现代分析测试技术3颗粒分析和质谱分析.ppt
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1、颗粒涉及的领域:能源环保:燃料颗粒、烟尘、雾霾矿业资源:无机矿物资源陶瓷材料:氧化铝、氧化锆陶瓷化学工业:催化剂冶金工业:粉末冶金材料、耐火材料电子材料:集成电路基板军事领域:固体推进剂机械工业:磨料、润滑剂矿物晶体氧化铝陶瓷高导热性BeO陶瓷铁基粉末冶金制品双面孔Al2O3基板高温电路基板东风21洲际导弹两级固体推进航天飞机颗粒粒Fine particle Fine particle 颗粒颗粒从个体颗粒出发,称为颗粒学从个体颗粒出发,称为颗粒学Powder Powder 粉体粉体从集合粉体出发,称为粉体工程学从集合粉体出发,称为粉体工程学直径D直径D、高度H?颗粒的大小人为规定了一些所谓尺寸
2、的表征方法人为规定了一些所谓尺寸的表征方法t三轴径t定向径t当量径高高度度h:颗粒粒最最低低势能能态时正正视投影投影图的高度的高度宽度度b:颗粒粒俯俯视投投影影图的最小平行的最小平行线夹距距长度度l:颗粒粒俯俯视投投影影图中中与与宽度度方方向向垂垂直直的的平平行行线夹距距三轴径三轴径设图中颗粒处于一水平面上,其正视和俯视投影图如图所示。这样在两个投影图中,就能定义一组描述颗粒大小的几何量:高、宽、长,定义规则如下hbl三三轴几何平均径:几何平均径:与与颗粒外接粒外接长方体体方体体积相等的立方体的棱相等的立方体的棱长 三轴平均径计算公式三轴平均径计算公式三三轴算算术平均平均值:立体立体图形的算形
3、的算术平均平均三三轴调和平均径和平均径:与与颗粒外接粒外接长方体比表面方体比表面积相等的球的相等的球的直径或立方体的一直径或立方体的一边长沿一定方向的颗粒的一维尺度。定向径包括三种沿一定方向的颗粒的一维尺度。定向径包括三种定向径定向径S1S2定向最大径定向最大径Martin径径(定方向等(定方向等分径)分径)Feret径径(定方向径)(定方向径)对于一个颗粒,随方向而异,定向径可取其所有方向的平均值;对取向随机的颗粒群,可沿一个方向测定。颗粒与球或投影圆有某种等量关系的球或投影圆的直径颗粒与球或投影圆有某种等量关系的球或投影圆的直径当量径当量径等效圆球体积直径等效圆球体积直径等效圆球体积直径等
4、效圆球体积直径等体积球当量径与颗粒同体积球的直径等表面积球当量径与颗粒等表面积球的直径比表面积球当量径与颗粒具有相同的表面积对体积之比,即具有相同的体积比表面的球的直径投影圆当量径Heywood径与颗粒投影面积相等的圆的直径等周长圆当量径与颗粒投影圆形周长相等的圆的直径与颗粒等体积的球的表面积与颗粒的表面积之比球形度球形度可以看出:1.;2.颗粒为球形时,达最大值。颗粒的形状一些一些规则形状体的球形度形状体的球形度:一个任意形状的一个任意形状的颗粒,粒,测得得该颗粒的粒的长、宽、高、高为l、b、h,定,定义方法与前面方法与前面讨论颗粒大小的三粒大小的三轴径径规定相同,定相同,则:扁平度延伸度扁
5、平度扁平度m与延伸度与延伸度n若以Q表示颗粒的几何特征,如面积、体积,则Q与颗粒粒径d的关系可表示为:式中,式中,k即即为形状系数。形状系数。对于于颗粒的面粒的面积和体和体积描描述,述,k有两种主要形式,分有两种主要形式,分别为:形状系数形状系数表面形状因子与的差别表示颗粒形状对于球形的偏离形状系数形状系数与的差别表示颗粒形状对于球形的偏离体积形状因子形状系数形状系数表面形状因子与体表面形状因子与体积形状因子的比形状因子的比值比表面积形状系数形状系数形状系数一些一些规则几何体的形状因子几何体的形状因子颗粒平均粒径计算公式40m)国际标准筛制:国际标准筛制:Tyler(泰勒泰勒)标准标准 单位:
