价带电子吸收光子获得的能量不足以使它跃迁到导带,因而不能吸收可见光,表现为无色透明晶导带,因而不能吸收可见光,表现为无色透明晶体。但是如果设法在离子晶体中引入点缺陷,这体。但是如果设法在离子晶体中引入点缺陷,这些电荷中心可以束缚电子或者空穴在其周围形成些电荷中心可以束缚电子或者空穴在其周围形成束缚态,这样,通过光吸收可使被束缚的电子或束缚态,这样,通过光吸收可使被束缚的电子或空穴在束缚态之间跃迁,使原来透明的晶体呈现空
21、穴在束缚态之间跃迁,使原来透明的晶体呈现颜色。这类能吸收可见光的点缺陷称为色心。颜色。这类能吸收可见光的点缺陷称为色心。1818你现在浏览的是第十八页,共105页 利用点缺陷可以引起晶体光学性能变化的原理,可以为利用点缺陷可以引起晶体光学性能变化的原理,可以为利用点缺陷可以引起晶体光学性能变化的原理,可以为利用点缺陷可以引起晶体光学性能变化的原理,可以为透明材料和无机非金属材料进行着色和增色,用来制作红宝透明材料和无机非金属材料进行着色和增色,用来制作红宝透明材料和无机非金属材料进行着色和增色,用来制作红宝透明材料和无机非金属材料进行着色和增色,用来制作红宝石、彩色玻璃、彩色水泥、彩釉、色料等
22、。例如,蓝宝石是石、彩色玻璃、彩色水泥、彩釉、色料等。例如,蓝宝石是石、彩色玻璃、彩色水泥、彩釉、色料等。例如,蓝宝石是石、彩色玻璃、彩色水泥、彩釉、色料等。例如,蓝宝石是AlAl2 2O3 3单晶,呈无色,而红宝石是在这种单晶氧化物中单晶,呈无色,而红宝石是在这种单晶氧化物中加入少量的加入少量的CrCr2 2O3 3。这样,在单晶氧化铝禁带中引进了。这样,在单晶氧化铝禁带中引进了。这样,在单晶氧化铝禁带中引进了。这样,在单晶氧化铝禁带中引进了CrCr3+3+的杂质能级,造成了不同于蓝宝石的选择性吸收,故显红的杂质能级,造成了不同于蓝宝石的选择性吸收,故显红的杂质能级,造成了不同于蓝宝石的选择
23、性吸收,故显红的杂质能级,造成了不同于蓝宝石的选择性吸收,故显红色。在增色过程中,把碱卤晶体在碱金属蒸气中加热一段时间,色。在增色过程中,把碱卤晶体在碱金属蒸气中加热一段时间,色。在增色过程中,把碱卤晶体在碱金属蒸气中加热一段时间,色。在增色过程中,把碱卤晶体在碱金属蒸气中加热一段时间,然后急冷到室温,晶体就会出现颜色。将然后急冷到室温,晶体就会出现颜色。将然后急冷到室温,晶体就会出现颜色。将然后急冷到室温,晶体就会出现颜色。将NaClNaCl晶体在晶体在晶体在晶体在NaNa蒸气蒸气蒸气蒸气中加热后晶体变为黄色,中加热后晶体变为黄色,中加热后晶体变为黄色,中加热后晶体变为黄色,KClKCl晶体
24、在晶体在晶体在晶体在K K蒸气中加热后变成了紫蒸气中加热后变成了紫蒸气中加热后变成了紫蒸气中加热后变成了紫色。色。色。色。1919你现在浏览的是第十九页,共105页(5)点缺陷可以引起晶体比热容的点缺陷可以引起晶体比热容的“反常反常”。含有点缺陷的晶体,其内能比理想晶体的内能大,这含有点缺陷的晶体,其内能比理想晶体的内能大,这含有点缺陷的晶体,其内能比理想晶体的内能大,这含有点缺陷的晶体,其内能比理想晶体的内能大,这种由缺陷引起的在定容比热容基础上增加的附加比热容称为种由缺陷引起的在定容比热容基础上增加的附加比热容称为种由缺陷引起的在定容比热容基础上增加的附加比热容称为种由缺陷引起的在定容比热
25、容基础上增加的附加比热容称为比热容的比热容的比热容的比热容的“反常反常”。纯金属电阻随淬火温度变化的实验曲线表明,电阻增量纯金属电阻随淬火温度变化的实验曲线表明,电阻增量纯金属电阻随淬火温度变化的实验曲线表明,电阻增量纯金属电阻随淬火温度变化的实验曲线表明,电阻增量的对数值随淬火温度倒数的增大而下降,并呈直线关系。由的对数值随淬火温度倒数的增大而下降,并呈直线关系。由的对数值随淬火温度倒数的增大而下降,并呈直线关系。由的对数值随淬火温度倒数的增大而下降,并呈直线关系。由这些实验结果得出关系式这些实验结果得出关系式这些实验结果得出关系式这些实验结果得出关系式 式中式中式中式中 淬火产生的电阻率增
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