非光物理量的检测技术优秀PPT.ppt
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1、非光物理量的检测技术第一页,本课件共有37页1本章的主要内容本章的主要内容8.1光强型光电检测系统光强型光电检测系统8.2脉冲型光电检测系统脉冲型光电检测系统8.3相位型和频率型光电检测系统相位型和频率型光电检测系统8.4利用物理光学原理的光电检测系统利用物理光学原理的光电检测系统8.5其它光电检测系统其它光电检测系统第二页,本课件共有37页28.1光强型光电检测系统光强型光电检测系统8.1.1补偿式轴径检测装置补偿式轴径检测装置 8.1.2利用比较法检测透明薄膜的厚度利用比较法检测透明薄膜的厚度8.1.3圆形物体偏心度的光电检测圆形物体偏心度的光电检测8.1.4对圆柱形零件的外观检查对圆柱形
2、零件的外观检查主要包括以下几部分内容:有直接(变换)测量法;补偿法(差分变换)等。第三页,本课件共有37页38.1.1补偿式轴径检测装置补偿式轴径检测装置 该装置利用光量变化对轴径进行补偿式检测。其工作原理如图8-12所示。图 8-12 光门补偿式轴径检测原理图其中放大器输出电压U0为式中,K为放大器的放大倍数。(8-15)第四页,本课件共有37页4(8-15)8.1.2利用比较法检测透明薄膜的厚度利用比较法检测透明薄膜的厚度采用比较法原理测量透明薄膜厚度的装置如图8-13所示。图8-13 比较法薄膜厚度检测原理按照介质对光吸收的指数衰减定律有 式中,I透过物体的单色光强度;I0为射入物体的单
3、色光强度;d为吸收物体的厚度;k为物体对单色光的吸收系数。第五页,本课件共有37页58.1.3圆形物体偏心度的光电检测圆形物体偏心度的光电检测测定圆形回转体偏心度的原理如图8-15所示。图8-15 偏心度的检测原理第六页,本课件共有37页68.1.4对圆柱形零件的外观检查对圆柱形零件的外观检查 该装置原理如图8-18所示。采用反射扫描方式进行检测。图8-18 圆柱外观检测机构原理第七页,本课件共有37页78.2脉冲型光电检测系统脉冲型光电检测系统8.2.1物体长度分检装置原理物体长度分检装置原理 8.2.2液位高度控制器液位高度控制器 8.2.3光电探测信号码的工作原理光电探测信号码的工作原理
4、8.2.4利用测量脉冲频率测定转盘转速利用测量脉冲频率测定转盘转速8.2.5利用脉冲持续时间测定零件尺寸利用脉冲持续时间测定零件尺寸8.2.6脉冲激光测距脉冲激光测距本节主要包括:第八页,本课件共有37页88.2.1物体长度分检装置原理物体长度分检装置原理 如图8-19所示为按长度自动分选的装置,在传送带的两侧分别配制两组光源探测器对5、7和6、8,它们光轴间的距离恰应等于产品所需分类的长度。图8-19 按长度自动分选的装置 第九页,本课件共有37页9 如果工作中要对产品长度进行控制,则可采用图8-20所示的三组光源一探测器对的方法。图8-20 产品长度检控装置图8-21 长度检控逻辑图 第十
5、页,本课件共有37页108.2.2液位高度控制器液位高度控制器 液位高度的控制方法很多,这里介绍一种光电脉冲继电器型的方法。其工作原理如图8-22所示。图8-22 继电器型液位高度控制器第十一页,本课件共有37页118.2.3光电探测信号码的工作原理光电探测信号码的工作原理 为区别传送带上同样大小箱子中的不同物体,可在箱体外部某个确定的位置上,统一按物类信息预先印上不同的二进制信号码。分类时用光电探测这些信号码,来区分不同的物类或其它所需的物类特征信息。光电探测信号码的工作原理如图8-23所示。图8-23 光电信号码探测器第十二页,本课件共有37页128.2.4利用测量脉冲频率测定转盘转速利用
