智能传感器的集成技术.ppt
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1、第4章 智能传感器的集成技术 目目 录录 第1章 概 述 第2章 智能传感器系统中经典传感技术基础 第3章 不同集成度智能传感器系统介绍 第第4 4章章 智能传感器的集成技术智能传感器的集成技术 第5章 智能传感器系统智能化功能的实现方法 第6章 通信功能与总线接口 第7章 智能技术在传感器系统中的应用 第8章 智能传感器系统的设计与应用 第9章 无线传感器网络技术概述 第4章 智能传感器的集成技术 第第4 4章章 智能传感器的集成技术智能传感器的集成技术 要 点:u 集成电路工艺及典型元件电路的示例;u 微机械工艺及微机械结构的示例;u 集成智能传感器系统示例。第4章 智能传感器的集成技术
2、第第4 4章章 智能传感器的集成技术智能传感器的集成技术 集成电路的基本工艺制作传感器的电路部分,主要包括:材料的生长、扩散、离子注入、外延、光刻、腐蚀等。微机械加工技术是在集成电路工艺的基础上发展起来的,制作传感器的敏感单元。推荐一本参考书:微传感器与微执行器全书(MICROMACHINED TRANSDUCERS SOURCEBOOK)美Gregory 张文栋等译 北京科学出版社第4章 智能传感器的集成技术 不同深宽比示意图不同深宽比示意图第4章 智能传感器的集成技术 (100)硅片各向异性腐蚀图第4章 智能传感器的集成技术 4.1 集成电路的基本工艺晶片的制备晶片的制备 单晶硅片是制造半
3、导体智能传感器最主要的材料,所以有必要先了解单晶硅片是怎么制造出来的。第4章 智能传感器的集成技术 直拉单晶炉直拉单晶炉第4章 智能传感器的集成技术 介绍生长单晶硅的装置:1)炉子:包括石英坩埚、石墨基座、旋转装置、加热元件及电源;2)单晶提拉机构:籽晶夹持器及旋转装置;3)保护气体控制系统:气体源、流量控制装置、抽气系统。对籽晶的要求:晶向要合适111;要使生长出来的晶体有一定的掺杂浓度,在熔体中加入一定量的掺杂剂;切片的主要参数:表面晶向、厚度、斜度及弯曲度。衬底材料的选择:1)导电类型和电阻率:力敏器件多数是选N型单晶硅作衬底材料,采用扩散或离子注入工艺制作P型掺杂电阻。同一电阻率的P型
4、硅掺杂浓度高于N型掺杂浓度。掺杂浓度越高,第4章 智能传感器的集成技术 温度漂移越小。相同温度相同表面杂质浓度下,P型层的压阻系数比N型层的高,有利于提高灵敏度。2)位错密度:位错是单晶硅的原子排列上出现一种缺陷;位错会加快杂质扩散速度,影响隔离效果,产生应力集中。3)晶向和晶面 压阻效应与晶向有关,P型硅的压阻效应是111110100;硅单晶的原子密度是以晶面(111)(110)(100)的次序递减,而扩散速度、腐蚀速度以(111)(110)(100)的顺序递增。制作力敏器件,为加快扩散速度,缩短腐蚀时间和提高器件的稳定性,应选取(100)、(110)晶面。4)衬底切割的质量要求第4章 智能
5、传感器的集成技术 硅片厚度公差0.015mm;平行度0.02mm;晶向偏差:1;弯曲度:影响加工量,一般要求磨片磨削量的1/2。外延外延 作用:控制杂质分布,优化器件和电路性能 方法:气相外延(气相外延(VPCVPC);液相外延(LPC);分子束外延(MBE)。主要目的:通过一种化学反应的方式,在硅基片的表面生长一层所需的膜层,如掺杂层的生成。优点:在远低于熔点的温度下生长。第4章 智能传感器的集成技术 气相外延常用的三种基座气相外延常用的三种基座(a a)水平型)水平型 (b b)圆盘型)圆盘型 (c c)桶型)桶型第4章 智能传感器的集成技术 选择性外延生长的三种可能方案选择性外延生长的三
