透射电镜基本成像操作及像衬度.ppt
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1、透射电镜基本成像操作及像衬度目目目目录录2成像操作像衬度成像操作成像操作成像操作成像操作5成像操作暗场成像中心暗场成像23明场成像11.1.明明明明场场成像和暗成像和暗成像和暗成像和暗场场成像成像成像成像6利用投射到荧光屏上的选区衍射谱可以进行透射电镜的两种最基本的成像操作。晶体样品或非晶体样品,其选区衍射谱上必存在一个由直射电子束形成的中心亮斑以及一些散射电子。我们可以选直射电子也可以选部分散射电子来成像。这种成像电子的选择是通过在物镜背焦面上插入物镜光栏来实现的。选用直射电子(透射束)形成的像称为明场像,选用散射电子(衍射束)形成的像称为暗场像。1.1.明明明明场场成像和暗成像和暗成像和暗
2、成像和暗场场成像成像成像成像暗场成像有两种方法:偏心暗场像与中心暗场像。71.1.明明明明场场成像和暗成像和暗成像和暗成像和暗场场成像成像成像成像由于成像电子束偏离了透射电镜的光轴而造成较大的像差并在成像时难以聚焦,成像质量较差。在透射电镜中,为了获得高质量的暗场像,人们总是采取“中心暗场成像”,即将入射电子束反向倾斜一个相应的散射角度,而使散射电子沿光轴传播。对晶体样品而言,如明场成像时 晶面组恰与入射方向交成精确的布拉格角,而其余晶面组均与衍射条件存在较大偏差,此时除透射束外只有一个强的衍射束即 衍射束,即构成所谓的“双光束条件”。在此条件下,通过束倾斜,使入射束沿原先的 衍射束方向入射,
3、即将中心斑点移至 衍射斑点位置。此时,晶面组将偏离布拉格条件,而 晶面组与入射束交成准确的布拉格角,其衍射束与光轴平行,正好通过光栏孔,而透射束和其他衍射束均被挡掉,如图9-17(c)。2.2.像像像像衬衬度度度度8像衬度是图像上不同区域间明暗程度的差别。正是由于图像上不同区域间存在明暗程度的差别即衬度的存在,才使得我们能观察到的各种具体的图像。透射电镜的像衬度与所研究的样品材料自身的组织结构、所采用的成像操作方式和成像条件有关。透射电镜的像衬度来源于样品对入射电子束的散射。当电子波穿越样品时,其振幅和相位都将发生变化,这些变化都可以产生像衬度。透射电镜像衬度振幅衬度质厚衬度非晶体样品衬度衍射
4、衬度晶体样品衬度相位衬度图1 透射电镜像衬度分类2.2.像像像像衬衬度度度度1.相位衬度 当透射束和至少一束衍射束同时通过物镜光栏参与成像时,由于透射束与衍射束的相互干涉,形成一种反映晶体点阵周期性的条纹像和结构像,这种像衬的形成是透射束和衍射束相位相干的结果,故称相位衬度。2.振幅衬度 振幅衬度是由于入射电子通过试样时,与试样内原子发生相互作用而发生振幅的变化,引起反差。振幅衬度主要有质厚衬度和衍射衬度两种。透射电镜像衬度振幅衬度质厚衬度非晶体样品衬度衍射衬度晶体样品衬度相位衬度图1 透射电镜像衬度分类质厚衬度质质厚厚厚厚衬衬度度度度定义:非晶体样品透射电子显微图像衬度是由于样品不同微区间存
5、在原子序数或厚度的差异而形成的,即质量厚度衬度,简称质厚衬度。原理:质厚衬度是建立在非晶体样品中原子对入射电子的散射和透射电子显微镜小孔径角成像基础上的成像原理。对于非晶体样品来说,入射电子透过样品时碰到的原子数目越多(或样品越厚),样品的原子核库仑力场越强(或样品原子序数越大或密度越大),被散射到物镜光阑外的电子就越多,而通过物镜光阑参与成像的电子强度也就越低。这是因为电子穿过样品时,通过与原子核的弹性作用被散射而偏离光轴,弹性散射截面是原子序数的函数。此外,随样品厚度增加,将发生更多的弹性散射。所以,样品上原子序数较高或样品较厚的区域(较黑)比原子序数较低或样品较薄的区域(较亮)将使更多的
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