6、目单位:目目数为筛网上目数为筛网上1英(英(25.4mm)寸长度内的网孔数)寸长度内的网孔数(a,d单位mm)25.4ad筛分的优缺点优点优点统计量大,代表性强便宜重量分布缺点缺点下限38微米人为因素影响大重复性差非规则形状粒子误差速度慢2.显微镜 采用定向径方法测量采用定向径方法测量光学显微镜0.25250m电子显微镜0.0015m显微镜测定粒度要求统计颗粒的总数:粒度范围宽的颗粒粒度范围宽的颗粒10000以上以上粒度范围窄的颗粒粒度范围窄的颗粒1000 左右左右显微镜方法的优缺点优点优点可直接观察粒子形状可直接观察粒子团聚光学显微镜便宜缺点缺点代表性差重复性差测量投影面积直径速度慢4.光衍
7、射法粒度测试光衍射法粒度测试测量原理 当光入射到颗粒时,会产生衍射,小颗粒衍射角大,而大颗粒衍射角小,某一衍射角的光强度与相应粒度的颗粒多少有关。测量原理示意图4激光衍射0.05500m4X光小角衍射 0.0020.1m测量方法 目目前前的的激激光光法法粒粒度度仪仪基基本本上上都都同同时时应应用用了了夫夫琅琅霍霍夫夫(Fraunhofer)衍衍射射理理论论和和米米氏氏(Mie)衍衍射射理理论论,前前者者适适用用于于颗颗粒粒直直径径远远大大于于入入射射波波长长的的情情况况,即即用用于于几几个个微微米米至至几几百百微微米米的的测测量量;后后者者用用于于几几个个微微米以下的米以下的测测量量。4激光衍
8、射激光衍射法原理图激光衍射法原理图激光器激光束透镜样品池透镜衍射光束未衍射光束光传感器列阵中心传感器粉末5.电传感法粒度感法粒度测试测量原理 当一个小颗粒通过小孔时,所产生的电感应,即电压脉冲与颗粒的体积成正比。无无颗粒粒时单元的元的电阻阻有有颗粒粒时单元的元的电阻阻仪器器对脉冲脉冲计数并数并归档,即可档,即可计算出有关粒度参量算出有关粒度参量6.沉降法法粒度沉降法法粒度测试测量原理 在具有一定粘度的粉末悬浊液内,大小不等的颗粒自由沉降时,其速度是不同的,颗粒越大沉降速度越快。如果大小不同的颗粒从同一起点高度同时沉降,经过一定距离(时间)后,就能将粉末按粒度差别分开。测量原理示意图t=0t=t
9、1t=t2t=t3光吸收率时间t1t2t304重力沉降10300m4离心沉降0.0110m测量方法优点测量重量分布代表性强经典理论,不 同 厂 家仪器结果对比性好价格比激光衍射法便宜缺点对于小粒子测试速度慢,重复性差非球型粒子误差大不适应于混合物料动态范围比激光衍射法窄沉降法方法的优缺点 常见粒度分析方法统计方法代表性强,动态范围宽分辨率低筛分方法38微米-沉降方法0.01-300微米光学方法0.001-3500微米非统计方法分辨率高代表性差,动态范围窄重复性差显微镜方法光学1微米-电子0.001微米-电域敏感法0.5-1200微米 常见粒度分析方法粒度测定方法的选定主要依据以下一些方面:1.
10、颗粒物质的粒度范围;2.方法本身的精度;3.用于常规检验还是进行课题研究。用于常规检验应要求方法快速、可靠、设备经济、操作方便和对生产过程有一定的指导意义;4.取样问题。如样品数量、取样方法、样品分散的难易程度,样品是否有代表性等;5.要求测量粒度分布还是仅仅测量平均粒度;6.颗粒物质本身的性质以及颗粒物质的应用场合。粒度粒度测定方法的定方法的选定定颗粒粒浓度度测量方法量方法l 浊度法l 光散射法l 光闪烁法l 震荡天平法l 射线法 1 1、浊度法度法 光通过烟气时,光吸收和散射测量光,从而减少光的强度,通过测量光的透过率来计算颗粒物浓度。方法:单光程、双光程 光源:红光或远红外技技术特点:特
11、点:可以连续监测颗粒物浓度;因振动、温度等因素易使光路发生偏移;光学器件易受烟气污染,应定期擦拭;受烟气中颗粒物特性及尺寸分布的影响;对于湿式除尘器的场合,选用应慎重;不适合低浓度;单光程透光度颗粒物监测仪器 双光程透光度颗粒物监测仪器 2 2、光散射法、光散射法颗粒物粒物监测仪器器 将一束光射入烟道,激光与烟尘作用产生散射,散射光强度与烟尘的散射截面成正比,浓度高,截面成比例增大,散射光增强,从而得到颗粒物烟尘浓度。方法:前散射法、后散射法、边散射法光源:红光或可见光技技术特点:特点:易安装维护;适合低浓度;受烟气中颗粒物特性及尺寸分布的影响;受水滴影响。后散射法颗粒物监测仪器 3 3、光、