6、种可能方案第4章 智能传感器的集成技术 4.1.3 4.1.3 热氧化热氧化 主要是生成半导体电路中所需的氧化层,如MOSFET电路中的栅氧化层,场氧化层。氧化层的作用:隔离层、钝化层 方法:干氧氧化(高纯度干燥氧气)湿氧氧化(高纯度水蒸气)特点:干氧氧化(慢、性能好)湿氧氧化(快,用于较厚氧化层)反应条件:T:9001000;v(气体流量):1cm3/s,T1;钝化膜的作用:起掩蔽、保护、绝缘等作用;防止高温下硅表面以及硅中杂质的挥发,以及化学处理而引起的器件电学性能下降。第4章 智能传感器的集成技术 电阻加热氧化炉结构示意图电阻加热氧化炉结构示意图第4章 智能传感器的集成技术 4.1.4
7、4.1.4 物理气相淀积物理气相淀积 作用:淀积一些金属材料,作为电极或连线;对器件进行金属化。方法:真空蒸发淀积(辉光放电)用于铝等熔点较低的材料;物理溅射淀积(分直流、射频、磁控、离子束)用于难熔金属或化合物材料。图4-6有错误,电源极性倒过来。直流射频 磁控溅射离子束气压高(1.313.3Pa)0.133Pa 0.133Pa(1.3310-3Pa)高真空只能用于导电材料用于绝缘靶薄膜均匀性好,淀积速率高1m/min可用于绝缘靶,淀积速率高第4章 智能传感器的集成技术 蒸镀、平面溅射、蒸镀、平面溅射、S S枪溅射台阶覆盖能力示意图枪溅射台阶覆盖能力示意图第4章 智能传感器的集成技术 4.1
8、.5 4.1.5 化学气相淀积化学气相淀积 作用:淀积用于分立器件和集成电路绝缘和钝化的介质膜,与物理气相淀积相比产生化学反应。方法:常压化学气相淀积 低压化学气相淀积 等离子体化学气相淀积 CVD LPCVD PCVD 用于金属化工艺 用于钝化器件、绝缘膜 作器件最终钝化膜 温度高 温度中等(750)温度低(300)薄膜电阻 ,氮化硅膜 氮化硅膜光刻光刻 光刻工艺是利用光刻胶受光照部分与未受光照部分溶解特性的巨大差异在衬底表面制作图形的技术。这有点类似照相底片的功能。第4章 智能传感器的集成技术 热壁低压化学气相淀积反应器原理图热壁低压化学气相淀积反应器原理图第4章 智能传感器的集成技术 1
9、 1、光刻工艺流程光刻工艺流程 光刻胶分:正性光刻胶(曝光部分被溶解);负性光刻胶(又叫反转片)。工艺步骤:清洗、烘烤涂胶(厚度取决于光刻胶种类、旋转速度、液态胶粘度)前烘(使胶层中的溶剂挥发(红外线、热板、循环热风)增强粘附能力;提高耐磨性;提高和稳定感光灵敏度)曝光(使胶层起光化学反应,方式有掩膜曝光、电子束曝光)显影(样品放入显影液,使部分胶层溶解,分正负性)后烘(显影后的样品放在一定温度下烘烤,使其硬化,又叫坚膜)腐蚀或淀积(刻蚀掉下面的材料,或淀积所需的材料)去胶(去除作为保护膜的光刻胶)。2 2、紫外光曝光紫外光曝光 光刻光源:、准分子激光器:高亮度、高单色性、方向性好。第4章 智