6、测量脉冲频率测定转盘转速脉冲法测定圆盘转速的原理如图8-25所示。图8-25 脉冲法转速测定原理 光源通过转动圆盘上的小孔为光电接收器GD提供光脉冲。经光电转换、放大和整形等电路输出脉冲信号。设电机转速是n(r/min),圆盘上均匀开口数目为m,于是输出脉冲的频率为fnm60(Hz),则有(8-17)第十三页,本课件共有37页138.2.5利用脉冲持续时间测定零件尺寸利用脉冲持续时间测定零件尺寸 脉冲法测定轴径的原理如图8-26所示。脉宽的脉冲计数原理如图8-27所示。图8-26 脉冲法测定轴直径原理图8-27 脉宽的脉冲计数原理 第十四页,本课件共有37页14 如图8-28所示是利用光电方法
7、在匀速运动速度为v的传送带上测定零件长度的方法。通过测定光电探测器产个暗脉冲的持续时间t,测定零件的长度l。其关系为 。图8-28 传送带上工件长度检测第十五页,本课件共有37页158.2.6脉冲激光测距脉冲激光测距 脉冲激光测距原理是利用对激光传播往返时间的测量来完成测距。当所计往返时间为t、光速为c,那么所测距离l为(8-20)脉冲激光测距的方框图如图8-31所示。由脉冲激光发射系统、接收系统、控制电路、时钟脉冲振荡器和计数显示电路等组成。各脉冲波形之间的相互关系如图8-32所示。图8-31 脉冲激光测距方框图图8-32 脉冲波间的关系第十六页,本课件共有37页168.3相位型和频率型光电
8、检测系统相位型和频率型光电检测系统8.3.1激光相位测距法激光相位测距法 8.3.2激光光波比长仪激光光波比长仪 8.3.3双频激光干涉测长系统双频激光干涉测长系统本节主要包括以下几部分内容:第十七页,本课件共有37页178.3.1激光相位测距法激光相位测距法 该方法的原理是基于受正弦调制的激光波束,通过测定波束传播过程中相位的变化来确定待测的距离。设调制波形如图8-33所示,若调制频率为f,光速为c,调制波波长c/f。调制光波的相位在传播中不断变化,设调制波从A到B的传播过程中相位的变化为,其值可用下式表示(8-21)式中,M为零或正整数,相位变化的整周期数;m为小数,为 ,相位变化不足一周
9、期的尾数。调制光波每前进一个波长,相当于相位变化2。与相位变化相对应的传播距离l为(8-22)图 8-33 调制波形第十八页,本课件共有37页18 实际测距时,在调制波形B点的对应处设置角反射器,使调制波束返回到测距机处,由专门的测相系统测定经2l距离传播后相位的变化量。可用图8-34所示的展开波形来说明。AB=BA,AA2l,于是有(8-23)或(8-24)式中,相当于测尺的长度。图8-34 往返波形展开图第十九页,本课件共有37页198.3.2激光光波比长仪激光光波比长仪 激光光波比长仪是以激光器作为光源的干涉仪,如图8-35所示。它以麦克尔逊干涉仪为基础。图 8-35 激光光波比长仪的工
10、作原理待测零件的长度可由下式得出式中,l为待测物体长度;为激光的波长;N为计数器测得的脉冲数。(8-25)第二十页,本课件共有37页208.3.3双频激光干涉测长系统双频激光干涉测长系统 该系统采用了双频激光干涉法,除可获得高测量精度外,对环境要求不高,适合现场使用。双频激光群是利用塞曼效应的氮氖激光器。即在氦氖激光器的轴向增加一磁场,使其原发射的主频线分解为两个旋转方向相反的圆偏振光,且这两束光之间有着不大的频差。由于激光具有良好的空间和时间的相干性,因此上述两束光之间虽有少量的频差,但相遇时仍能产生干涉。这样的干涉常称为“拍”。设振幅相同的两束光,其频率稍有不同,则其合成振动为:(8-26
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