12、光闪烁法法颗粒物粒物监测仪器器 原理:原理:当颗粒物通过光束时,用检测器检测浊度的快速波动。波动光与平均光比值,得到颗粒物浓度。技技术特点:特点:一般单通道;能够测低浓度尘;校零校标困难;受低流速影响;颗粒物密度影响;液滴影响。4 4、射射线法法颗粒物粒物监测仪器器 原理:使已知体积的烟气通过收集颗粒物的滤膜,由测量吸收的射线确定颗粒物质量浓度。技术特点:直接测量质量浓度;不受颗粒物特性影响;液滴影响;抽取式采样存在困难。射线法颗粒物监测仪器测量颗粒粒度和浓度的消光法n 单颗粒子的消光效率n Lambert-Beer定律n 具有粒径分布的粒子云辐射消光系数n 运用多波长消光法测量颗粒粒径分布和
13、浓度单颗粒的消光效率因子n 根据Mie散射理论,单颗粒子的散射效率因子(efficiency factor for scattering)和消光效率因子(efficiency factor for extinction)分别为n n:Ricatti-Bessel函数,n_Hankel函数n m:粒子的复折射率,m=n+ikn:粒子的尺寸参数,=D/n D:粒子直径n 其中,n 为叙述方便,可以将单颗粒子的消光效率表示为测量颗粒浓度分布的消光法n 单颗粒子的消光效率n Lambert-Beer定律n 具有粒径分布的粒子云辐射消光系数n 运用多波长消光法测量颗粒粒径分布和浓度具有粒径分布的粒子云辐
14、射消光系数n N(D):该组分颗粒的数密度n N(D)dD:单位体积内粒径在DD+dD之间该组分颗粒的数目n 粒子云辐射消光系数n 粒子云体积浓度fv与颗粒数密度N(D)之间有如下关系:测量颗粒浓度分布的消光法n 单颗粒子的消光效率n Lambert-Beer定律n 具有粒径分布的粒子云辐射消光系数n 运用多波长消光法测量颗粒粒径分布和浓度LIiIon 如果忽略辐射传输中粒子内向散射的作用,辐射传递可以用Lambert-Beer定律进行描述:n 将Mie理论计算的辐射减弱系数Kext代入上式,即可得到n 定义平均消光效率因子Qext和体面积平均直径Q32n 粒子云消光系数与颗粒体积浓度关系可写
15、成测量颗粒浓度分布的消光法n 单颗粒子的消光效率n Lambert-Beer定律n 具有粒径分布的粒子云辐射消光系数n 运用多波长消光法测量颗粒粒径分布和浓度n 将粒径分成M档,设直径为Di的粒子有Ni个,则积分可变为求和运算n 这个方程是基于单波长的,其中有M个未知数。如果我们进行M个波长下的测量,可以得到M个方程,由此可以得到如下的线性方程组,Ni(i=1,M)即可进行求解j=1,2,.,M n 将方程组写成矩阵形式E=CTN,其中常数c=-L/4 n 解这个方程组,即可得到各个档的颗粒数密度Nin 因此求得颗粒数密度分布后,还可以转化到以颗粒的体积或重量表示的尺寸分布Nin 分档粒子的体
16、积浓度fv(D),重量浓度w(D)与颗粒数密度N(D)之间具有如下关系质谱法定义定义一:测定和解析物质的质量谱,用以分析研究同位素丰度、物质组分,包括化合物的碎裂过程、反应机构、电离电压、结合能、分子构造和热力学性质等的方法。(所属学科:机械工程等)定义二:用电场和磁场将运动的离子(带电荷的原子、分子或分子碎片)按它们的质荷比分离后进行检测的方法。(所属学科:生物化学与分子生物学等)发展历史1912年:世界第一台质谱装置(J.J.Thomson)40年代:质谱仪用于同位素测定50年代:分析石油60年代:研究GC-MS联用技术70年代:计算机引入80年代:非挥发性或热不稳定分子的分析进一步促进了
17、MS的发展90年代:由于生物分析的需要,一些新的离子化方法得到快速发展目前一些仪器联用技术如GC-MS,HPLC-MS,GC-MS-MS,ICP-MS等正大行其道1898年,维恩研究了哥尔茨坦(Goldstein)发现的极隧射线,得到的结论是,它们是带正电的射线。他用磁场和电场测量了极隧射线的偏转,结论是它们由带正电的粒子组成,质量至少不比氢原子轻。大约二十年后,维恩所用的方法发展成为质谱仪,使得人们有可能精确地测量各种原子及其同位素的质量。W.维恩气体放电管里从阴极孔中穿出的快速带电原子或分子流,这种带电粒子流与管中气体分子的非弹性碰撞,可以引起气体的电离和发光,如果打在固体,如玻璃放电管管