10、能传感器的集成技术 光刻主要工艺流程光刻主要工艺流程 接近式暴光装置示意图接近式暴光装置示意图第4章 智能传感器的集成技术 第4章 智能传感器的集成技术 曝光方式:接触式、接近式(分辨率:)、投影式()A:数值孔径。上述曝光方式受衍射效应的影响。3 3、几种新型的曝光系统几种新型的曝光系统 元件尺寸的减小,要求曝光系统的分辨率高。1)选用短波长的光源,如x射线(0.45nm);2)采用电子束曝光,=0.01nm,但速度慢。4.1.7 4.1.7 刻蚀刻蚀 在IC工艺和微机械加工工艺中占重要地位。作用:把经过曝光、显形后光刻胶图形中下层材料的裸露部分去掉。方法:各向同性腐蚀和各向异性腐蚀(或称为
11、干法腐蚀与湿法腐蚀),干法效果好;湿法精度低,效果差。第4章 智能传感器的集成技术 简单介绍:等离子体刻蚀法(见下图)1.微波窗口 2.水冷套 3.等离子体发生室 4.磁场线圈 5.等离子体约束室 6.观察窗口 7.处理室 8.基片架 9.抽气口 10.电机转轴 11.光电盘12.光电传感器 13.门 14.探针口 15.气体进口第4章 智能传感器的集成技术 4.1.8 4.1.8 扩扩 散散 作用:用于对衬底进行选择掺杂,以形成N型区或P型区,例如:制作PN结。方法:恒定表面浓度扩散;恒定杂质总量扩散 扩散效果:取决于扩散温度和扩散时间。集成电路工艺中,一般采用两步扩散法:预淀积扩散、主扩散
12、(或称再分布扩散)。扩散设备:专用的扩散炉(与热氧化类似),对于硅:T8001000;扩散源:固态源:、;液态源:、;气态源:、。(形成掩膜)第4章 智能传感器的集成技术 扩散杂质在衬底中的分布扩散杂质在衬底中的分布第4章 智能传感器的集成技术 4.1.9 4.1.9 离子注入离子注入 作用:将一定能量的带电粒子掺入到硅等衬底中,用来改变衬底的电学性能,与扩散作用类似。优点:可以精确控制掺杂的数量,重复性好,加工温度低。离子注入系统:离子源、质量分析器、(可变狭缝)、加速管、平面扫描电路、靶。高能离子能量消耗机制:核阻止过程 电子阻止过程 能量小 砷离子(重离子)硼离子(轻离子)磷离子介于两者
13、之间,临界能量是130KeV 解释离子注入损伤的概念。沟道效应:由入射离子对准某一主要晶向时造成,它的射程比在非 第4章 智能传感器的集成技术 晶硅中大很多。晶格无序:注入离子向晶格转移足够能量,使晶体原子发生移位,当原子移动距离接近原子密度时,单晶材料变成非晶材料。轻离子的能量被吸收的特点:一开始是电子阻止消耗能量,能量减低后变为核阻止消耗能量。损伤区的恢复:退火,使注入离子进入晶格点阵(又叫激活)退火方法:扩散炉(时间长,效果差);激光、电子束(时间短,低温,效果好)。第4章 智能传感器的集成技术 离子注入系统示意图离子注入系统示意图第4章 智能传感器的集成技术 离子注入形成无序区离子注入
14、形成无序区第4章 智能传感器的集成技术 4.2 典型的集成电路元件制作工艺 集成电路的基本构成单元:有源元件(二极管、三极管、场效应管)、无源元件(电阻、电容、电感)。4.2.1 4.2.1 典型的集成电路制造流程典型的集成电路制造流程 设计、掩模版制造、芯片制造(扩散、氧化、离子注入、刻蚀)、封装、测试等一些步骤,下图是其流程图。CPU之类大规模集成电路的制作前后有两百多道工序。1)设计 根据功能要求,借助CAD设计电路并生成版图转化为光刻掩模板。2)芯片制造 利用前面所述的各种工艺,根据实际使用的需要,将各种加工方法进行合理的组合,最终将各个掩膜板的图形逐次转移到半导体晶片表面层上,获得最
