材料的导电性能精选课件.ppt
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1、关于材料的导电性能第一页,本课件共有24页材料电阻的测量方法 测量材料电阻的方法,根据材料的电阻大小不同,采用的测量方法各异。主要的测量方法:惠斯顿单电桥法 双电桥测量法 电位差计测量 直流四探针法第二页,本课件共有24页1、惠斯顿(惠斯顿(Huiston)单电桥法)单电桥法通过检流计G的电流为零.RN、R1、R2 的电阻均已知,被测电阻Rx的计算:测量中Rx被测电阻,测出的电阻包括A、B两点的导线电阻和接触电阻。当测量低电阻时,由于结构和接触电阻无法消除,灵敏度不高、测量数值偏差较大,只有当被测电阻相对于导线电阻和接触电阻相当大时,Rx才接近于。惠斯顿单电桥的测量很少用于测量金属电阻,其测量
2、电阻范围通常在在10106。惠斯惠斯顿单电桥测顿单电桥测量原理量原理图图第三页,本课件共有24页2 .双电桥法双电桥法 双电桥法是目前测量金属室温电阻应用最广的方法,用于测量低电阻(10210-6)。双电桥法测量时,待测电阻Rx和标准电阻RN 相互串连后,串入一有恒电流的回路中。将可调电阻R1R2R3R4组成电桥四臂,并与Rx、RN并连;在其间B、D点连接检流计G,那么测量电阻Rx归结为调节R1R2R3R4电阻使电桥达到平衡,则检流计为零G=0VD=VB第四页,本课件共有24页 为了使上式简化,在设计电桥时,使R1=R3,R2=R4,并将它们的阻值设计的比较大,而导线的电阻足够小(选用短粗的导
3、线),这样使 趋向于零,则附加项趋近于零,上式近似为:=当检流计为零时,从电桥上读出R1、R2而RN 为已知的标准电阻,用上式可求出Rx值。用双电桥测量电阻可测量10010-6的电阻,测量精度为0.2%。在测量中应注意:连接Rx、RN的铜导线尽量粗而短,测量尽可能快。第五页,本课件共有24页3电位差计法电位差计法 电位差计法广泛应用于金属合金的电阻测量,可测量试样的高温和低温电阻,还可以测试电位差、电流和电阻,它的精度比双电桥法精度高。可以测量10-7的微小电势。当一恒定电流通过试样和标准电阻时,测定试样和标准电阻两端的电压降Vx和VN,RN已知,通过下式计算出Rx 电位差计法优点:导线(引线
4、)电阻不影响电位差计的电势Vx、VN,的测量,而双电桥法由于引线较长和接触电阻很难消除,所以在测金属电阻随温度变化,不够精确。第六页,本课件共有24页4 直流四探针法直流四探针法 直流四探针法主要用于半导体材料或超导体等的低电阻率的测量。常用于半导体单晶硅掺杂的电阻率测量。四根金属探针彼此相距1mm排在一条直线上,要求四根探针与样品表面接触良好。由1、4探针通入小电流,当电流通过时,样品各点将有电位差,同时用高阻静电计、电子毫伏计测出2、3探针间的电位差V23,四探针法的测量线路原理图计算出样品的电阻率 C是与被测样品的几何尺寸及探针间距有关的测量的系数,称为探针系数。单位:(cm);I是探针
5、通入的电流。第七页,本课件共有24页一、目的要求1、掌握材料导电性能(电阻率、电导率)的 测量方法;2、了解电阻率和电导率的相互关系;3、了解高分子、陶瓷材料的体电阻、表面电阻;4、理解成分对金属材料导电性能影响。第八页,本课件共有24页二、基本原理 欧姆定律 电阻率与材料本质有关 电阻率的单位:m,cm,cm,工程技术上常用mm2/m。它们之间的换算关系为 1 cm=10-8 m=10-6 cm=10-2 mm2/m 电阻率与电导率关系 的单位为西门子每米(S/m)。工程中也常用相对电导率(IACS%),它表示导体材料的导电性能。国际上把标准软铜在室温20。C下的电阻率=0.01724 mm
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