18、壁上,还会产生荧光。极隧射线中不仅有正离子,还由于电荷转移而存在中性粒子和负离子。1913年J.J.汤姆孙和F.W.阿斯顿用磁偏转仪证实氖有两种同位素.F.W.阿斯顿于1919年制成一台能分辨一百分之一质量单位的质谱计,用来测定同位素的相对丰度,鉴定了许多同位素。但到1940年以前质谱计还只用于气体分析和测定化学元素的稳定同位素。后来质谱法用来对石油馏分中的复杂烃类混合物进行分析,并证实了复杂分子能产生确定的能够重复的质谱,之后才将质谱法用于测定有机化合物的结构,开拓了有机质谱的新领域。质谱分析原理质谱分析法是通过对被测样品离子的质荷比的测定来进行分析的一种分析方法。被分析的样品首先要离子化,
19、然后利用不同离子在电场或磁场的运动行为的不同,把离子按质荷比(m/z)分开而得到质谱,通过样品的质谱和相关信息,得到样品的定性定量分析结果。仪器组成MS仪器一般由进样系统、电离源、质量分析器、真空系统和检测系统构成。进样系统对进样系系统的的要要求求:重重复复性、不引起真空度降低。性、不引起真空度降低。进样方式:方式:间歇式歇式进样 直接探直接探针进样 色色谱进样对于气体及沸点不高、易于挥发的液体,可以用图中上方的进样装置。贮样器为玻璃或上釉不锈钢制成,抽低真空(1Pa),并加热至 150,试样以微量注射器注入,在贮样器内立即气化为蒸气分子,然后由于压力梯度,通过漏孔以分子流形式渗透入高真空的离
20、子源中。对于高沸点的液体、固体,可以用探针(probe)杆直接进样。调节加热温度,使试样气化为蒸气。此方法可将微克量级甚至更少试样送入电离室。探针杆中试样的温度可冷却至约-100,或在数秒钟内加热到较高温度(如 300 左右)。故可以引入样品量较小和蒸汽压较低的物质。离子源(离子源(Ion source)作用:使样品电离产生带电粒子(离子)束的装置离子源种类:电子电离源(EI)化学电离源(CI)快原子轰击(FAB)电喷雾源(ESI)大气压化学电离(APCI)基质辅助激光解吸电离(MALDI)激光解吸源(LD)电子轰击离子源(EI)进入的样品,以气体形式进入离子源,由灯丝F发出的电子与样品分子发
21、生碰撞使样品分子电离。一般情况下,灯丝F与接收极T之间的电压为70伏,所有的标准质谱图都是在70ev下做出的。在70ev电子碰撞作用下,有机物分子可能被打掉一个电子形成分子离子,也可能会发生化学键的断裂形成碎片离子。由分子离子可以确定化合物分子量,由碎片离子可以得到化合物的结构。特点:使用最广泛,谱库最完整;电离效率高;结构简单,操作方便;但分子离子峰强度较弱或不出现(因电离能量最高)。化学电离源(CI)u有些化合物稳定性差,用EI方式不易得到分子离子,因而也就得不到分子量。为了得到分子量可以采用CI电离方式。CI和EI在结构上没有多大差别。或者说主体部件是共用的。其主要差别是CI源工作过程中
22、要引进一种反应气体。反应气体可以是甲烷、氨等。反应气的量比样品气要大得多。灯丝发出的电子首先将反应气电离,然后反应气离子与样品分子进行离子-分子反应,并使样品气电离u化学电离的过程是一种低能量的过程,远远比电子轰击离子化弱,因此是一种“软电离”技术。由于化学电离的碎片少,因此,主要生成高强度的分子离子峰。CI经常被用于测量化合物的分子量。对于未知化合物,用电子轰击源得到碎片信息,而用化学电离获得分子量的信息 真空系统真空系统质谱仪中所有部件均要处于高度真空的条件下(离子源:10-310-5Pa;质量分析器:10-6Pa),其作用是减少离子碰撞损失。真空度过低,将会引起:a)离子源的灯丝会被大量
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- 现代 分析 测试 技术 颗粒 谱分析
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