15、终的IC器件。如果在一个晶片上制造了多个相同芯片,则还要进行划片或激光切割将芯片分开。第4章 智能传感器的集成技术 集成电路制造的主要步骤集成电路制造的主要步骤第4章 智能传感器的集成技术 3)封装:提供合适的散热和引线连接条件,如带窗口的ROM。4)测试4.2.2 4.2.2 集成电路电阻器集成电路电阻器 制作工艺:硅衬底材料(NSi)二氧化硅层形成制作电阻的图形 形成电阻器。;通常用符号 表示,称为薄层电阻,单位:。4.2.3 4.2.3 集成电路电容器集成电路电容器 硅衬底材料 二氧化硅层 形成所需的窗口 形成 区集成MOS电容器。第4章 智能传感器的集成技术 集成电阻器集成电阻器第4章
16、 智能传感器的集成技术 4.2.4 4.2.4 电感的制造电感的制造 用于测量数据的无线传递,能量的无线发送,微执行器的电磁驱动。制造方法:1)在铜膜上制作电感掩膜,然后在腐蚀液中进行腐蚀;2)利用电感掩膜在衬底上淀积活化层,接着在活化层上电镀厚铜层。上述两种方法只能制作微型电感。3)利用光刻胶材料制作电感模具,在模具中电镀生长铜线圈层,该方法可制作多层电感线圈。制造过程:衬底(不锈钢膜片)基底 基片 再光刻,形成线圈模具 线圈 形成隔离层、引线孔 制造多层。第4章 智能传感器的集成技术 4.2.5 4.2.5 双极性晶体管双极性晶体管 双极性晶体管的制造过程比较复杂,它总共包括:薄膜形成6次
17、;图形曝光6次;刻蚀4次;离子注入4次,共分6步完成制作过程。IC中的双极晶体管大多是NPN型。1)形成埋层,减少集电极串联电阻;2)生长N型外延层,它的厚度和掺杂浓度决定于工作电压;3)形成横向氧化物隔离区,将发射区与集电区隔开;4)形成基区,基区与发射区位置比较接近;5)形成发射区;6)用金属化工艺形成基极、发射极、集电极引出电极。第4章 智能传感器的集成技术 双极晶体管制造过程截面图双极晶体管制造过程截面图第4章 智能传感器的集成技术 4.3 微机械工艺的主要技术 集成电路工艺基本上是平面工艺,而微机械工艺从某种角度上来说是立体工艺,它不仅仅用于微传感器的加工,而且用于电力电子器件、真空
18、场发射阵列器件、扫描隧道显微镜中的微探针头、微电子机械系统等。4.3.1 SOI4.3.1 SOI晶片(晶片(Silicon on InsulatorSilicon on Insulator)作用:将有源部分(电路部分)与敏感部分隔开,同时与恶劣环境隔开。构成:制备方法:1)SIMOX(Separation by Ion Implantation of oxygen)氧离子注入;2)SDB(Silicon Wafer Direct Bonding)键合;注意点:防止衬底非晶化。第4章 智能传感器的集成技术 4.3.2 4.3.2 硅的各向异性刻蚀技术硅的各向异性刻蚀技术 基于硅的不同晶面具有不
19、同的腐蚀速率的特性,在硅衬底上加工出各种各样的微结构。(100):最快;(110):一般;(111):最慢。1、腐蚀剂的种类 a)有机腐蚀剂:EDP(乙二胺,邻苯二酚,水);联胺。b)无机腐蚀剂:(碱性)KOH,NaOH水溶液2、影响腐蚀特性的因素 a)腐蚀系统成分配比不同,腐蚀特性不同;b)晶体的晶向及掺杂浓度 例如:在重掺硼(约 )样品中,腐蚀速率接近于零;这种特性可用于自致停止腐蚀技术(掺硼的P型硅,掺磷的N型硅腐蚀速率随浓度升高而降低变慢)。c)温度:温度越高,腐蚀速率越大。第4章 智能传感器的集成技术 3、各向异性腐蚀的机制 a)硅不同晶面的悬挂键密度的不同,;b)由于硅在腐蚀过程中
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